銷售須知解析

1、ICP-OES銷售須知解析（注：如有碰到新問題，及時每天更新）一：拜訪客戶前需準備資料，自問自己該準備些什么？（包括設想客戶會問什么問題？該如何解答，一一列出來，針對客戶的行業(yè)性質上網查資料會碰到什么問題？等）帶著問題去了解及尋找儀器的每一項技術參數，及跟競爭對手的區(qū)別在哪里？二：拜訪客戶的時候需了解以下信息：（四步驟：了解商務技術議價）做什么樣品？樣品類別是什么？要做哪些元素？多少個元素？元素的檢出限要達到多少？也就是做這些元素的含量要多低？每天做多少個元素？樣品量大不大？之前在哪里有沒有了解過我們的產品？如果有同行那邊了解過咨詢一下用的好不好？好在哪里？不好在哪里？（需了解：采購方、技術頭

2、、總工、主任、專家、使用者、拍板人、代理商）擬購設備：應用領域？現有技術？人員？何時要用新設備？預算多少？何時下來？樣品種類數量型號？場地狀況？競爭廠商資訊？是否有其他采購計劃？現用什么儀器？下次該做什么？包括下次前往想到達什么目的？多久前往回訪？了解客戶的采購模式？資金來源？采購項目？是否需要招投標還是直接采購？直接采購模式如何？邀請三家內部競標還是直接可單獨一家議價采購？了解以上信息以后給客戶做方案預算報價了解付款方式？（東南付款方式比例是：3.6.1合同簽訂預付款30%，發(fā)貨前清關貨到客戶現場前預付60%，貨到客戶場地安裝調試驗收合格后付10%）談付款方式及價格的時候先了解客戶自己本身的

3、內心需求價及付款方式，然后進行協商（另一種模式：介紹自己，問客戶現在有沒有安捷倫的產品？沒有的話，介紹給客戶自己是做什么產品的？有的話，用的是誰家的，什么設備，測什么，好不好用？接下去有沒有別的需求？了解客戶有沒有跟哪家經銷商比較熟合作的多？接觸的是誰？合作模式？采購模式？有沒有換人？沒換就找經銷商順水推舟，有的話就找使用者，領導等）如果單子成交需向客戶發(fā)送安裝儀器的現場條例須知文件及申請下單及填寫申請安裝調試的相關信息三：在介紹自己產品之前一定要弄清楚自己的產品：ICP包括組成部分，原理，光學系統，主機、儀器耗材配件，及耗材配件的價格等，必須有條理有清晰的思維思路一一介紹自己的產品。全球四大

4、第三方檢測公司：SGS HYPERLINK /view/3993120.htm 通標標準技術服務有限公司（ HYPERLINK /view/2773.htm 瑞士），ITS天祥，BV，TUV（南徳意志）（南徳認證檢測中國有限公司）、香港標準檢測公司，還有電子信息產業(yè)的塞保第三方檢測公司。都是清一色安捷倫的產品。四：（行業(yè)需求：農業(yè)局、商檢CIQ、CDC、糧食局、海洋與漁業(yè)局、質檢、公安系統、勞動局、工商局、環(huán)保局、自來水公司、市級污排水監(jiān)測站、污水處理公司、食品企業(yè)（包括保健品企業(yè)）、衛(wèi)浴、陶瓷、珠寶首飾、鞋、服裝、鋼鐵、皮革、化工廠、纖維類、電子行業(yè)，光學元件廠、涂料、飼料、冶煉廠、礦廠、垃

5、圾填埋廠、固體廢液處理中心、大氣采樣站、電鍍廠、太陽能電池、包裝企業(yè)、印刷廠、茶葉廠、兒童玩具、兒童書籍、煙草等、學校的話化學、材料、環(huán)境、生物、食品等學院，主要是對重金屬元素污染的檢測）五：產品介紹（整體了解）1：710、720是水平觀測的，715、725是垂直觀測的。2、710、715是112萬像素，720、725是7萬像素的。3、安捷倫的是真正的全譜直讀，PE是SCD（段落）CCD檢測器，PE的是6000多像素，分開256個段落的，覆蓋率6%，測得是靈敏度區(qū)域，不是全譜，但是直讀。4、熱電是CID檢測器，7萬像素，是全譜但不直讀，讀的時候分紫外區(qū)跟可見區(qū)分開讀，會有溢流的問題為什么會有溢

6、流？光線太強直接會曝光過渡。為什么會光線太強？因為熱電的ICP里面是電子化變成像素化。5、安捷倫710CCD跟相機的CCD的區(qū)別：我們的CCD可冷凍到-30度，可拍紫外跟可見區(qū)（能拍鬼），而相機的CCD的只能拍到可見區(qū)。防溢流裝置，不要預曝光。不會有暗電流，噪聲小。6、開機時間：安捷倫的是開機半個小時左右才能用，PE8000是即開即用，是因為光學室不需要恒溫，而8300是不能的，需要恒溫室。熱電的也需要恒溫，時間比我們還長。7、吹掃問題：檢測器的吹掃，光學室的吹掃跟恒溫問題。 為什么檢測器需要吹掃？因為客戶會關注耗氣量好，開機時間，一般的氣瓶是鋼瓶，氬氣只能用4個小時。 光學室吹掃：南方天氣有

7、南風天，其他品牌的光學系統不是密閉的，會導致儀器內部會有露珠，需要吹掃，不吹掃的話，溫度降到-30度或者-35度的話，光學元件會馬上結霜，一開機的話，嚴重的會導致機子燒掉，而我們的是完全密閉的光學系統，710降到-30度，不需要吹掃，720降到-35度也不需要吹掃。8、熱電的不直讀但全譜，需要預曝光，每個元素要讀4次，紫外區(qū)一次，可見區(qū)一次，預曝光紫外區(qū)一次，預曝光可見區(qū)一次。耗氣量就比我們的多4倍了。9、PE的相素不高，可選的發(fā)射線光譜不多，復雜的樣品不好做，影響大，效果沒那么好，我們的是100多萬相素，可選發(fā)射光譜線3萬多條，所以我們可以選靈敏度高跟低的樣品來做，從百分含量到ppb之間10

8、的9次方。10、量子化效率11、我們的有防溢流功能12、炬管：水平跟垂直水平：檢出限高，區(qū)別：CCI冷錐技術（處理尾焰）的技術，切割尾焰。（要了解PE跟熱電）垂直：含鹽量比較高的，我們的是電腦控制可上下調節(jié)的，其他品牌的是固定的。13、拜訪客戶的時候了解檢測的元素含量要測到多低?安捷倫的測到幾十個ppb是沒問題的。14、光路設計方式：單道掃描和全譜直讀15、主要競爭產品說明：PE的8300跟8000。 熱電的7200,7400,7600. 利曼16、利曼用的是CID檢測器17、安捷倫的ICP：開機預熱10分鐘左右即可用，不用氬氣吹掃，可節(jié)省很多氣體，而其他品牌的需要預熱兩三個小時，需要用氬氣吹

9、掃。18、PE8300是最高端的，熱電的7600是最高端的。19、安捷倫的ICP是一次性分光，同時檢測的，一次出結果。光路系統是固定不變的，沒有可移動的任何部件，保證每一次的穩(wěn)定性，譜線了是一一匹配讀出來的，而不需要吹掃。35S一次檢測75種元素、20、礦類一般都是用垂直的，不用水平的炬管，樣品機制比較復雜，炬管容易堵塞，所以一般用垂直的。21、PE的8300主機價格一般在10萬美金以上，熱電的6500主機13萬美金以上。22、垂直炬管做出來的靈敏度沒有水平的高，水平的靈敏度可以做的很低，垂直是往上吹，靈敏度比水平的低，水平比垂直高2.5倍，為了保證炬管不堵，要用垂直的。水平的但不適合做含高鹽

10、（3%的NaCl濃度）的樣品。23、PE的8300是雙向觀測，炬管水平安裝，肯定做不了機制復雜的樣品，承受不了高鹽樣品。24、ICP點不著火的原因：機子漏氣，任何一個部位漏氣，都點不著，或發(fā)生器壞了。25、ICP數據處理：安捷倫ICP提供的是原始的檢測數據，定性定量均需要通過工作軟件來進行數據處理，因為光譜干擾必定存在，而安捷倫在軟件方面有獨特的數據處理方式。一是：解決譜線干擾，我們有FACT功能，（快速自動曲線擬合技術）可以完美解決譜線干擾問題，可以將儀器的分辨率提高至0.002nm，也就是說可以分開兩個皮米的兩條譜線。二是：解決背景干擾，我們特有的Fitte技術可以解決復雜背景干擾，使數據

11、更加接近真實值，克服了僅左、僅又或左右背景的諸多弊端。26、光路圖解釋：狹縫：安捷倫的是單一狹縫，熱電的3個狹縫，PE的是2個狹縫。密封性問題（檢測器的密封問題）譜庫：安捷倫的每條都能用，比PE跟熱電的都要好，再給客戶說的時候一定要強調能不能用。27、拜訪客戶的時候先詢問客戶用安捷倫的產品用過沒有？用的好不好？先了解客戶對安捷倫的印象如何？ 了解客戶的技術能力及實際購買力。28、710有數據延遲時間，720沒有。29、曲線加工是安捷倫720獨有的，而其他品牌島津，PE等得是直線加工。30、從穩(wěn)定性來講全譜直讀安捷倫的是最好的，以下幾個方面解釋：1）、硬件方面的強調2）、直讀“的定義3）、安捷倫

12、的ICP賣點：冷卻可在-30度以下，都是高端的。恒溫：安捷倫光路恒溫，長期穩(wěn)定性。熱電是沒有恒溫的。4）數據穩(wěn)定性，怎么樣解決尾焰問題？31、吹掃的時候都是吹光室，其他的不需要吹掃。32、PE的8300比8000貴，但穩(wěn)定性還不如8000.33、ICP光路都不變，關鍵是檢測器：710是7個皮米（靈敏度0.007）720是9個皮米（靈敏度0.009）34、安捷倫內部沒有任何移動部件的，開機會有卡卡聲，是機子在自動調整，校準。35、安捷倫的ICP炬管距離是可調的。36、CID檢測器壽命比CCD短。37、安捷倫是第一個檢測器象素突破百萬的全譜直讀ICP覆蓋整個波長范圍，無波長段點；象素多能準確反應譜

13、線形狀，準確進行背景和干擾模擬；采用CCD，技術先進、成熟，極高的量子化效率和暗電流。38、與其它公司相比，是分析速度最快的ICP光譜儀。測定一個樣品無論多少元素僅需50秒；其中包括30秒進樣，2次讀數（每次讀數10秒）39、市場上出現的全譜直讀檢測器SCD：波長覆蓋低（只有6），防溢出較差CID: 量子化效率低噪音大，靈敏度低檢出限差而安捷倫的CCD檢測器：優(yōu)異的性能:全波長覆蓋，實現CID的波長選擇靈活性采用技術先進且成熟的CCD，達到SCD的檢出限采用最優(yōu)設計的光學系統，分辨率優(yōu)于0.01nm專門設計制造，尺寸：13.3 x 19.1 mm1,100,000個感光元，112萬像素1757

14、85范圍連續(xù)覆蓋高保真的信號，保證譜線擬合分離的正確性無需涂層，極高到量子化效率優(yōu)異的檢出限和靈敏度背照射技術，最大的光通量檢測器密封，無需吹掃減少氦氣消耗穩(wěn)定性更好高精度電子快門，保證曝光時間精確，穩(wěn)定性更好所有波長一次曝光全部讀出（10s積分)，速度快。半導體冷卻保持CCD檢測器部分-30恒溫以降低噪聲40、安捷倫ICP-OES 710技術特點一個檢測器、一個狹縫、一種觀察方式、一次讀數獲得所有待測元素的光譜信息真正的全譜直讀ICP-OES Agilent 710/715-ES系列世界上分析速度最快的高性能全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀關鍵特點：.一個CCD 檢測器，全譜覆蓋；.紫外、

15、可見同一個狹縫；.單一的垂直觀測或水平觀測方式.一次進樣，全譜同時測定.分析過程中無任何需移動的光學部件關鍵利益：.儀器穩(wěn)定可靠，同類儀器中無與倫比的長期穩(wěn)定性多元素標樣分析4小時 RSD1.全波長連續(xù)覆蓋，優(yōu)秀的檢測限覆蓋96%以上可分析譜線；.操作方便，工作效率高點火10分鐘后即能穩(wěn)定的分析樣品,真正即開即用；.運行成本低單色器吹掃30分鐘后，即能分析S、P低紫外區(qū)譜線。具有里程碑意義的光譜儀CCD檢測器技術它系設計成超薄型的背面入射的型式，量子效率(QE)達50-90%，具有非常高的靈敏度，線性范圍達1.5108，因此具有非常優(yōu)異的性能。1、覆蓋整個波段范圍，無任何波長斷點。安捷倫710

16、/715-ES CCD 檢測器具有112萬個有效像素，在177-785nm 波長范圍內連續(xù)覆蓋,無波長斷點，譜線的覆蓋率為96%以上 新一代CCD檢測器，全波長覆蓋 Agilent ICP-OES CCD 檢測器三維立體圖對于全譜直讀ICP-OES，譜線覆蓋率是核心問題，只有具有足夠的譜線覆蓋能力，才能有效靈活的選擇分析譜線，才能有效的避免干擾；另外，只有具有足夠多的譜線供選擇 ，才能利用同一元素的不同強度譜線，拓展分析濃度范圍，實現常量和痕量元素同時測定而無需改變觀測方向和樣品稀釋。2、抗飽和溢出CCD 固體檢測器每個感光元上都設計了專門的防溢出技術，藉助CRS(Clocked Recomb

17、imation System)，利用表面阱中和過剩電荷，有效地防止電子溢流。徹底從硬件上解決溢出問題。智能化調節(jié)積分時間從而在硬件上徹底消除了過飽和溢出的問題，在高濃度基體元素共存時可以進行同時進行痕量元素的測定。特別定做的Agilent ICP-OES專用的專利CCD檢測器；112,000 個感光元保證全波長覆蓋,(177nm-785nm)具有強大的靈活性和良好的動態(tài)范圍；結合多重檢量線功能,有效地拓寬了線性范圍；無須費時的雙向觀測!特別定做的Agilent ICP-OES專用的專利CCD檢測器；112,000 個感光元保證全波長覆蓋,(177nm-785nm)具有強大的靈活性和良好的動態(tài)范

18、圍；結合多重檢量線功能,有效地拓寬了線性范圍；無須費時的雙向觀測!優(yōu)秀的檢測極限；復式讀出電路節(jié)省一半的讀數時間，電信號處理速度提高40倍：1MHz的感光元處理速度；半導體冷卻保持檢測器部分-30oC恒溫以降低噪聲；自動調適時間,優(yōu)化-信噪比。防止過飽和溢出:0.5 mg/L Pb in 5000mg/L Al3、極快的數據傳輸速度固態(tài)的CCD檢測器具有最快的讀取速度像素處理速度達到1MHz。檢測器的雙面都具有雙向讀取線路，減半讀取處理時間。4、強大的數據處理功能每次測定都可得到整個CCD的三維立體圖象，依次可對干擾情況進行直接的觀察，并可通過圖象上譜線的位置與強度進行定性和半定量；性能優(yōu)異的

19、中階梯光柵-氟化鈣棱鏡交叉色散系統94.7條/毫米刻線密度，焦距400毫米，19-88級衍射圖像保證高分辨率的同時能夠得到足夠的光通量，具有極高的靈敏度和分析精度。用40條氬氣發(fā)射譜線自動進行周期性的波長校正，保證分析波長的正確性，消除了因采用汞燈校正而需要預熱和燈更換等麻煩。光室恒溫35。整個光路在測定過程中無移動部件，保證了優(yōu)異的長期穩(wěn)定性。177-785nm覆蓋整個波長范圍，無波長斷點。譜線的覆蓋率為96%以上，有利于靈活選擇譜線，消除光譜干擾，并且常量和痕量元素可同時測定而無需改變觀測方向或稀釋樣品。等離子體點燃10分鐘即可穩(wěn)定的進行分析，節(jié)省了氬氣消耗，縮短了分析時間，真正做到了即開

20、即用。P 213.618 和Cu 213.598完全分離三、安捷倫水平觀測ICP-OES 專利的CCI 冷錐設計，無與倫比的優(yōu)秀性能專利的CCI 冷錐技術徹底地消除了等離子炬尾焰以及降低了自吸收的干擾。由于徹底地消除了尾焰，所以水平的中心通道發(fā)射光完全沒有干擾，其結果是：降低了檢測限，改善了線形和拓寬了動態(tài)范圍，提高了測定高鹽樣品的能力,無須費時的雙向觀測!CCI 冷錐技術徹底消除尾焰干擾四、40.68MHz高效的RF射頻發(fā)生系統，使得710/715-ES能適應各種類型樣品的分析。40.68MHz自激式設計，最大功率1700W，由計算機控制，保證了等離子炬的高度穩(wěn)定性，對高鹽及有機樣品分析提供

21、了有效的保證。專利的直接耦合（DISC）技術不需二級匹配網面，直接耦合，使RF有效功率達到80%?？绽?，節(jié)省運行費用。方便靈活功能強大的高智能化操作軟件和全自動控制1.計算機全自動化控制，儀器設置和參數選擇可自動完成，包括氣體流量、功率、點火、診斷等。具有自動安全連鎖系統；操作系統：全中文軟件，工作表格界面；能實現中英文操作界面的在線切換；詳盡的中文在線幫助功能和操作、維護錄像；2.方便、靈活的譜線選擇在周期表上選定需分析元素，軟件上就清楚地顯示推薦的分析譜線表，并標出譜線的強度和可能的干擾譜線。如果推薦的譜線中沒有合適的譜線，用戶可從譜庫中選擇譜線任意添加到推薦譜線表格中。圖形化33,000

22、條在線譜線庫這一事實再次說明了700ES才是真正的全譜覆蓋。ICP發(fā)射光譜中元素譜線干擾情況3.FACT快速自動譜線擬合技術（Fast Automated Curve-fitting Technique）該技術提供了實時的譜線干擾校正方法，采用高斯分部模型對被測物和干擾物的譜圖進行最小二乘法線性回歸，實現在線解譜，準確、實時的扣除譜線干擾，進行快速、簡便的干擾校正。該方法與被測物和干擾物的濃度無關，并且同時進行背景校正，是ICP譜線干擾校正的理想技術。 FACT 應用實例測定As測定As（樣品中含Cd），數據說明第一列As採用193.696線測定（無任何干擾），20 ppm回測結果不變。第三列

23、 As採用As228.812 ，受到Cd228.802的嚴重干擾，得到錯誤結果第二列 As採用As228.812 ，同時採用FACT方法進行譜線分離，結果非常理想 4.多重檢量線（Multical）功能：4多重檢量線系統(MULTICAL)不同強度的發(fā)射線對應不同的濃度范圍，強譜線對應于低含量的測量，弱譜線對應于高含量的測量，使Agilent ICP-OES能夠同時測量高低含量的元素，擴展了儀器的線性范圍，因此，也不需要費時且精度差的雙向觀察。MultiCal延伸校正曲線范圍Ca from 20 ug/L - 4000 mg/L393.366nm: 0-2ug/L 422.673nm: 2-2

24、0ug/L 430.253nm: 20-4000ug/L五、無與倫比的分析性能1、長期穩(wěn)定性4小時信號RSD1%2、獨有的SRS穩(wěn)定性較正，減少分析常量元素的誤差。3、光室吹掃20分鐘后，即能穩(wěn)定的測定硫、磷等低紫外區(qū)的分析譜線41、ICP710比較優(yōu)勢具有業(yè)內最大射頻功率1700W，具有更強的抗基體干擾能力安捷倫710射頻功率為700-1700W，同類型產品中，熱電的6300功率只有1500，PE也只有1500W，環(huán)境樣品，尤其是土壤和排污廢水，具有非常復雜的基體干擾，因此，采用大的等離子功率，具有較高的等離子溫度，可以有效的消除基體干擾。具有專利的等離子體尾焰冷錐切割技術，有效消除等離子體

25、尾焰部分對測定結果的干擾，同時，也有效消除了尾焰在矩管的殘留，延長了矩管的壽命。同類型產品中，PE采用空氣切割技術，要在儀器外圍額外配置一臺空壓機，不僅加大了實驗室的噪聲污染和儀器的噪音，同時，由于切割空氣中還有氧氣，氧氣會吸收紫外部分的譜線，對測定紫外部分的元素具有很大影響。具有業(yè)內最高端的百萬級像素CCD檢測器，同時致冷到-30度，極大的降低儀器的噪音，提高儀器的信噪比。衡量ICP性能的一個重要參數是檢測器，而衡量一個好的檢測器的重要指標是檢測器的像素，安捷倫710檢測器的像素為112萬，同類型產品中檢測器的像素只有幾十萬，有的甚至只有幾萬像素，而且檢測器的致冷甚至只到-8度。具有專利的F

26、ACT快速曲線擬合技術，能夠方便快捷的從樣品峰中扣除基體的干擾，得到更加準確的結果。具有業(yè)內廣受好評的中文版軟件，以及最大的33000條譜線庫，以便客戶根據干擾情況，選擇合適的譜線安捷倫710具有人性化設計的中文版軟件，而且，軟件譜線庫系統里面含有33000條譜線，譜線庫條數越多，每做一個元素可供選擇的空間也就越大，既可實現避開干擾線，減小干擾的優(yōu)點，也可實現多譜線曲線擬合的功能，即利用不同強度的譜線來擬合標準曲線，擴寬線性范圍，以取代現有的部分廠家的雙向觀測的功能。42、ICP710市場優(yōu)勢1.Agilent 710-ES一次曝光讀出所有被測元素光譜，檢測器密封設計，大量節(jié)省氬氣消耗和分析時

27、間，背景扣除準確。檢測器讀出速度：一分鐘能分析73個元素；2.Agilent 710-ES為全譜直讀型儀器，沒有移動的光學部件，整個光室密封，一次曝光讀出所有被測元素譜線，具有優(yōu)異的光學穩(wěn)定性，保證用戶得到穩(wěn)定的測定結果。*PE：非連續(xù)波長覆蓋，測定譜線僅占波長范圍的6%，譜線丟失嚴重；235個測量段，平均每個元素只有34條譜線可供選擇，且大都是靈敏線，在測量樣品中較高含量的元素時，要么稀釋樣品，要么縮短時間，但不管是何種方法均會影響分析精度。在分析復雜樣品或稀土元素時,譜線選擇的局限性就更為突出 “能測5000多條譜線”，是指那些包括移動狹縫后能落在235個測量段中的所有譜線，這些譜線一方面

28、往往落在測量段的邊緣，難于選擇背景校正點，另一方面大都是些不常用的譜線，難于用做定量分析。*熱電iCAP6500檢測器需要分兩次曝光，紫外與可見分別讀數。以238nm為界限，也就是如果需要檢測200nm及400nm兩個波長，熱電是沒有辦法一次性讀數。3. Agilent 710ES水平觀測，依靠豐富的譜線選擇同時測定高、低濃度的樣品；配置專利的CCI冷錐接口，非常成功的進行尾焰切割，徹底去除尾焰干擾。4.光譜干擾校正是等離子體發(fā)射光譜分析中的一個重要組成部分，Agilent獨有的FACT快速譜線自動擬合技術，在不同的干擾元素之間建立FACT干擾模型，并存為模型庫，用于快速自動譜線擬合技術，實現

29、在線解譜，準確、實時地扣除譜線干擾，進行快速、簡便的干擾校正。5.Agilent 710-ES檢測器具有非常高的量子化效率，確保儀器具有非常高的靈敏度和非常低的檢出限。6.Agilent 710ES開機穩(wěn)定速度短，30分鐘，為光室恒溫時間，可以點火，點火10分鐘內即可穩(wěn)定測樣，節(jié)省人力和電能，且節(jié)省氬氣消耗7.Agilent公司在北京、上海、沈陽、成都、廣州設有專門的代表處，有經過嚴格培訓優(yōu)秀的專業(yè)維修隊伍，隨時提供積極周到的服務；在全國設有免費的800熱線服務電話，資深工程師在線解答用戶的問題；且一些消耗品和易損品在國內可以提供，大大減小用戶負擔。而熱電及PE公司的人力不足，售后服務部門和維

30、修部門為單道核算成本，所以往往維修成本很高，無論是維修和應用，都有待提高。43、ICP720比較優(yōu)勢1.Agilent 720-ES一次曝光讀出所有被測元素光譜，檢測器密封設計，大量節(jié)省氬氣消耗和分析時間，背景扣除準確。檢測器讀出速度：35秒鐘能分析73個元素；2.Agilent 720-ES為全譜直讀型儀器，沒有移動的光學部件，整個光室密封，一次曝光讀出所有被測元素譜線，具有優(yōu)異的光學穩(wěn)定性，保證用戶得到穩(wěn)定的測定結果。*PE：非連續(xù)波長覆蓋，測定譜線僅占波長范圍的6%，譜線丟失嚴重；235個測量段，平均每個元素只有34條譜線可供選擇，且大都是靈敏線，在測量樣品中較高含量的元素時，要么稀釋樣

31、品，要么縮短時間，但不管是何種方法均會影響分析精度。在分析復雜樣品或稀土元素時,譜線選擇的局限性就更為突出 “能測5000多條譜線”，是指那些包括移動狹縫后能落在235個測量段中的所有譜線，這些譜線一方面往往落在測量段的邊緣，難于選擇背景校正點，另一方面大都是些不常用的譜線，難于用做定量分析。*熱電iCAP6500檢測器需要分兩次曝光，紫外與可見分別讀數。以238nm為界限，也就是如果需要檢測200nm及400nm兩個波長，熱電是沒有辦法一次性讀數。3. Agilent 720ES水平觀測，依靠豐富的譜線選擇同時測定高、低濃度的樣品；配置專利的CCI冷錐接口，非常成功的進行尾焰切割，徹底去除尾

32、焰干擾。4.光譜干擾校正是等離子體發(fā)射光譜分析中的一個重要組成部分，Agilent獨有的FACT快速譜線自動擬合技術，在不同的干擾元素之間建立FACT干擾模型，并存為模型庫，用于快速自動譜線擬合技術，實現在線解譜，準確、實時地扣除譜線干擾，進行快速、簡便的干擾校正。5.Agilent 720-ES檢測器具有非常高的量子化效率，確保儀器具有非常高的靈敏度和非常低的檢出限。6.Agilent 720ES開機穩(wěn)定速度短，30分鐘，為光室恒溫時間，可以點火，點火10分鐘內即可穩(wěn)定測樣，節(jié)省人力和電能，且節(jié)省氬氣消耗7.Agilent公司在北京、上海、沈陽、成都、廣州設有專門的代表處，有經過嚴格培訓優(yōu)秀

33、的專業(yè)維修隊伍，隨時提供積極周到的服務；在全國設有免費的800熱線服務電話，資深工程師在線解答用戶的問題；且一些消耗品和易損品在國內可以提供，大大減小用戶負擔。而熱電及PE公司的人力不足，售后服務部門和維修部門為單道核算成本，所以往往維修成本很高，無論是維修和應用，都有待提高。43、Agilent 710-ES與PE optima 8000 比較表Agilent710-ESPE optima 8000DV說明總述Agilent 710-ES是ICP-OES發(fā)射光譜發(fā)展歷史上的重要里程碑，為真正的全譜直讀型儀器，是目前ICP-OES 發(fā)射光譜儀的首選機型，采用最新一代的CCD固體檢測器，同時快速

34、測定177-785nm范圍內所有譜線。Optima 8000屬于掃描型儀器，依靠光柵和棱鏡的轉動實現波長掃描，掃描速度比傳統的單道掃描型儀器要快（約4秒從最低波長掃到最高處），但本質上還是掃描型儀器，因為每次讀數時只有一段光譜投射到檢測器上（約0.2nm）。Agilent 710-ES一次曝光讀出所有被測元素光譜，檢測器密封設計，大量節(jié)省氬氣消耗和分析時間，背景扣除準確。一、儀器類型全譜直讀型ICP-OES。非全譜直讀型ICP-OES，屬于單道掃描型儀器。掃描型ICPOES從170800nm選擇10多條譜線，樣品分析速度極慢，多達510分鐘。而Agilent 710為全譜直讀型光譜，每個樣品選

35、擇10多條譜絲2分鐘即可測試完成。二、光學系統中階梯光柵+棱鏡構成二維交叉色散系統。1、中階梯光柵+棱鏡覆蓋整個波長范圍（177-785nm）；2、波長范圍：177-785nm；連續(xù)覆蓋無斷點，真正實現全譜直讀；譜線庫內建超過33000條譜線，完全滿足測定要求；可以根據干擾情況靈活選擇譜線；3、光柵刻線密度94.7條/mm；4、分辨率： HYPERLINK mailto:0.007nm200nm 0.009nm200nm；一個狹縫測得，為真實應用時的分辨率；5、光室：光室恒溫：35；驅氣型：N2或Ar氣驅氣，驅氣流量有兩檔，0.5或3.0 l/min；6、狹縫：一個狹縫；整個光學系統沒有任何移

36、動的部件，一次曝光讀出所有譜線，光學穩(wěn)定性好，雜散光低；7、光通量：無需二次分光，保證系統獲得最大的光通量，具有極佳的靈敏度；8、波長校正：采用15種元素的混合液進行波長校正；采用漂移補償：儀器通過監(jiān)測多條氬線波長，實時進行波長校正，將實際值與理論值相比較，并對誤差進行補償，克服環(huán)境變化引起的波長漂移；中階梯光柵交叉色散二維分光系統。1、中階梯光柵交叉色散系統，宣傳為雙單色儀系統；紫外（160-190nm）為一個單色儀，可見光部分一個單色儀；2、波長范圍：160-900nm；譜線可以順序測定；光柵刻線密度：79條/mm；分辨率： HYPERLINK mailto:0.006nm200nm 0.

37、009nm200nm；5、光室：光室不恒溫，光學系統受環(huán)境溫度變化影響較大，環(huán)境溫度改變2儀器就要求執(zhí)行光學初始化步驟即波長校正；6、狹縫：兩個狹縫，進口狹縫以及中間狹縫。它的進口狹縫比通常的較高，其較高部分用于氖燈的參比光譜，其寬度達6mm，有兩檔狹縫寬度，分別對應于UV和Vis，在分析進行中系統自動的選擇設定。進口狹縫寬度達6mm，所以它的光學分辨率很差，而且在全譜測定時，Vis和UV需不同寬度（藉助移動部件實現），再加上雙向觀測系統中改變觀測方式時需要傳輸光路，在一次測量中，移動部件多，其穩(wěn)定性差。7、光通量：從光柵分光出來的光要分成紫外和可見兩路，能量各為1/2，且光路結構復雜，外光路

38、需經兩次反射后才能進入光室，存在可移動部件，內光路器件多，光程長，能量損失大，光能量較弱，雜散光很大；靈敏度指標低；8、波長校正：氖燈動態(tài)校正方式；氖光只是在中間狹縫以后才與樣品光同時進行分光，因此動態(tài)波長校正只能校正這之后的光路漂移，這之前的部件如棱鏡就無法校正，所以經常會出現校不準的情況；Agilent 710-ES為最先進的全譜直讀型儀器，沒有移動的光學部件，整個光室密封，一次曝光讀出所有被測元素譜線，具有優(yōu)異的光學穩(wěn)定性，保證用戶得到穩(wěn)定的測定結果。PE：1）雙單色儀光學系統。它將全譜直讀ICP-OES傳統的棱鏡光柵交叉色散方式分別在兩個單色儀中進行。通過調節(jié)入射光進入棱鏡的角度，使待

39、測譜線所在光譜級次通過中間狹縫進入第二個單色儀，將光譜中待分析譜線及附近背景一起投射到CCD檢測器上。由于交叉色散分別在兩個單色儀中進行，因此每次投射到CCD檢測器上的僅是一段光譜。2）兩種波長校正方式從原理上來說，這兩種設計可謂異曲同工，但氖燈是個消耗品,而且由于光室不恒溫,經常需要校正,加快了儀器的損耗，氖燈的譜線很有限，在ICP 光譜范圍內能量分布很不均勻，因此不可能用來校正整個波長范圍內所有的譜線。像素越少波長越難定位，波長更容易漂移由于PE8000（2萬多像素）所含的像素比Agilent 710-ES的（112萬像素）少得多，因此，Angilent 710-ES更容易實現精確的波長校

40、正。三、檢測器專利設計的電荷耦合（CCD）檢測器；1、檢測單元數：112萬個；專門設計的 CCD檢測器覆蓋從177-785nm整個波長范圍；整個波長范圍內所有元素一次測定一次讀出；2、防飽和溢出：專利的表面阱消除過剩電荷技術，在每個感光元上設計了專門的防溢出表面阱，從硬件上徹底消除了過飽和溢出問題，使在高濃度基體共存時可以同時進行各種含量的元素的測定；3、檢測器制冷：-30三階半導體制冷；具有極低的暗電流和背景噪音；4、檢測器吹掃：密封式全譜直讀CCD檢測器；無須消耗氬氣吹掃，開機即可點火，大量節(jié)省氬氣，并節(jié)省氬氣過濾器消耗；SCD即分段式CCD檢測器，分成兩段；1、檢測單元數：共22528個

41、像素；分成參比信號測量和樣品信號測量兩部分，所以真正用在譜線分析的共有11264個像素；2、防飽和溢出：無防飽和溢出設計，樣品中濃度較高時就會出現溢出現象；無法進行高含量元素的測定，只能稀釋樣品；3、檢測器制冷：-8半導體制冷，工作溫度較高，所以儀器具有極大的暗電流和背景噪音；4、檢測器吹掃：不密封，不需吹掃； 明顯優(yōu)于PE的參數，四、RF發(fā)生器1、頻率：40.68MHz空冷自激式；直接耦合技術，耦合效率80%；2、輸出功率范圍：700-1700W；高功率更適合與髙鹽樣品和有機樣品的分析，可適用樣品范圍廣；頻率：40.68MHz；自激式固態(tài)發(fā)生器，二次耦合，耦合效率約為81%；輸出功率范圍：7

42、50-1500W；功率范圍較低，對有機樣品的測定效果差；五、觀測方式1、水平觀測，依靠豐富的譜線選擇同時測定高、低濃度的樣品；2、對于710ES水平觀測炬管位置可以調節(jié)范圍為3mm，以獲取最好的檢出限和避免干擾。雙向觀測（8000）；2、觀測高度調節(jié)：雙向觀測中的垂直觀測高度可微調，對于真正的樣品分析的方法的優(yōu)化起不到垂直觀測的作用；PE 8000 ICP-OES中，使用雙向觀察，雙向觀測實質上使用的仍是水平式炬管，無法承受高濃鹽的樣品，使這種雙向設計完全失去了垂直型炬管設計的優(yōu)點，而Agilent的ICP-OES分為垂直和水平兩種型號，適用于客戶不同的應用領域。六、尾焰消除方式配置專利的CC

43、I冷錐接口，非常成功的進行尾焰切割，徹底去除尾焰干擾。PE 8000雙向觀測使用空氣作為切割氣體方式消除尾焰，氣體流量18-25L/min；尾焰消除不徹底，對紫外譜線吸收嚴重，而且炬焰十分不穩(wěn)定，導致測定結果精度差。一般采用空氣壓縮機，需要額外的采購壓縮機的費用；同時壓縮機會帶來極大的噪音。如改用鋼瓶氮氣或空氣，則是很大的日常開支。七、氣體控制1、冷卻氣：022.5L/min，1.5l/min增量可調；2、輔助氣：02.25L/min ，0.75l/min增量可調；3、霧化氣霧化氣：高精度氣體流量控制系統；4、深紫外區(qū)氬氣吹掃方式：高效吹掃，半小時即可測定；冷卻氣: 0-10L/min，1.0

44、/min增量可調2、輔助氣：02.0L/min ，0.1/min增量可調；3、霧化氣：02.0L/min，增量0.01/min可調；4、深紫外區(qū)氬氣吹掃方式：光路復雜較長需要吹掃2個小時以上；PE Otpima 8000號稱氬氣量節(jié)省一半。其實是以一瓶氬氣所用時間來計算的。因為其是掃描型ICPOES，樣品分析速度極慢。按每瓶氬氣所測試樣品個數。Optima 8000 是消耗氬氣最高的。八、進樣系統1、霧化系統：雙通道耐腐蝕耐髙鹽SM霧化室和V槽霧化器或者雙通道玻璃霧化室和高鹽霧化器可選，用戶可以根據需要配置，有靈活的選擇性；2、炬管：標準一體化石英炬管，同時可配備髙鹽炬管、有機進樣炬管和可拆卸

45、式炬管；中心管多種內徑可選；3、蠕動泵：3通道蠕動泵，轉速0-50rpm可調，全計算機控制，具有快泵功能；1、霧化系統：可選正交叉型霧化器或玻璃同心霧化器，兼容eNeb樣品引入系統，Scott霧化室或玻璃旋流霧化室，霧化效率低(4%)，進樣時間長，殘留效應大，分析靈敏度較差；2、可拆卸式炬管，中心管為氧化鋁材質，內徑2.0mm；3、蠕動泵：3通道蠕動泵，0.2-5ml/min可調；增量0.1ml/min，0.76mm(0.030in)i.d泵管，軟件具有快泵和智能沖洗功能九、數據處理軟件1、全中文軟件、獲獎的工作表格風格界面；2、在線視頻和音頻多媒體幫助功能,包括操作維護錄像；3、具有支持Mi

46、crosofts SQL Server 2005數據庫功能，進行存儲數據的保護和結果的快速恢復；4、在線可查詢式全中文幫助；5、用戶可以設定多種報告或輸出的方式；1、Winlab32中文軟件；2、無多媒體幫助功能；3、有數據庫功能；4、無在線中文幫助功能；5、多種報告輸出方式；Agilent公司倡導以客戶為中心的價值理念，在軟件設計上也充分體現人性化的設計思想；軟件的簡約風格和易用的設計一直深受廣大用戶的欣賞和信賴。 十、拓展功能1、多重檢量線系統（MULTI-CAL），使得715-ES能夠成功地通過一次測定，在分析濃度為ppb級的痕量元素的同時，分析例如濃度高至1000ppm的Ca、Mg、K

47、、Na 等元素，線性范圍達到109。1、無此功能；由于710-ES具有全譜覆蓋的特點，加上多重檢量線功能可以將各元素的線性范圍大大擴展，無需費時、導致精密度下降的雙向觀測。2、分子量自動計算，雜質總量自動計算功能；2、無此功能；3、背景校正技術：包含傳統的單邊、雙邊離峰法背景校正技術，同時，具備獨有的多點自動擬合法（FITTED）背景校正技術，自動擬合出最合理的背景曲線進行實時校正，校正結果更加準確；3、背景校正技術：傳統的單邊、雙邊離峰法背景校正技術，背景受基體的影響往往自動扣除不準確，經常需要進行手動扣除，需要有較強的光譜經驗，同時浪費分析時間；4、光譜干擾校正技術- 快速自動曲線擬合技術

48、（FACT）：不影響分析速度的情況下在線校正譜線干擾；4、MSF法, 影響分析速度, 慢3-4倍；光譜干擾校正是等離子體發(fā)射光譜分析中的一個重要組成部分，Agilent獨有的FACT快速譜線自動擬合技術，在不同的干擾元素之間建立FACT干擾模型，并存為模型庫，用于快速自動譜線擬合技術，實現在線解譜，準確、實時地扣除譜線干擾，進行快速、簡便的干擾校正。售后服務Agilent公司在北京、上海、沈陽、成都、廣州設有專門的代表處，有經過嚴格培訓優(yōu)秀的專業(yè)維修隊伍，隨時提供積極周到的服務；在全國設有免費的800免費熱線服務電話，資深工程師在線解答用戶的問題；且一些消耗品和易損品在國內可以提供，大大減小用

49、戶負擔。人力不足，售后服務部門和維修部門為單道核算成本，所以往往維修成本很高，無論是維修和應用，都有待提高。售后服務是購買儀器時一個極為重要考慮因素。44、Agilent 710-ES與PE optima 8000、熱電 iCAP 6500比較表Agilent 710-ESPE optima 8000DV熱電 iCAP 6500說明總述Agilent 710-ES是ICP-OES發(fā)射光譜發(fā)展歷史上的重要里程碑，為真正的全譜直讀型儀器，是目前ICP-OES 發(fā)射光譜儀的首選機型，采用最新一代的CCD固體檢測器，同時快速測定177-785nm范圍內所有譜線。Optima 8000屬于掃描型儀器，依

50、靠光柵和棱鏡的轉動實現波長掃描，掃描速度比傳統的單道掃描型儀器要快（約4秒從最低波長掃到最高處），但本質上還是掃描型儀器，因為每次讀數時只有一段光譜投射到檢測器上（約0.2nm）。iCAP 6500采用CID 固體檢測器，其波段整體覆蓋，全譜功能無法實現，只能覆蓋部分波長，即整個波長分兩段暴光：一段是166 - 234nm，另一段是234 - 847nm。有 垂直觀測和雙向觀測型。Agilent 710-ES一次曝光讀出所有被測元素光譜，檢測器密封設計，大量節(jié)省氬氣消耗和分析時間，背景扣除準確。一、儀器類型全譜直讀型ICP-OES。非全譜直讀型ICP-OES，屬于單道掃描型儀器。 非全譜直讀型

51、ICP-OES，無法實現一次暴光覆蓋整個波長范圍內的所有譜線。掃描型ICPOES從170800nm選擇10多條譜線，樣品分析速度極慢，多達510分鐘。而Agilent 710為全譜直讀型光譜，每個樣品選擇10多條譜絲2分鐘即可測試完成。二、光學系統中階梯光柵+棱鏡構成二維交叉色散系統。1、中階梯光柵+棱鏡覆蓋整個波長范圍（177-785nm）；2、波長范圍：177-785nm；連續(xù)覆蓋無斷點，真正實現全譜直讀；譜線庫內建超過33000條譜線，完全滿足測定要求；可以根據干擾情況靈活選擇譜線；3、光柵刻線密度94.7條/mm；4、分辨率： HYPERLINK mailto:0.007nm200nm

52、 0.009nm200nm；一個狹縫測得，為真實應用時的分辨率；5、光室：光室恒溫：35；驅氣型：N2或Ar氣驅氣，驅氣流量有兩檔，0.5或3.0 l/min；6、狹縫：一個狹縫；整個光學系統沒有任何移動的部件，一次曝光讀出所有譜線，光學穩(wěn)定性好，雜散光低；7、光通量：無需二次分光，保證系統獲得最大的光通量，具有極佳的靈敏度；8、波長校正：采用15種元素的混合液進行波長校正；采用漂移補償：儀器通過監(jiān)測多條氬線波長，實時進行波長校正，將實際值與理論值相比較，并對誤差進行補償，克服環(huán)境變化引起的波長漂移；中階梯光柵交叉色散二維分光系統。1、中階梯光柵交叉色散系統，宣傳為雙單色儀系統；紫外（160-

53、190nm）為一個單色儀，可見光部分一個單色儀； 2、波長范圍：160-900nm；譜線可以順序測定；光柵刻線密度：79條/mm；分辨率： HYPERLINK mailto:0.006nm200nm 0.009nm200nm；5、光室：光室不恒溫，光學系統受環(huán)境溫度變化影響較大，環(huán)境溫度改變2儀器就要求執(zhí)行光學初始化步驟即波長校正；6、狹縫：兩個狹縫，進口狹縫以及中間狹縫。它的進口狹縫比通常的較高，其較高部分用于氖燈的參比光譜，其寬度達6mm，有兩檔狹縫寬度，分別對應于UV和Vis，在分析進行中系統自動的選擇設定。進口狹縫寬度達6mm，所以它的光學分辨率很差，而且在全譜測定時，Vis和UV需不

54、同寬度（藉助移動部件實現），再加上雙向觀測系統中改變觀測方式時需要傳輸光路，在一次測量中，移動部件多，其穩(wěn)定性差。7、光通量：從光柵分光出來的光要分成紫外和可見兩路，能量各為1/2，且光路結構復雜，外光路需經兩次反射后才能進入光室，存在可移動部件，內光路器件多，光程長，能量損失大，光能量較弱，雜散光很大；靈敏度指標低；8、波長校正：氖燈動態(tài)校正方式；氖光只是在中間狹縫以后才與樣品光同時進行分光，因此動態(tài)波長校正只能校正這之后的光路漂移，這之前的部件如棱鏡就無法校正，所以經常會出現校不準的情況；中階梯光柵交叉色散二維分光系統。中階梯光柵+交叉色散光柵：紫外區(qū)（166 - 234nm），可見區(qū)（2

55、34 - 847nm）；波長范圍：166-847nm；分段覆蓋，分紫外和可見兩路光區(qū)；光柵刻線密度：52.91條/mm； 分辨率： HYPERLINK mailto:0.006nm200nm 0.007nm200nm；5、光室：光室恒溫：38，對室溫要求高，光學系統受環(huán)境溫度變化影響較大；6、狹縫：2個狹縫：Slit 1是145m 覆蓋166 - 234nm；Slit 2是50m覆蓋234 - 847nm7、光通量：不同的波長段采用不同的狹縫，因此有不同的光通量；8、波長校正：采用C、N和Ar線自動波長校準程序Agilent 710-ES為最先進的全譜直讀型儀器，沒有移動的光學部件，整個光室密

56、封，一次曝光讀出所有被測元素譜線，具有優(yōu)異的光學穩(wěn)定性，保證用戶得到穩(wěn)定的測定結果。PE：1）雙單色儀光學系統。它將全譜直讀ICP-OES傳統的棱鏡光柵交叉色散方式分別在兩個單色儀中進行。通過調節(jié)入射光進入棱鏡的角度，使待測譜線所在光譜級次通過中間狹縫進入第二個單色儀，將光譜中待分析譜線及附近背景一起投射到CCD檢測器上。由于交叉色散分別在兩個單色儀中進行，因此每次投射到CCD檢測器上的僅是一段光譜。2）兩種波長校正方式從原理上來說，這兩種設計可謂異曲同工，但氖燈是個消耗品,而且由于光室不恒溫,經常需要校正,加快了儀器的損耗，氖燈的譜線很有限，在ICP 光譜范圍內能量分布很不均勻，因此不可能用

57、來校正整個波長范圍內所有的譜線。像素越少波長越難定位，波長更容易漂移由于PE8000（2萬多像素）所含的像素比Agilent 710-ES的（112萬像素）少得多，因此，Angilent 710-ES更容易實現精確的波長校正。三、檢測器專利設計的電荷耦合（CCD）檢測器；1、檢測單元數：112萬個；專門設計的 CCD檢測器覆蓋從177-785nm整個波長范圍；整個波長范圍內所有元素一次測定一次讀出；2、防飽和溢出：專利的表面阱消除過剩電荷技術，在每個感光元上設計了專門的防溢出表面阱，從硬件上徹底消除了過飽和溢出問題，使在高濃度基體共存時可以同時進行各種含量的元素的測定；3、檢測器制冷：-30三

58、階半導體制冷；具有極低的暗電流和背景噪音；4、檢測器吹掃：密封式全譜直讀CCD檢測器；無須消耗氬氣吹掃，開機即可點火，大量節(jié)省氬氣，并節(jié)省氬氣過濾器消耗；SCD即分段式CCD檢測器，分成兩段；1、檢測單元數：共22528個像素；分成參比信號測量和樣品信號測量兩部分，所以真正用在譜線分析的共有11264個像素；2、防飽和溢出：無防飽和溢出設計，樣品中濃度較高時就會出現溢出現象；無法進行高含量元素的測定，只能稀釋樣品；3、檢測器制冷：-8半導體制冷，工作溫度較高，所以儀器具有極大的暗電流和背景噪音；4、檢測器吹掃：不密封，不需吹掃； 電荷注入式（CID）檢測器；1、檢測單元數：540 x 540個

59、；分兩次覆蓋紫外和可見范圍；2、無防飽和溢出技術3、量子化效率：可見區(qū)域的量子效率在50%；紫外區(qū)域約為30% ；4、檢測器制冷：-45三階半導體制冷，必須必須藉由更低的冷卻溫度來降低讀數噪音；無獨立的制冷控制電源，一旦打開儀器電源（不管是否分析樣品），必須連續(xù)不斷驅氣保護，氣體消耗大；5、讀數方式：非破壞性讀數；通過不斷的積分，是檢測信號背景噪音小于一定的值之后，方可檢測輸出信號；Agilent 710-ES檢測器具有非常高的量子化效率，確保儀器具有非常高的靈敏度和非常低的檢出限。四、RF發(fā)生器1、頻率：40.68MHz空冷自激式；直接耦合技術，耦合效率80%；2、輸出功率范圍：700-17

60、00W；高功率更適合與髙鹽樣品和有機樣品的分析，可適用樣品范圍廣；頻率：40.68MHz；自激式固態(tài)發(fā)生器，二次耦合，耦合效率約為81%；輸出功率范圍：750-1500W；功率范圍較低，對有機樣品的測定效果差；1、頻率：27.12 MHz；自激式固態(tài)發(fā)生器，輸出效率78%；輸出功率范圍：750-1600W；功率范圍較低；Agilent 710-ES采用高的RF頻率和更寬的功率范圍，確保儀器適應更加復雜的樣品類型五、觀測方式1、水平觀測，依靠豐富的譜線選擇同時測定高、低濃度的樣品；2、對于710ES水平觀測炬管位置可以調節(jié)范圍為3mm，以獲取最好的檢出限和避免干擾。1、雙向觀測（8000）；2、