超聲相控陣檢測教材-第七章-ISONIC相控陣操作說明

精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上專心---專注---專業(yè)專心---專注---專業(yè)精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上專心---專注---專業(yè)ISONIC相控陣設備操作指南焊縫高級檢測軟件功能一、進入檢測界面1、根據(jù)所使用的儀器進入相控陣檢測模式，在相控陣界面下點擊，見圖1所示。圖12、點擊進入選項模式，見圖2所示。圖23、點擊進入焊縫檢測模式。見圖3所示。圖34、相控陣探頭選擇根據(jù)檢測選用的相控陣探頭選擇相應的探頭型號，如圖4所示，圖4右上角所顯示的即為探頭楔塊及探頭的參數(shù)。如果在“選擇探頭”的下拉選項中無檢測所用的探頭型號，則點擊手動輸入探頭及楔塊的參數(shù)進行保存。然后點擊。圖45、點擊進入相控陣扇形掃描參數(shù)設置界面，如圖5所示。圖5二、檢測參數(shù)設置：1、基礎參數(shù)設置：增益：根據(jù)檢測對象所需的檢測靈敏度進行設置。聲程：根據(jù)檢測對象設置聲程范圍。聲速：設置為橫波聲速（例如：鋼中橫波聲速為3230m/s）。顯示延遲：就是常說的“零偏”設置。點擊（如圖6所示），通過點擊左鍵或右鍵，將“表面補償”設置為激活狀態(tài)（如圖7、圖8所示），點擊，儀器將自動校準“零偏”。自動校準后的顯示延遲將會自動修正為探頭延遲，如圖6所示。注：此處“表面補償”為調(diào)節(jié)檢測參數(shù)時所選用的入射角度（“激發(fā)設置”中所選取的調(diào)節(jié)檢測參數(shù)的入射角度）在探頭楔塊中傳播的延時，及探頭延時，儀器自動校準“表面補償”，即零偏后，顯示延遲與“測量參數(shù)”中的探頭延遲相同。“測量參數(shù)”中的探頭延遲，當選定入射角度后，儀器自動計算生成，所以是不可修改的，調(diào)節(jié)的左鍵右鍵為灰色圖標。如圖9、圖10所示。本次示例選擇的入射角度為55°，探頭延時為13.45us。圖6圖7圖8圖9圖10抑制：設置為0%2、激發(fā)參數(shù)設置：增益：根據(jù)檢測對象所需的檢測靈敏度進行設置。激發(fā)模式：設置為單晶。脈沖寬度：主要用于優(yōu)化脈沖回波信號。初始設置為探頭頻率周期的一半，將探頭置于放置在被檢工件或標準試塊上，根據(jù)脈沖回波的信號質(zhì)量，點擊左鍵或右鍵進行微調(diào)。如圖11所示。注：調(diào)節(jié)依據(jù)準則為：脈沖回波信號脈寬最窄且相對回波高度最高。本次示例選取的探頭為5MHz-32晶片的相控陣探頭，其脈沖寬度為T=1/f=1/5MHz=200ns圖11激發(fā)等級：激發(fā)等級代表激發(fā)電壓的大小，激發(fā)等級最高位12級，最高激發(fā)電壓可達到400Vpp雙極脈沖電壓。注：激發(fā)等級的大小依據(jù)被檢工件的厚度及被檢工件的材料性質(zhì)決定，依據(jù)相應標準進行選擇。重復頻率：一般≦（1500Hz～2000Hz）。注：重復頻率與顯示延時及聲程有關，詳細計算公式為：（1/PRF）≥[顯示延時+（2×最大聲程）/v]×6其中：PRF---重復頻率V---材料聲速6---安全系數(shù)最大聲程=工件厚度/cos（檢測所有到的最大入射角度）3、接收參數(shù)設置：增益：根據(jù)檢測對象所需的檢測靈敏度進行設置。濾波器：主要用于優(yōu)化脈沖回波信號，提高信噪比。設置為的狀態(tài)。如圖12所示。低通濾波：初始設置為探頭中心頻率的0.5倍，將探頭置于放置在被檢工件或標準試塊上，根據(jù)脈沖回波的信號質(zhì)量，點擊左鍵或右鍵進行微調(diào)。注：調(diào)節(jié)依據(jù)準則為：脈沖回波信號脈寬最窄且相對回波高度最高。本次示例選取的探頭為5MHz-32晶片的相控陣探頭。高通濾波：初始設置為探頭中心頻率的1.5倍，將探頭置于放置在被檢工件或標準試塊上，根據(jù)脈沖回波的信號質(zhì)量，點擊左鍵或右鍵，進行微調(diào)。注：調(diào)節(jié)依據(jù)準則為：脈沖回波信號脈寬最窄且相對回波高度最高。本次示例選取的探頭為5MHz-32晶片的相控陣探頭。注：濾波器的低通和高通頻率必須包含探頭的中心頻率。波形模式：設置為全波。圖124、閘門設置：脈沖信號調(diào)節(jié)中有兩個獨立的閘門，閘門A與閘門B，設置方法相同。開啟閘門均是為了讀取閘門內(nèi)脈沖回波信號的測量值，如聲程、深度、表面距離等。本示例以閘門A為例進行功能講解。如圖13所示。增益：根據(jù)檢測對象所需的檢測靈敏度進行設置。門A開關：點擊左鍵或右鍵，將閘門A設置為激活狀態(tài)。門位A：設置A閘門起始點。門寬A：設置A閘門寬度。門高A：設置A閘門高度（占滿屏高度的百分比）。圖135、報警選項設置：用于自動化檢測，一般情況下不使用。6、測量參數(shù)設置：增益：根據(jù)檢測對象所需的檢測靈敏度進行設置。測量數(shù)值：閘門覆蓋范圍內(nèi)的脈沖信號的測量值。根據(jù)檢測需要進行選擇。s(A):A閘門所捕捉的信號距探頭入射點的聲程。a(A):A閘門所捕捉的信號距探頭前端的水平距離。t(A):A閘門所捕捉的信號距探頭入射點的深度。T(A):A閘門所捕捉的信號到探頭入射點所用的時間。V(A):A閘門所捕捉的信號高于/低于閘門高度的dB數(shù)H(A):A閘門所捕捉信號自身高度的百分比。VC(A):A閘門所捕捉信號高于/低于DAC曲線的dB數(shù)。注：必須將閘門激活，方可選擇測量參數(shù)。本次示例選擇的測量數(shù)值為t(A)，讀取信號的深度值。測量方式：測量方式一共有4種，檢測時選擇“波峰點”測量方式。四種測量方式如圖14所示。探頭延時：儀器自動計算得出，不可調(diào)節(jié)。注：當選定入射角度后，儀器自動計算生成，所以是不可修改的，調(diào)節(jié)的左鍵右鍵為灰色圖標。如圖15所示。本次示例選擇的入射角度為55°，探頭延時為13.45us。圖157、激發(fā)設置：增益：根據(jù)檢測對象所需的檢測靈敏度進行設置。開始：設置從第幾個晶片開始激發(fā)。注：本次示例選擇第9晶片為開始激發(fā)晶片。激發(fā)晶片數(shù)：激發(fā)晶片的總數(shù)量。注：激發(fā)晶片的數(shù)量依據(jù)被檢工件的厚度及被檢工件的材料性質(zhì)決定，依據(jù)相應標準進行選擇。本次示例選擇激發(fā)16個晶片。入射角度：選定調(diào)節(jié)檢測參數(shù)的角度。一般設置為扇形掃查角度范圍的中間角度。例如扇形角度范圍35°～75°，則入射角度設置為55°。注：選擇中間角度是為了在做角度增益補償?shù)臅r候，大角度的回波能夠在角度增益補償窗口顯示出來。本次示例選擇入射角度為55°，扇形掃查角度范圍為35°～75°。聚焦深度：“厚度修正”激活的情況下可選。聚焦聲程：“厚度修正”關閉的情況下可選。注：聚焦方式分為兩種，聚焦深度和聚焦聲程。當“厚度修正”激活的時候，聚焦模式為聚焦深度，即聚焦的范圍按照工件的深度值進行計算。當“厚度修正”關閉的時候，聚焦模式為聚焦聲程，即聚焦的范圍按照聲波在工件中傳播的距離進行計算。如圖16、圖17所示。圖16圖178、接收設置：增益：根據(jù)檢測對象所需的檢測靈敏度進行設置。開始：設置從第幾個晶片開始激發(fā)。注：本次示例選擇第9晶片為開始激發(fā)晶片。激發(fā)晶片數(shù)：激發(fā)晶片的總數(shù)量。注：激發(fā)晶片的數(shù)量依據(jù)被檢工件的厚度及被檢工件的材料性質(zhì)決定，依據(jù)相應標準進行選擇。本次示例選擇激發(fā)16個晶片。入射角度：選定調(diào)節(jié)檢測參數(shù)的角度。一般設置為扇形掃查角度范圍的中間角度。例如扇形角度范圍35°～75°，則入射角度設置為55°。注：選擇中間角度是為了在做角度增益補償?shù)臅r候，大角度的回波能夠在角度增益補償窗口顯示出來。本次示例選擇入射角度為55°，扇形掃查角度范圍為35°～75°。聚焦深度：“厚度修正”激活的情況下可選。聚焦聲程：“厚度修正”關閉的情況下可選。注：聚焦方式分為兩種，聚焦深度和聚焦聲程。當“厚度修正”激活的時候，聚焦模式為聚焦深度，即聚焦的范圍按照工件的深度值進行計算。當“厚度修正”關閉的時候，聚焦模式為聚焦聲程，即聚焦的范圍按照聲波在工件中傳播的距離進行計算。如圖16，圖17所示。激發(fā)設置一般與接收設置相同。三、DAC曲線制作：1、DAC/TCG設置增益：依據(jù)檢測標準要求進行設置。DAC/TCG/DGS：點擊左鍵或右鍵，選擇創(chuàng)建。門位A：設置A閘門起點。記錄點：制作曲線的點數(shù)。(最大40個采樣點)DAC曲線：輔線關閉。2、理論DAC曲線制作步驟（1）當DAC/TCG/DGS選擇為“創(chuàng)建”時，圖18所示的圖標被激活。注：dB/mm為材料的衰減系數(shù)。（2）點擊圖標，可輸入不同材料的理論衰減系數(shù)。相應的理論DAC曲線將在A超窗口中顯示。如圖19所示。（3）點擊左鍵或右鍵將DAC/TCG/DGS調(diào)節(jié)為“DAC”，曲線制作完成。圖18圖193、實際DAC曲線制作步驟（1）“厚度修正”選擇關閉，聚焦聲程設置根據(jù)實際檢測工件確定。見圖20所示。注：本次示例采用二次波對20mm的對接焊接件進行檢測，聚焦深度選擇在工件中部10mm位置。所選擇的基準入射角度為55°，則在進行DAC曲線制作時，聚焦聲程為20/cos55°×3/2=52mm。圖20（2）根據(jù)被檢工件，依據(jù)其檢測的相應標準選擇制作DAC曲線的標準試塊。依據(jù)標準選擇不同深度的孔。將相控陣探頭放置在標準試塊上，找到第一個孔的最大反射回波，調(diào)節(jié)增益使回波的高度達到檢測標準要求，確定檢測的起始靈敏度。調(diào)節(jié)門位A，將閘門A套住回波，點擊左鍵或右鍵將“記錄點”設置為1。依次找到剩余不同孔的最大反射回波，并在閘門A套住回波的情況下，并記錄點數(shù)。（3）所有點記錄完后，點擊左鍵或右鍵將DAC/TCG/DGS調(diào)節(jié)為DAC。曲線制作完成。（4）記下此時的DAC起始靈敏度，即增益值。本次示例以檢測20mm厚度的對接焊接件為例，依據(jù)JB/T4730標準要求，選擇CSK-ⅢA為標準試塊。選取10mm、20mm、30mm、40mm、50mm孔為記錄點進行曲線制作。制作方法如下：將相控陣探頭放到CSK-ⅢA試塊上，找到深度為10mm孔的最大反射回波，調(diào)節(jié)增益，將反射波高調(diào)節(jié)為屏幕滿屏高80%~90%，調(diào)節(jié)閘門A的門位，用閘門套住反射回波，記錄點1。見圖21。圖21將相控陣探頭放到CSK-ⅢA試塊上，找到深度為20mm孔的最大反射回波，調(diào)節(jié)閘門A的門位，用閘門套住反射回波，記錄點2。見圖22。圖22將相控陣探頭放到CSK-ⅢA試塊上，找到深度為30mm孔的最大反射回波，調(diào)節(jié)閘門A的門位，用閘門套住反射回波，記錄點3。見圖23。圖23將相控陣探頭放到CSK-ⅢA試塊上，找到深度為40mm孔的最大反射回波，調(diào)節(jié)閘門A的門位，用閘門套住反射回波，記錄點4。見圖24。圖24將相控陣探頭放到CSK-ⅢA試塊上，找到深度為50mm孔的最大反射回波，調(diào)節(jié)閘門A的門位，用閘門套住反射回波，記錄點5。見圖25。圖25所有點記錄完后，點擊左鍵或右鍵將DAC/TCG/DGS調(diào)節(jié)為DAC。曲線制作完成。見圖26。圖26記下此時的DAC起始靈敏度，即增益值。注：本次示例起始靈敏度為40.5dB。四、角度增益補償曲線制作：1、角度增益補償制作步驟（1）制作角度增益補償曲線時，一般選用半圓試塊（見圖27所示）或者其他具有不同深度的橫通孔的試塊制作角度增益補償曲線。圖27半圓試塊（2）“厚度修正”選擇開啟，聚焦深度位置根據(jù)檢測具體情況設置，一般按照實際檢測工藝進行設置。見圖28所示。注：本次示例采用二次波對20mm的對接焊接件進行檢測，聚焦深度選擇在工件中部10mm位置。（3）將相控陣探頭放置在所選試塊上（本次示例選用半圓試塊）找到基準入射角度（本次示例選用的基準入射角度為55°）的反射體回波，調(diào)節(jié)增益確定基準波高，使得反射體的基準波高為滿屏的70%、80%或90%均可，基準波高可由檢測人員自己確定（本次示例選用基準入射角度為55°下找到的反射體的回波為80%作為基準波高）。點擊進入掃查設置界面，見圖28所示。圖28（4）進入“掃查設置”界面后點擊“單一角度增益修正”菜單的“編輯”進入角度增益補償修正界面（見圖29所示），進入角度增益補償修正界面后，將入射角度調(diào)節(jié)為基準入射角度（本次示例選用55°作為基準入射角度），增益修正此時為0。點擊選擇制作角度增益補償?shù)慕嵌炔竭M，可調(diào)步進有0.1°、0.2°、0.5°、1°、2°、5°，一種6種可調(diào)步進。選擇的步進將在入射角度的左上角顯示，見圖30所示（本次示例選擇的角度步進為1°）。注：角度步進的選擇是為了確定，在整個扇掃范圍內(nèi)，每隔多少度進行一次角度增益補償修正。選擇的角度步進越小則表明角度增益補償曲線制作的越精細。圖29圖30（5）通過鍵調(diào)節(jié)入射角度，在試塊上移動探頭，找到每個入射角度對應的反射體的最大回波，通過調(diào)節(jié)增益修正，將每個最大回波調(diào)節(jié)至80%的滿屏高度。入射角度的范圍為所選的扇形掃查角度范圍，一般為35°～75°。見圖31~圖38所示。注：在調(diào)節(jié)過程中基準入射角度的增益修正始終為0。如果在制作角度增益補償?shù)倪^程中發(fā)現(xiàn)基準入射角度的增益修正發(fā)生變化，需返回至基準角度將增益修正重新調(diào)為0。（見圖32，圖33所示）。圖31圖32圖33圖34圖35圖36圖37圖38（6）所有角度都修正完之后，點擊，將制作好的角度增益補償曲線保存起來，文件后綴名為.gac，文件名可自行錄入，并選擇文件所存儲的位置，以便下次類似檢測直接調(diào)用。見圖39所示。圖39注：如果探頭楔塊不發(fā)生嚴重磨損，同時扇形掃查范圍都在35°～75°時，在檢測任意與本次檢測相類似的焊接工件時都可直接調(diào)用此角度增益補償曲線，不需要重新進行制作。（7）保存角度增益補償曲線后，點擊，退出角度修正界面。五、檢測工藝參數(shù)設置在掃查設置界面點擊，返回到檢測參數(shù)設置界面，輸入實際檢測工件的厚度，和檢測工藝（例如一次波檢測或二次波檢測等）。并將增益值設置為DAC曲線制作時的其實靈敏度。見圖40所示。注：實際的檢測工藝需依據(jù)相關標準進行設定。本次示例選擇20mm厚的對接焊板模擬試塊進行檢測，選用二次波。聚焦深度為工件厚度的1/2處，即10mm位置。起始掃查靈敏度為40.5dB。圖40注1：厚度修正:激活厚度修正后，即可更改工件厚度厚度修正:激活厚度修正后，即可更改工件厚度激發(fā)反射次數(shù)設置接收反射次數(shù)設置0.5為一次波,1為二次波,依次類推激發(fā)接受反射次數(shù)越多，厚度穿透能力越低注2：此時檢測參數(shù)設置完成，DAC曲線亦制作完成。點擊，保存已設置好的檢測參數(shù)及DAC曲線。文件后綴名為.par，文件名可自行錄入，并選擇文件所存儲的位置，以便下次類似檢測直接調(diào)用。如圖41所示。圖41

六、耦合監(jiān)控設置1、點擊進入掃查設置界面，點擊耦合中的激活，進入到耦合監(jiān)控設置界面。見圖42、圖43所示。圖42圖432、在耦合監(jiān)控界面，找到試塊的底波，將開啟閘門套住底波，調(diào)節(jié)增益使得底波的回波高度達到滿屏高度的80%。點擊圖43界面中的，回到角度增益補償修正界面。此時耦合監(jiān)控為激活狀態(tài)，激活的圖標變亮。見圖44所示。圖44七、焊縫幾何參數(shù)設置1、在掃查設置界面，點擊點擊“幾何尺寸”菜單的“編輯”，進入“焊縫參數(shù)”設置界面，見圖45所示。圖452、進入到焊縫幾何參數(shù)設置界面后，輸入焊縫的幾何參數(shù)。焊縫寬度、表面余高、根部寬度、根部余高。見圖46所示。本次示例所檢測的焊縫幾何參數(shù)如圖46所示。圖463、點擊，可進行焊縫真實坡口設置。見圖47所示。設置完成后點擊。此時坡口圖標點亮。見圖48所示。圖47圖484、點擊，退出焊縫參數(shù)設置界面。八、扇形掃查范圍及探頭位置設置1、在掃查設置界面，進行檢測扇形掃查范圍設置。2、通過調(diào)節(jié)檢測所需的最小角度、最大角度及角度步進。角度步進有0.2°、0.5°、1°、2°和5°工五種選項。檢測所需的最大最小角度的選擇主要依據(jù)能否全部覆蓋或者最大程度覆蓋檢測焊縫區(qū)域的宗旨來進行調(diào)節(jié)，在滿足覆蓋要求的前提下，一次波聲束與二次波聲束的重疊部分盡可能的少。角度步進越小聲束覆蓋焊縫區(qū)域越密集，但同時檢測數(shù)據(jù)量越大，采集速度及保存速度越慢（建議在檢測中選擇0.5°的角度步進足以滿足檢測要求）。3、在焊縫參數(shù)設置界面，通過調(diào)節(jié)。通過探頭位置的調(diào)節(jié)，可以在示意圖中看出已設定的扇形掃查范圍是否滿足聲束覆蓋要求，從而找到適合的探頭位置。在探頭位置滿足聲束覆蓋范圍時，探頭位置越小越好，以減少聲波的衰減。注：探頭位置代表探頭距焊縫根部的的距離。本次示例選擇的扇形掃查范圍為38°～72°，掃查步進為0.5°，探頭位置為12mm。見圖49，圖50所示。圖49圖50九、焊縫檢測1、焊縫參數(shù)設置完成后，在掃查設置界面點擊，進入扇形掃描界面，見圖51所示。圖512、在扇形掃描界面，激活閘門，設置門位、門寬及門高。超過閘門高度，并在閘門覆蓋范圍內(nèi)的檢測信息將會進行成像顯示。但閘門外的信息（A超信號）都將被100%記錄，只是不做成像。見圖52所示。注：閘門高度一般建議設置為20%。閘門門位一般設置為檢測時所需成像的起始位置，閘門寬度一般設置為檢測時所需成像的最大聲程值。圖523、扇形掃描界面的增益為掃查靈敏度。根據(jù)工件表面狀態(tài)，掃查靈敏度一般在起始靈敏度之上進行補償。補償?shù)姆秶?，一般根?jù)相關檢測標準要求進行補償。（本次示例沒有加表面補償）4、點擊進入C掃描界面進行檢測。見圖53所示。圖535、在C掃描界面設置掃查長度、選擇記錄方式為編碼器。6、編碼器校準：將相控陣編碼器接入主機。返回至開機檢測界面，見圖54所示。點擊。圖54點擊，見圖55所示。圖55點擊，見圖56所示。圖56將相控陣編碼器裝入探頭。見圖57所示。圖57將編碼器放置在直尺上，點擊，沿著直尺或者工件表面將編碼器推行300mm。見圖58，圖59所示。注：相控陣編碼器前行方向必須與檢測時方向一致，否則將不進行成像記錄。圖58圖59編碼器推行時，圖58中的紅色箭頭會一直閃動，直至編碼器行走完300m。點擊步驟二，進入編碼器測試界面，驗證編碼器是否校準。對編碼器進行正行、逆行驗證，查看顯示結(jié)果，誤差范圍不能超過1%。見圖60，圖61，圖62所示。圖60圖61圖62測試完成后，點擊，對編碼器進行命名（可自行命名），點擊。見圖63所示。圖637、掃查進入到C掃描界面，選擇以校準好的編碼器，查看耦合狀態(tài)。如果耦合狀態(tài)良好，則C掃描界面中耦合狀況指示為，如果耦合狀態(tài)不好，則C掃描界面中耦合狀況指示為。見圖64所示。圖64點擊，進行掃查。掃查結(jié)束后，點擊，將會生成掃查結(jié)果。見圖65所示。圖65點擊，并保存數(shù)據(jù)。文件后綴名為.esc，文件名可自行錄入，并記住文件的存放路徑，便于后續(xù)進行數(shù)據(jù)分析。見圖66所示。圖66十、數(shù)據(jù)分析1、采用離線數(shù)據(jù)分析軟件或者相控陣儀器中的數(shù)據(jù)分析功能對所采集到的檢測而數(shù)據(jù)進行分析。2、雙擊數(shù)據(jù)文件名或選中文件點擊，進入該數(shù)據(jù)分析模式。見圖67、圖68所示。圖67圖683、點擊視圖菜單，選擇圖像后處理，開始數(shù)據(jù)分析。見圖69所示。圖694、點擊視圖菜單中的基本信息子菜單，查看檢測過程中的設置參數(shù)、探頭參數(shù)、增益修正（即角度增益補償曲線）。查看完畢點擊確認或關閉。見圖70、圖71、圖72所示。圖70圖71圖725、點擊瀏覽菜單中的L.X-瀏覽和Y1瀏覽子菜單，對掃查結(jié)果進行側(cè)視圖（焊縫厚度方向）及俯視圖（焊縫寬度方向）的切片瀏覽。瀏覽完畢點擊瀏覽菜單中的關閉。見圖73、圖74所示。圖73圖746、點擊標記菜單中的C掃描子菜單，選擇激活。此時可瀏覽俯視圖上整個掃查長度的扇形掃描（即P掃描圖），在瀏覽的過程中，對整個長度的某一點圖像感興趣，點擊鼠標左鍵，在扇形掃描圖上將對應的出現(xiàn)該點的P掃描圖。點擊標記菜單中的B掃描子菜單，選擇激活。此時可瀏覽P掃描圖中任意一點的A超波形，點擊鼠標左鍵，單一查看所感興趣的某一點的A超波形。用鼠標雙擊A超窗口，則彈出某一點A超信號的信息。查看完畢后點擊關閉。見圖75所示。圖757、如果在此次檢測中，掃查靈敏度設置過高或過低，不符合相關標準要求，可點擊視圖菜單中的，增益變化子菜單，通過調(diào)節(jié)增益值。增益可調(diào)范圍為-6dB~+6dB。點擊應用，相應的圖像信息就會發(fā)生改變，即圖像顏色變淺或變深（圖像顏色代表當量值的大小），圖像面積增大或減小。見圖76、圖77所示。圖76圖778、如果在數(shù)據(jù)分析的過程中，發(fā)現(xiàn)成像的位置不正確（即閘門設置錯誤），可通過閘門修正菜單進行修改。修改后，點擊應用，圖像將會按照新的閘門設置改變。見圖78、圖79、圖80所示。注：閘門修正菜單必須是在標記菜單中的C掃描和B掃描激活的狀態(tài)下才可以使用。門寬不可調(diào)節(jié)，門寬隨著門位位置改變自動變化。圖78檢測前閘門設置圖79圖809、點擊濾波菜單，選擇激活，可濾除一些無用的的圖像信息。濾波一共有3種濾波方式，見圖81所示。選擇濾波后.點擊應用，圖像信息將根據(jù)設置發(fā)生改變。所有已選擇的濾波信息，將在C掃描數(shù)據(jù)后處理界面的左側(cè)濾波信息中給出，見圖示。如想恢復原始圖像，點擊濾波菜單，選擇關閉。設置幅度濾波：圖像中不同的顏色代表不同的當量（dB值），選擇此濾波方式可濾除一些顏色的圖像，即小于濾波器選擇的當量值的圖像會被濾除。見圖82、圖83所示。設置表面切片深度濾波：選擇此濾波方式可濾除工件上表面以下xxmm的圖像。主要體現(xiàn)在側(cè)視圖上的圖像變化。見圖84、圖85所示。設置底面切片深度濾波：選擇此濾波方式可濾除工件下表面以上xxmm的圖像。主要體現(xiàn)在側(cè)視圖上的圖像變化。見圖86、圖87所示。圖81圖82圖83圖84圖85圖86圖8710、缺陷分析：點擊視圖菜單中的按曲線修正子菜單，選擇激活。點擊濾波菜單，激活濾波器。選擇設置幅度濾波方式，按照相關標準，選擇需要評定的等級，點擊應用。所顯示的圖像都將按照標準要求需要進行評定。（本次示例是依據(jù)國標JB/T4730標準要求，對缺陷進行評定，對II區(qū)以上的缺陷進行測量記錄。）見圖88、圖89所示。圖88圖89缺陷測量：點擊測量功能菜單，即可激活測量定量線。測量讀數(shù)可在視窗左下角讀取。見圖90、圖91、圖92所示。測量功能可對缺陷的投影長度、投影寬度及投影高度進行測量。①L-坐標，投影長度：長度測量△L：長度Lr：起點Lg：結(jié)束點②X-坐標，投影寬度：寬度測量△X：寬度Xr：起點Xr：結(jié)束點③Y-坐標，投影高度：高度測量△Y：高度Yr：起點Yr：結(jié)束點圖90圖91圖92缺陷最大點A超信息讀?。狐c擊標記菜單，激活C掃描，移動C掃描指針在俯視圖及側(cè)視圖中尋找整個缺陷中成像面積當量的最大點，點擊鼠標左鍵。激活B掃描，移動B掃描指針在P掃描圖（即扇掃圖）中尋找該點的當量最大點，通過A超窗口進行幅值大小判斷。雙擊A超窗口，讀取缺陷最大點A超信息。見圖93所示。圖933D成像顯示：點擊3D顯示菜單，選擇全部，即可把俯視圖、側(cè)視圖和端視圖合成為一個完整的三維圖像。見圖94所示。選擇部分，可選擇部分掃查區(qū)域進行三維成像。見圖95所示。圖94圖95生成檢測報告：點擊文件菜單，選擇打印成word文件，可以選擇只有圖形，也可以選擇完整報告。選擇只有圖形，儀器自動生成的檢測報告中只有圖像，無檢測所設置參數(shù)等其他信息。選擇完整報告，儀器自動生成的檢測報告中有圖像，亦有檢測所設置的參數(shù)信息等完整信息。注：儀器自動生成的報告為word格式，可自行命名文件，自行選擇存儲路徑。儀器自動生成的報告可進行后期編輯，如復制、粘貼等處理。附件1為只有圖形的報告模板。附件2為完整報告模板。附件1ISONIC2009UPAScope檢測報告-后處理頁面閘門修正門位A=13mm門高A=20%濾波:-6.6dB/-1:21mm長度Lr=43.1mmLg=118.4mmΔL=-75.3mm寬度Xr=20.7mmXg=15.8mmΔX=5.0mm高度Dr=8