emc培訓(xùn)-訓(xùn)練營中文h12116-mance

?2013EMC保留所利EMC確信本物在發(fā)布之日內(nèi)容準(zhǔn)確無誤。本物中本物的內(nèi)容按“原樣”提供。EMCCorporation對本物的內(nèi)容不提供的陳述或擔(dān)保，明確對有特使用、或分發(fā)本物所描述的任何EMC都要有相應(yīng)的證。EMC2、EMC、EMC徽標(biāo)、Symmetrix、VMAX、VNX、Isilon、FASTXtremXtremIOXtremSF和XtremSW是EMCCorporation在和其他國家/地區(qū)的商標(biāo)或商標(biāo)。有關(guān)EMC產(chǎn)品名稱的，請參見htEMCCorporationVMware和vSphere是VMware,Inc.在和/或其他法律轄區(qū)的商標(biāo)或商標(biāo)。本文提到的所有其他商標(biāo)均為其各執(zhí)行...............................................................................................................................閃存與磁盤大有不 目標(biāo)受 白皮書內(nèi)容概 背 關(guān)鍵概 測試工 測試計(jì)劃基礎(chǔ)知 一致的隨機(jī)性 功能性 調(diào)整因素和未完成 隨機(jī) 讀/寫混 未完成 I/O大 LUN大 LUN的數(shù) 繪圖內(nèi)容以及如何閱讀繪 IOPS（吞吐量）和陣列飽和 一致 為測試配置陣 為測試準(zhǔn)備陣 探討陣列IOPS和延遲的特 基本特 預(yù)期的模式和觀察結(jié) 擴(kuò)展性 順序性 LUN的數(shù) 讀/寫混 探討數(shù)據(jù)效率的特 評估內(nèi)聯(lián)式重復(fù)數(shù)據(jù)消 后處理式重復(fù)數(shù)據(jù)消 評估實(shí)際的原始與可用 探討一致性的特 降級的系統(tǒng)性 驅(qū)動器故 控制器中斷和故 探討VMwareVAAI功能的特 準(zhǔn)備測試環(huán) 評估XCOPY功 評估WRITESAME功 評估原子測試和設(shè)置功 結(jié) 后續(xù)步 參考資 附錄A–優(yōu)先進(jìn)行的測試矩 附錄B–XtremIO配 執(zhí)行如今，虛擬服務(wù)器、基于云的平臺和虛擬桌面正在成為部署新基礎(chǔ)架構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)方式。將很多不同的應(yīng)用程序整合到一套單個(gè)系統(tǒng)內(nèi)的這種趨勢，了有時(shí)被稱為“I/O混合器”的效應(yīng)。工作負(fù)載總體上變得高度隨機(jī)，并且跨大部容量同時(shí)分布。與此同時(shí)，強(qiáng)大的分析正在為組織提升價(jià)值，并推動收集和分析海量數(shù)據(jù)的能力。傳統(tǒng)系統(tǒng)采用旋轉(zhuǎn)磁盤和緩存控制器，非常適合具有可管理工作集和順序足整合基礎(chǔ)架構(gòu)高度隨機(jī)的需求。閃存并不是新鮮事物，不過最近它們在價(jià)格和性能方面的改善，才使得人的準(zhǔn)ASSA驅(qū)動器（S）的閃存已迅速改進(jìn)，成為一款比較值得信賴的商品。供應(yīng)商則迅速加以利用，但很多商家只是用SD替換了旋轉(zhuǎn)磁盤。這樣做并不能充分利用閃存的優(yōu)勢，也不能彌補(bǔ)此前的不足。在市場上，有些解決方案比另一些解決方案更好地發(fā)揮出閃存的性能。閃存與磁盤大有不傳統(tǒng)的磁盤子系統(tǒng)經(jīng)過優(yōu)化，以避免隨機(jī)。陣列控制器爾定律闡述的速度演變發(fā)展。20年來，U和了,00盤秒I/O數(shù)()，采CU周期和內(nèi)存容量為代價(jià)，來減少對其陣列底層磁盤子系統(tǒng)進(jìn)行的。對傳統(tǒng)進(jìn)行的測試側(cè)重于檢定陣列控制器和緩存的特性。它們是區(qū)分磁盤陣列差異的關(guān)鍵因素，并且在實(shí)際磁盤時(shí)，往往都會受到同一套磁盤技術(shù)的限制。機(jī)個(gè)D器SDO問模式或者數(shù)據(jù)塊范圍。這讓現(xiàn)在剛剛啟動的全新及改進(jìn)的數(shù)據(jù)服務(wù)得以在市場上成熟起來。但是，SD的速度比寫入速度要快很多。如果在同樣的閃存位置重復(fù)寫入數(shù)據(jù)，閃存也會磨損，其耐用性也將會降低。這了從根本上的重新思考——F)的控制器，以及應(yīng)該如何測試這些設(shè)計(jì)才能突顯其優(yōu)勢和劣勢。本白皮書說明了評估FA時(shí)應(yīng)考慮的重要注意事項(xiàng)。這些閃存陣列采用新技術(shù)來協(xié)助評估，成實(shí)踐較少，而且閃存的行為模式可能比較陌生。因此，看完本篇白皮書后，讀者將進(jìn)一步加深了解，從而的選擇。目標(biāo) 白皮書一些配置AFA和準(zhǔn)備進(jìn)試的方法。接下來的四部分內(nèi)容分別重點(diǎn)探討了AFA在IOPS和延遲、數(shù)據(jù)效率能力、響應(yīng)一致性以及在高性能級別支持虛擬基礎(chǔ)架 背閃存是一種基本的介質(zhì)技術(shù)。如果僅依靠其自身，閃存做不了很多工作。企業(yè)級閃存解決方案有多種形式的組合套餐：最低延遲的閃存解決方案之一是將置于一張可以直接插進(jìn)服務(wù)器的PCIe卡上。EMC?XtremSF?便是一個(gè)典型例子。服務(wù)器閃存讓應(yīng)用程序可以極其快速地。但此時(shí)的是，要有優(yōu)秀的（例如XtremSW?Suite）來管理卡里的內(nèi)容。而且，在服務(wù)器之間共享閃存的內(nèi)容，需要復(fù)雜的快速的互聯(lián)。下一個(gè)階段是，將閃存包在一個(gè)可以使用標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議在多臺服務(wù)器之間共享的外部裝置內(nèi)。這些裝置往往僅有最少的企業(yè)級功能，并且側(cè)重基本N的低延遲。閃存裝通?；谥频拈W存塊而構(gòu)建，這些模塊直接裝置中，就像內(nèi)存或夾層卡服務(wù)器那樣。全閃存陣列可提供企業(yè)級功能，例如高可用性、精簡資源調(diào)配和重復(fù)數(shù)據(jù)消除等。AFASSD構(gòu)建，帶有磁盤接口和熱拔插托架，從而讓調(diào)換故障組件的工作簡便易行。EMCXtremIO?陣列基于標(biāo)準(zhǔn)硬件，采用創(chuàng)新的全新的算法，為應(yīng)用程序提供真實(shí)的性能水平、便捷混合陣列將傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)磁盤與閃存設(shè)備結(jié)合使用。這種閃存通常作為控制器緩存層次結(jié)構(gòu)的延伸，而大部分的創(chuàng)新主要圍繞如何管理各層之間數(shù)據(jù)放置而展開。EMCymetx?VMXECV?EMCIi?D為全自動分層(FAST?)的介質(zhì)服務(wù)器SSD是另一種很受歡迎的選擇。SSD直接連接到服務(wù)器上，然后由服務(wù)器操作系統(tǒng)通過RAID或者分層算法（如果可用）進(jìn)行管理。EMC提供全球最全面的技術(shù)產(chǎn)品組合，并且深知閃存在數(shù)據(jù)中心中所處的位置。如圖1所示，閃存在環(huán)境內(nèi)的眾多環(huán)節(jié)都起到重要作用。將這些技如今，只有EMC可以提供齊全的產(chǎn)品和寬廣的視界，讓這一切成為現(xiàn)實(shí)。圖1閃存在數(shù)據(jù)中心中所處的本白皮書重點(diǎn)全閃存陣列，如圖1中左數(shù)第二層代表的內(nèi)容。本白皮書述及的任何和技術(shù)，均應(yīng)在AFA背景下予以解讀。EMC產(chǎn)品組合中的其他技術(shù)在其他白皮書中進(jìn)行探討，如需了解，敬請ht 關(guān)鍵早期閃存陣列開發(fā)的關(guān)鍵問題之一，是使用具有標(biāo)準(zhǔn)接口的（如SAS或者SATA），還是使用定制閃存模塊，這些模塊能夠顯示為、內(nèi)存或使用定制驅(qū)動器的一些其他設(shè)備。某些開發(fā)選擇利用標(biāo)準(zhǔn)化的SSD，而另一些開發(fā)則圍繞為單個(gè)供應(yīng)商的規(guī)格量身定制的定制閃存模塊來構(gòu)建。使用定制模塊可以達(dá)到更高的集成度，并潛在地改善了性能和密度。不利的一面是，現(xiàn)在這家供應(yīng)商要負(fù)責(zé)與模塊相關(guān)的所有工作和創(chuàng)新。當(dāng)整個(gè)閃存業(yè)剛剛興起，僅有少數(shù)人了解如何最佳利用閃存介質(zhì)時(shí)，這是一種非常受歡迎的方SD使用定制模塊實(shí)際上就像是在進(jìn)行一場博弈，而對手是整個(gè)SSD行業(yè)：在構(gòu)建企業(yè)級邏輯和介質(zhì)方面擁有幾十年經(jīng)驗(yàn)的公司（例如LSI、Hitachi、Marvell、 等），以及吸引了一些業(yè)內(nèi)最佳工程師的SSD初創(chuàng)公司。使用SSD會給I/O路徑增加一些延遲（與附接閃存的PCIe卡相比），但是AFA工程師能夠選擇同類最佳的SSD，并利用SSD業(yè)內(nèi)快速的創(chuàng)新和持續(xù)改進(jìn)的可靠性。XtremIO便是依靠這些技術(shù)嫻供應(yīng)商，而不是孤注一擲地去他們。因此，XtremIO的重點(diǎn)放在開發(fā)最豐富的堆棧，而不是去優(yōu)化閃存設(shè)備硬件。閃存是一種固有的隨機(jī)介質(zhì)。要從旋轉(zhuǎn)磁盤獲得IOPS，最大的障礙在于尋道時(shí)間和旋轉(zhuǎn)延遲。如果要進(jìn)行隨機(jī)I/O，磁盤需要首先將讀的扇區(qū)。而閃存僅需指定所需地址，并直接正確的位置。這意味著，無論所需數(shù)據(jù)駐留在SSD邏輯地址空間的什么位置，時(shí)間和延遲始終都會很低。而且，無論后續(xù)請求是順序還是隨機(jī)放址，SD和閃存模塊因自身性質(zhì)而復(fù)雜。閃存介質(zhì)處于狀態(tài)，需要搭配為個(gè)U（C或載O、動電源管理。這些組件配合作用，以便解決下述概念。某些制造商在可靠性、性能和持續(xù)改進(jìn)方面比其他出色得多。很多設(shè)備級別的功能也得以在陣列級別體現(xiàn)。有時(shí)，陣列會提升和倍增設(shè)備的功能。有時(shí)，陣列會假設(shè)設(shè)備不，或者它需要彌補(bǔ)設(shè)備的可能缺陷。XtemO傾向于識別值得信賴的D，且通常會依賴它們的功能。當(dāng)然，這個(gè)陣列也會SD級別發(fā)生的任何“”閃存的寫入操作比操作更復(fù)雜。閃存內(nèi)容是一項(xiàng)快速且簡單的操作。請求了地址和所需的數(shù)據(jù)長度后，設(shè)備U會指定單元的內(nèi)容，然后將這些內(nèi)容返回至請求者。而寫入操作需要使用新值編程閃存單元，需要更長時(shí)間才能完成，并且通常僅在介質(zhì)的較大扇區(qū)才能進(jìn)行操作。如果該操作是對扇區(qū)進(jìn)行部分覆寫，則必須首先內(nèi)容，并將內(nèi)容合并到帶新數(shù)據(jù)的設(shè)備內(nèi)存中，然后再將其寫入到一個(gè)全新的空扇區(qū)。如果沒有閑置的空扇區(qū)，則設(shè)備必須首先找到并擦除一個(gè)未使用的扇區(qū)。唯一的結(jié)果便是SD每秒執(zhí)行的寫入操作通常僅為操作的一半或者三分之一。閃存終會磨耗損壞。對閃存扇區(qū)進(jìn)行的擦除和編程操作，從本質(zhì)上來說會對介質(zhì)造成損害。如果長久未被寫入，單元的狀況終會下降。因此，DDSD都會隨著使用而逐漸損壞。陣列應(yīng)設(shè)計(jì)成盡量減少向閃存寫入數(shù)據(jù)，其中最有效的方式之一是避免寫入重復(fù)數(shù)據(jù)（內(nèi)聯(lián)式重復(fù)數(shù)據(jù)消除），并實(shí)施智能數(shù)據(jù)保護(hù)，盡可能減少與奇偶校驗(yàn)相關(guān)的寫入。并非所有閃存都一樣。閃存和SSD根據(jù)各自的性能和耐用性而構(gòu)建和定價(jià)。單層單元(SLC)閃存在每個(gè)單元一個(gè)比特，通常每個(gè)單元寫入約100,000次后便會燒壞。多層單元（MLC，也稱為消費(fèi)級閃存或cMLC）閃存在每個(gè)單元兩個(gè)比特，通常每個(gè)單元寫入約3,000次后便會燒壞。MLCSLCMLC(eMLC)閃存使用智能技術(shù)來改善速度和耐用性。它通常在寫入約30,000次后損壞。留空間也是在企業(yè)級SSD中比較普遍的做法，其包含的閃存比在外陣列進(jìn)試才能得出最準(zhǔn)確的預(yù)期。用戶通常期望達(dá)到80%的利用率，有時(shí)甚至期望超過80%。強(qiáng)烈建議使用90%滿的陣列來進(jìn)試。閃存轉(zhuǎn)換層(F)。SD實(shí)施了一個(gè)抽象層，以閃存像磁一樣工UL護(hù)閃存單元的預(yù)先擦除區(qū)域，從隨時(shí)保留數(shù)據(jù)的物理單元抽取數(shù)據(jù)的邏輯位置，以及盡量減少向?qū)嶋H閃存寫入數(shù)據(jù)的操作等。這些操作均在閃存設(shè)備上完成，但也有一些典型的類似操作在陣列級別完成。數(shù)據(jù)收集是主動閃存上空閑的預(yù)先擦除空間以優(yōu)化寫入操作的流程D上，并可能發(fā)生在陣列控制器級別（會圖SD執(zhí)行其自身的數(shù)據(jù)集功能，向于使用制造商認(rèn)為更高級的控制器級別的數(shù)據(jù)收集算法）。理想情況是，在空閑期時(shí)，在進(jìn)行數(shù)據(jù)收集操作。而整合的基礎(chǔ)架構(gòu)一直連續(xù)運(yùn)行，可能都沒有空閑期。在這樣的情況下，數(shù)據(jù)收集會影響生產(chǎn)性能。在連續(xù)負(fù)載迫使數(shù)據(jù)收集處于活動狀態(tài)的期間進(jìn)試，對于準(zhǔn)確設(shè)定可的性能預(yù)期來說至關(guān)重要。負(fù)載平衡是閃存工作的一個(gè)重要組成部分。由于重復(fù)向一個(gè)閃存單元寫均衡寫入通過以下方式實(shí)現(xiàn)：從物理地址分離邏輯，僅向已完全擦除的閃存區(qū)域?qū)懭霐?shù)據(jù)，以及對已經(jīng)邏輯刪除或覆寫的數(shù)據(jù)進(jìn)行擦除物理位DL負(fù)責(zé)管理邏輯/物理抽象和后處理，以清除過時(shí)的物理位置。寫入4KB的數(shù)據(jù)，但是寫入數(shù)據(jù)塊為256KB，那么由于物理限制，閃存設(shè)備可能需要寫入256KB的數(shù)據(jù)。在陣列級別，RAID算法可能會通過添加或者升級奇偶校驗(yàn)的方式來放大寫入。數(shù)據(jù)收集也可以通過整合 還設(shè)法在SSD上將很多較小的請求整同一個(gè)較大的寫入數(shù)據(jù)塊。IOSFA時(shí)鎖定閃存模塊或D，不允許相同的設(shè)備。最終，請求要么被延遲，要么被進(jìn)行奇偶校驗(yàn)重建，即要求冗余組中所有剩余設(shè)備。因此，單個(gè)奇偶校驗(yàn)重建請求帶來N1個(gè)閃存設(shè)備，中N代表冗余組中的設(shè)備數(shù)。這種動態(tài)調(diào)整稱為“放大”可能會出FA實(shí)施階段。用保的些FA和D數(shù)量B寫保法商SSD期都會全速工作。在一定比例的閃存單元的寫入耐用性耗盡之后，寫入操作開始受到限制（放緩）。通常開始時(shí)比較緩慢，但隨著單元越來越接近壽終正寢，就會有的寫入操作受到限制。最終的效果就或SD的性能會隨著部署產(chǎn)品用的逝而大幅降。如果陣列被保證了具體的使用年限，請?jiān)儐柟?yīng)商其性能是否會因限制原因隨著時(shí)間發(fā)展而下降。測試選擇正確的工具來評估AFA性能非常重要，因?yàn)檫@樣才能獲得準(zhǔn)確的系統(tǒng)特性。很多性能測試工具都是圍繞工作負(fù)載而構(gòu)建。向在測系統(tǒng)發(fā)出I/O，IOmeter–最常用的選擇。這款工具頗具，因?yàn)樗蠫UI，能讓使用者輕松入門。但是使用IOmeter也很容易產(chǎn)生確的結(jié)果，并且構(gòu)建O–x壓縮時(shí)，該工具能夠生成獨(dú)特的測試數(shù)據(jù)，但是無法選擇特定的重復(fù)數(shù)據(jù)消除率。這款工具屬輕量級工具，可輕松編寫，讓每個(gè)用戶都可UIO請求。BTEST–用于Linux的高性能和低開銷負(fù)載。該工具沒有包含全部據(jù)消除率生成非常高的多線程負(fù)載。BTEST是一種命令行工具，非常適合VDbench–已經(jīng)使用多年的強(qiáng)大而靈活的負(fù)載?？梢酝ㄟ^OracleTechnologyNetwork（Oracle技術(shù)網(wǎng)）。該工具包含為生成的I/O選VDbenchJava并且消耗負(fù)載生成客戶端上的CPU。可能會需要的客戶端機(jī)器。不管選擇哪種工具，務(wù)必要確保陣列（即“在測系統(tǒng)”）則，廣泛測試所做的不過是突出測試環(huán)境中的限制。這意味著，必須要有足夠聚合的客戶端功率，以便生成發(fā)送給陣列的高速率請求，然后測量它們的響應(yīng)程度。鑒于會有各種隊(duì)列點(diǎn)和限制，通常有必要使用多個(gè)客戶端來獲得足夠的并行。即使只有單個(gè)強(qiáng)大的客戶端，這種情況也很可能出現(xiàn)。請爭取至少使用三個(gè)測試客戶端，而本白皮示例是基于四個(gè)客戶端的。同樣，請確保將客戶端連接到陣列的前端網(wǎng)絡(luò)具有足夠的帶寬（端口、底板和SL）來承載必要的負(fù)載。創(chuàng)建一個(gè)陣列是其中瓶頸組件的測試環(huán)境，將確?？赡塬@得有意義的結(jié)果。測試計(jì)劃基礎(chǔ)知在進(jìn)入測試的詳細(xì)步驟之前，先考慮一下相關(guān)背景。下述計(jì)劃的目標(biāo)是什么，它們與閃存和FA的性質(zhì)有什么關(guān)系，為什么它們很重要？這些基礎(chǔ)知識有助于指導(dǎo)進(jìn)行閃存陣列測試的思路。一致的固態(tài)裝置最初作為特定而推出，用于要求最為苛刻和最有價(jià)值的應(yīng)用程序。這些裝置通常直接連接到一小組主機(jī)上，并且專門用于單個(gè)應(yīng)用程序。隨著閃存市場的發(fā)展演變，這種情況也在不斷改變。如今固態(tài)隨處可見，被各種規(guī)模的組織廣泛采用，作為一種提升其整合基礎(chǔ)架構(gòu)價(jià)值的方式。這也正是本白皮書中探討的內(nèi)容。1%論是將整合基礎(chǔ)架構(gòu)作為私有云，還是作為更加傳統(tǒng)的IT數(shù)據(jù)中心來管理，眾多不同的應(yīng)用程序、部門和均使用同樣的底層硬件和來滿足他們的需求。大多數(shù)應(yīng)用程序均已經(jīng)具有重要的隨機(jī)O組件。當(dāng)所有這些應(yīng)用程序均同時(shí)在同一個(gè)硬件上運(yùn)行時(shí)，它們的請求會混一個(gè)面向基礎(chǔ)架構(gòu)的數(shù)據(jù)流。聚合的請求會變得更加隨機(jī)，并且尋址到容量的更大范圍。甚至諸如數(shù)據(jù)庫掃描和數(shù)據(jù)倉庫負(fù)載等順序操作最終也會變得隨機(jī)，因?yàn)楹芏嗒?dú)立的用戶會同時(shí)運(yùn)行這些請求。但實(shí)際情況不止如此。整合基礎(chǔ)架構(gòu)還需要一致且可以的性能和不間斷操作。性能必須在長期內(nèi)始終保持一致，且不會因老化、寫滿數(shù)據(jù)或者搭載不同的應(yīng)用程序而降級。它必須與工作負(fù)載無關(guān)。如此這般，提供服務(wù)時(shí)就不用再擔(dān)心某一特殊應(yīng)用程序的工作負(fù)載，或擔(dān)心添加全新應(yīng)用程序是否會擾亂所有現(xiàn)有客戶。這些基礎(chǔ)架構(gòu)需要全天候運(yùn)行，無需，僅需一位骨干管理即可。它無需在周圍值守，以回應(yīng)難以控制的應(yīng)用程序，或者手動將者RD組，工作。并且在的預(yù)計(jì)使用內(nèi)始終這樣工作。，和0%機(jī)（陣列具有優(yōu)勢的方面）。測試計(jì)劃的目標(biāo)是，探索陣列在壓力條件下的一致性、可性和長期性能。這將突顯出將其作為整合基礎(chǔ)架構(gòu)一部分而部署在生產(chǎn)中時(shí)，很可能會展現(xiàn)出來的優(yōu)勢和劣勢。功能性評估陣列時(shí)，最關(guān)鍵的因素是低延遲的功能性O(shè)PSOPS基于“用該陣列”得到的測量數(shù)據(jù)，而不是“在如何演示陣列”得到的數(shù)據(jù)（也稱為“”數(shù)據(jù)）須0%，并且要之前被覆蓋過的SD，以反映穩(wěn)定狀態(tài)性能。它們必須基于接近滿陣列的情形，并大型N的所有地址范圍。它們必須是高負(fù)載情況下生成的混合請求，以反映操作周期。這種方法是最基本的測量方法，能夠?qū)ιa(chǎn)中的陣列性能準(zhǔn)確地設(shè)定預(yù)期。此外，現(xiàn)代陣列支持多種功能和數(shù)據(jù)服務(wù)。選擇時(shí)，用戶會被這些功能所吸引并考慮。這些功能可能會影響陣列的性能。在進(jìn)行基準(zhǔn)測試時(shí)，請啟動將要在生產(chǎn)中使用的所有功能和數(shù)據(jù)服務(wù)，這一點(diǎn)很重要。S宣傳了一系列特色功能，但是僅報(bào)告禁用了很多重要功能后的系統(tǒng)性能，以便達(dá)到較高的性能數(shù)據(jù)（或者報(bào)告未指定陣列配置的系統(tǒng)性能，而這種配置可能要比您考慮的配置高端或者昂貴得多）?；蛘卟捎门c生產(chǎn)中完全不同的使用方式來配置和測試系統(tǒng)。因此，在閱讀供應(yīng)商發(fā)布的性能報(bào)告時(shí)，如果其中未明確說明所啟用的功能或陣列的配置和測試方式，請?jiān)儐栐斍?。最終的部署決策S做出。調(diào)整因素和未完成隨機(jī)正如上面所的，在評估期間，建議重點(diǎn)關(guān)注100%隨機(jī)。如今，計(jì)算正快速朝著整合基礎(chǔ)架構(gòu)轉(zhuǎn)變。對子系統(tǒng)而言，整合基礎(chǔ)架構(gòu)非常隨機(jī)。讀/寫混與寫入請求的比例為多少？建議進(jìn)行數(shù)次讀/寫混合測試，其中每種請求類型分別占很大。例如：35%/65%寫入、50/50和80/20。這樣可以深是0%者10%，AFA序的共享陣列上不會出現(xiàn)這種工作負(fù)載，而多種應(yīng)用程序的環(huán)境才是企業(yè)級閃存陣列專門服務(wù)的對象。另一個(gè)原因是純工作負(fù)載會隱藏諸如信息收集和閃存鎖定之類的重要FA流程，因此其會遠(yuǎn)遠(yuǎn)好于現(xiàn)實(shí)情況下的結(jié)果。如果測試時(shí)間充裕且擁有成測試自動化框架，也可以出于收集該數(shù)據(jù)。但是一般來說，這樣的工作負(fù)載對設(shè)定FA的真實(shí)性能預(yù)期沒什么用處。未完成OO)O決定：有多少負(fù)載線程正在運(yùn)行，以及每個(gè)線程的隊(duì)列深度。所有參考基準(zhǔn)工具都提供控制這些選項(xiàng)的方式。圖2說明了在在測系統(tǒng)環(huán)境中未完成I/O的概念。系統(tǒng)中有多個(gè)其他隊(duì)列點(diǎn)，但是負(fù)載和測試旨在找出生成的未完成I/O的理想數(shù)量，即在低于指定延遲IOPS結(jié)果。每個(gè)生成負(fù)載的客戶端都有大量工作線程，圖2負(fù)載上的未完成收集完數(shù)據(jù)之后，OIO受控的負(fù)載便成為兩個(gè)重要圖表的基本要素：延遲與I/O個(gè)O？的從B至1MB。小于這個(gè)范圍的情況在生產(chǎn)中不太可能出現(xiàn)。大于這個(gè)范圍的字節(jié)可能僅代表閃存陣列上所部署應(yīng)用程序的偶然階段或者邊緣情況。如果目標(biāo)應(yīng)用程序IOIO。但對多數(shù)測試矩陣而言，測試閃存陣列時(shí)一/O較小。LUN大NFAN0）。理想情況是接近陣列的全部容量。否則，可能會有很大比例的請求尋址緩存內(nèi)存，從而無法代表生產(chǎn)中（即整合基礎(chǔ)架構(gòu)）的穩(wěn)定狀態(tài)性能。因此，建議劃NNLUN同時(shí)多少LUN（卷）？建議測試多個(gè)LUN，并注意跨至LUN所有路徑的每LUNLUN5%，陣列最終可支%18LUN使用不同的數(shù)量來。這樣做是為了評估當(dāng)陣列需要管理不同數(shù)量的LUN并且尋址占比不同如果目標(biāo)應(yīng)用程序使用很多較小的LUN，則可以考慮使用這種配置開始測試。例200LUNLUN0.5%。請將其作為預(yù)處理陣列LUN繪圖內(nèi)容以及如何閱讀IOPS（吞吐量）和陣平均延遲與IOPS–IOPS而增加。曲線的平緩程度是性能和一致性的重要指標(biāo)。延遲曲線與不同閾值的交叉點(diǎn)，表示在該延遲級別的預(yù)期OPS。曲線開始快速向上彎曲的點(diǎn)稱為曲線的拐點(diǎn)，此時(shí)陣列接近其極限值。可以將其認(rèn)作特定陣列和工作負(fù)載的紅線。繪制不同工作負(fù)載或者陣列的多條曲線，讓評估程序快速繪制出它們相對性能的可視對比圖。圖3點(diǎn)的曲線示例。3延遲IOPSOIO–該曲線顯示了系統(tǒng)如何響應(yīng)額外負(fù)載請求。這有點(diǎn)像汽車雜志中的馬力與RPM圖。理想的圖形是有一個(gè)較長的區(qū)域，其中各個(gè)柱這個(gè)區(qū)域便是曲線的拐點(diǎn)，代表系統(tǒng)接近其極限值時(shí)未完成I/O的水平。4顯示的是使用柱狀條高度來代表不同OIOIOPS的圖表示例。平均延OIO說明平均延遲如何隨著陣列上負(fù)載的增加而增加。該圖3有直接關(guān)聯(lián)，但說明的是基準(zhǔn)測試中的一個(gè)受控因子。通過該圖，可深入了解陣列在達(dá)到飽和前可以的未完成I/O的數(shù)量。尋找和延遲與IOPS曲線中相同的特點(diǎn)，并預(yù)期其產(chǎn)生與圖4截然相反的形狀。圖5顯示的是使用柱狀條高度來代表不同OIO值時(shí)平均延遲的圖表示例。注I/O128時(shí)，延遲開始快速攀升（5）IOPS開始變得平坦（圖4）。綜合兩者來看，這里出現(xiàn)一個(gè)強(qiáng)烈信號，即未完成I/O達(dá)到這個(gè)水平時(shí)，陣列達(dá)到飽和。5延遲與未完一致一個(gè)小時(shí)）5LUN或者線程的延遲統(tǒng)計(jì)信息。–XY的延遲測量點(diǎn)。理想的圖表將顯示平均延遲的平滑線。使用這些圖表了解各種被評估陣列的相對性能一致性。圖6顯示的是其中一種圖表的示例。在這個(gè)特定示例中，陣列經(jīng)過一些預(yù)處理，并隨著時(shí)間發(fā)展而顯示出更高的平均延遲。65秒平均延遲與時(shí)延遲直方圖–繪制平均延遲測量值的直方圖。這是在一個(gè)熟悉的圖表里總結(jié)陣列行為的另式。要對比多個(gè)陣列，可使用不同的顏色疊加它們的直方圖，或者將它們并列顯示即可。圖7顯示的是其中一種圖表的示例。7延遲直方為測試配置陣評估流程的第一步是安裝和配置受測陣列。每個(gè)陣列的實(shí)際流程各不相同。通用原則是遵循供應(yīng)商的最佳實(shí)踐，只要這些最佳實(shí)踐可以讓結(jié)果合理對比即可。如果最佳實(shí)踐讓陣列按不同方式配置，則請注意不同之處，并在評估階段加以考慮。例如，如果將一個(gè)陣列的“原始與可用”容量比配置為%，而另一個(gè)配%，那么請務(wù)必在評估和最后的決策階段考慮這些因素。請確保將數(shù)據(jù)保護(hù)級別設(shè)置為N+2冗余（或者同等設(shè)置），以確保如果陣列支持跨多個(gè)控制器的高可用性，請確保根據(jù)最佳實(shí)踐來進(jìn)行(FC)iSCSI之間進(jìn)行選擇，請為測試選擇FC。在客戶端和陣列之間配置多條路徑。請確根據(jù)陣列供應(yīng)商的最佳實(shí)踐來配置客戶端的HBA調(diào)整參數(shù)和多條路徑。AFAHBA的默認(rèn)設(shè)置BIOS設(shè)置。對兩種選項(xiàng)都進(jìn)行設(shè)置，有助于在評估期間收集到準(zhǔn)確–U（有時(shí)是其他芯片組），以節(jié)省耗電。一般來說，這是個(gè)很出色的功能，但是進(jìn)行基準(zhǔn)測試時(shí)，速度波動會導(dǎo)致錯(cuò)誤的測量數(shù)據(jù)。測試期間關(guān)閉電源管理，并將客戶端機(jī)器配置為始終全速運(yùn)行。在BIOS中，找到“BIOS設(shè)置”→“C狀態(tài)”–設(shè)為“禁用”（即使閑置“BIOS設(shè)置”→“C1E”–設(shè)為“禁用”（CPUC1狀態(tài)以其最大頻率運(yùn)行“主BIOS設(shè)置”→“C狀態(tài)限制”–設(shè)為“c1”（CPU閑C0需要的電–默認(rèn)情況下，很多客戶端（尤其是舊機(jī)器）都配置的是觸發(fā)頻率為10毫秒的事件計(jì)時(shí)器。但試圖測量發(fā)生頻率通常不足1毫秒的閃存陣列事件時(shí)，這種配置還不夠精細(xì)。新的機(jī)器配備了高精度事件計(jì)時(shí)器(HPET)，有時(shí)需要在BIOS和操作系統(tǒng)中進(jìn)行啟用。請確保HPET處于活動狀態(tài)，并可用于基準(zhǔn)測試應(yīng)用程序。注意LUN模型。如何LUN與用于陣列體系結(jié)構(gòu)中的高可用性(HA)和擴(kuò)展模型相關(guān)。請參閱圖8，以查看如今使用的各種選擇。AFA與磁盤陣列類似，均可以提供主動/、雙主動、主動/主動和N向主動HA模型。此外，陣列可以部署一個(gè)縱向擴(kuò)展、聚合或者完全橫向擴(kuò)展的模型，用于系統(tǒng)擴(kuò)展。為特定LUN提供的路徑和性能，會根據(jù)這些模型而變化。端口的最佳實(shí)踐也這樣。配置啟動器，讓其通過每個(gè)陣列模型可使用的盡可能多的控制器和路徑來LUN。圖8高可用性模一般來說，如果某能出現(xiàn)在紙質(zhì)手冊上，請確保在測試中將其啟用。如果供應(yīng)商提供了調(diào)整客戶端和交換機(jī)的最佳實(shí)踐建議，那么請將這些最佳實(shí)踐用于測試中。這樣才能真實(shí)反映在生產(chǎn)中的性能。如果供應(yīng)商之間的最佳實(shí)踐分歧較大，可能有必要一次僅測試一個(gè)供應(yīng)商的做法，并在進(jìn)行下一次測試階段之前，更改客戶端上的參數(shù)。在測試時(shí)務(wù)必啟用所有的數(shù)據(jù)服務(wù)，這一點(diǎn)很重要。如果陣列圍繞閃存和高級數(shù)據(jù)服務(wù)而設(shè)計(jì)，則啟用這些服務(wù)應(yīng)該幾乎不會導(dǎo)致性能下降，甚至可能會改善報(bào)告的性能。但那些翻新閃存、沿用舊設(shè)計(jì)的陣列，性能將顯著降低。僅使SD作負(fù)載時(shí)出現(xiàn)性能異常。這樣將導(dǎo)致整體性能（和閃存耐用性）下降，因?yàn)殛嚵袝虼虐l(fā)送端IO。翻新的體系結(jié)構(gòu)也取決于陣列控制器緩存中容納/O。在如今實(shí)時(shí)共享和虛擬化的數(shù)據(jù)中心中，完全隨機(jī)的工作負(fù)載更為普遍。面對完全隨機(jī)的工作負(fù)載時(shí)，翻新的體系結(jié)構(gòu)往往高延遲和控性IOPS時(shí)，這些劣勢便會來。為測試準(zhǔn)備陣部寫滿，不再包含空/“寫入懸崖”。同樣的，閃存陣列和SSD總是需要將新的數(shù)據(jù)放置在一個(gè)空閑位置（有時(shí)稱為生產(chǎn)期間的性能要高。將不再被的位置進(jìn)行回收，從而可以用于新的寫入，這樣的流程便是上述的數(shù)據(jù)收集。它會對陣列性能產(chǎn)生不利影響，而且通要獲得有意義的結(jié)果，首先需要準(zhǔn)備陣列，即多次覆蓋所有閃存單元。這常常稱為“預(yù)處理”重要，因?yàn)槿绻泻芏嗫臻e空間，意味著陣列無需為傳入數(shù)據(jù)努力尋找新空間。80%滿，可以得到最佳的資產(chǎn)利用率。建議測試90%滿的陣列：總會有陣列持有的數(shù)據(jù)比目標(biāo)利用率水平還高的情況出現(xiàn)。TRIM的環(huán)境下，這種情況尤其容易出現(xiàn)，因?yàn)殛嚵袑⒆罱K填滿所有邏輯調(diào)配空間。使用精簡資源調(diào)配，意味著分配的物理空間將全部被填滿。最后，準(zhǔn)備AFA需要使用能夠生成不可壓縮的唯一數(shù)據(jù)的工具。之前提到的所有工具準(zhǔn)備陣列的最簡單辦法是在預(yù)處理期間創(chuàng)建多個(gè)LUN，然后刪除一些LUN，20LUNLUN5%。例如，根據(jù)最佳實(shí)踐配置陣8,000GB20LUN，每個(gè)LUN400GB。將這些LUN至用于測試的主機(jī)（測試客戶端）。對于預(yù)處理，最有效的LUN。這樣的話，每個(gè)主機(jī)負(fù)責(zé)預(yù)處理可尋址存LUNLUN發(fā)送少量的I/O，以確保它們可以。使用不可壓縮的唯一數(shù)據(jù)覆蓋每個(gè)LUN三次，以此來預(yù)處理陣列。在的LUN400GBLUN1,200GB塊（64KB）LUN使用一個(gè)線程/流I/O32。某些工具還帶有允許明確設(shè)定寫入量的參數(shù)（例如，VDbench的maxdata=nnn）。這個(gè)選項(xiàng)讓停止預(yù)處理流程變得非常簡單。如果工具沒有此功能，請穩(wěn)定I/OLUN都至少被覆LUN三次？為什么不是向所有容量只寫入一次就算完成呢？寫入多次的原因是閃存陣列具有保留的容量（有時(shí)稱為“性能保留”）。SSD也具有保留容量。這些保留的容量（有時(shí)可多達(dá)容量的40%）均需次，并且數(shù)據(jù)收集機(jī)制在SSD/模塊級別以及系統(tǒng)級別均已處于主動工預(yù)處理也是驗(yàn)證陣列真實(shí)可用容量的最佳階段。如果陣列聲稱自己具有10TB可用容量，那么請使用該值來設(shè)置最大數(shù)據(jù)參數(shù)或者運(yùn)行時(shí)間。如果陣列在預(yù)處理完成前便用完了所有空間，則報(bào)告的容量確。某些陣列會為元數(shù)據(jù)和RAID預(yù)分配開銷，而另一些陣列則按需分配開銷，并在最開始報(bào)預(yù)處理完成后，刪除兩個(gè)LUN，10%的陣列空間。在之前的示例8,000GB400GBLUN后，陣列中余下7,200GB18LUN800GB(10%)。要完成此步驟，可取消LUN至主機(jī)的，并使用陣列UI刪除它們。只只要預(yù)處理完成，并10%的空間，請立即按下一部分中所述開始測試。避免讓陣列閑置并給數(shù)據(jù)收集留出時(shí)間擦除可用空間，是很重要的。部署在整合基礎(chǔ)架構(gòu)中之后，陣列很少再閑置，并且數(shù)據(jù)收集需要能夠在用戶上述方法與行業(yè)內(nèi)所用的基準(zhǔn)測試把戲形成了鮮明對比。某些供應(yīng)商使用幾乎全空的陣列來發(fā)布基準(zhǔn)。它們僅尋址到可用容量的一小部分，以最大化控制器緩存的優(yōu)勢。識破這種伎倆的一個(gè)線索，就是以“應(yīng)用程序工作集相對型N和滿陣列來解釋。探討陣列IOPS和延遲的本部分重點(diǎn)的是陣列的特性。本部分圍繞一些用于評估陣列性能的階基本測試參值模100%隨LUNLUN5%，且已使用不可壓縮的唯18LUN10的可用讀/寫混合 I/OLUN的數(shù)量未完成I/O未完成I/O1測試矩如果環(huán)境的準(zhǔn)確性能已知，則請使用那些值替代表1中的值。例如，如果應(yīng)用程序的讀/寫混合實(shí)際為73%/27%寫入，則使用這些值代替建議的80%/20%值。測試矩陣是一個(gè)建議的起始點(diǎn)，可以進(jìn)行自定義以滿足特定需求。將負(fù)載設(shè)置為寫入不可壓縮的唯一數(shù)據(jù)，以確保向底層寫滿數(shù)據(jù)。對于精心設(shè)計(jì)的重復(fù)數(shù)據(jù)消除系統(tǒng)，這種情況代表的性能，因?yàn)檫@種情況會為SSD帶來最大量的數(shù)據(jù)I/O。將每個(gè)測試實(shí)例運(yùn)行足夠長時(shí)間，以便獲得穩(wěn)定狀態(tài)的OS。根據(jù)行0行0重要，因?yàn)槎鄠€(gè)線程可能要花些時(shí)間才能全部運(yùn)行起來，而且新的工作負(fù)載也可能要花些時(shí)間才能使用緩存和模式匹配算法來推動舊的工作負(fù)載。編寫測試，讓測試一個(gè)接一個(gè)進(jìn)行。這樣可以防止陣列閑置太久，并讓數(shù)據(jù)收集算法有時(shí)間來回