實(shí)驗(yàn)報(bào)告超聲波

四川大學(xué)實(shí)驗(yàn)報(bào)告書(shū)課程名稱(chēng)：實(shí)驗(yàn)名稱(chēng)：超聲波探傷實(shí)驗(yàn)系別：專(zhuān)業(yè)：班號(hào)姓名：學(xué)號(hào)：實(shí)驗(yàn)日期：2013年3月10日同組人姓名：教師評(píng)定成績(jī)：一、實(shí)驗(yàn)名稱(chēng)超聲波探傷實(shí)驗(yàn)二、實(shí)驗(yàn)?zāi)康牧私馓絺麅x的簡(jiǎn)單工作原理熟悉超聲波探傷儀、探頭和標(biāo)準(zhǔn)試塊的功用了解有關(guān)超聲波探傷的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)掌握超聲波探傷的基本技能三、主要實(shí)驗(yàn)儀器CTS-22型超聲波探傷儀試塊探頭直尺機(jī)油四、實(shí)驗(yàn)原理實(shí)驗(yàn)中廣泛應(yīng)用的是A型脈沖反射式超聲波探傷儀，儀器屏橫坐標(biāo)表示超聲波在工件中的傳播時(shí)間（或傳播距離）縱坐標(biāo)表示反射回波波高。根據(jù)光屏上缺陷波的位置和高度，可以確定缺陷的位置和大小。A型脈沖式超聲波探傷儀的工作原理：電路接通后，同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號(hào)，同時(shí)觸發(fā)發(fā)射、掃描電路。發(fā)射電路被觸發(fā)后產(chǎn)生高頻脈沖作用于探頭，通過(guò)探頭的逆電壓效應(yīng)將電信號(hào)轉(zhuǎn)換為聲信號(hào)，發(fā)射超聲波。超聲波在遇到異質(zhì)界面（缺陷或底面）反射回來(lái)唄探頭吸收。通過(guò)探頭的正電壓效應(yīng)將信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并送至放大電路唄放大檢波，然后加到熒光屏垂直偏轉(zhuǎn)板上，形成重疊的缺陷波F和底波B。掃描電路被處罰后產(chǎn)生鋸齒波，加到熒光屏水平偏轉(zhuǎn)板上，形成一條掃描亮線(xiàn)，將缺陷波F和底波B按時(shí)間展開(kāi)。其工作原理圖如下圖所示：工件A型顯示脈沖反射式超聲波檢測(cè)儀的電路原理框圖五、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容與步驟工件超生波探傷儀的使用、儀器性能的測(cè)定、儀器與直探頭綜合性能測(cè)定實(shí)驗(yàn)要求：1.掌握儀器主要性能：水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試方法；掌握儀器和直探頭主要綜合性能：盲區(qū)、分辨力、靈敏度余量的測(cè)試方法。背景知識(shí)：儀器的主要性能：儀器熒光屏上時(shí)基線(xiàn)水平刻度值與實(shí)際聲程成正比的程度。儀器熒光屏上的波高與輸入信號(hào)幅度成正比的程度。指反射信號(hào)從垂直極限衰減到消失所需的衰減量。水平線(xiàn)性?xún)x器熒光屏上時(shí)基線(xiàn)水平刻度值與實(shí)際聲程成正比的程度。儀器熒光屏上的波高與輸入信號(hào)幅度成正比的程度。指反射信號(hào)從垂直極限衰減到消失所需的衰減量。垂直線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍儀器與探頭的主要綜合性能：盲區(qū)從探側(cè)面到能發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離成為盲區(qū)，其內(nèi)缺陷不能發(fā)現(xiàn)。分辨力在熒光屏上區(qū)分距離不同的相鄰兩缺陷的能力。靈敏度余量指儀器與探頭組合后在一定范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)微小缺陷的能力。聲束擴(kuò)散角擴(kuò)散角的大小取決于超聲波的波長(zhǎng)與探頭晶片直徑的大小。8=7040D式中D為探頭直徑80為波長(zhǎng)實(shí)驗(yàn)步驟：水平線(xiàn)性的測(cè)試調(diào)節(jié)有關(guān)旋鈕。使時(shí)基線(xiàn)清晰明亮，并與水平刻度線(xiàn)重合。將探頭通過(guò)耦合劑置于CSK-IA試塊上，如圖所示。

調(diào)節(jié)有關(guān)旋鈕，使熒光屏上出現(xiàn)五次底波B1~B5，且使B1、B5前沿分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度2.0和10.0,如圖所示。底波次數(shù)B1R2'B2B3B4B5水平刻度標(biāo)定值246810實(shí)際讀數(shù)23.55.37.510偏差ai00.50.70.50D.觀察記錄B2、B3、4與水平刻度值的偏差值a2、表一：測(cè)量水平線(xiàn)性誤差（五a4。波法）（單位：cm）計(jì)算水平線(xiàn)性誤差5=史maJX100%式中：a---a、a、a中最大者；b熒光屏水平滿(mǎn)刻度值。c*7I?caA'TA-/、「m，J/、/J〃|/J、l1V'^iJ/-X—|J=L。0.8bmax2340.7由計(jì)算可知5=和X100%=&75%可知該儀器的水平線(xiàn)性不能滿(mǎn)足要求的＜=2%2.垂直線(xiàn)性的測(cè)試［抑制］至“0”，衰減器保留30dB衰減余量。探頭通過(guò)耦合劑置于CSK-IA試塊上，如圖所示，并用壓塊恒定壓力。調(diào)［增益］使底波達(dá)熒光屏滿(mǎn)幅100%，但不飽和，作為0dB.固定［增益］，調(diào)節(jié)衰減器，每次衰減2dB,并記下相應(yīng)回波高度Hi填入表中，直至消失。表2：垂直線(xiàn)性數(shù)據(jù)記錄表回實(shí)絕對(duì)波測(cè)波高高％246810121416182022242628308.26.55.34.33.42.72.21.91.30.90.60.40.20.10衰減量△i/dB0相對(duì)100波高％—理想相對(duì)100波高％8265534334272279.463.150.139.831.625.120.0偏差02.6L92.93.22.41.92.0表中：相對(duì)波高%=衰減AidB后的波高H［八八“

—工—7—rX100%衰減0d8時(shí)波高丑0E.計(jì)算垂直線(xiàn)性誤差191396415.812.610.07.96.35.04.03.220lg'=-Ai{H0}d---實(shí)測(cè)值與理想值的最大正偏差;D=(|d|+|d|)%；式中：112d2---實(shí)測(cè)值與理想值的最大負(fù)偏差。ZBY230-84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的垂直線(xiàn)性誤差＜=8%動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試［抑制］至“0”，衰減器保留30dB.探頭置于圖中A處，調(diào)［增益］使底波B1達(dá)滿(mǎn)幅的80%。固定［增益］，記錄此時(shí)的衰減余量N1，調(diào)［衰減器］使底波B1將于1mm，記錄此時(shí)的衰減余量N2。計(jì)算動(dòng)態(tài)范圍A=N1-N2=26dBZBY230-84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的動(dòng)態(tài)范圍＞=26dB.盲區(qū)的測(cè)試［抑制］至“0”，其它旋鈕位置適當(dāng)。將探頭置于圖中所示。調(diào)［增益］、［水平］等旋鈕，觀察始波后有無(wú)獨(dú)盲區(qū)范圍的估計(jì)：探頭置于I處有獨(dú)立回波，盲區(qū)小于5mm；探頭置于I處無(wú)獨(dú)立回波，與II處有獨(dú)立回波，盲區(qū)在5~10mm之間；探頭置于I處無(wú)獨(dú)立回波，盲區(qū)大于10mm；一般規(guī)定盲區(qū)不大于7mm。5.分辨力的測(cè)定A.［抑制］至“0”，其它旋鈕位置適當(dāng)。B.探頭置于圖示位置的m處，前后左右移動(dòng)探頭，使熒光屏上出現(xiàn)聲程為85、91、100的三個(gè)反射波A、B、C。入當(dāng)A、B、C不能分開(kāi)時(shí)，則分辨力F1為：F=(91-85)—==~6^~(mm)1a-ba-bc6c當(dāng)A、B、C能分開(kāi)時(shí)，則分辨力F2為：F=(91-85)—=—(mm)2aaJB1834-76標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定分辨力不大于6mm。入6.靈敏度余量的測(cè)試［抑制］至“0”，［增益］最大，［發(fā)射強(qiáng)度］至強(qiáng)。連接探頭，探頭置于圖示的位置（靈敏度余量試塊200/?2平底孔試塊），調(diào)［衰減器］使？2平底孔回波達(dá)滿(mǎn)幅的50%，記錄此時(shí)［衰減器］的讀數(shù)N1=58.靈敏度余量△N=80-N1=22.表面聲能損失的測(cè)定E度探測(cè)面對(duì)透實(shí)驗(yàn)要求：1.了解不同表面粗糙掌握直探頭探傷時(shí)表實(shí)驗(yàn)步驟：E度探測(cè)面對(duì)透直探頭探傷時(shí)表面耦合損失的測(cè)定，調(diào)［衰減］、［增益］按鈕，使底波B1達(dá)滿(mǎn)幅的50%,將B.將探頭移至待測(cè)試快上，固定［增益］不動(dòng)50%，記錄衰減器讀數(shù)N2。調(diào)［衰減器］將2.5P20探頭置于對(duì)比試塊（CSK-IIIA）記錄［衰減器］讀數(shù)N1.，調(diào)［衰減］、［增益］按鈕，使底波B1達(dá)滿(mǎn)幅的50%,將B.將探頭移至待測(cè)試快上，固定［增益］不動(dòng)50%，記錄衰減器讀數(shù)N2。調(diào)［衰減器］C.計(jì)算二者表面耦合損失差：A=N2-N1(dB)。材料衰減系數(shù)的測(cè)定實(shí)驗(yàn)要求：掌握材料綜合衰減系數(shù)的測(cè)定方法背景知識(shí)：介質(zhì)衰減系數(shù)公式如下2°igaa§以=n=(dB/mm)2(n-m)x2(n-m)式中：Bm--第m次底波高度，一般為B1?B2B--第n次底波高度，一般為B2?B1°，但必須在未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)8:-表面反射損失，光潔表面每次反射損失約為0.5dBx--板厚。厚板試件介質(zhì)衰減系數(shù)BA-6-8,,、(dB/mm)2x20lg肓-6-8

aA-6-8,,、(dB/mm)2x2x式中：B1--第一次底波高;B2--第二次底波高；dB值;6--擴(kuò)散衰減引起的8--底面反射損失。dB值;實(shí)驗(yàn)步驟:薄板工件(板厚＜=1.64N)衰減系數(shù)的測(cè)定(N=D2/4人)A.用2.5P20Z探頭對(duì)準(zhǔn)厚度為30mm的薄板工件底面，調(diào)節(jié)儀器使示波屏上出現(xiàn)B1~B2底波，調(diào)［增益］使B2達(dá)50%基準(zhǔn)高，再用［衰減器］將B1調(diào)至50%，記錄此時(shí)所衰減的分貝值A(chǔ)1，則分質(zhì)的衰減系數(shù)為(不計(jì)反射損失)：a=Z\l/40(dB/mm)用5.0P20Z探頭重復(fù)上述過(guò)程，測(cè)出相應(yīng)的分貝差A(yù)2,則衰減系數(shù)為a=-40厚板工件（板厚＞1.64N）衰減系數(shù)的測(cè)定用2.5P20Z探頭對(duì)準(zhǔn)厚度為300mm的厚板工件底面，調(diào)節(jié)儀器使示波屏上出現(xiàn)B1~B2底波，調(diào)［增益］使B2達(dá)50%基準(zhǔn)高，再用［衰減器］將B1調(diào)至50%，記錄此時(shí)所衰減的分貝值A(chǔ)3，則分質(zhì)的衰減系數(shù)為：a=A3-^（dB/mm）400A4-6z用5.0P20Z探頭重復(fù)上述過(guò)程，測(cè)出相應(yīng)的分貝差A(yù)4，則衰減系數(shù)為a=-（dB/mm）400式中a為單聲程衰減系數(shù)。在實(shí)際探測(cè)中長(zhǎng)用到雙聲程衰減系數(shù)，此時(shí)分母直接為x。鋼板的縱波探傷實(shí)驗(yàn)要求：掌握超聲波縱波檢測(cè)操作的技能，掌握鋼板接觸探傷的方法背景知識(shí)：鋼板經(jīng)過(guò)軋剛而成，大部分缺陷與板面平行，鋼板探傷時(shí)一般用2.5~5MHZ①10~30mm的探頭探傷，全面或列線(xiàn)掃查。探傷鋼板調(diào)節(jié)靈敏度的方法有兩種。一種是利用①5平底孔試塊來(lái)調(diào)，一種是鋼板多次底波來(lái)調(diào)。探傷中，以下幾種情況記錄缺陷面積：無(wú)底波，只有缺陷波的多次反射；2.缺陷波與底波同時(shí)存在；3.無(wú)底波，只有多個(gè)紊亂的缺陷波；既無(wú)缺陷波，有無(wú)底波。實(shí)驗(yàn)步驟：采用對(duì)比試塊法調(diào)節(jié)掃描速度，使時(shí)基掃描線(xiàn)清晰明亮，并與水平刻度線(xiàn)重合。調(diào)節(jié)掃描速度探頭耦合與T=30mm鋼板試塊邊緣，調(diào)整微調(diào)和水平，式底波B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)30和60，這時(shí)掃描速度為1:1.定標(biāo)后深度微調(diào)和脈沖位移就不能再動(dòng)。測(cè)表面補(bǔ)償A。按（二）表面聲能損失測(cè)定直探頭方法測(cè)試。調(diào)節(jié)起始靈敏度探頭對(duì)準(zhǔn)100x100x46試塊上①5平底孔，找到①5平底孔最大回波，調(diào)節(jié)增益使①5平底孔的第一次回波達(dá)滿(mǎn)幅的50%即可，假設(shè)此時(shí)衰減器讀數(shù)為A1；然后再增加表面補(bǔ)償AdB,此時(shí)衰減器讀數(shù)即為起始靈敏度A0.掃查探測(cè)掃描前將增益讀數(shù)調(diào)到起始靈敏度A0dB.在鋼板探側(cè)面上均勻涂上耦合劑，把直探頭置于鋼板上作100%掃查，注意探頭移動(dòng)間距小于晶片尺寸，移動(dòng)速度不大于150mm/s。在掃查過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有回波高度超過(guò)50%刻度的卻顯示，應(yīng)立刻在發(fā)現(xiàn)缺陷的位置做標(biāo)記，然后繼續(xù)掃查，直至整個(gè)探測(cè)面掃查完畢。確認(rèn)有幾處缺陷，再逐一進(jìn)行缺陷評(píng)定。缺陷評(píng)定a.缺陷定位b.缺陷定量c.缺陷面積或長(zhǎng)度評(píng)定記錄檢查結(jié)果，填寫(xiě)實(shí)驗(yàn)報(bào)告。超生波探傷儀與斜探頭綜合性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)要求：掌握現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試斜探頭性能參數(shù)的基本方法背景知識(shí)：斜探頭入射點(diǎn)是指探頭發(fā)射的聲束軸線(xiàn)與探頭碶塊底面的交點(diǎn)。入射點(diǎn)至探頭前沿的距離為探頭前沿長(zhǎng)度。斜探頭的折射角是指工件中的橫波折射角0，橫波折射角的正切值成為探頭的K值。實(shí)驗(yàn)步驟：測(cè)定探頭的入射角精品文檔如圖所示將探頭置于CSK-IA試塊上，平行移動(dòng)探頭，找到最高回?fù)懿⒆骱糜涗?，量處前沿長(zhǎng)度，求出探頭入射點(diǎn):L=100-測(cè)量值X2.測(cè)定斜探頭K值當(dāng)探頭標(biāo)稱(chēng)K<=1.5時(shí)如圖當(dāng)探頭標(biāo)稱(chēng)1.5<K<=2.5重復(fù)以上步驟三次，求平均值。X點(diǎn)前后移動(dòng)探頭，找到最大回波測(cè)出2.測(cè)定斜探頭K值當(dāng)探頭標(biāo)稱(chēng)K<=1.5時(shí)如圖當(dāng)探頭標(biāo)稱(chēng)1.5<K<=2.5重復(fù)以上步驟三次，求平均值。X點(diǎn)前后移動(dòng)探頭，找到最大回波測(cè)出XA,則Ka口圖b前后移動(dòng)探頭，找到最大回波測(cè)出XB,則K「(XB+L-35)/30二|(XA+L-35)/70測(cè)定靈敏度余量如圖所示，對(duì)準(zhǔn)CSK-IA試塊的R100曲面前后移動(dòng)探頭，找到R100最大回波時(shí)固定探頭，調(diào)節(jié)衰減器按分辨力的測(cè)定在CSK-IA試塊上，如反射回波達(dá)到等高，再通過(guò)調(diào)節(jié)衰減器使兩反射回?fù)苓_(dá)滿(mǎn)幅的40%，記錄此時(shí)的衰減器讀數(shù)S1；再調(diào)鈕使回波幅度為50%，此時(shí)衰減器讀數(shù)為S0.斜探頭的相對(duì)靈敏度余量S=80-S0。圖所示放置探頭。前后移動(dòng)探頭，使①5mm和44mm兩個(gè)郵寄玻璃圓柱面的兩個(gè)節(jié)衰減器使兩等高的反射回波的波谷上升到滿(mǎn)幅的40%，記下此時(shí)衰減器讀數(shù)S2;則可測(cè)出寫(xiě)套頭的聲程差3mm的兩個(gè)反射體的分辨力S=S2-S1;同理可測(cè)得①44mm和40mm兩個(gè)反射聲程的分辨力。mismis制辦辨力端彥職一圮冶帶懸食牌測(cè)量聲束縱截面前后擴(kuò)散角如圖所示，將耦合劑在CSK-IA試塊上，并對(duì)準(zhǔn)①50的孔，前后移動(dòng)探頭找到最大回波時(shí)，測(cè)量出水平距離X0，則聲軸線(xiàn)的折射角為Po=arctan[(X0+L-35)/30]然后在此點(diǎn)向前移動(dòng)探頭，至回波下降6dB時(shí)固定探頭，用同樣的方法得出擴(kuò)散聲束后緣折射角8]，則該斜探頭聲束縱截面后擴(kuò)散角為8-8，把探頭后移，用同樣的方法測(cè)出前擴(kuò)散角為8-8.。

測(cè)量聲束橫截面擴(kuò)散角將探頭耦合在CSK-IA厚度為25mm的平面上，對(duì)準(zhǔn)試塊的①1.5mm橫通孔，如圖所示。首先在平面上移動(dòng)探頭，趙冬豎孔回波的最大幅度時(shí)固定探頭，則孔中心到探頭入射點(diǎn)的距離X0=25K實(shí)，然后左右平移探頭，至回波幅度下降6dB時(shí)固定探頭，量出移動(dòng)距離Wr和％,則左右擴(kuò)散角分別為6=arctan（W/X0）6=arctan（W/X0）1.水平線(xiàn)性誤差數(shù)據(jù)記錄如表一所示，其中|a|=0.7max5=&乂100%=&75%可知該儀器的水平線(xiàn)性不能滿(mǎn)足要求的＜=1.水平線(xiàn)性誤差數(shù)據(jù)記錄如表一所示，其中|a|=0.7max2.垂直線(xiàn)性測(cè)試衰減量Ai/dB024681012回波高度實(shí)測(cè)絕對(duì)波高％108.26.55.34.33.42.7相對(duì)波高％100826553433427理想相對(duì)波高％10079.463.150.139.831.625.1偏差02.61.92.93.22.41.9動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試N1=80-（12+40）=28，N2=80-（38+40）=2△=N1-N2=26dB有ZBY230-84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的動(dòng)態(tài)范圍＞=26dB，可知滿(mǎn)足要求。.盲區(qū)的測(cè)試將探頭置于圖示I處有獨(dú)立回波，可知盲區(qū)小于5mm。有一般規(guī)定盲區(qū)不大于7mm，可知該儀器滿(mǎn)足盲區(qū)的要求。分辨力的測(cè)定將探頭置于m處時(shí)，A、B、C能分開(kāi)，則分辨力c6c...F=(91—85)—=—=4(mm)其中：c=4,a=62aa有JB1834-76標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定分辨力不大于6mm,可知該儀器滿(mǎn)足分辨力的要求。靈敏度余量的測(cè)試N1=22AN=80-N1=58表面聲能損失的測(cè)定計(jì)算二者表面耦合損失差A(yù)=N2-N1=60-54=6(dB)材料衰減系數(shù)的測(cè)定薄板工件的衰減系數(shù)2.5P20Z探頭：a=A1/40=2/40=0.05厚板工件衰減系數(shù)的測(cè)定2.5P20Z探頭：a=(A3—6)/400=(26-6)/400=0.05鋼板縱波探傷采用對(duì)比試塊表面補(bǔ)償A=N2-N1=8(dB)起始靈敏度A0=A1-A=60-8=52(dB)掃描測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)鋼板存在一處缺陷，其深度為10mm且S3=50dB則①5mm+(A0-S3)dB=①5mm+4dB，由于其為正，故缺陷比平底孔大。測(cè)得缺陷的左上邊坐標(biāo)為A(50,180);右上坐標(biāo)為B(85,180);左下邊坐標(biāo)為C(50,120);右下邊的坐標(biāo)為D(85,120),;左中邊的坐標(biāo)為E(50,150);右中邊的坐標(biāo)為F(85,150);上中坐標(biāo)為G(67.5,180);下中坐標(biāo)為H(67.5,120);由此可以判斷此缺陷為長(zhǎng)方體形狀。面積為：S=60X35=2100mm2表三：鋼板探傷報(bào)告(對(duì)比試塊)檢查單位四川大學(xué)探傷人呂晨陽(yáng)檢查日期2013.3.25探傷儀名稱(chēng)CTS-22超聲波探傷儀探頭名稱(chēng)圓柱形探頭探頭頻率、規(guī)格2.5P20耦合劑機(jī)油探傷靈敏度52dB時(shí)基線(xiàn)性較差鋼板厚度30mm表面狀態(tài)粗糙探傷示意圖缺陷深度10mm缺陷大小2100mm2評(píng)判結(jié)果（按JB4730-05）I級(jí)超聲波探傷儀與斜探頭綜合性能測(cè)定探頭的入射點(diǎn)L=100-[89+90+89]/3=11mm探頭的折射角K=[（46+49+50）/3+L-35]/30=0.8B靈敏度余量S0=28S=80-S0=80-28=52dB分辨力當(dāng)聲程為3mm時(shí)S1=32,S2=22則S=46-38=10dB當(dāng)聲程為2mm時(shí)S1=34,S2=23則S=48-40=11dB縱截面前后擴(kuò)散角由實(shí)驗(yàn)得X0=102mmL=11mm則嚇0=arctan[（102+11-35）/30]=69（度）X1=96mm貝嚇jarctan[96+11-35）/30]=67（度）X2=106mm貝嚇2=arctan[106+11-35）/30]=70（度）則縱截面后擴(kuò)散角80-p1=2（度）；縱截面前擴(kuò)散角82-p0=1（度）橫截面擴(kuò)散角由實(shí)驗(yàn)得七和氣分別為2.9mm和3.1mm則0=arctan（2.9/26）=6.36（度）0=arctan（3.1/26）=6.80（度）誤差分析缺陷定位時(shí)，探頭移動(dòng)位置不準(zhǔn)確，可對(duì)缺陷定位產(chǎn)生影響。標(biāo)準(zhǔn)試塊的長(zhǎng)期使用使其表面狀態(tài)并非絕對(duì)平整、光滑，也可使實(shí)驗(yàn)產(chǎn)生誤差。探傷儀本身誤差（制造誤差和使用過(guò)程中形成的誤差）會(huì)對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生影響。在讀數(shù)時(shí)由于顯示屏的分辨率的視覺(jué)影響可產(chǎn)生讀數(shù)誤差以