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文檔簡介

勞厄照相法學號:1210201專業(yè):材料物理姓名:黎楠坤

基本原理采用連續(xù)X射線照射到固定的單晶體試樣上而產(chǎn)生衍射,再用照相底片記錄衍射花樣的一種實驗方法。勞厄照相法:基本原理倒易點陣的結(jié)點位于反射球的球面上,反射線方向從反射球球心指向倒易結(jié)點,在底片上形成衍射斑點。入射線中包含有許多不同的波長。衍射矢量方程改寫成,倒易點陣變成線段。實驗裝置——背射勞厄法底片位于X射線源與單晶體試樣之間。通過準直光欄的近平行的X射線輻射的晶體上,產(chǎn)生的背衍射線射到底片上,底片記錄光斑。同一晶帶的衍射斑點在底片上形成雙曲線。實驗內(nèi)容樣品制備——NaCl單晶體,透射:1mm;背射:無限制。測角頭的調(diào)整——最頂端的圓弧垂直于入射線,同時三個圓弧的指針讀數(shù)為零。曝光拍攝——暗室拍攝,具體同粉末照相法。晶體取向確定利用透射投影尺,做勞厄斑點的極射赤面投影圖。利用烏氏網(wǎng),對勞厄相圖中一個最明顯的橢圓定位。利用烏氏網(wǎng),作二次投影。利用標準投影圖,確定主晶軸的位置。重復(fù)步驟二。利用烏氏網(wǎng),測定主晶軸與參考坐標系的夾角。實驗預(yù)期與問題測

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