零件測(cè)量期中試卷

零件測(cè)量期中試卷零件測(cè)量期中試卷零件測(cè)量期中試卷零件測(cè)量期中試卷編制僅供參考審核批準(zhǔn)生效日期地址：電話：傳真:郵編:寧技2012學(xué)年第一學(xué)期《零件測(cè)量和技術(shù)控制技術(shù)》期中試卷班級(jí)：姓名：學(xué)號(hào)：成績(jī)：一、填空題（每空分，共45分）1、測(cè)量是以確定被測(cè)對(duì)象的為目的的全部操作。任何測(cè)量過程都包含、、和等四個(gè)要素。2、孔的上極限偏差表示，軸的下極限偏差用表示。3、基孔制配合中的孔稱為，其基本偏差為偏差，代號(hào)為，數(shù)值為，其另一極限偏差為偏差。4、在公稱尺寸相同的情況下，公差等級(jí)越高，公差值。5、測(cè)量長(zhǎng)度的方法可以用、及測(cè)量。6、外徑千分尺一般由、、、、尺架、測(cè)砧、鎖緊裝置和隔熱裝置等。7、千分尺測(cè)微螺桿的螺距一般為，當(dāng)微分筒轉(zhuǎn)一圈，測(cè)微螺桿的軸向位移式mm。微分筒圓周上刻有等份，此千分尺的分度值是mm。8、測(cè)量軸徑通常采用、、等進(jìn)行測(cè)量。9、用、和等量具可以對(duì)孔徑進(jìn)行測(cè)量。10、塞規(guī)是孔用極限量規(guī)，它的通規(guī)是根據(jù)孔的確定的，止規(guī)是按孔的設(shè)計(jì)的。11、被測(cè)要素是指圖樣上給出要求的要素，它按功能關(guān)系分為與。二、判斷題（每題1分，共10分）1、某一零件的實(shí)際尺寸正好等于其基本尺寸，則該尺寸必然合格。（）2、基孔制是將孔的公差帶位置固定，而通過改變軸的公差帶位置得到各種配合的一種制度。（）3、優(yōu)先采用基孔制的原因主要是孔比軸難加工。（）4、基本偏差可以是上偏差，也可以是下偏差，因而一般以數(shù)值小的那個(gè)偏差作為基本偏差。（）5、形位公差框格的指引線的箭頭指向被測(cè)要素公差帶的寬度或直徑方向。（）6、若形位公差框格中基準(zhǔn)代號(hào)的字母標(biāo)為A－B，則表示此形位公差有兩個(gè)基（）7、和圓度公差一樣，圓柱度公差的被測(cè)要素也可以是圓柱面或圓錐面。（）8、面對(duì)面、線對(duì)面和面對(duì)線的平行度公差帶形狀相同，均為兩平行平面。（）9、同軸度公差和對(duì)稱度公差的被測(cè)要素和基準(zhǔn)要素，可以是輪廓要素，也可以是中心要素。（）10、測(cè)量面對(duì)面的平行度誤差時(shí)，可將工件放置在平板上，用指示表測(cè)量被測(cè)平面上各點(diǎn)，指示表的最大與最小讀數(shù)之差即為該工件的平行度誤差。（）三、選擇題（每題2分，共20分）1、具有互換性的零件應(yīng)是（）A、相同規(guī)格的零件B、不同規(guī)格的零件C、相互配的的零件D、形狀和尺寸完全相同的零件2、下極限尺寸減去、其公稱尺寸所得的代數(shù)差為（）A、上極限偏差B、下極限偏差C、基本偏差D、實(shí)際偏差3、當(dāng)孔的上極限尺寸與軸的下極限尺寸之代數(shù)差為正值時(shí)，此代數(shù)差為（）A、最大間隙B、最小間隙C、最大過盈D、最小過盈4、當(dāng)孔的上極限偏差小于相配合的軸的下極限偏差時(shí)，此配合的性質(zhì)是（）A、間隙配合B、過渡配合C、過盈配合D、無法確定5、用于測(cè)量零件的高度和精密畫線的是（）A、鋼直尺B、游標(biāo)卡尺C、千分尺D、高度游標(biāo)卡尺6、下列選項(xiàng)中，正確使用外徑千分尺的方法是（）A、可用千分尺測(cè)量毛坯B、測(cè)量時(shí)，手握住隔熱手柄C、工件旋轉(zhuǎn)時(shí)也可測(cè)量D、應(yīng)用砂紙將尺上銹污去除7、用游標(biāo)卡尺測(cè)量軸頸時(shí)，應(yīng)使尺身與軸線保持（）A、平行B、垂直C、傾斜8、內(nèi)徑量表的分度值為（）A、B、C、D、9、用來確定被測(cè)要素方向或位置的要素是（）A、方向要素B、位置要素C、基準(zhǔn)要素D、關(guān)聯(lián)要素10、以下幾何公差項(xiàng)目中，屬于形狀或者位置公差的是（）A、線輪廓度公差B、同軸度公差C、平面度公差D、全跳動(dòng)公差四、綜合題（共25分）1、讀出下面所示游標(biāo)卡尺所示的讀數(shù)。（5分）2、如圖所示為一組配合的孔、軸公差帶圖，試根據(jù)此圖解答下列問題：（12分）（1）孔、軸的