超聲波檢測(cè)技術(shù)的實(shí)驗(yàn)原理和方法

實(shí)驗(yàn)超聲波檢測(cè)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、了解超聲波檢測(cè)的基本原理和方法；2、了解超聲波檢測(cè)的特點(diǎn)和適用范圍；3、掌握斜探頭橫波探傷的距離一波幅（DAC）曲線制作方法。二、實(shí)驗(yàn)設(shè)備器材1、ZXUD-40E型智能超聲波探傷儀ZXUD-40E型數(shù)字式超聲波探傷儀是小型化的便攜式超聲波探傷儀器，特別適用于材料缺陷的評(píng)估和定位、壁厚測(cè)量等，適合各種大型工件和高分辨率測(cè)量的要求?！踔饕獏?shù)指標(biāo)如下：發(fā)射電壓250V/450V脈沖寬度40?500ns采樣頻率100MHz（最咼）脈沖重復(fù)頻率60Hz?1.2KHz阻抗匹配50Q/150Q/200Q/500Q工作模式自發(fā)自收/單發(fā)單收/穿透分辨力>40dB平均電噪聲<40X10-9V疋Hz靈敏度余量>63dB增益0?110dB；步進(jìn)0.1dB/ldB/2dB/6dB可選頻帶（-3dB）寬頻0.5?15MHz、帶通1?5MHz、2?10MHz、5—15MHz放大器精度±1dB/20dB垂直線性誤差<3%自動(dòng)增益10%?90%動(dòng)態(tài)范圍>35dB檢波方式正檢波/負(fù)檢波/全檢波檢測(cè)范圍0?10m；0.1、1以及10mm步進(jìn)自動(dòng)設(shè)置水平線性誤差<0.1%聲速1000?16000m/s，步進(jìn)為1m/s零位偏移（探頭延遲）0?500.0us顯示平移0?1000.0mm；0.1、1mm步進(jìn)自動(dòng)設(shè)置信號(hào)抑制0?90%；線性檢測(cè)閘門(mén)（2個(gè)）起點(diǎn)/寬度/高度連續(xù)可調(diào)閘門(mén)內(nèi)信號(hào)正/負(fù)觸發(fā)報(bào)警輸出（聲光報(bào)警）控制閘門(mén)內(nèi)信號(hào)測(cè)量點(diǎn)選擇聲程-水平距離-深度實(shí)時(shí)計(jì)算顯示

測(cè)量模式TOF（飛行時(shí)間）測(cè)量實(shí)時(shí)計(jì)算顯示聲程折射關(guān)系動(dòng)態(tài)顯示靜態(tài)讀數(shù)測(cè)量計(jì)算可選參考定量、定位DAC曲線距離-波幅曲線（DAC）,2?10個(gè)參考點(diǎn)4條附加可修正dB曲線參數(shù)通道50組存儲(chǔ)管理1000幅回波信號(hào)峰值記憶實(shí)時(shí)檢索峰值，反差色顯示顯示凍結(jié)全凍結(jié)/參考凍結(jié)裂紋測(cè)量衍射波法測(cè)量裂紋高度曲面修正曲面工件探傷，自動(dòng)計(jì)算定位修正包絡(luò)曲線峰值包絡(luò)記錄顯示數(shù)碼旋鈕數(shù)碼旋鈕操作調(diào)節(jié)實(shí)時(shí)時(shí)鐘日期/時(shí)間跟蹤，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘計(jì)時(shí)外設(shè)接口高速USB接口，支持計(jì)算機(jī)通訊、管理顯示器咼亮、真彩TFT顯示器、5.7英寸顯示頻率NTSC制式（60Hz）屏幕保護(hù)工作/屏?？刂疲ü?jié)電狀態(tài)）電池鋰聚合電池，工作時(shí)間＞11小時(shí)主機(jī)尺寸/重量210mmx165mmx50mm；1.8kg（含電池）環(huán)境溫度-5□?60口相對(duì)濕度20?90%RH⑴儀器外觀如圖9-1所示：

圖9-圖9-1儀器外觀博手Hr?幻f戲皈Ftl電沖插軽當(dāng)連接僅帶有一個(gè)超聲晶片的探頭（自發(fā)自收）時(shí)，可以任意插入一個(gè)儀器上的探頭連接器。當(dāng)連接帶有雙超聲晶片的探頭（一個(gè)為發(fā)射晶片，一個(gè)為接收晶片）或連接兩個(gè)探頭（一個(gè)發(fā)射探頭，一個(gè)接收探頭）時(shí)，必須注意：發(fā)射的一端接入左邊一個(gè)探頭連接器插孔，接收的一端接入右邊一個(gè)探頭連接器插孔，如圖9-1所示。⑶鍵盤(pán)及其功能QOCDonCIOCKI?HSS圖9-2ZXUD-40E的薄膜鍵盤(pán)按鍵排列儀器包含27個(gè)按鍵。這些按鍵分成5大類：電源鍵、方向鍵、功能菜單鍵、子菜單鍵和功能熱鍵。關(guān)于各按鍵的具體功能概述，參見(jiàn)表9-1。表9-1各按鍵的具體功能概述

按鍵類型按鍵名按鍵功能描述電源鍵（1個(gè)）開(kāi)機(jī)或關(guān)機(jī)方向鍵（2個(gè)）參數(shù)數(shù)值增減參數(shù)選項(xiàng)切換 1 光標(biāo)回退（退格）或取消當(dāng)前操作（取消）J進(jìn)入A掃范圍相關(guān)的功能菜單輸入數(shù)字1ns硏進(jìn)入儀器自動(dòng)校準(zhǔn)的功能菜單輸入數(shù)字3進(jìn)入檢測(cè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)管理的功能菜單L?±J輸入數(shù)字4廠§\凹上翻參數(shù)功能菜單輸入數(shù)字5功能菜單鍵（10個(gè)）4**h1|下翻參數(shù)功能菜單輸入數(shù)字0進(jìn)入檢測(cè)閘門(mén)相關(guān)參數(shù)設(shè)置的功能菜單輸入數(shù)字6f7訂進(jìn)入DAC探傷曲線設(shè)置的功能菜單輸入數(shù)字8進(jìn)入探傷應(yīng)用的功能菜單，如裂紋測(cè)高等輸入數(shù)字9f1l讎J在“基本增益”、“輔助增益”和“增益步進(jìn)”三個(gè)菜單之間進(jìn)行切換pg進(jìn)入通道選擇的功能菜單輸入小數(shù)點(diǎn)（.）EE3EI子菜單鍵（5個(gè)）選擇功能菜單的相應(yīng)子菜單項(xiàng)Q~f]自動(dòng)調(diào)節(jié)增益，使當(dāng)前閘門(mén)內(nèi)的回波達(dá)到預(yù)設(shè)的波高輸入負(fù)號(hào)（-）接受輸入的參數(shù)數(shù)值功能熱鍵（9個(gè)）［苗接受功能操作的結(jié)果k J屏幕回波凍結(jié)（*）益*j增減“基本增益”、“輔助增益”或“增益步進(jìn)”實(shí)時(shí)存儲(chǔ)回波、參數(shù)設(shè)置和測(cè)量數(shù)據(jù)到儀器數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器完成曲線制作的取參考點(diǎn)，進(jìn)入曲線制作預(yù)備狀態(tài)

輸入數(shù)字2骨'『1 搜索當(dāng)前閘門(mén)內(nèi)回波的峰值，色差動(dòng)態(tài)顯示輸入數(shù)字7広可 開(kāi)啟/關(guān)閉儀器的聲（喇叭）光（報(bào)警指示燈）報(bào)警輸出f \屏保 進(jìn)入屏幕保護(hù)（簡(jiǎn)稱屏保）節(jié)電狀態(tài)L J⑷參數(shù)設(shè)置規(guī)程參數(shù)設(shè)置可通過(guò)以下兩種規(guī)程來(lái)完成。有些參數(shù)設(shè)置僅遵照“方向鍵增減調(diào)節(jié)規(guī)程”，比如：探頭類型、聲程跨距等；有些參數(shù)設(shè)置又僅遵照“直接數(shù)字輸入規(guī)程”，比如：探頭頻率、探頭規(guī)格等；還有些參數(shù)設(shè)置可遵照兩種規(guī)程，比如：檢測(cè)范圍、零位偏移等。⑸方向鍵增減調(diào)節(jié)規(guī)程可按下來(lái)增減參數(shù)設(shè)置?？砂聪垄手苯訑?shù)字輸入規(guī)程進(jìn)入探傷通道設(shè)置狀態(tài)，再次按下對(duì)于垂直菜單探傷通道設(shè)置，按下進(jìn)入探傷通道設(shè)置狀態(tài)，再次按下則進(jìn)入直接數(shù)字輸入狀態(tài)；對(duì)于水平菜單，按下子菜單鍵選中子菜單項(xiàng)，再次按下子菜單鍵則也進(jìn)入直接數(shù)字輸入狀態(tài)。一旦進(jìn)入直接數(shù)字輸入狀態(tài)，將在菜單項(xiàng)上出現(xiàn)閃爍光標(biāo)，等待用戶直接輸入數(shù)字。在輸入的過(guò)程中，若發(fā)現(xiàn)先前輸入的數(shù)字錯(cuò)誤，可按下 吏得光標(biāo)回退，刪除剛才輸入的錯(cuò)誤數(shù)字。輸入完成之后，用戶可按下來(lái)接受輸入，也可按下匚』才輸入的錯(cuò)誤數(shù)字。輸入完成之后，用戶可按下來(lái)取消輸入（對(duì)于水平菜單項(xiàng)，也可再次按下子菜單鍵取消輸入）。⑺電源電源鍵為儀器電源開(kāi)關(guān)。2、超聲波橫波斜探頭在超聲波檢測(cè)中，超聲波探頭將電能轉(zhuǎn)換成超聲能（產(chǎn)生超聲波），發(fā)射出去，同時(shí)也能將接受到的超聲波轉(zhuǎn)換成電能，通過(guò)連接導(dǎo)線傳遞到探傷儀中。由于超聲波探頭在檢測(cè)過(guò)程中起到一個(gè)能量轉(zhuǎn)換的作用，因此，超聲波探頭也稱為超聲換能器或電聲換能器。橫波斜探頭上常標(biāo)有該探頭的工作頻率、晶片尺寸和K值。

1 2 3 4 51.吸聲材料2.斜楔3.阻尼塊4.外殼5.電纜線6.壓電晶片圖9-3斜探頭結(jié)構(gòu)3、試塊按一定用途設(shè)計(jì)制作的具有簡(jiǎn)單幾何形狀的人工反射體的試樣稱為試塊。試塊和儀器。探頭一樣是超聲波檢測(cè)中的重要工具，其主要作用有：確定檢測(cè)靈敏度、測(cè)試儀器和探頭的組合性能、調(diào)整掃描速度（即顯示屏上的水平刻度與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系）、評(píng)判缺陷大小、以及測(cè)量材料聲速、衰減性能等。試塊可以是按照各種標(biāo)準(zhǔn)制作的標(biāo)準(zhǔn)試塊，也可以是自己按照實(shí)際需要制作的對(duì)比試塊本次實(shí)驗(yàn)使用的CKS-DA試塊和CKS-DA試塊屬于標(biāo)準(zhǔn)試塊。其尺寸結(jié)構(gòu)分別如圖9-4、圖9-5所示。4、耦合劑由于超聲波在空氣界面100％反射，不能穿透到工件中去進(jìn)行檢測(cè)，因此，必須借助探頭與工件表面之間涂敷的液體，排除空氣間歇，以實(shí)現(xiàn)聲能的傳遞，這種液體稱為耦合劑。

圖9-5CKS-DA圖9-5CKS-DA試塊?...三、實(shí)驗(yàn)原理由于超聲波不同的檢測(cè)方法在檢測(cè)原理上略有區(qū)別，在此我們以直探頭探傷來(lái)說(shuō)明其圖9-6超聲波檢測(cè)脈沖反射法原理超聲波探傷儀發(fā)射一定頻率的電信號(hào)，通過(guò)探頭中的壓電晶片轉(zhuǎn)換成超聲波，經(jīng)過(guò)耦合劑透射進(jìn)入被檢測(cè)工件中，超聲波在工件中進(jìn)行傳播，如果沒(méi)有缺陷，則被工件底面反射到探頭當(dāng)中，探頭再將接受到的信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)傳遞到探傷儀中，經(jīng)過(guò)濾波和放大等處理，在顯示屏上形成底面回波。由于該波經(jīng)過(guò)了二倍工件厚度的路程，因此底波和發(fā)射波在顯示屏的水平方向有一段距離。如果在工件內(nèi)部存在缺陷，那么透射進(jìn)入工件的超聲波在缺陷位置發(fā)生反射，該反射波同樣經(jīng)過(guò)探頭進(jìn)入探傷儀中，在顯示屏上形成回波。由于缺陷位置在工件中，因此該回波所經(jīng)歷的路程比底面回波所經(jīng)歷的路程要短，則該回波在顯示屏水平方向上的位置就位于發(fā)射波和底波之間。因此通過(guò)回波在顯示屏水平方向上的位置就可以判斷工件內(nèi)部是否存在缺陷；通過(guò)回波的高度就可以判斷缺陷的大??；通過(guò)移動(dòng)探頭就可以得到缺陷的面積或長(zhǎng)度。這就是超聲波檢測(cè)脈沖反射法的基本原理。四、實(shí)驗(yàn)步驟假使探訪條件和要求如下：1.工件：30mm厚的鋼板焊縫2．探頭：?jiǎn)翁筋^3．試塊：CSKIA，CSKIIIA4．DAC法

1)DAC點(diǎn)數(shù)：5（10、20、30、40、50)2)判廢線偏移量：+5dB3)定量線偏移量：-3dB4)測(cè)長(zhǎng)線偏移量：-9dB實(shí)現(xiàn)步驟如下：1．將探頭與儀器連接，開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)，使儀器處于正常工作狀態(tài)。2．探頭參數(shù)設(shè)置如下圖所示：45.00>0nn5.0MHz45.00>0nn5.0MHz榕IS.0x10.0圖9-7探頭參數(shù)設(shè)置菜單探頭類型：探頭的入射類型，直探頭還是斜探頭。探頭K值/角度：K值為探頭入射角的正切值（僅用于斜探頭）。探頭前沿：從探頭的聲束入射零點(diǎn)到探頭外殼前表面的距離（僅用于斜探頭）。探頭頻率：探頭的信號(hào)頻率。探頭規(guī)格：探頭的晶片尺寸。3．自動(dòng)校準(zhǔn)超聲波探傷前必須將相關(guān)的探頭、試塊組合進(jìn)行校準(zhǔn)，用來(lái)保證測(cè)量計(jì)算的精度以滿足探傷條件的基本準(zhǔn)備。（1）校零位偏移（簡(jiǎn)稱：校零偏）為了對(duì)被檢測(cè)缺陷精確定位，在檢測(cè)前應(yīng)先作距離校準(zhǔn)，以保證測(cè)量計(jì)算時(shí)探按下?頭入射波處在被檢工件的界面零點(diǎn)。按下?功能菜單鍵，將展開(kāi)“自動(dòng)校準(zhǔn)”水平菜單。按下丄」子菜單鍵,選擇“校零偏”。校零位偏移時(shí)的水平菜單如圖9-8所示。協(xié)瓏圍200校魚(yú)度45.0圖9-8校零位偏移時(shí)的水平菜單校零位偏移之前，必須完成下面列舉的準(zhǔn)備工作：1） 重復(fù)頻率設(shè)置為60Hz2） 設(shè)置正確的收發(fā)模式3） 數(shù)字抑制設(shè)置為零4） 將探頭放置在CSK-IA試塊上，放置方式如下所述：斜探頭校零位偏移時(shí)，是利用CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊的雙圓弧面為標(biāo)準(zhǔn)參考（圓半徑為R50/R100），如下圖9-9所示。校零位偏移的操作描述如下：

1）調(diào)整檢測(cè)范圍R50:WRlUUCnO35140200示區(qū)中可以看到斜探頭的R50/R100圓弧面回波處于屏幕可見(jiàn)的合適位置。如果已經(jīng)滿足上述條件可以不進(jìn)行此項(xiàng)操作。1051251101）調(diào)整檢測(cè)范圍R50:WRlUUCnO35140200示區(qū)中可以看到斜探頭的R50/R100圓弧面回波處于屏幕可見(jiàn)的合適位置。如果已經(jīng)滿足上述條件可以不進(jìn)行此項(xiàng)操作。10512511095K2.0K3.0050.0 K2.5K1.□ K1.544345-89按下丄」子菜單鍵，選中“檢測(cè)范圍”菜單項(xiàng)。調(diào)節(jié)檢測(cè)范圍，使得在回波顯圖9-9斜探頭校零位偏移時(shí)的探頭放置2）校零偏設(shè)置圖9-10“校零偏設(shè)置”對(duì)話框根據(jù)屏幕提示，選擇“探頭類型”并根據(jù)探頭類型輸入“參考R1”和“參考R2”參考R1與參考R2的輸入值參見(jiàn)下表9-2所示。表9-2不同探頭類型校零位偏移時(shí)的參考輸入直探頭斜探頭參考R125mm50mm參考R250mm100mm卜4 H按下——，退出校零偏設(shè)置；按下——，完成校零偏設(shè)置，進(jìn)入記錄參考。3）記錄參考R1的最高回波完成校零偏設(shè)置之后，進(jìn)入記錄參考R1。水平菜單如下所示：

圖9-11 “記錄參考R1”水平菜單此時(shí)首先確認(rèn)參考1的回波被閘門(mén)套住，如果回波在閘門(mén)外，可通過(guò)按下方向鍵左右移動(dòng)閘門(mén)，使得回波被套住。如果此時(shí)閘門(mén)內(nèi)回波波幅超出滿刻度，則按下功能熱鍵，使得回波波幅處于自動(dòng)增益門(mén)限高度（通常設(shè)置為80%）。調(diào)整探頭位置，確認(rèn)觀察到的閘門(mén)內(nèi)回波是最高波（斜探頭是觀察圓弧面反射，如圖9所示）。此時(shí)，也可按下功能熱鍵，來(lái)自動(dòng)搜索最大峰值。確認(rèn)記錄參考1的最高回波之前的儀器界面，如下圖所示。按下將記錄下參考1的回波,進(jìn)入下步；按下|通道盟|200.S囹?＜1=47?.5 斗9所示）。此時(shí)，也可按下功能熱鍵，來(lái)自動(dòng)搜索最大峰值。確認(rèn)記錄參考1的最高回波之前的儀器界面，如下圖所示。按下將記錄下參考1的回波,進(jìn)入下步；按下|通道盟|200.S囹?＜1=47?.5 斗0.色 SS.S12S.0退回上步；按下匸□退出校準(zhǔn)。+8.日■日?1ZA79.5圖9-12確認(rèn)記錄參考1的最高回波之前的儀器界面圖9-13“記錄參考R2”水平菜單按照相同的方法來(lái)搜索參考2的最大回波。確認(rèn)記錄參考2的最高回波之前的儀器界面，如下圖所示。按下ED將記錄下參考2的回波，進(jìn)入下步；按下匸匚IF4退回上步；按下 退出校準(zhǔn)。

n通道02|4亍.GAB十0?0.0?1JSJ_?5 J.J.0?7■"?378.3■■■■■■■■■■■■■■■■■■■■1140,0 S0-0 125,6 2SC圖9-14確認(rèn)記錄參考2的最高回波之前的儀器界面特別注意：對(duì)于斜探頭，在找到圓弧R2（100mm）的最大回波時(shí)，用直尺測(cè)量斜探頭前端到圓弧R2端面的距離，設(shè)為x，則斜探頭前沿即為：100-x。5）自動(dòng)校零偏計(jì)算完成記錄參考R1和R2之后，儀器將自動(dòng)進(jìn)行校零偏計(jì)算。對(duì)于斜探頭，將顯示如下包含輸入“探頭前沿”的“校零偏結(jié)果”對(duì)話框：圖9-15斜探頭“校零偏結(jié)果”對(duì)話框在上述對(duì)話框中輸入獲得的探頭前沿值。卜3 [卜4] 卜匕按下 退回上步；按下 中止校準(zhǔn)；按下_完成校準(zhǔn)。儀器在完成探頭零位偏移的自動(dòng)校準(zhǔn)的同時(shí)，所使用的材料聲速也會(huì)隨之自動(dòng)校準(zhǔn)。對(duì)于斜探頭，在校零偏之后，自動(dòng)進(jìn)入校角度/K值。（2）校K值（角度）探頭K值（角度）校準(zhǔn)功能只適用于斜探頭。一般探頭的標(biāo)稱K值（角度）與實(shí)際值有誤差。為了在檢測(cè)時(shí)精確定位缺陷的距離，在探頭零偏校準(zhǔn)后必須對(duì)探頭K值（角度）進(jìn)行校準(zhǔn)。按下?3功能菜單鍵，將展開(kāi)“自動(dòng)校準(zhǔn)”水平菜單。按下□子菜單鍵，選擇“校K值”。校K值時(shí)的水平菜單如下圖所示。Z00.3P1FI倨偏28ue

圖9-16校K值時(shí)的水平菜單“校K值”之前的準(zhǔn)備工作：1） 確認(rèn)探頭零位偏移已經(jīng)校準(zhǔn)好；2） 將探頭放置在CSK-IA試塊上，利用CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊中的測(cè)試孔作為標(biāo)準(zhǔn)參考。可使用兩種測(cè)試孔，一個(gè)的孔徑為①50,孔心離探測(cè)面的垂直距離即孔深為30mm；另一個(gè)是孔徑為①1.5的橫通孔。探頭放置方式如下圖。<■ --T >|* l<A <■ 2C0 >圖9-17斜探頭校K值時(shí)的探頭放置“校K值”的操作描述如下：1）調(diào)整檢測(cè)范圍按下匚□子菜單鍵，選中“檢測(cè)范圍”菜單項(xiàng)。調(diào)節(jié)檢測(cè)范圍，使得在屏幕顯示區(qū)中可以看到測(cè)試孔050.0或01.5的回波處于屏幕可見(jiàn)的合適位置。如果已經(jīng)滿足上述條件可以不進(jìn)行此項(xiàng)操作。2）校K值設(shè)置圖9-18“校K值設(shè)置”對(duì)話框在上述對(duì)話框中，根據(jù)屏幕提示，依次輸入/選擇：校準(zhǔn)方式（手動(dòng)/自動(dòng)）角度表示（角度/K值）、標(biāo)稱值、參考孔直徑以及參考孔深度。“參考孔直徑”與“參考孔深度”的輸入值參見(jiàn)下表9-3所示。

表9-3不同測(cè)試孔類型校K值時(shí)的參考輸入050?0參考孔01.5參考孔參考孔直徑50.0mm1.5mm參考孔深度30mm15mm按下匚I退出校K值設(shè)置；按下匚□，完成校K值設(shè)置，進(jìn)入校K值過(guò)程。3）自動(dòng)校K值進(jìn)入自動(dòng)校K值之后，水平菜單如下顯示：椅測(cè)甫圍氓回上曲丨中卜槨隹西04砒圖9-19“記錄參考”水平菜單第一步：記錄參考孔的最高回波首先確認(rèn)測(cè)試孔的回波被閘門(mén)套住。如果回波在閘門(mén)外，可通過(guò)按下方向按下鍵左右移動(dòng)閘門(mén)，使得回波被套住。如果此時(shí)閘門(mén)內(nèi)回波波幅超出滿刻度，則按下功能熱鍵，使得回波波幅處于自動(dòng)增益門(mén)限高度（通常設(shè)置為80%）。調(diào)整探頭位置，確認(rèn)觀察到的閘門(mén)內(nèi)回波是最高波，如圖4-11所示。此時(shí)，也可按下將記錄功能熱鍵，來(lái)自動(dòng)搜索最大峰值。按下參考孔的回波，進(jìn)入下步；按下匕」退回上步；按下匚□退出校準(zhǔn)。此時(shí)，也可按下將記錄功能熱鍵，來(lái)自動(dòng)搜索最大峰值。按下參考孔的回波，進(jìn)入下步；按下匕」退回上步；按下匚□退出校準(zhǔn)。第二步：自動(dòng)進(jìn)行校K值計(jì)算完成記錄參考孔之后，儀器將自動(dòng)進(jìn)行校K值計(jì)算，并顯示如下的對(duì)話框：v校K值黠果振決K值2-29EF31...退冋[F43 ???中止1LF5J???完成十步務(wù)隹圖9-20“校K值結(jié)果”對(duì)話框[卜3] 卜4 卜5按下 退回上步；按下 中止校準(zhǔn)；按下 完成校準(zhǔn)。4?探傷曲線DAC：稱為距離-波幅曲線。由于波束的擴(kuò)散角和材料中的聲衰減，同樣大小的天然反射體的距離變化引起回波高度（當(dāng)量）發(fā)生相應(yīng)變化。用標(biāo)準(zhǔn)的參考發(fā)射體記錄下這種變化的曲線，即為DAC曲線，可以作為缺陷的定量參考。（1）設(shè)置

按下叵功能菜單鍵，進(jìn)入“曲線”主菜單，如下圖所示:按下叵功能菜單鍵，進(jìn)入“曲線”主菜單，如下圖所示:DAC

制作*

圖9-21未制作曲線的曲線水平菜單制作探傷曲線前的準(zhǔn)備工作:1）確保探頭已經(jīng)經(jīng)過(guò)正確的校準(zhǔn)；2）確保設(shè)置了正確的材料聲速；3）確保設(shè)置了合適的儀器發(fā)射/接收參數(shù)；4）確保設(shè)置了正確的探頭尺寸和探頭頻率（（制作DGS曲線要求）。（2）制作DAC曲線制作DAC曲線使用標(biāo)準(zhǔn)的CSK-IIIA試塊，如下圖所示。圖9圖9-22制作DAC曲線時(shí)的試塊和探頭放置其操作描述如下：1-21）按下——子菜單鍵，進(jìn)入DAC曲線制作過(guò)程。水平菜單顯示如下:刪葩圍141.4nn中止制作圖9-23“記錄參考1”水平菜單2）將探頭放置在CSK-IIIA試塊上，如圖9-5所示。對(duì)準(zhǔn)第一個(gè)測(cè)試孔（20mm深的孔），此時(shí)首先確認(rèn)此測(cè)試孔回波被閘門(mén)套住。如果在閘門(mén)外，可通過(guò)按下方向鍵左右移動(dòng)閘門(mén)，使得回波被套??；如果此時(shí)閘門(mén)內(nèi)回波波幅超出滿刻度，則按可使得回波波幅處于自動(dòng)增益門(mén)限高度（通常設(shè)置為80%）。調(diào)整探頭位置確認(rèn)觀察到的閘門(mén)內(nèi)回波是最高波（可以通過(guò)峰值記憶功能找準(zhǔn)最高波）。此時(shí)，按