XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件

XE系列散點(diǎn)圖分析希森美康醫(yī)用電子（上海）有限公司凌勵(lì)XE系列散點(diǎn)圖分析希森美康醫(yī)用電子（上海）有限公司1血小板（PLT）血小板（PLT）2XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件3IRFLFRMFRHFRFSCSFLNRBC/WBCPLT-flRBCRET核酸染色+激光流式原理

——血小板測(cè)定新方法IRFLFRMFRHFRFSCSFLNRBC/WBCPLT-4舉例舉例5原因:HFP%增高,面積區(qū)域大于PLT-O總數(shù)26.5%.PLT-O檢定區(qū)域PLTClumps?凝集?HFP區(qū)域RET/PLT-O散點(diǎn)圖原因:PLT-O檢定區(qū)域PLTClumps?凝集?HFP6PLTClumps?凝集？PLT凝集區(qū)域和Ghost/Baso交集WBCDIFF散點(diǎn)圖PLTClumps?凝集？PLT凝集區(qū)域和Ghost/7兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件紅細(xì)胞高鑒別線RL(%)>10%血小板低鑒別線PL(%)>9%血小板高鑒別線PU(%)>39%血小板高鑒別線PU(%)<23fL和PU>20%兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件紅細(xì)胞高鑒別線RL(%)>10%8兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件存在細(xì)胞碎片存在紅細(xì)胞凝集血小板高鑒別線PU%>13%和PLT35fL>45%和PLT-I#>80x109/LPLT-I<50x109/L(該項(xiàng)數(shù)值可由用戶自定義)細(xì)胞碎片(RET通道)和PLT-I/PLT-O>115%兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件存在細(xì)胞碎片9XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件10XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件11XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件12XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件13XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件14XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件15XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件16XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件17XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件18XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件19XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件20XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件21XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件22XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件23XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件24RDW-SD與RDW-CVRDW-SD與RDW-CV25RDW－CV受二個(gè)因素影響MCVRDW－SDRDW－CV受二個(gè)因素影響26MCVhighRDW-SDhighRDW-CVnormalMCVlowRDW-SDnormalRDW-CVhighMCVhighRDW-SD27XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件28XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件29XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件30XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件31XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件32XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件33XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件34XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件35XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件36XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件37XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件38XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件39XE系列散點(diǎn)圖分析希森美康醫(yī)用電子（上海）有限公司凌勵(lì)XE系列散點(diǎn)圖分析希森美康醫(yī)用電子（上海）有限公司40血小板（PLT）血小板（PLT）41XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件42IRFLFRMFRHFRFSCSFLNRBC/WBCPLT-flRBCRET核酸染色+激光流式原理

——血小板測(cè)定新方法IRFLFRMFRHFRFSCSFLNRBC/WBCPLT-43舉例舉例44原因:HFP%增高,面積區(qū)域大于PLT-O總數(shù)26.5%.PLT-O檢定區(qū)域PLTClumps?凝集?HFP區(qū)域RET/PLT-O散點(diǎn)圖原因:PLT-O檢定區(qū)域PLTClumps?凝集?HFP45PLTClumps?凝集？PLT凝集區(qū)域和Ghost/Baso交集WBCDIFF散點(diǎn)圖PLTClumps?凝集？PLT凝集區(qū)域和Ghost/46兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件紅細(xì)胞高鑒別線RL(%)>10%血小板低鑒別線PL(%)>9%血小板高鑒別線PU(%)>39%血小板高鑒別線PU(%)<23fL和PU>20%兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件紅細(xì)胞高鑒別線RL(%)>10%47兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件存在細(xì)胞碎片存在紅細(xì)胞凝集血小板高鑒別線PU%>13%和PLT35fL>45%和PLT-I#>80x109/LPLT-I<50x109/L(該項(xiàng)數(shù)值可由用戶自定義)細(xì)胞碎片(RET通道)和PLT-I/PLT-O>115%兩種方法學(xué)的轉(zhuǎn)換條件存在細(xì)胞碎片48XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件49XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件50XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件51XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件52XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件53XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件54XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件55XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件56XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件57XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件58XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件59XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件60XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件61XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件62XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件63RDW-SD與RDW-CVRDW-SD與RDW-CV64RDW－CV受二個(gè)因素影響MCVRDW－SDRDW－CV受二個(gè)因素影響65MCVhighRDW-SDhighRDW-CVnormalMCVlowRDW-SDnormalRDW-CVhighMCVhighRDW-SD66XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件67XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件68XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件69XE系列散點(diǎn)圖分析解析課件70