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文檔簡介

電阻率測井系列包括 普通電阻率測井 、側(cè)向電阻率測井 、微電阻率測井 、感應(yīng)測井普通電阻率測井電阻率:描述介質(zhì)導(dǎo)電能力的強(qiáng)弱 歐姆米巖石電阻率與巖性、孔隙性、含油飽和度密切相關(guān)巖石電阻率與巖性的關(guān)系:金屬礦物—自由電子多,導(dǎo)電性強(qiáng),電阻率低;造巖礦物(石英、長石、方解石)及石油—幾乎不導(dǎo)電,電阻率高;火成巖—致密堅硬,不含地層水,自由電子少,電阻率高沉積巖—孔隙發(fā)育且充滿地層水,所含鹽類呈離子狀態(tài),導(dǎo)電能力強(qiáng),電阻率較低泥巖—粘土礦物表明有離子雙電層,導(dǎo)電能力強(qiáng),電阻率低巖石電阻率與地層水的關(guān)系巖石骨架含油很少的自由電子,導(dǎo)電能力差,沉積巖的導(dǎo)電能力主要取決于地層水電阻率與地層水所含鹽類化學(xué)成分相關(guān)——NaCl、KCl、CaCl、NaSO4、MgSO4等地層水導(dǎo)電能力隨礦化度增加而增加、電阻率降低地層水導(dǎo)電能力隨溫度增加而增加,電阻率降低巖石電阻率與孔隙度的關(guān)系Ro(含水巖石電阻率) /Rw(地層水電阻率) =F(地層因素_常數(shù))=a/ΦmRo—完全含水的巖石的電阻率;Rw—地層水電阻率;a—與巖性有關(guān)的比例系數(shù);Φ—巖石孔隙度(小數(shù));m—膠結(jié)指數(shù)Φ地層因素 F僅與巖樣孔隙度、膠結(jié)情況及孔隙形狀有關(guān),與地層水電阻率無關(guān)巖石電阻率與含油飽和度的關(guān)系巖石中含油飽和度越高,巖石電阻率越高n nRt—含油巖石電阻率; Ro—孔隙中充滿水的巖石電阻率; b—僅與巖性有關(guān)的系數(shù),接近于

1;n—僅與巖性有關(guān)的系數(shù),飽和指數(shù),接近于 2視電阻率曲線影響因素:電極系、井、圍巖—厚度、侵入、高阻鄰層屏蔽、地層傾角電極系分類—電位電極系(單電極到相鄰成對電極之間的距離小于成對電極之間的距離)—梯度電極系(單電極到相鄰成對電極之間的距離遠(yuǎn)大于成對電極之間的距離)電極系影響:同一剖面,不同電極系類型,曲線形狀不同 (對于厚的高阻層,底部梯度電極曲線在地層底界面出現(xiàn)極大值、頂界面出現(xiàn)極小值,頂部梯度電極曲線則相反)同類電極系,電極距不同,曲線形態(tài)和幅度也不同(當(dāng)電極距較小時,井的影響大, Ra幅度不高,隨著電極距增加,探測深度增加,地層貢獻(xiàn)占主導(dǎo), Ra增高,當(dāng)電極距大到一定程度后,低阻圍巖影響大, Ra降低)井的影響:井內(nèi)泥漿電阻率遠(yuǎn)低于高阻巖層電阻率井徑越大,Ra越小泥漿電阻率 Rm越小,實測電阻率 Ra越小圍巖—厚度的影響:隨厚度減小,低阻圍巖對測量結(jié)果貢獻(xiàn)越大侵入影響:高侵—泥漿濾液電阻率高于地層水電阻率時,高侵,含水層多出現(xiàn)高侵(增阻泥漿侵入) ,Rxo>Rt→Ra↗低侵—泥漿濾液電阻率小于地層水電阻率是,低侵,油層段常出現(xiàn)低侵(減阻泥巖侵入)Rxo<Rt→Ra↘高阻鄰層的屏蔽:單電極一方的高阻鄰層可使目的層的視電阻率上升或下降,稱為高阻鄰層的屏蔽影響當(dāng)兩個高祖層之間夾層厚度遠(yuǎn)小于電極距時,兩高阻層很難用曲線劃分開隨著夾層增厚,兩高祖層可以劃分開,但下方高阻層的電阻率降低了(減阻屏蔽)當(dāng)夾層厚度接近或稍大于電極距時,下方高阻層電阻率增加(增阻屏蔽)地層傾角的影響:隨地層傾角的增大,曲線的極大值向地層中心移動,使曲線趨勢接近對稱形曲線極大值隨著傾角增大而減小,曲線變平緩,極大值模糊不清當(dāng)傾角大于60度是,梯度曲線基本特征不存在視電阻率曲線的應(yīng)用:劃分巖性剖面,求取巖層的真電阻率,求取巖層孔隙度,求取油層Ro值劃分巖性剖面—利用電阻率差異尋找高阻層,參考SP,將具有負(fù)異常的高阻層井段選出,及儲層!求取巖層的真電阻率—通過圖版求取,目前基本不用了求取巖層孔隙度——1、在視電阻率曲線上找出一巨厚含水層(Ra較低,SP負(fù)異常),讀取Ra值作為巖層100%含水的Ro值;2、通過水樣化驗或SP資料求出地層水電阻率Rw;3、根據(jù)阿爾奇公式求取F值及ΦF=Ro/Rw=a/Φm求取油層的Ro值—油層Ro值無法直接測量,只有通過孔隙度測井(聲波、密度、中子)資料確定巖層孔隙度后,利用阿爾奇公式計算得出地層因素,再通過水樣化驗或SP資料求出地層水電阻率Rw,在計算RoF=a/Φm=Ro/Rw進(jìn)一步計算含油飽和度F=Rt/Ro=b/Swn=b/(1-So)n側(cè)向測井側(cè)向測井包括三電極側(cè)向測井、七電極側(cè)向測井深三側(cè)向電極系和淺三側(cè)向電極系的設(shè)計為了準(zhǔn)確測量滲透層井段原狀地層和侵入帶的電阻率淺三側(cè)向電極系所測的視電阻率曲線主要反映井壁附近巖層電阻率變化, 在滲透層井段反映侵入帶的電阻率值Ri三側(cè)向測井,屏蔽電極長度決定其探測深度,主電極長度決定分層能力深三側(cè)向電極系所測的視電阻率曲線主要取決于深部原狀地層的電阻率值三側(cè)向測井曲線的應(yīng)用:劃分巖性剖面,判斷油、水層,利用三側(cè)向視電阻率確定巖層的真電阻率劃分巖性剖面—三側(cè)向測井曲線較普通電阻率測井曲線受井眼、 圍巖-厚度、侵入影響較小??v向分辨率高,適合劃分薄層。視電阻率急劇變化處定位高阻層的界面位置。判斷油、水層—將深、淺三側(cè)向曲線重疊,以出現(xiàn)“幅度差”作為滲透層標(biāo)志。一般在Rmf(泥漿電阻率) >Rw(地層水電阻率)—淡水泥漿 情況下油層段——深三側(cè)向 >淺三側(cè)向電阻率,出現(xiàn)“正幅度差”水層段——深三側(cè)向 <淺三側(cè)向電阻率,出現(xiàn)“負(fù)幅度差”注意?。?!1、深淺側(cè)向電阻率可快速判斷油、水層,但最終確定,仍需要綜合解釋2、鹽水泥漿中 即Rmf<Rw,油、水層處,三側(cè)向曲線均出現(xiàn)“正幅度差”

,但油層視電阻率高于水層,且幅度差比水層處的幅度差大,可以一次識別水層。3、井眼規(guī)則時,對于厚滲透層,用該方法判斷油、水比較可靠,對于薄地層,用該法判斷油、水層之前,應(yīng)先將深、淺側(cè)向視電阻率進(jìn)行環(huán)境校正!確定巖層真電阻率—井眼、圍巖 -厚度、侵入式影響三側(cè)向視電阻率的主要因素, 因此,將三側(cè)向視電阻率經(jīng)過單項圖版校正,即可得到巖層的真電阻率 Rt三側(cè)向測井優(yōu)點(diǎn)及不足:

三側(cè)向(井眼校正圖版) 三側(cè)向(圍巖校正圖版) 選擇(侵入校正)1.由于屏流作用使主電流徑向流入地層,所測視電阻率曲線受井眼影響小由于主電極很短,圍巖影響減弱,縱向分辨能力加強(qiáng)。有利于劃分薄層(尤其是高阻剖面及鹽水泥漿井中更為突出)侵入較深時,深側(cè)向受侵入帶影響較大,淺側(cè)向受原狀地層影響較大——表明深側(cè)向探測深度不夠深,淺側(cè)向探測深度不夠淺?。。。。?!深、淺三側(cè)向視電阻率曲線幅度差異不明顯,難于判斷油、水層七電極側(cè)向測井—主電極 I0電流呈圓盤狀沿徑向流入地層,探測深度較大!七側(cè)向測井除七側(cè)向的七電極外,在屏蔽電極A1和A2外側(cè),加回路電極B1和B2,從而減小探測深度,主要反映侵入帶電阻率微電阻率測井微電阻率測井分為:微電極系測井、微側(cè)向測井、雙側(cè)向—微球形聚焦測井微電極系測井;電極距比普通電極系電極距小得多,分為微梯度和微電位兩個電極系微梯度電極系:,微梯度探測范圍小,其電極距是0.0375m,半徑為4cm,探測深度為40mm反映泥餅的電阻率微電位電極系: A0.05M2,探測范圍較微梯度大,其電極距時 0.05m,半徑為反映沖洗帶的電阻率為了避免泥漿影響,測量是彈簧片將鑲在上極板緊貼井壁視電阻率表達(dá)式 Ra=K( U/I),對于微梯度 U= UM1M2 對于微電位 U=

10cm,探測深度為UM2N

100mm

主要非滲透性地層微電極系曲線無幅度差或有正、負(fù)不定的較小的幅度差砂泥巖剖面中,泥巖為常見的非滲透性巖層,電阻率較低。泥質(zhì)粉砂巖隨泥巖含量增加,曲線幅度降低,幅度差減小非滲透性石灰?guī)r和白云巖薄層,微電極系曲線上幅度極高,且無幅度差或者有很小的正、負(fù)不定的幅度差微電極線測井的應(yīng)用:劃分巖性剖面、確定巖性界面、確定含油砂巖的有效厚度、確定井徑擴(kuò)大井段、確定沖洗帶電阻率Rxo及泥餅厚度hm劃分巖性剖面— 1,利用是否有幅度差區(qū)分滲透層和非滲透層; 2,再根據(jù)曲線幅度和幅度差大小劃分巖性含油砂巖和含水砂巖均有明顯幅度差,若巖性相同,含油性越好,差異越明顯,含水砂巖的幅度和幅度差略低于含油砂巖;砂巖含泥質(zhì)含量較多,含油性變差,幅度和幅度差均降低泥巖—微電極曲線呈直線狀,具有砂泥巖剖面中典型的非滲透性巖層的曲線特征(幅度低,沒有幅度差,或很小的正、負(fù)不定的幅度差)灰質(zhì)砂巖——微電極曲線幅度比普通砂巖高,但幅度比普通砂巖小致密灰?guī)r——曲線幅度特別高,常呈鋸齒狀,有幅度不大的正、負(fù)不定的幅度差生物灰?guī)r——曲線幅度很高,正幅度差特別大孔隙性、裂縫性石灰?guī)r——曲線幅度比致密灰?guī)r低得多,一般有明顯的正幅度差確定巖性界面—ML(微電極曲線)縱向分辨能力較強(qiáng),劃分薄互層和薄夾層比較可靠滲透層界面可用兩條微電極曲線的分歧點(diǎn)的深度位置確定微電極曲線是砂泥巖剖面中劃分滲透層的主要依據(jù)確定含油砂巖的有效厚度—微電極曲線兩大特點(diǎn),劃分薄層、區(qū)分滲透和非滲透性巖層可利用微電極曲線得到油層的有效厚度(識別儲層—確定儲層頂?shù)捉缑妗R別并扣除致密薄夾層—得到油層有效厚度)確定井徑擴(kuò)大井段—若發(fā)生井壁垮塌,在井壁上形成大洞穴,或石灰?guī)r溶洞直徑大于微電極系扶正器直徑時,在這些井段微電極系的極板懸空,所測視電阻率曲線幅度降低,接近于泥漿電阻率幅度確定沖洗帶電阻率 Rxo及泥餅厚度 hm—微側(cè)向測井主要用來反映沖洗帶電阻率,主要是由于泥餅對微電極系的分流作用大微側(cè)向測井主電流受屏蔽電流的屏蔽作用而成束狀徑向流入地層,探測深度約 8cm微側(cè)向測井資料的應(yīng)用:劃分薄層、確定沖洗帶電阻率Rxo劃分薄層—主電流縱向分布范圍為4.4m,因此微側(cè)向曲線縱向分辨率強(qiáng),可以劃分薄油層及滲透層內(nèi)夾層,以求取油層的有效厚度確定沖洗帶的電阻率Rxo—泥餅厚度較小時,可用微側(cè)向電阻率RMLL代替Rxo,當(dāng)泥餅較厚時,泥餅的影響比較突出,直接用RMLL代替Rxo誤差較大,此時必須用圖版進(jìn)行校正才能得到可靠Rxo雙側(cè)向-微球形聚焦測井—具有三種電極:深側(cè)向、淺側(cè)向R、微球形聚焦測井電極系R,該組合測井RLLDLLSMSFL儀可提供LLD、LLS、MSFL、SP及泥餅厚度深側(cè)向測井視電阻率曲線RLLD—反映原狀地層電阻率Rt淺側(cè)向測井視電阻率曲線RLLS—反映侵入帶電阻率Ri微球形聚焦測井電極系曲線RMSFL—反映沖洗帶電阻率Rxo雙側(cè)向測井資料的應(yīng)用:劃分巖性剖面,快速直觀判斷油、水層,確定地層的真電阻率(通過井眼校正、圍巖校正、侵入校正)劃分巖性剖面—由于井孔分流小,對于電阻率不同的巖層都有明顯的曲線變化,厚度在0.6m以上的地層均可分辨。如果和鄰層電阻率差異較大,厚度在0.4m時也有明顯的異常變化快速、直觀的判斷油、水層—將深、淺側(cè)向視電阻率曲線重疊,觀察幅度的相對關(guān)系,滲透層具有幅度差深側(cè)向幅度>淺側(cè)向幅度(正幅度差)意味泥漿低侵,一般可認(rèn)為是含油氣段深側(cè)向幅度<淺側(cè)向幅度(負(fù)幅度差)意味泥漿高侵,一般可認(rèn)為是含水層段地層水礦化度和泥漿礦化度基本相同,且侵入不深的情況下,儲層中有可動油氣RLLD>RLLS>RMSFL,若無可動油氣,三條曲線重合感應(yīng)測井感應(yīng)測井—以電磁感應(yīng)原理為基礎(chǔ),通過研究交變電磁場的特性反映介質(zhì)電導(dǎo)率的一種測井方法。普通電阻率測井及側(cè)向測井只能在水基泥漿中使用,在油基鉆井液、空氣鉆井中無法測量感應(yīng)測井曲線包括單一低電導(dǎo)率和高電導(dǎo)率地層視電導(dǎo)率曲線上、下圍巖相同時,低電導(dǎo)率地層視電導(dǎo)率曲線幅度隨地層厚度變薄而下降(視電導(dǎo)率逐漸增高) ,這主要是地層厚度變小,圍巖的相對貢獻(xiàn)增大所致。當(dāng)?shù)貙雍穸却笥谀骋恢担?1.7米)時,上下界面附近出現(xiàn)一對 “耳朵”,厚度減小是,耳朵逐漸合一,曲線呈尖峰。當(dāng)厚度達(dá) 2m時,曲線中部呈凹形,厚度為 3m時,曲線中部平直,地層厚度大于 3m時,曲線中部呈外凸圓弧狀對于高電導(dǎo)率地層,變化與低電導(dǎo)率地層一樣,只是偏移方向相反上、下圍巖不相同時,低電導(dǎo)率地層因受圍巖的影響,視電導(dǎo)率曲線呈不對稱形狀,地層厚度 >2m時,曲線中部呈傾斜狀,地層中點(diǎn)對應(yīng)傾斜線中點(diǎn)感應(yīng)測井資料應(yīng)用:確定地層界面、劃分滲透層,合理選取感應(yīng)測井讀數(shù),確定巖層真電阻率 Rt劃分滲透層、確定巖層厚度—在 0.8m六線圈所測得感應(yīng)曲線上, 當(dāng)h>2米時可用半幅點(diǎn)法劃分頂?shù)捉缑妫羯舷聡鷰r不對稱,上、下界面分別用各自的半幅點(diǎn)深度確定,但是一般不單獨(dú)使用感應(yīng)曲線劃分儲集層界面位置砂泥巖剖面中滲透層劃分—當(dāng) h>2m時,用半幅點(diǎn)劃分頂、底界面, SP曲線上滲透層顯示正、負(fù)異常,在微電極曲線上微電位與微梯度呈正幅度差,井徑曲線平直不存在垮塌合理選取感應(yīng)測井讀數(shù)—砂泥巖剖面中:儲集層是高電阻率地層,在視電導(dǎo)率曲線上應(yīng)選取地層中點(diǎn)的極小值,在高阻剖面內(nèi)的低電阻率儲集層處,應(yīng)選取視電導(dǎo)率曲線的極大值如如地層很厚地層很厚,在地層,在地層中部中部沒有明顯的極值沒有明顯的極值, ,而是在某一而是在某一幅度上下變幅度上下變化化,曲線呈,曲線呈波動狀波動狀,此,此時應(yīng)在時應(yīng)在地層中部附近地層中部附近取取幾何平均值幾何平均值作為該巖層作為該巖層的視電導(dǎo)率讀數(shù)。如如地層內(nèi)含有地層內(nèi)含有薄泥質(zhì)薄泥質(zhì)或或鈣質(zhì)鈣質(zhì)夾層夾層,應(yīng)將夾層在曲,應(yīng)將夾層在曲線上引起的線上引起的局部異常局部異??鄢鄢?,后,然后然后讀數(shù)讀數(shù)。。若夾層若夾層可以可以用微電阻率用微電阻率測井曲線劃分開時測井曲線劃分開時,則,則分分為兩層分別解釋為兩層分別解釋圍巖視電導(dǎo)率—上、下圍巖電導(dǎo)率相同、巖性均勻、地層足夠厚時上、下圍巖電導(dǎo)率相同、巖性均勻、地層足夠厚時,可以可以任意選取任意選取上部或下部圍巖的感應(yīng)測井曲線幅度值。上部或下部圍巖的感應(yīng)測井曲線幅度值?!瘛裆?、下圍巖電導(dǎo)率相同,巖性不均勻時上、下圍巖電導(dǎo)率相同,巖性不均勻時,應(yīng),應(yīng)取靠近目取靠近目的層附近的圍巖井段的層附近的圍巖井段感應(yīng)曲線幅度值感應(yīng)曲線幅度值 ----對于對于 六線圈六線圈系,在系,在距目的層中心距目的層中心55mm以內(nèi)以內(nèi)井段上圍巖部分井段上圍巖部分讀數(shù)讀數(shù)為宜為宜。?!瘛癞?dāng)上、下圍巖電導(dǎo)率不同時當(dāng)上、下圍巖電導(dǎo)率不同時,分分別讀出上、下圍巖的電導(dǎo)率別讀出上、下圍巖的電導(dǎo)率σσSS上上和和σσSS下下,然后,然后取其取其算術(shù)平均值算術(shù)平均值:確定巖層真電阻率—需進(jìn)行相關(guān)校正(井眼校正、均勻校正、圍巖—厚度校正、侵入校正)名詞解釋測井—油氣田地球物理測井,簡稱測井welllogging,是應(yīng)用物理方法研究油氣田鉆井地質(zhì)剖面和井的技術(shù)狀況,尋找油氣層并監(jiān)測油氣層開發(fā)的一門應(yīng)用技術(shù)電法測井:是指以研究巖石及其孔隙流體的導(dǎo)電性、電化學(xué)性質(zhì)及介電性為基礎(chǔ)的一大類測井方法,包括以測量巖層電化學(xué)特性、導(dǎo)電特性和介電特性為基礎(chǔ)的三小類測井方法聲波測井:是通過研究聲波在井下巖層和介質(zhì)中的傳播特性,來了解巖層的地質(zhì)特性和井的技術(shù)狀況的一類測井方法核測井:是根據(jù)巖石及其孔隙流體的核物理性質(zhì),研究鉆井地質(zhì)剖面,勘探石油、天然氣、煤以及鈾等有用礦藏的地球物理方法,是地球物理測井的重要組成部分。生產(chǎn)測井PL:泛指油氣田投產(chǎn)后,在生產(chǎn)井或注入井中進(jìn)行的一系列井下地球物理觀測。它是監(jiān)測油氣田開發(fā)動態(tài)的主要技術(shù)手段,是油氣田儲集層評價、開發(fā)方案編制和調(diào)整、井下技術(shù)狀況檢測、作業(yè)措施實施和效果評價的重要手段。根據(jù)測量對象和應(yīng)用范圍,生產(chǎn)測井大致可分為生產(chǎn)動態(tài)、產(chǎn)層評價和工程技術(shù)三類。視電阻率:把電極系放在井中某一位置,能測得該點(diǎn)的一個電阻率值,該值受井眼、圍巖、泥漿侵入等環(huán)境影響,不等于地層的真實電阻率,稱為視電阻率。當(dāng)電極系沿井身連續(xù)移動時,則可測得視電阻率隨井身變化的曲線。這種橫坐標(biāo)為視電阻率aR,縱坐標(biāo)為深度H的曲線叫視電阻率曲線。儲集層:在石油工業(yè)中,儲集層是指具有一定孔隙性和滲透性的巖層。例如油氣水層。高侵:當(dāng)?shù)貙涌紫吨性瓉砗械牧黧w電阻率較低時,電阻率較高的鉆井液濾液侵入后,侵入帶巖石電阻率升高,這種鉆井液濾液侵入稱為鉆井液高侵,RXO<Rt多出現(xiàn)在水層。低侵:當(dāng)?shù)貙涌紫吨性瓉砗械牧黧w電阻率比滲入地層的鉆井液濾液電阻率高時,鉆井液濾液侵入后,侵入帶巖石電阻率降低,這種鉆井液濾液侵入稱為鉆井液低侵,一般多出現(xiàn)在地層水礦化度不很高的油氣層。水淹層:在油氣田的勘探開發(fā)后期因注水或地下水動力條件的變化,油層發(fā)生水淹,稱為水淹層,此時其含水飽和度上升、與原始狀態(tài)不一致,在 SP、TDT和電阻率等曲線上有明顯反映。隨鉆測井:隨鉆測井是在 MWD基礎(chǔ)上發(fā)展起來的、用于 解決水平井地層評價及地質(zhì)導(dǎo)向鉆井 而發(fā)展起來的一項新興的測井綜合應(yīng)用技術(shù),在鉆井的同時進(jìn)行地層參數(shù)測量( 邊鉆邊測)周波跳躍(TraveltimecycleSkip):因破碎帶、地層發(fā)育裂縫、地層含氣等引起聲波時差測井曲線上反映為時差值周期性跳波增大現(xiàn)象。中子壽命測井:是一種特別適用于高礦化度地層水油田并且不受套管、油管限制的測井方法,它通過獲得地層中熱中子的壽命和宏觀俘獲截面來研究地層及孔隙流體性質(zhì),常用于套管井中劃分油水層、計算地層剩余油飽和度、評價注水效率及油層水淹狀況、研究水淹層封堵效果,為調(diào)整生產(chǎn)措施和二、三次采油提供重要依據(jù),是 油田開發(fā)中后期的主要測井方法 之一。核磁共振測井:它利用地層孔隙中富含氫原子的液體(油。水)中氫核受激發(fā)后產(chǎn)生的核磁共振信號,通過測井解釋獲知儲集層的孔隙度,可動流體指數(shù)。滲透率和巖石孔徑分布等油氣資源評價所需要的基本參數(shù),進(jìn)而計算出油層儲量的一種測井方法。含氫指數(shù):是指 1立方厘米的任何巖石或礦物中 氫核數(shù)和同樣體積的淡水中氫核數(shù)的比值。光電效應(yīng):指當(dāng)一個 光子和原子相碰撞時,可能將它 所有的能量交給一個電子,使電子脫離原子而運(yùn)動,光子本身則整個被吸收。這樣脫離開原子的電子統(tǒng)稱為光電子,這種效應(yīng)則稱為光電效應(yīng)。電子對效應(yīng):能量大于1.022Mev的γ光子在通過原子核附近時,與核的庫倫場相互作用,可以轉(zhuǎn)化為一個正電子和一個負(fù)電子,而本身被全部吸收,這種效應(yīng)稱為電子對效應(yīng)??灯疹D效應(yīng):指伽馬光子與原子外層的電子發(fā)生作用時,把一部分能量傳給核外電子,使電子從某一方向射出,而損失了部分能量的伽馬光子向另一方向射出。電子密度:是吸收介質(zhì) 單位體積中的電子數(shù),即 ZNAρb/A。地層體積密度: 每立方米巖石的質(zhì)量,單位為 g/cm3。巖石體積光電吸收截面 :每立方厘米物質(zhì)的光電吸收截面。宏觀熱俘獲截面:指 1cm3物質(zhì)中所有原子核的微觀俘獲截面之和。中子壽命:是指從快中子變?yōu)闊嶂凶拥乃矔r起,到熱中子大部分(63.2%)被巖石俘獲止,熱中子所經(jīng)歷的平均時間,一般用符號τ表示地應(yīng)力:是指存在于地殼巖體中的內(nèi)應(yīng)力,是由地殼內(nèi)部垂直運(yùn)動和水平運(yùn)動的力及其他因素的力引起的介質(zhì)內(nèi)部單位面積上的作用力。一般通過3個主應(yīng)力表示,即:垂向應(yīng)力σv、水平向最大主應(yīng)力σH1和水平向最小主應(yīng)力 σH2。縱向弛豫時間:在 核磁共振信號的測量期間,質(zhì)子磁矩受到Z軸靜磁場的作用,在進(jìn)動過程中向Z軸方向恢復(fù),這個過程叫縱向弛豫,所需的時間為縱向弛豫時間橫向弛豫時間:在測量核磁共振信號期間,質(zhì)子磁化強(qiáng)度在XY平面的投影同時向零方向恢復(fù),這個過程稱為橫向弛豫,所需的時間為橫向弛豫時間??摄@性級值:在現(xiàn)有的鉆頭選型研究中,規(guī)定以2為底的鉆時的對數(shù)值為巖石可鉆性分級指數(shù),簡稱可鉆性級值。相對滲透率Kro:是指巖石的有效滲透率與絕對滲透率的比值,其值在0~1之間。通常用Kro,Krg,Krw分別表示油,氣,水的相對滲透率。絕對滲透率:當(dāng)巖石孔隙中只有一種流體時,描述流體通過巖石能力的參數(shù)。地層壓力:又稱地層孔隙壓力,指作用在巖石孔隙內(nèi)流體(油,氣,水)上的壓力視地層水電阻率 Rwa:是指地層電阻率Rt與其地層因素F的比值,用符號Rwa表示,即 Rwa=Rt/F。含油氣孔隙度 Sh:巖石含油氣體積占 有效孔隙體積的百分?jǐn)?shù),用 Sh表示,且 Sw+Sh=1。儲集層有效厚度:是指在目前經(jīng)濟(jì)技術(shù)條件下,能夠產(chǎn)出工業(yè)性油氣流的儲集層實際厚度,即符合油氣層標(biāo)準(zhǔn)的儲集層厚度扣出不符合標(biāo)準(zhǔn)的夾層(如泥巖或致密層)剩下的地層厚度。裂隙孔隙度:單位體積巖石中裂縫體積所占的百分?jǐn)?shù)。殘余油飽和度 Sor:當(dāng)前開發(fā)技術(shù),經(jīng)濟(jì)條件下無法開采出的油氣占 有效孔隙體積的百分?jǐn)?shù)。擴(kuò)散電動勢:在擴(kuò)散過程中,各種離子的遷移速度不同,這樣在低濃度溶液一方富集負(fù)電荷,高濃度溶液富集正電荷,形成一個靜電場,電場的形成反過來影響離子的遷移速度,最后達(dá)到一個動態(tài)平衡,如此在接觸面附近的電動勢保持一定值,這個電動勢叫擴(kuò)散電動勢,記為 Ed。擴(kuò)散吸附電動勢:泥巖薄膜離子擴(kuò)散,但泥巖對負(fù)離子有吸附作用,可以吸附一部分氯離子,擴(kuò)散的結(jié)果使?jié)舛刃〉囊环礁患罅康拟c離子而帶正電,濃度大的一方富集大量的氯離子而帶負(fù)電,這樣在泥巖薄膜形成吸附擴(kuò)散電動勢,記為Eda。泥漿侵入:在鉆井過程中,通常保持泥漿柱壓力稍大于地層壓力,在壓力差作用下,泥漿濾液向滲透層侵入,泥漿濾液替換地層孔隙所含的液體而形成侵入帶,同時泥漿中的顆粒附在井壁上形成泥餅,這種現(xiàn)象叫泥漿侵入。泥漿高侵:侵入帶電阻率Ri大于原狀地層電阻率Rt的現(xiàn)象。泥漿低侵:侵入帶電阻率Ri小于原狀地層電阻率Rt的現(xiàn)象。梯度電極系:成對電極距離小于不成對電極到成對電極距離的電極系電位電極系:成對電極距離大于不成對電極到成對電極距離的電極系。測井符號SP—自然電位 NL—中子壽命 DLL—雙側(cè)向 DIL—雙感應(yīng) MSFL—微球形聚焦FMI—全井眼地層微電阻率掃描成像測井 ARI—方位電阻率成像儀 AIT—陣列感應(yīng)成像儀 CHFR—過套管電阻率測井LWD—隨鉆測井DIP—地層傾角測井 SHED—高分辨率地層傾角測井儀AC—聲波時差 CBL—水泥膠結(jié) VDL—變密度測井CET—水泥評價測井儀 SBT—方位聲波成像測井BHTV—井下電視成像測井儀 UBI—(裸眼井)超聲波成像 USI—(套管井)超聲波成像測井 CBIL—井周聲波成像GR—自然伽馬 NGS—自然伽馬能譜測井 NGR—自然伽馬能譜DEN—密度測井 CNL—補(bǔ)償中子測井AND—隨鉆方位密度—中子測井TDT—熱中子衰減時間測井儀 NLL—中子壽命測井MRIL—核磁共振成像測井儀 CMR—組合式核磁共振測井儀 NMR—核磁共振測井C/O碳氧比能譜U—鈾 TH—釷 K—鉀公司檔案管理制度一、總則、為加強(qiáng)本公司檔案工作,充分發(fā)揮檔案作用,全面提高檔案管理水平,有效地保護(hù)及利用檔案,為公司發(fā)展服務(wù),特制定本制度。、公司檔案,是指公司從事經(jīng)營、管理以及其他各項活動直接形成的對公司有保存價值的各種文字、圖表、聲像等不同形式的歷史記錄。公司檔案分為受控檔案和非受控檔案。3、公文承辦部門或承辦人員應(yīng)保證經(jīng)辦文件的系統(tǒng)完整 (公文上的各種附件一律不準(zhǔn)抽存 )。結(jié)案后及時歸檔。工作變動或因故離職時應(yīng)將經(jīng)辦的文件材料向接辦人員交接清楚,不得擅自帶走或銷毀。 二、文件材料的收集管理 1、公司指定專人負(fù)責(zé)

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