材料現(xiàn)代研究方法考點重點精講第7參數(shù)測定_第1頁
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10-5nm),因而通過各種途徑以求測得點陣常數(shù)的精確值點陣常數(shù)是通過X射線衍射線的位置θ 以立方晶系為例,測定θ后,點陣常數(shù)a點陣常數(shù)a的精度主要取決于sinθ的精度。θΔθ當(dāng)Δθ一定時,sinθ的變化與θ的所在范圍有很大的關(guān)系! 算。在討論吸收因子時曾,對于高度吸收的試樣,高角 吸收誤差對于φ所引起的總誤差可由下式求得: 校來校正或消除誤差。取衍射峰寬約1°處的寬度中點作為峰位。 物,即測量衍射峰頂部等間 定峰方法除以上幾種外,還有弦中、弦中點法、1/8高 性、中子衍射、X射線衍射力等。X射的不足之處在于其測定準(zhǔn)確度尚不十分高,在測定構(gòu)件動態(tài)過程中的應(yīng)力等方面也存在一定的。 化相同,從而導(dǎo)致衍射線向某方向位移(2θ角的變化),這就 要,X射的目觀應(yīng)力σφ,如圖為此,要利用彈性力學(xué)理論求出σφ的表達(dá)式,將其與晶面 角值,就可以計算出σφ值。完成上述測定的方法有照相分,則有sin2ψ法、0°-45°法等。照相法效率低,誤差 θ2θ 相對位置不變,即ψ0保持不變,而通過計數(shù)管掃描來接收個衍射峰,這種方法稱固定ψ0法。如果入射X射線方向固過程中ψ角保持不變,這種方法稱固定ψ法。顯然,固定ψ法測得的是ψ方向上的應(yīng)變,而固定ψ0ψψ0 Δdd=﹣cotθ·Δθ,或Δθ=﹣tanθ×Δd確測得,必須十分強(qiáng)調(diào)選用高角的衍射線條進(jìn) X射線衍射線的 面間距在鞏d0±Δd范圍內(nèi)變化。 X射線衍射法測定非晶結(jié)構(gòu)的原理是利用相干散射原子散射線互不,散射線的強(qiáng)度等于所有原子的散 對于晶體,原子有序分布,其散射線相互,故有很敏銳的衍射發(fā)生,其衍射花樣是

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