有關(guān)照相實(shí)驗(yàn)中幾點(diǎn)實(shí)際問題_第1頁
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文檔簡介

X射線研究多晶體物質(zhì)的主要應(yīng)用范圍n鑒別礦物nnnn精確測定單胞的大小n測量晶粒的大小研究nn錐，見圖1．不同指數(shù)的晶面間距d不同，因而衍射圓錐頂角不同．多晶體衍射圓錐見圖2．1多晶體的衍射2不同晶面族的衍射圖nnn底片圖樣就是衍射圓錐與其交線，如下圖所示，稱為德拜環(huán)．nX0.15――0.20nm．nCuKα射線．素靶的X射線管的負(fù)荷（焦點(diǎn)大小一樣因此，這種銅靶的X射線管可以發(fā)出最強(qiáng)的射線Xn理論研究結(jié)果，Xn實(shí)驗(yàn)中，X射線相上的線數(shù)也決定于晶系，晶系越低，X射線相上線數(shù)則越多，而線強(qiáng)度XnXX：n采用布拉格方程式來確定“φ即：Δ(sinθ)Δcosθ=-nλΔd/(2d2)即｜Δd/d｜=Δθn接下來確定ΔL2ΔL=4R×Δθ或n最終形式可寫成n照相機(jī)的半徑和波長越大，面間距離“dXn2/μ時(shí)為止n在這之后，強(qiáng)度開始減弱．n2/μ.nnXn0.2-0.3毫米時(shí)（0.3-0.5毫米）0.21n將粉末塞在毛細(xì)管內(nèi)（這時(shí)粉末壓縮n將粉末用透明膠涂在細(xì)的（直徑要小于百分之一毫米）nnn時(shí)間不足（或顯影時(shí)間太短則照相上所出現(xiàn)的線條不明顯，而弱線則將不出現(xiàn)．n若時(shí)間過長則照相上背（迷霧很大很難發(fā)現(xiàn)出弱線線條的測量也產(chǎn)生如果顯影時(shí)間過長，即使時(shí)間正好也會發(fā)生同樣的不良效果．n德拜照相的時(shí)間決定于以下因素：l被研究樣品的原子序數(shù)和厚度；lXl底片盒的直徑和光闌直徑（狹縫大小Xll用膠水或

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