標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.15-1995 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專注于光學(xué)和光學(xué)儀器在特定環(huán)境條件下的試驗(yàn)方法。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動(dòng)與高溫、低溫相結(jié)合的綜合試驗(yàn)要求,旨在評(píng)估光學(xué)設(shè)備在復(fù)雜環(huán)境變化中的性能穩(wěn)定性和可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類光學(xué)和光學(xué)儀器,包括但不限于相機(jī)鏡頭、望遠(yuǎn)鏡、顯微鏡以及光電檢測(cè)設(shè)備等。它為這些設(shè)備在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制階段提供了一個(gè)統(tǒng)一的測(cè)試框架,以確保其在實(shí)際應(yīng)用中能夠承受極端溫度及隨機(jī)振動(dòng)的考驗(yàn)。

試驗(yàn)內(nèi)容

寬帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn):

  • 目的是模擬光學(xué)儀器在運(yùn)輸、使用過(guò)程中可能遇到的各種非確定性振動(dòng)情況。
  • 試驗(yàn)采用寬帶隨機(jī)振動(dòng)譜,覆蓋較寬的頻率范圍,更貼近實(shí)際環(huán)境中的振動(dòng)特性。
  • 中再現(xiàn)性要求意味著試驗(yàn)條件需能在不同時(shí)間、地點(diǎn)由不同操作者重復(fù),且結(jié)果具有一致性。

高溫、低溫綜合試驗(yàn):

  • 包括將光學(xué)儀器暴露于預(yù)先設(shè)定的高溫和低溫環(huán)境中,以檢驗(yàn)其在極端溫度條件下的功能和結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。
  • 溫度變化范圍廣泛,旨在涵蓋可能遇到的所有工作環(huán)境。
  • 綜合試驗(yàn)要求同時(shí)或相繼進(jìn)行高溫、低溫與隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試,以評(píng)估多重環(huán)境因素疊加對(duì)設(shè)備的影響。

試驗(yàn)方法與條件

標(biāo)準(zhǔn)具體規(guī)定了試驗(yàn)的實(shí)施步驟、設(shè)備要求、振動(dòng)參數(shù)(如功率譜密度、均方根加速度等)和溫度循環(huán)的細(xì)節(jié)。還包括了樣品的預(yù)處理、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、數(shù)據(jù)記錄與分析方法等。

評(píng)價(jià)指標(biāo)

通過(guò)試驗(yàn)收集的數(shù)據(jù)用于評(píng)價(jià)光學(xué)儀器的性能衰減程度、結(jié)構(gòu)完好性及功能穩(wěn)定性。評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)可能涉及圖像清晰度、機(jī)械部件的磨損、電氣性能的變化等方面。

結(jié)論

該標(biāo)準(zhǔn)為光學(xué)和光學(xué)儀器的制造商、檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供了具體的環(huán)境試驗(yàn)指導(dǎo),幫助確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下仍能保持預(yù)期的性能水平,從而提升產(chǎn)品的整體質(zhì)量和用戶信賴度。


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  • 1995-12-24 頒布
  • 1996-08-01 實(shí)施
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GB/T 12085.15-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第1頁(yè)
GB/T 12085.15-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第2頁(yè)
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ICS_19.040130中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.15—1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)Opticsandopticalinstruments-EnvironmentaltestmethodsCCombinedrandomvibrationwideband-Reproducibilitymedium,indryheatorcold1995-12-24發(fā)布1996-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與CB/T12085.15-1995高溫、低溫綜合試驗(yàn)Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedrandomvibrationwideband-Reprodueibilttymedium,indryheatorcold主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件,2試驗(yàn)?zāi)康难芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性在高溫或低溫下受到寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)影響的變化程度。3木語(yǔ)3.1工作狀態(tài)3.1.1工作狀態(tài)0試樣置于由供方提供的正常儲(chǔ)運(yùn)包裝箱內(nèi)的狀態(tài)。3.1.2工作狀態(tài)1試樣無(wú)包裝保護(hù),電源未被接通的待工作狀態(tài)。3.1.3工作狀態(tài)2試樣處于工作周期內(nèi)的正常工作狀態(tài)下。其工作方式應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,如果需要對(duì)試樣功能加以檢測(cè),可在試驗(yàn)過(guò)程中進(jìn)行。4試驗(yàn)條件試驗(yàn)夾具應(yīng)隔熱。。如果試樣安裝在減振器上,必須考慮減振器元件的恒溫時(shí)間。5條件試驗(yàn)試樣各部分的溫度與試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的溫度差值要在士3℃以內(nèi)方可試驗(yàn)。對(duì)于散熱型試樣,要求放在恒溫箱(室)中,在1h之內(nèi),試樣本身各部分溫差不超過(guò)1℃時(shí)方可試驗(yàn)。保溫程序中的最后1h可以作為暴露周期試驗(yàn)的第一小時(shí)。5.1條件試驗(yàn)方法70:寬帶隨機(jī)振動(dòng)與高溫綜合試驗(yàn)5.1.1條件試驗(yàn)方法70,頻率范圍為20~150H的寬帶隨機(jī)振動(dòng)

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