GB/T 12085.22-2022光學和光子學環(huán)境試驗方法第22部分：低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗

ICS37020

CCSN.30

中華人民共和國國家標準

GB/T1208522—2022

.

代替GB/T1208510—2010GB/T1208513—2010等

.,.

光學和光子學環(huán)境試驗方法

第22部分低溫高溫或溫度變化與

:、

碰撞或隨機振動綜合試驗

Opticsandphotonics—Environmentaltestmethods—

Part22Combinedcolddrheatortemeraturechanewithbumor

:,ypgp

randomvibration

ISO9022-222012MOD

(:,)

2022-10-12發(fā)布2023-05-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T1208522—2022

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅴ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

試驗條件

4…………………1

條件試驗

5…………………2

試驗程序

6…………………3

環(huán)境試驗標記

7……………4

規(guī)范

8………………………4

附錄資料性說明

A()……………………6

參考文獻

………………………7

Ⅰ

GB/T1208522—2022

.

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是光學和光子學環(huán)境試驗方法的第部分已經(jīng)發(fā)布了以

GB/T12085《》22。GB/T12085

下部分

:

第部分術語試驗范圍

———1:、;

第部分低溫高溫濕熱

———2:、、;

第部分機械作用力

———3:;

第部分鹽霧

———4:;

第部分砂塵

———6:;

第部分滴水淋雨

———7:、;

第部分高內(nèi)壓低內(nèi)壓浸沒

———8:、、;

第部分太陽輻射與風化

———9:;

第部分長霉

———11:;

第部分污染

———12:;

第部分露霜冰

———14:、、;

第部分污染太陽輻射綜合試驗

———17:、;

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣

———20:、;

第部分低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗

———22:、;

第部分低壓與低溫大氣溫度高溫或濕熱綜合試驗

———23:、、。

本文件代替光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第部分振動正弦與

GB/T12085.10—2010《10:()

高溫低溫綜合試驗光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第部分沖擊碰

、》、GB/T12085.13—2010《13:、

撞或自由跌落與高溫低溫綜合試驗光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第

、》、GB/T12085.15—2010《15

部分寬帶隨機振動數(shù)字控制與高溫低溫綜合試驗光學和光學儀器環(huán)

:()、》、GB/T12085.16—2010《

境試驗方法第部分彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗光學和光學

16:、》、GB/T12085.19—2011《

儀器環(huán)境試驗方法第部分溫度周期與正弦振動隨機振動綜合試驗與

19:、》。GB/T12085.10—

及

2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—2010GB/T12085.19—2011

相比除結構調(diào)整和編輯性改動外主要技術變化如下

,,:

將全文中的光學儀器更改為光學和光子學儀器

———“”“”;

更改了范圍的適用界限見第章

———“”(1,GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、

的第章

GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—2010、GB/T12085.19—20111);

增加了試驗條件見第章

———(4);

增加了條件試驗方法見

———22(5.2);

更改了環(huán)境試驗標記內(nèi)容見第章

———(7,GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、

的第章

GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—2010、GB/T12085.19—20116)。

將

———GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—

中表的相關內(nèi)容整合為表并對表的內(nèi)容進行了重新編寫

2010、GB/T12085.19—20111,1

見的表表的表表

(5.2,GB/T12085.10—20101~4、GB/T12085.13—20101~6、

的表表的表表

GB/T12085.15—20101~6、GB/T12085.16—20101~4、GB/T12085.19—

Ⅲ

GB/T1208522—2022

.

的表表

20111~7);

刪除了條件試驗方法條件試驗方法條件試驗方法條件實驗方法

———53~55、57~60、61~62、

條件試驗方法見版版

64~69、70~71(GB/T12085.19—2011、GB/T12085.16—2010、

版版版的第章

GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—20104);

增加了與溫度變化相關的試驗項目和表述見第章

———(5)。

本文件修改采用光學和光子學環(huán)境試驗方法第部分低溫高溫或溫度

ISO9022-22:2012《22:、

變化與碰撞或隨機振動綜合試驗

》。

本文件與相比做了下述結構調(diào)整

ISO9022-22:2012:

為避免懸置段增加了后續(xù)條編號順延

———,A.1,。

本文件與的技術差異及其原因如下

ISO9022-22:2012:

將全文中的光學儀器更改為光學和光子學儀器以符合光學行業(yè)應用領域的要求

———“”“”,;

用規(guī)范性引用的替換了見第章第章替換了

———GB/T12085.1ISO9022-1(3、7)、GB/T12085.2

見第章替換了見第章

ISO9022-2(4、5.2、6.3)、GB/T12085.3ISO9022-3(4、5.2)、

替換了見第章替換了見

GB/T2423.43IEC60068-2-47(4)、GB/T2423.56IEC60068-2-64(

以適應我國的技術條件提高可操作性

5.1),,;

更改了g為ɡ見第章以符合我國所處地理緯度

———“n”“”(4、5.2),;

更改了ɡ值四舍五入到下一個最高數(shù)如2為本文件中加速度ɡ值取整數(shù)2

———“,10m/s?！薄?10m/s?！?/p>

見第章以符合我國地理位置

(4),。

本文件做了下列編輯性改動

:

第章中用資料性引用的所有部分替換了

———7GB/T12085()ISO9022。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本文件由全國光學和光子學標準化技術委員會歸口

(SAC/TC103)。

本文件起草單位寧波永新光學股份有限公司重慶銀河試驗儀器有限公司濟南鑫光試驗機制造

:、、

有限公司陜西科瑞迪機電設備有限公司重慶阿泰可環(huán)境可靠性檢測技術有限公司上海理工大學

、、、、

中電科思儀科技股份有限公司蘇州慧利儀器有限責任公司麥克奧迪實業(yè)集團有限公司上海光學儀

、、、

器研究所上海雄博精密儀器股份有限公司合肥知常光電科技有限公司梧州奧卡光學儀器有限公司

、、、、

寧波市教學儀器有限公司南京江南永新光學有限公司上海千欣儀器有限公司南京東利來光電實業(yè)

、、、

有限責任公司廣州粵顯光學儀器有限責任公司寧波舜宇儀器有限公司寧波華光精密儀器有限公司

、、、、

寧波湛京光學儀器有限公司

。

本文件主要起草人崔志英李書山王建國胡軍文明敬張薇張鵬韓森楊澤聲馮瓊輝姜冠祥

:、、、、、、、、、、、

吳周令張韜王國瑞李晞華越洪宜萍李彌高胡森虎孔燕波干林超

、、、、、、、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB12085.10,1989,2010;

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB12085.13,1989,2010;

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB/T12085.15,1995,2010;

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB/T12085.16,1995,2010;

年首次發(fā)布

———GB/T12085.19,2011;

本次為第二次修訂將

———,GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—

及整合為

2010、GB/T12085.16—2010GB/T12085.19—2011GB/T12085.22—2022。

Ⅳ

GB/T1208522—2022

.

引言

光學和光子學儀器廣泛應用于國民經(jīng)濟及國際科技各個領域由于其使用及運輸環(huán)境條件非常復

,

雜有來自物理的化學的生物的氣候的以及電氣的等各種環(huán)境條件的影響都會使光學和光子學儀

,、、、,

器的性能發(fā)生變化而不能正常發(fā)揮功能

。

鑒于上述原因為了保證光學和光子學儀器產(chǎn)品的質(zhì)量需要模擬各種復雜的環(huán)境條件變化對光

,,,

學和光子學儀器產(chǎn)品進行試驗考核其經(jīng)受嚴酷環(huán)境條件的能力因而包含了試驗條件

,,GB/T12085、

條件試驗試驗程序環(huán)境試驗標記等條款同時由于環(huán)境條件內(nèi)容較多且分屬不同的類型為了便于

、、。,

標準的貫徹根據(jù)環(huán)境條件的類型擬分為個部分

,GB/T1208515。

第部分術語試驗范圍目的在于統(tǒng)一環(huán)境試驗方法的術語和定義試驗程序及環(huán)境試驗

———1:、。、

標記

。

第部分低溫高溫濕熱目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜電

———2:、、。、、、()

等特性受到溫度和濕度影響的變化程度

。

第部分機械作用力目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜電等特

———3:。、、、()

性受到機械作用力影響的變化程度

。

第部分鹽霧目的在于對儀器表面和保護涂鍍層抵抗鹽霧的能力進行評估

———4:。()。

第部分砂塵目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜電等特性受到

———6:。、、、()

砂塵影響的變化程度

。

第部分滴水淋雨目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜電等特性

———7:、。、、、()

受到滴水淋雨影響的變化程度

、。

第部分高內(nèi)壓低內(nèi)壓浸沒目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜

———8:、、。、、、(

電等特性受到環(huán)境氣體高壓低壓或浸沒影響的變化程度

)、。

第部分太陽輻射與風化目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜電

———9:。、、、()

等特性受到太陽輻射或風能太陽照射濕熱影響的變化程度

(、)。

第部分長霉目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜電等特性受到

———11:。、、、()

長霉的影響程度以及評估霉菌代謝產(chǎn)物比如酶或酸性物質(zhì)導致對零件的腐蝕程度或引起

,()

線路板的短路等嚴重程度

。

第部分污染目的在于研究儀器尤其是儀器的表面涂層或合成材料短時間內(nèi)暴露在

———12:。,、

試劑中的抵抗能力

。

第部分露霜冰目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電氣包括靜電等特性

———14:、、。、、、()

受露霜冰的影響的程度

、、。

第部分污染太陽輻射綜合試驗目的在于研究儀器尤其是儀器的表面涂層或合成材

———17:、。,、

料短時間內(nèi)受試劑腐蝕及太陽輻射的抵御能力

。

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣目的在于研究試樣的光學氣候機械化學和電

———20:、。、、、

氣包括靜電等特性受二氧化硫或硫化氫的影響

()。

第部分低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗目的在于研究試樣的光學

———22:、。、

氣候機械化學和電氣包括靜電等特性受到綜合低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動

、、()、

的影響的變化程度

。

第部分低壓與低溫大氣溫度高溫或濕熱綜合試驗目的在于研究試樣的光學氣候

———23:、、。、、

機械化學和電氣包括靜電等性能特性受到綜合低壓和低溫常溫或高溫的影響程度

、()、。

Ⅴ

GB/T1208522—2022

.

光學和光子學環(huán)境試驗方法

第22部分低溫高溫或溫度變化與

:、

碰撞或隨機振動綜合試驗

1范圍

本文件描述了光學和光子學低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗的環(huán)境試驗方法

、。

本文件適用于光學和光子學儀器以及來自其他領域的組件如機械化學和電子設備的低溫高溫

(、)、

或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

光學和光子學環(huán)境試驗方法第部分術語試驗范圍

GB/T12085.1