標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12085.15-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》相比于《GB/T 12085.15-1995 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》,主要存在以下幾方面的變化:

  1. 控制方式的更新:最顯著的變化在于振動(dòng)試驗(yàn)的控制方式,從1995版中的“中再現(xiàn)性”振動(dòng)控制轉(zhuǎn)變?yōu)?010版采用的“數(shù)字控制”。這一改變體現(xiàn)了技術(shù)進(jìn)步,數(shù)字控制提供了更精確、靈活的振動(dòng)測(cè)試控制手段,能夠更準(zhǔn)確地模擬實(shí)際工作環(huán)境中的復(fù)雜振動(dòng)狀況。

  2. 標(biāo)準(zhǔn)適用性的擴(kuò)展:隨著光學(xué)和光學(xué)儀器技術(shù)的發(fā)展,2010版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)測(cè)試參數(shù)、試驗(yàn)條件或設(shè)備要求進(jìn)行了調(diào)整,以適應(yīng)新型光學(xué)儀器的測(cè)試需求,確保測(cè)試結(jié)果的廣泛適用性和準(zhǔn)確性。

  3. 測(cè)試方法的優(yōu)化:新標(biāo)準(zhǔn)可能引入了新的測(cè)試?yán)碚?、分析方法或?jì)算模型,以提高測(cè)試效率和結(jié)果的可靠性。這可能包括對(duì)寬帶隨機(jī)振動(dòng)特性的更深入理解和量化,以及高溫、低溫循環(huán)試驗(yàn)的更加精細(xì)控制和評(píng)估方法。

  4. 規(guī)范性增強(qiáng):為了與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌,2010版標(biāo)準(zhǔn)可能在試驗(yàn)程序、數(shù)據(jù)處理、試驗(yàn)報(bào)告格式等方面進(jìn)行了規(guī)范化升級(jí),提供了更為詳細(xì)的操作指導(dǎo)和要求,增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的可執(zhí)行性和國際兼容性。

  5. 安全與環(huán)保要求:考慮到技術(shù)進(jìn)步和社會(huì)發(fā)展,新標(biāo)準(zhǔn)可能加入了關(guān)于試驗(yàn)過程中的安全操作規(guī)程和環(huán)境保護(hù)的相關(guān)要求,確保試驗(yàn)活動(dòng)符合當(dāng)前的安全環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)。

  6. 術(shù)語和定義的更新:為了保持與行業(yè)發(fā)展同步,2010版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)一些專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了修訂或新增,以清晰界定概念,減少理解上的歧義。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12085.22-2022
  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實(shí)施
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GB/T 12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第1頁
GB/T 12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第2頁
GB/T 12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第3頁
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ICS37.020N30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.15—2010代替GB/T12085.15-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)Opticsandopticalinstruments-EnvironmentaltestmethodsPart15:Combineddigitallycontrolledbroad-bandrandomvibrationanddryheatorcold(ISO9022-15:1998,MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T12085.15-2010前GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器杯環(huán)境試驗(yàn)方法》分為以下16個(gè)部分:-第1部分:術(shù)語、試驗(yàn)范圍;第第2部分:低溫、高溫、濕熱;第第3部分:機(jī)械作用力;第4部分:鹽霧:第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗(yàn);第6部分:砂塵:第7部分:滴水、淋雨;第8部分:高壓、低壓、浸沒:第第9部分:太陽輻射;-第10部分:振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)-第11部分:長霉;-第12部分:污染;-第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn);-第14部分:露、霜、冰;-第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn);-第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)。本部分為GB/T12085的第15部分。本部分修改采用ISO9022-15:1998《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》。本部分與ISO9022-15:1998的主要差異如下:刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言;根據(jù)1SO9022-15第1章及我國標(biāo)準(zhǔn)用語習(xí)慣作了重新編寫:“國際標(biāo)準(zhǔn)本部分"一詞改為“本部分"。本部分代替GB/T12085.15—1995《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》.與GB/T12085.15—1995的主要差異為:修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱;合井了范圍與試驗(yàn)?zāi)康模喝∪∠说?章術(shù)語;增加了試驗(yàn)條件的標(biāo)準(zhǔn)依據(jù):增加了試驗(yàn)程序的總則;增加了環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)記名稱,修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)的編寫。本部分由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本部分由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC103)歸口本部分起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司本部分主要起草人:章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、葉慧。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T12085.15-1995。

GB/T12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)宇控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)范圍本部分規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分GB/T2423.43電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝(GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005.IDT)GB/T12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分:術(shù)語、試驗(yàn)范圍(GB/T12085.1-2010.1SO9022-1:1994.MOD)環(huán)境試驗(yàn)方法GB/T12085.2光學(xué)和光學(xué)儀器第2部分:低溫、高溫、濕熱(GB/T12085.2-2010.ISO9022-2:2002,MOD)GB/T12085.3光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:機(jī)械作用力(GB/T12085.3-2010.1SO9022-3:1998.MOD)3試驗(yàn)條件在綜合作用力條件下對(duì)暴露的試樣進(jìn)行的測(cè)試,要比任一種單一環(huán)境條件試驗(yàn)更為嚴(yán)酪。表中規(guī)定的溫度值選自GB/T12085.2,條件試驗(yàn)方法10和11.試驗(yàn)應(yīng)符合GB/T12085.3的要求,固定試樣的裝置應(yīng)符合GB/T2423.43的要求,試樣夾具應(yīng)隔熱若試樣裝在減震器上,則應(yīng)考虐減震器元件恒溫的時(shí)間條件試驗(yàn)4.1總則試樣各部分都應(yīng)達(dá)

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