標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.17-1995 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 污染與太陽輻射綜合試驗》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)和光學(xué)儀器在特定環(huán)境條件下，特別是涉及污染與太陽輻射影響時的試驗方法，旨在評估這些設(shè)備在這種復(fù)雜環(huán)境下的性能和耐受性。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類光學(xué)和光學(xué)儀器，包括但不限于相機鏡頭、望遠(yuǎn)鏡、激光設(shè)備、光電傳感器等，要求在設(shè)計、生產(chǎn)和質(zhì)量控制過程中對產(chǎn)品進行綜合環(huán)境適應(yīng)性測試。

試驗?zāi)康?/strong>

  • 污染模擬：通過模擬實際使用中可能遇到的各種污染情況（如灰塵、油脂、水霧等），來檢驗光學(xué)部件在受污染條件下的功能穩(wěn)定性和清潔恢復(fù)能力。
  • 太陽輻射效應(yīng)：評估光學(xué)儀器在長期或短期暴露于太陽輻射下的性能變化，包括熱效應(yīng)、光譜特性改變及材料老化等。

試驗條件與方法

  1. 污染源制備：標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了污染物的選擇、配比及施加方式，確保試驗中污染條件的可控性和重復(fù)性。

  2. 太陽輻射模擬：采用人工光源或自然日光，設(shè)定特定的輻射強度和波長范圍，模擬不同地理位置和季節(jié)的太陽輻射條件。

  3. 試驗周期與步驟：包括預(yù)處理、污染施加、太陽輻射暴露、間歇期（如有）、性能檢測等階段，具體時長和順序根據(jù)產(chǎn)品特性和試驗?zāi)康亩ā?/p>

  4. 性能評估：在試驗前后及試驗過程中，對光學(xué)性能（如透光率、分辨率）、機械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性、電氣特性等進行測量，以評估污染與輻射對設(shè)備性能的影響。

結(jié)果判定與報告

標(biāo)準(zhǔn)還提供了試驗結(jié)果的判定準(zhǔn)則，指導(dǎo)如何根據(jù)測試數(shù)據(jù)評價光學(xué)儀器的環(huán)境適應(yīng)性。要求試驗報告詳細(xì)記錄試驗條件、過程、觀察到的現(xiàn)象以及性能變化數(shù)據(jù)，以便于產(chǎn)品改進和質(zhì)量控制。

實施意義

該標(biāo)準(zhǔn)的實施有助于提高光學(xué)和光學(xué)儀器的可靠性和使用壽命，確保它們在各種環(huán)境條件下的穩(wěn)定工作性能，對于提升產(chǎn)品質(zhì)量、滿足用戶需求及促進技術(shù)進步具有重要意義。


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  • 1995-12-14 頒布
  • 1996-08-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.17-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法污染與太陽輻射綜合試驗_第1頁
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GB/T 12085.17-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法污染與太陽輻射綜合試驗-免費下載試讀頁

文檔簡介

TSS.19.040N30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.17—1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法污染與太陽輻射綜合試驗Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedcontamination,solarradiation1995-12-24發(fā)布1996-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法GB/T12085.17-1995污染與太陽輻射綜合試驗Opticsandopticalinstruments-Enyironmentaltestmethods-Combinedcontaminatlon.solarradtatlon主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了污染與太陽輻射綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記，本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。試驗?zāi)康谋緲?biāo)準(zhǔn)試驗的目的是為了研究試樣短時間暴露在試劑中，同時又處于太陽輻射條件下的抗腐蝕能力用標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器：環(huán)境試驗方法·術(shù)語、試驗范圍GB/T12085.9光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法太陽輻射GB/T12085.12光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法污染4試驗條件4.1大氣環(huán)境條件溫度：15～35℃；相對濕度：30%～75%。4.2試劑4.2.1使用液體試劑時，應(yīng)保證試樣表面存留三個以上直徑約為10mm大小的圓形試劑液清.在試驗過程中，試劑不應(yīng)被吹散成其它形狀。4.2.2使用粘稠或糊狀試劑時,應(yīng)將試劑均勾地涂抹，分成多個厚度約為0.01mm的小斑塊。對加熱時會引起漫流的試劑，應(yīng)避免不同的試劑互相摻混。4.2.3如果需要對整臺儀器或部件做試驗，可以用裝有試劑的噴霧器對試樣表面進行全面和充分的噴酒4.2.4若試劑在試驗過程中蒸發(fā)，不必再補充。4.3試樣見GB/T12085.12中4.1條、4.4輻射源和光譜能量分布見GB/T

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