礦石學第五篇

第五篇

礦石工藝礦相考查前言礦石工藝性質的研究內容應是廣泛深入的，隨著科技的進步，對礦物原料需求的不斷增長和綜合利用水平的不斷提高，研究領域也在不斷的拓展和延伸。但就目前來說，它的最基本的研究內容包括以下幾個方面：研究礦石的礦物組成查清礦石中元素的賦存狀態(tài)研究礦石中礦物的嵌布特征查明礦石中礦物的工藝性質與元素組成和微構造的關系研究改變礦石中礦物的工藝性質對選礦的影響查清選礦流程中各級產品的的工藝性質選礦產品一般包括磨礦產物、中礦、尾礦和精礦。對選礦產品的檢查，常用方法是化學分析，以發(fā)現(xiàn)異常情況，但不能反映有用礦物的單體解離情況、各級產品的磨礦粒度以及有用元素的分布等情況。而這些又是查找原因解決問題的關鍵，這時就要將各種選礦產品磨制成光片，在礦相顯微鏡下分析。因此，顯微鏡分析仍是選礦產品工藝性質研究的主要方法。對選礦產品的工藝性質研究，包括以下幾個方面：粒度分析礦物含量測定元素含量測定單體解離度和連生體分析第一章礦石組成礦物

的定量測定§1礦物定量測定的基本方法一、分離礦物定量法根據(jù)礦石中組成礦物的物性差或化學性質的差異，對需測定的礦物進行分離后進行測量。

測定礦物的含量＝W1：樣品總重量，W2：測定礦物的重量缺點：受組成礦物的嵌布粒度特征和物理化學性質等條件的控制。二、礦物組成元素定量法如果已查明某一元素在礦石中只存在于單一被測礦物中時，可利用化學分析法測定該元素在礦石中的含量，然后再根據(jù)被測礦物所含該元素的比例就可以計算出欲測礦物在礦石中的含量。如果有幾種礦物都含有該元素，則可以用組成礦物的差別溶解特性，獲取單礦物相中某組成元素的百分含量。缺點：受組成礦物之間的溶解性的限制。三、礦物體積含量幾何測定法通過測算礦石中各礦物的相對體積含量，然后計算礦物重量的一種方法。常用的測算方法有：面積法線段法點數(shù)法§2體積含量幾何測定法的基本原理一、面積含量等于體積含量的原理面積含量等于體積含量的概念是對礦石整體而言的，只有平均的截面積含量才與該礦石塊的礦物體積含量相等。因此需要根據(jù)抽樣原理從礦石中選出一部分代表性的截面進行系統(tǒng)測量。面積比與體積比的關系示意圖二、線段含量等于體積含量原理三、點數(shù)含量等于體積含量原理§3體積含量的測量方法一、面積法在礦相顯微鏡下借助目鏡測微網(wǎng)進行測量時根據(jù)礦物顆粒大小選用合適的物鏡和目鏡組合，一般使被測量的顆粒不小于測微網(wǎng)的半個方格為宜。測量視域要均勻分布在礦石光片上二、線段法在礦相顯微鏡下借助目鏡測微尺進行。沿測線逐個視域進行，先后兩個視域首尾相連。測量時讀取所測礦物在測微尺上所占的格數(shù)。三、點數(shù)法借助顯微鏡點法求積臺進行。累計出現(xiàn)在視域中心交點的礦物?！?測量誤差及代表性樣品的選取一、測量誤差產生的原因由于測量是從代表性樣品中測得的礦物含量來推斷整個礦石的礦物含量，因此測量結果必然存在一定的誤差。引起誤差的原因有：抽樣引起的誤差，如樣品的代表性、樣品數(shù)量的多少、測量時測量視域、測線、測點的分布等；人為引起的誤差，如誤認礦物、漏數(shù)或多數(shù)礦物、礦物邊界的確定等。二、代表性樣品的選取對原礦石根據(jù)礦石類型及礦物含量的多少進行分類；對不同類型礦石破碎、拌勻之后進行縮分；將縮分后的樣品磨制成光片，從中按代表性比例選出供測量用的最終樣品?！?自動顯微圖像分析儀簡介基本原理：根據(jù)不同礦物光學性質(顏色、反射率)的差異區(qū)分不同礦物，分別累計不同礦物在圖像中的含量。根據(jù)不同礦物化學組成的差異，利用X射線或電子探針區(qū)別不同種類的礦物，然后對不同礦物進行幾何參數(shù)測定?！?礦石元素含量的計算一、礦物重量百分含量的計算礦石組成礦物的種類不多時：根據(jù)各組成礦物的體積含量及其比重計算。礦石中組成礦物較多時：通過測定礦石比重方法計算。二、礦物元素組分含量的計算礦石中只含有一種待測金屬元素時：礦石中同時有幾種礦物含有同種元素時：第二章元素在礦石中存在狀態(tài)的考查考查內容包括：查明礦石中含有哪些有用元素和有害元素；查明有用、有害元素主要分子在哪些礦物中，及在這些礦物中的含量、配分量和配分比。考查有用、有害元素在礦物中的賦存狀態(tài)根據(jù)元素賦存狀態(tài)的研究資料，確定哪些礦物應進入精礦予以回收，哪些礦物應進入尾礦予以拋棄，并確定合理的選礦方法和工藝流程，預測選礦效果。§1元素在礦石中的存在狀態(tài)從礦石技術加工的角度考慮，金屬元素在礦石中的賦存狀態(tài)主要有集中和分散兩大類。第一類元素在礦石中集中存在于個別或少數(shù)組成礦物中，有三種情況，即分別作為：礦石的基本組成元素；礦物中的雜質元素；呈細粒機械包裹體存在于主礦物中。第二類元素呈分散狀態(tài)存在于礦石的各組成礦物或大多數(shù)組成礦物中。作為礦物的基本組成元素集中存在于礦石的個別礦物中。作為礦物的雜質元素存在于礦石的個別礦物中。作為細粒機械包裹體集中存在于礦石的個別礦物中。元素呈分散狀態(tài)存在于礦石的各組成礦物中?！?考查元素存在形式的基本方法一、元素在礦石中賦存狀態(tài)考查的一般程序：光譜分析化學定量分析分選考查祥查元素賦存狀態(tài)考查配分計算和分析檢查二、元素的配分計算元素的配分計算，是根據(jù)原礦定量分析結果、礦石中被測元素的化學分析品位、單礦物化學分析結果等數(shù)據(jù)，計算被測元素在礦石各礦物中的含量分布(配分量)和分配比例(配分比)的一種計算方法。計算結果能定量地說明被測元素在礦石中集中或分散的情況，能預測選礦效果和檢查元素賦存狀態(tài)的考查結果。計算內容如下：1.被測元素在礦石各礦物中的配分量計算：2.被測元素在礦石各礦物中的配分比計算：3.被測元素的配分平衡系數(shù)計算：(配分相對誤差）4.被測元素的集中系數(shù)計算：5.元素的配分計算結果分析，根據(jù)元素的配分計算結果，可進行下述內容的分析：分析元素集中與分散的情況預測選礦的最大回收率預測精礦的最高品位預測尾礦的合理流失量去除有害雜質的可能性等三、元素賦存狀態(tài)考查舉例：以某銅礦石中Co的賦存狀態(tài)考查為例：(1)取礦石樣品作光譜半定量分析。結果發(fā)現(xiàn)除Cu外，Co的含量較高。于是決定查明Co的存在形式。(2)取礦石樣品作化學定量分析，得礦石中的品位為0.032％，可以綜合利用。(3)進一步考查Co在各種礦物中的含量分布，進行了原礦定量測定，其結果見表5-4。(4)對Co元素的賦存狀態(tài)進行考查，Co在黃鐵礦、黃銅礦、斑銅礦中呈類質同象混入物和呈獨立的Co礦物以微細包裹體形式賦存。(5)根據(jù)分析結果，進行了Co的配分計算，結果見表5-4Co的平衡系數(shù)=0.31%Co的集中系數(shù)×100％＝85.63％礦物重量％鈷含量％鈷的配分量％()鈷的配分比％()Co的配分相對誤差：K＝0.31%黃鐵礦4.880.5120.025078.37黃銅礦2.250.0580.00134.07斑銅礦2.640.0430.00113.45Co的集中系數(shù)：RCo＝85.63％其他90.230.0050.004514.11總量100∑=0.0319100.0(6)成果分析。從表中可以看出：Co元素主要分布在黃鐵礦中(占78.37)，其次分布在黃銅礦(占4.07％)和斑銅礦(占3.45％)中，一共占85.63％；分布在脈石中的Co只有14.11％。顯然，應把黃鐵礦、黃銅礦和斑銅礦作為回收Co的對象，其中85.63％的Co將得到綜合利用；14.37％的Co隨脈石礦物進入尾礦。鈷硫精礦(黃鐵礦精礦)中，Co的最高品位不會超過0.512％，Co的最大回收率不會超過78.37％；若黃鐵礦的最大回收率在90％以上，則鈷精礦的預計品位應達0.46％以上(0.512％×90％)，Co的預計回收率應達70.53％以上(78.37％×90％)若銅精礦中黃銅礦和斑銅礦的回收率也在90％以上，則尾礦中的Co品位在0.00589％以下較為合理[(0.025+0.0013＋0.0011)×10％＋0.0045×70%](7)檢查:Co的平衡系數(shù)＝0.31％，已達精度要求(<10%)。這說明礦物定量、原礦化學分析的Co品位、單礦物的Co含量等數(shù)據(jù)可靠，該礦石中Co的賦存狀態(tài)已查清。四、礦石中元素的賦存狀態(tài)與選礦的關系：對礦床經(jīng)濟價值的影響查清有用元素的賦存狀態(tài)，會把無經(jīng)濟價值的“礦床”，認為是礦床而盲目建礦建廠，帶來巨大經(jīng)濟損失。對選擇選礦方法的影響查清元素的賦存狀態(tài)，是選擇選礦方法的前提；對確定選冶工藝流程的影響查清元素的賦存狀態(tài)，能幫助確定選冶等工藝流程。§3考查微細礦物顆粒中元素含量的方法考查元素在礦物中賦存狀態(tài)的方法，除了常規(guī)的顯微鏡法、化學物相分析法（選擇性溶解和化學分析法）、X射線研究法以外，還有激光顯微光譜儀、電子探針、和電滲析等方法。（P270）第三章礦石組成礦物的解離性為了把礦石中的有用礦物富集起來，首先要把有用礦物從礦石中解離出來，只有將有用礦物的單體解離后，才有可能使之分選富集起來。因此礦物解離性的好壞，在很大程度上影響了礦石的可選性和選礦工藝?！?影響礦物解離性的因素在碎礦和磨礦過程中，礦物單體解離的難易主要取決于礦物的嵌布特征和連生礦物之間的關系。這些因素比較集中地體現(xiàn)了礦物形態(tài)對選礦，特別是礦物單體解離性的影響。一、礦物的嵌布特征是指該礦物的嵌布粒度和嵌布均勻性。其中又以有用礦物的嵌布粒度對選礦，特別是礦物單體解離性的影響最大。嵌布粒度是指礦物顆粒的粒度范圍及其大小顆粒的含量分布；嵌布均勻性則是指礦物在礦石中的空間分布均勻性。礦物粒度的概念與粒度單元的劃分礦物的粒度根據(jù)分析的不同目的，一般區(qū)分為礦物晶粒粒度和嵌布粒度。礦物晶粒粒度是按礦物結晶顆粒的大小來劃分粒度單元，一般用于礦石成因和礦石結構分析。嵌布粒度又稱工藝粒度，分為兩種：礦物顆粒粒度和復礦物顆粒粒度。礦物顆粒粒度是按單一種礦物組成的顆粒（包括單晶顆粒及集合體顆粒）劃分粒度單元。復礦物顆粒粒度是按復合礦物所組成的顆粒劃分粒度單元。嵌布粒度的劃分與命名為了反映礦物嵌布粒度這一特征，簡化觀測工作，便于清晰明確地指明不同粒度的數(shù)量特征，因此要根據(jù)礦石中有用礦物粒度的粗細情況，由大到小劃分為若干級別，這些級別叫粒級。對于礦物嵌布粒級的劃分和命名，有影響的常用的有四種。根據(jù)標準篩網(wǎng)目16目、60目、100目和2微米劃分為粗、中、細、微、極微五個粒級。缺點：有的粒級過寬，有的過窄；按分選效果與入選粒度范圍確定（＋40微米為易選、－40＋10微米為難選、－10微米難分選）。缺點：同上按粒徑比4劃分。缺點：劃分太細，不易命名。按粒級比10、并以0.2mm為基準劃分。優(yōu)點：較客觀。嵌布粒度累計曲線圖以各粒級的累計百分含量作縱坐標（等間距），以粒徑作橫坐標（對數(shù)值坐標），標上各粒級的累計百分含量的相對位置，聯(lián)上各點即成。累計含量%粒徑礦物在礦石中分布的均勻性礦物的嵌布均勻性是指礦石中有用礦物在空間分布的均勻程度。礦物在礦石中的分布情況，大致分為兩種情況：均勻嵌布礦石礦物均勻分散在礦石的各個部分；不均勻嵌布礦石中有用礦物呈局部富集產出。從礦石選礦工藝性角度來考慮，礦物在礦石中的嵌布均勻性可用礦物嵌布均勻度來表示：礦物嵌布均勻度＝含礦單元數(shù)/測量單元數(shù)×100%二、連生礦物的鑲嵌關系礦物的鑲嵌關系是指：礦物在礦石中與連生礦物之間的相對空間關系；礦物與其連生礦物之間接觸界面的形態(tài)與解離性關系；連生礦物的物性差與解離性的關系。連生礦物的相對空間關系：通?？纱致缘胤譃橄铝兴念悾号B關系：幾種不同的礦物顆粒連生在一起，相互彼此鑲嵌。包裹連接：某種礦物呈包裹體鑲嵌在其他礦物中。脈狀連接：一種礦物呈細脈狀或網(wǎng)脈狀穿插在另一種礦物中的連接方式。皮殼狀鑲嵌關系：一種礦物表面被其他礦物所交代，在表層形成皮殼狀的包裹物。

毗連關系包裹關系脈狀連接皮殼狀鑲嵌關系

連生礦物連生界面的關系不同成因和條件形成的連生礦物具有不同的連生邊界，有些從溶液中或熔融體中結晶出來的礦物，結晶完好，因此礦物之間以平坦的結晶面與其他礦物相鑲嵌。有一些由溶蝕交代形成的礦物則常形成不規(guī)則的顆粒，與連生礦物的接觸界面參差不齊或是呈港灣狀鑲嵌。這兩種連生體在同樣的磨礦碎礦條件下，以平坦接觸界面連生的礦物的解離度較參差不齊的無疑會高一些。連生礦物的物性差關系：連生礦物之間的物性差，會影響連生礦物結合的牢固程度，進而影響礦物單體解離性。一般有兩種情況：連生礦物的物性差大，特別是礦物顆粒的表面性質有顯著不同，結果造成它們接觸面間的結合力就比礦物內部分子間的結合力弱很多。所以這種礦物的連生體在破碎時，一般都沿接觸面破碎，因此礦物單體的解離度在這種情況下就會很大。反之，如果礦物接觸面間的附著力大于或稍大于礦物內部分子間的內聚力，破碎時的解離度就會較小。因為礦塊或礦石的破碎并不只是沿著接觸面，而且還沿著與接觸面成不同角度的斷面，這樣的破碎不但不能使礦物的單體解離，只會使連生體變得更細些?！?礦物嵌布粒度的測定礦物嵌布粒度的測定是測定礦石中有用礦物的粒度及其在各粒級中的含量分布（粒度組成），是為確定合理的磨礦細度和磨礦工藝流程提供依據(jù)的工作，又稱粒度分析。粒度分析的主要內容是：粒級劃分；顯微鏡下的粒度測量、統(tǒng)計和計算；繪制粒度特征曲線和粒度頻率曲線；在以上工作基礎上，最后對礦物的嵌布特征進行綜合性分析。一、顯微鏡下礦物粒徑的測定礦物的嵌布粒徑和嵌布粒度是兩個不同的概念。嵌布粒徑，簡稱粒徑，是指每一個具體礦物顆粒的大小，是肯定值；嵌布粒度，簡稱粒度，是指礦石中所有有用礦物顆粒的大小及其由大到小的相應百分含量，是一個統(tǒng)計值，具有統(tǒng)計學的含義。顯微鏡下礦物粒度的測量工作分為兩步：第一步，測量每一個有用礦物的粒徑；第二步，在測量成百上千個有用礦物顆粒粒徑的基礎上，經(jīng)過統(tǒng)計、計算和分析，最終得出礦石中有用礦物的嵌布粒度特征。1.礦物粒徑的測量規(guī)則：由于測量是在礦石光片上進行的，而顆粒在光片上的截面形態(tài)是多種多樣的，有粒狀、非粒狀即各種不規(guī)則的形狀等。對具體的一個礦物顆粒，從不同的方向測量，就會得到不同的尺寸。d1d2d3d4礦物粒徑的測量規(guī)則：根據(jù)目前顯微鏡測量的實際情況，有如下測量規(guī)則：若礦物顆粒為粒狀，測其“定向最大截距”（即礦物顆粒截面在某一固定方向上所能截取的最大長度）作為粒徑。由于礦石光片上礦物顆粒截面的分布是隨機的，可以認定礦物顆粒不同方向在礦石光片上出現(xiàn)的幾率是相同的，因此只要測量足夠多的顆粒，其結果和顆粒的實際粒度是很接近的。礦物粒徑的測量規(guī)則：若礦物顆粒是不規(guī)則狀的，測其“定向隨遇截距”（即礦物顆粒在某一固定方向上雖與截取的長度作為粒徑。）d1d3d5d6d8d2d4d7礦物粒徑的測量規(guī)則：若礦物呈脈狀，且脈的寬度變化較為均勻者，測其脈寬作為粒徑。因為礦石只有破碎到脈寬尺寸那樣大小時，有用礦物才能單體解離出來。若為片狀礦物，如輝鉬礦、石墨，應測其解理面上的長軸為粒徑若為延展性很好的礦物，破碎時受力的作用后將會變形，這是選礦實際中存在的形態(tài)。因此在原礦中測量它們的原始狀態(tài)粒徑是沒有意義的。一般測量它們破碎之后的顆粒粒徑。2.借助目鏡測微尺測量礦物的粒徑在顯微鏡下測量長度通常使用目鏡測微尺。1）目鏡測微尺刻度值的測算：2）借助測微目鏡進行長度計算：顯微鏡下物體長度的測量可以先用目鏡測微尺量度物體放大了的物象，然后根據(jù)所量得的刻度數(shù)乘上刻度值便可算出實物的長度。3.借助移動尺測算假如待測物的長度較大且測量精度要求不高時，可借助附加在顯微鏡載物臺上的移動尺（或稱機械臺）來測量。借助移動被測物并根據(jù)移動的距離來確定物體的長度。測量時，先將起始點置于十字絲交點下，記下移動尺的刻度值，然后沿測量方向移動，直到待測長度終點到達十字絲交點下時再讀出移動尺的刻度值，前后兩次讀數(shù)之差即為所測物體的長度。應用普通顯微鏡坐標移動尺測量長度可獲得0.1mm的精度值。二、礦石中組成礦物的粒度測量進行粒度測量時，首先要劃分一系列粒度測量區(qū)間（測量粒級），其次是系統(tǒng)地測數(shù)各粒度區(qū)間內的顆粒數(shù)，最后根據(jù)各粒度區(qū)間的顆粒頻率，計算出各粒度區(qū)間的粒級含量。測量粒級的劃分：一般采用等比級數(shù)劃分較為簡便合理，粒級比隨測量粒度要求不同而采用不同的數(shù)值，通常情況下采用2的等比級數(shù)較為合適。這樣各粒級平均粒徑之間的比例也成簡單的等比級數(shù)。粒度測量的基本原理：對于松散的砂礦，可以直接測量其中粗、細粒各粒級的顆粒頻率，并根據(jù)下式計算各粒級顆粒的體積含量比：V1:V2:V3……＝n1d13:n2d23:n3d33:……式中n1、n2、n3……——各粒級的顆粒數(shù)d13、d23、d33……——各粒級單個顆粒的平均體積V1、V2、V3……——各粒級的體積含量。對于塊狀礦石在測定其組成礦物的粒度特征時，由于我們不能直接測定單位體積內各粒級的顆粒數(shù)量或顆粒頻率，只能在礦石的光片上進行對比測量，根據(jù)測得的各粒級的顆粒數(shù)量，然后換算成單位體積內的各粒級的顆粒的實際頻率或顆粒數(shù)比。測量各粒級的比例，可分別采用下列不同的測量方法：面測法：在一定截面積范圍內，測數(shù)各粒級的顆粒數(shù)比或顆粒頻率，測得的結果為面測頻率。線測法：在若干測線上，測數(shù)各粒級的顆粒數(shù)比或顆粒頻率，測得的結果為線測頻率。點測法：在若干測點上，測數(shù)各粒級的顆粒數(shù)比或顆粒頻率，測得的結果為點測頻率。由于面測頻率、線測頻率和點測頻率各有不同的含義，因此用不同測量方法得到的顆粒頻率是不一致的，而且都不等于單位體積內各粒級的顆粒實際頻率。各種測量頻率與礦石各粒級實際頻率之間的關系，可以借助一個立方體積木模型來加以說明。P279圖5－19，從模型中可以得出實際頻率與各測量頻率的關系如表5－8。面測法：根據(jù)面測法對礦石截面進行粒度測量時，粒徑大小不同的顆粒出露在光片上的幾率是不等的。各粒級顆粒出露在光片是的概率與顆粒的粒徑成正比。因此在截面上的面測頻率與立方體中顆粒的實際頻率存在如下關系：Page280。最后可得面測法的粒級含量＝n′d2％n′：截面上測得的某一粒級的礦物顆粒數(shù)；d：所測粒級的粒徑。面測法按測算級數(shù)的不同分為視域面測法和過尺面測法兩種。視域法：也就是利用目鏡測微尺和顯微鏡機械臺、分類計數(shù)器對整個視域內的礦物顆粒進行測量。視域法缺點：這種方法由于觀察者在測量時候無法觀察到顆粒在視域外面的情況，所以對于一些顆粒較大的礦物，或跨在視域邊界上的礦物顆粒，難以判斷它究竟屬于哪一粒級的顆粒；如果凡是跨在視域邊界上的礦物顆粒都不計數(shù)的話，則會引起粗粒級含量的偏低，細粒級含量偏高的誤差，而且當視域內礦物顆粒較多時，容易產生重數(shù)和漏數(shù)的現(xiàn)象，引起認為誤差。過尺面測法的測量工作原理實際上和視域法相同，但與視域法不同的是測量時，先要在視域內確定一定的測量范圍，測數(shù)的時候，只測數(shù)確定的視域范圍內的礦物顆粒，根據(jù)定向最大截距屬于那一粒級范圍，用分類計數(shù)器記錄下來。過尺面測法的具體測量方法與程序：挑選樣品——粒度范圍的普查——選擇合適的物鏡和目鏡組合——選定目鏡測微尺刻度數(shù)——確定視域中的測量范圍——測數(shù)各粒級礦物顆?！嬎愀髁＜壷械牡V物含量——繪制粒度特征曲線。線測法：利用線測法在礦石截面上進行粒級頻率測定時，粒徑大小不同的顆粒出現(xiàn)在測線上的幾率也是不等的。截面上線測頻率與立體內的實際頻率有如下關系：（Page282）礦石截面上線測法的粒級含量＝n″d％n″：測線上出現(xiàn)的某一粒級的顆粒數(shù)比；d：各粒級的粒徑。粒度測量的線測法，目前較多采用直線線測法和過尺線測法，借助的工具也是目鏡測微尺、機械臺（移動尺）和分類計數(shù)器。直線線測法適用于非粒狀礦物的粒度測量，過尺線測法適用于呈稠密嵌布的礦物。a)直線線測法：將目鏡測微尺的放置方向與顯微鏡機械臺移動尺的移動方向一致，光片隨機械臺沿測線移動。測量是從測線的一端開始，利用測微尺度量通過尺上該礦物的截距長度，順次測量測微尺上各粒級的顆粒數(shù)。判斷顆粒屬于哪一粒級是按測微尺上礦物顆粒的隨遇截距決定的。用直線線測法測量粒狀礦物顆粒時，由于測線不一定在顆粒的直徑位置上通過，因此量得的粒徑常較礦物顆粒的實際粒徑要小一些，使測量結果產生系統(tǒng)的誤差b)過尺線測法與過尺面測法近似，不同的是當?shù)V物顆粒經(jīng)過目鏡測微尺時，只去測數(shù)經(jīng)過測微尺中點上的礦物顆粒，而不是整個縱行的全部各粒級顆粒。當?shù)V物顆粒通過目鏡測微尺時，觀測者可以選取顆粒的定向最大截距代替直線線測法所采用的隨遇截距，因此測量結果較直線法更接近各粒級的實際情況。點測法：從立方積木模型可以看出，各粒級顆粒出現(xiàn)在截面測點上的相對概率與顆粒粒徑的立方呈正比。礦石截面上點測法的粒級含量＝截面測點上出現(xiàn)各粒級的顆粒數(shù)比n,,,％。點測法的測量工作須借助顯微鏡點法求積臺與目鏡測微尺配合進行的。首先要在光片上確定測線的間距，然后確定測量的點距。測量時觀測落在視域中測點上的是什么礦物，如果是待測礦物，則根據(jù)測微尺判斷應屬于哪一粒級，按動求積臺上代表該粒級的相應按鈕，便累加了該粒級的一個顆粒數(shù)，同時使光片向前移動一定的間距。點測法主要用于粒狀礦物的測量，優(yōu)點是測算簡便迅速，但受設備條件的限制。粒度測量的誤差及其修正1.樣品代表性的影響：大部分的礦石中，待測礦物的各粒級顆粒在不同的礦石中的含量比例并不一致，所以在不同礦石光片所測得的礦物粒度各不相同。因此粒度測量時選取有足夠代表性的礦石樣品極為重要。對粒度嵌布不均勻的礦石，就需要進行不同礦石類型、同一礦石類型多塊礦石的測量工作。這時可通過分類加權取樣或碎礦拌勻縮分方法來選取測量樣品。2.截面粒徑遞減的影響：對于球粒狀礦物，在光片上出露的粒徑往往比它的實際的粒徑要小。對于其他形狀的礦物顆粒，在光片截面上出露的粒徑有可能大于、也有可能小于礦物顆粒的實際粒徑，這時以實際測得的粒徑為準。對于球粒狀礦物顆粒，各粒級顆粒出露在磨光截面時，其中將有部分顆粒的截面粒徑被下降為較細粒徑的顆粒，它們下降的比率如表5－14。根據(jù)這一規(guī)律，我們可以對偏低了的測量結果進行誤差校正。截線粒徑遞降的影響：采用直線線測法來測量顆粒的粒徑時，由于測線不一定恰好通過截面顆粒的直徑位置，因此測線上的截距（截線粒徑）通常也較顆粒的截面粒徑要小一些。在光片上球狀顆粒的截線粒徑比截面粒徑的粒級遞降率，恰好和截面粒徑與實際粒徑的粒級遞降率相一致。因此可用上述方法可降直線線測法所測得的粒級頻率修正為過尺面測法的粒級頻率?！?礦物單體解離度及其測定礦石經(jīng)過破碎和磨礦后，形成一些粒徑不等的礦石或礦物碎屑顆粒。它可分為兩大類：單體：同一種礦物組成的碎屑顆粒，實際上就是單礦物碎屑顆粒。用組成礦物的名稱來命名，如黃銅礦單體、閃鋅礦單體、脈石單體；連生體：由兩種或以上的礦物連接在一起組成的礦物碎屑顆粒。由組成礦物的名稱聯(lián)合命名，主要礦物寫在前面，如黃銅礦－黃鐵礦連生體、黃銅礦－石英連生體。一、單體解離度的概念單體解離度：礦物經(jīng)破碎磨礦后解離為單體的程度稱為單體解離度，用來表示某礦物解離為單體顆粒的重量或體積百分含量。即：某礦物的解離度＝礦物單體的含量/礦物的總含量×100％。

礦物的總含量也就是礦物單體和在連生體中的含量之和，因此單體解離度二、礦物連生體的特征在測定有用礦物的單體解離度時，還要分別測定各類連生體的數(shù)量及其在各粒級中的含量分布。對連生體主要是研究連生體的質量特征和結構特征。1.質量特征連生體的礦物組成:幾種有用礦物連生在一起，如黃銅礦－斑銅礦連生體；有用礦物和脈石礦物連生在一起，如黃銅礦－脈石連生體；有用礦物和脈石礦物連生，如黃銅礦－斑銅礦－脈石連生體等。后兩種連生體往往是精礦品位偏低、尾礦品位偏高、回收率不高的原因。連生體中有用礦物的相對含量通常用有用礦物在每一個連生體顆粒中所占的面積分數(shù)來表示。一般采用四分法，即將1個連生體顆粒的截面積分為4份，視有用礦物大致所占的份額，而有1/4、2/4、3/4等3種連生體顆粒。測定有用礦物在連生體中的含量，也就是將有用礦物在連生體中所占的份額，折算成單體顆粒數(shù)。各類連生體的數(shù)量：選礦產品中，各類連生體的數(shù)量在各個粒級中的含量分布是不相同的，是重要的數(shù)據(jù)。因此在測定有用礦物的單體解離度時，還要分別測定各類連生體的數(shù)量及其在各粒級中的含量分布。連生體的結構特征：連生體的結構特征，其實是原礦石結構和構造的一部分。大體有三種類型：包裹連生型穿插連生型毗鄰連生型連生體的基本類型三、礦物單體解離度的測算根據(jù)所采樣品及其相應測算方法的不同，礦物單體解離度的測定分為全樣測算法及分級樣品測算法兩類。分級樣品測算法：僅適用于能用化學定量分析，計算被測礦物在各粒級中的含量分布的情況。全樣測算法：適用于樣品中具有各種礦物組成的情況，方法較為簡便且不必另作化學分析。1、分級樣品測算法：方法和步驟如下：根據(jù)樣品粒度情況先篩分或水析成若干粒級，對各粒級樣品分別進行稱重和制定元素的化學定量分析。將篩分后的樣品用樹脂膠結后磨制成光片，在顯微鏡下分別統(tǒng)計各粒級樣品中待測礦物的單體顆粒數(shù)和各類連生體的顆粒，根據(jù)各粒級的產率（在礦石中的重量百分含量）和品位計算整個樣品的單體解離度。礦物的單體解離度＝Σ(αiγiсi)/100A2、全樣測算法方法和步驟如下：取沒有經(jīng)過分級的樣品，用樹脂膠結磨制成光片；在顯微鏡下用過尺面測法或過尺線測法，分別累計各測量粒級的被測礦物單體及各類連生體顆粒數(shù)；按過尺面測法或過尺線測法計算單體顆粒及連生體顆粒中被測礦物的體積含量；分別根據(jù)被測礦物在整個樣品在單體和連生體中的總含量，