標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 15757-2002 產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷 術(shù)語、定義及參數(shù)》相比于其前版《GB/T 15757-1995》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新和調(diào)整:

  1. 術(shù)語和定義的完善與增補(bǔ):新版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)表面缺陷相關(guān)的術(shù)語和定義進(jìn)行了修訂,使之更加準(zhǔn)確和全面,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和檢測方法的發(fā)展。例如,可能新增了對(duì)新型表面缺陷類型的描述和定義,或者對(duì)原有定義進(jìn)行了精細(xì)化處理,以便于理解和應(yīng)用。

  2. 參數(shù)指標(biāo)的調(diào)整:標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)表面缺陷的評(píng)價(jià)參數(shù)和測量方法進(jìn)行了修訂或新增,確保評(píng)價(jià)指標(biāo)能更準(zhǔn)確反映現(xiàn)代制造工藝下產(chǎn)品的質(zhì)量狀況。這可能包括了對(duì)缺陷尺寸、形狀、分布等方面的量化描述變化,以及引入新的測量技術(shù)或工具的推薦。

  3. 檢測技術(shù)和方法的更新:鑒于科技進(jìn)步,2002版標(biāo)準(zhǔn)可能融入了新的檢測技術(shù)和方法,比如數(shù)字化測量技術(shù)、自動(dòng)化檢測系統(tǒng)等的應(yīng)用指導(dǎo),以提高檢測效率和準(zhǔn)確性,同時(shí)反映了從傳統(tǒng)手工檢測向高精度、高效自動(dòng)化檢測的轉(zhuǎn)變趨勢。

  4. 國際標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)調(diào):為了促進(jìn)國際貿(mào)易和技術(shù)交流,2002版標(biāo)準(zhǔn)可能加強(qiáng)了與國際標(biāo)準(zhǔn)的接軌,采納或參考了國際上通用的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,提高了標(biāo)準(zhǔn)的國際兼容性。

  5. 適用范圍的明確與擴(kuò)展:標(biāo)準(zhǔn)可能根據(jù)行業(yè)發(fā)展的實(shí)際需求,對(duì)適用的產(chǎn)品類型或材料范圍進(jìn)行了明確或適度擴(kuò)展,以覆蓋更廣泛的工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制場景。

  6. 表述和格式的規(guī)范化:為提升標(biāo)準(zhǔn)的可讀性和實(shí)用性,2002版可能對(duì)文檔的結(jié)構(gòu)、表述方式進(jìn)行了優(yōu)化,增加了圖表、實(shí)例說明等輔助理解的內(nèi)容,使得用戶更容易理解和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)要求。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2002-07-15 頒布
  • 2003-01-01 實(shí)施
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GB/T 15757-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語、定義及參數(shù)_第1頁
GB/T 15757-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語、定義及參數(shù)_第2頁
GB/T 15757-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語、定義及參數(shù)_第3頁
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文檔簡介

TC8.17.040.20J04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T_15757-2002eqvISO8785:1998產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語、定義及參數(shù)GeometricalProductSpecifications(GPS)SurfaceimperfectionsTerms.definitionsandparameters2002-07-15發(fā)布2003-01-01實(shí)施人民共中華和發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T15757-2002前本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)ISO8785:1998《產(chǎn)品兒何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語、定義及參數(shù)》1998年版)對(duì)GB/T15757—1995《表面缺陷術(shù)語、定義及參數(shù)》進(jìn)行修訂.在技術(shù)內(nèi)容上與ISO8785:1998等效,編寫規(guī)則上與之等同。本標(biāo)準(zhǔn)主要在以下內(nèi)容修訂:-增加了縮孔、凹面)飄曲、(凸面)飄曲定義的相應(yīng)圖示;對(duì)表面缺陷的特性和參數(shù)的代號(hào)做了改動(dòng)。本標(biāo)準(zhǔn)與ISO8785的區(qū)別:-略去了ISO8785中的導(dǎo)言,與國家標(biāo)準(zhǔn)的編寫規(guī)則相協(xié)調(diào);-略去了ISO8785中的附錄B(參考目錄)。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起,同時(shí)代替GB/T15757—1995本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國機(jī)械科學(xué)研究院、時(shí)代集團(tuán)公司、中國計(jì)量科學(xué)研究院、北京計(jì)量科學(xué)研究所、沈陽601所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王欣玲、王忠濱、高思田、吳迅、王肇強(qiáng)、趙有祥

GB/T15757-2002ISO前言ISO(國際標(biāo)準(zhǔn)化組織)是一個(gè)世界范圍的國家標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO成員)的聯(lián)合會(huì),國際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作通常由ISO各技術(shù)委員會(huì)進(jìn)行。每個(gè)成員組織,對(duì)某一主題的技術(shù)委員會(huì)感興趣,就有權(quán)參加該委員會(huì)工作,其他與ISO協(xié)作的政府間或非政府間的國際組織也可以參加工作。ISO與IEC(國際電工委員會(huì))在所有有關(guān)電工技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化的內(nèi)容上進(jìn)行密切合作。由技術(shù)委員會(huì)提出的國際標(biāo)準(zhǔn)草案,散發(fā)給各成員組織,由各成員組織投票表決,至少需要75%的贊成票才能作為國際標(biāo)準(zhǔn)公布。國際標(biāo)準(zhǔn)ISO8785是由ISO/TC213《產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范》技術(shù)委員會(huì)制定的本標(biāo)準(zhǔn)附錄A是提示的附錄

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)術(shù)語、定義及參數(shù)GB/T15757-2002表面缺陷eqvISO8785:1998GeometricalProductSpecifications(GPS)代替GB/T15757-1995SurfaceimperfectionsTerms.definitionsandparameters1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了有關(guān)表面缺陷的術(shù)語,允許表面缺陷的程度及測量表面缺陷方法的技術(shù)規(guī)范等內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)適用于技術(shù)文件、技術(shù)圖紙和科技出版物等本標(biāo)準(zhǔn)的定義不涉及表面粗糙度和表面波紋度本標(biāo)準(zhǔn)沒有指出是否要進(jìn)行表面缺陷的評(píng)定,這取決于具體的應(yīng)用或表面的功能對(duì)于特殊的應(yīng)用和制造工藝·在必要情況下可附加專用的術(shù)語和定義。這些術(shù)語和定義將在相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。幾種特殊表面缺陷將在其他標(biāo)準(zhǔn)中定義一般術(shù)語與定義2.1基準(zhǔn)面referencesurface用以評(píng)定表面缺陷參數(shù)的一個(gè)幾何表面,1基準(zhǔn)面通過除缺陷之外的實(shí)際表面的最高點(diǎn),且與由最小二乘法確定的表面等距。2基準(zhǔn)面是在一定的表面區(qū)域或表面區(qū)域的某有限部分上確定的·這個(gè)區(qū)域和單個(gè)缺陷的尺寸大小有關(guān)。該區(qū)域的大小須足夠用來評(píng)定缺陷·同時(shí)在評(píng)定時(shí)能控制表面形狀誤差的影響。3基準(zhǔn)面具有幾何表面形狀,它的方位和實(shí)際表面在空間與總的走向相一致2.2表面缺陷評(píng)定區(qū)域(A)surfaceimperfectionevaluationarea(A)工件實(shí)際表面的局部或全部,在該區(qū)域上,檢驗(yàn)和確定表面缺陷。23表面結(jié)構(gòu)Surfacetexture出自幾何表面的重復(fù)或偶然的偏差,這些偏差形成該表面的三維形貌,住:表面結(jié)構(gòu)包括在有限區(qū)域上的粗糙度、波紋度、紋理方向、表面缺陷和形狀誤差.24表面缺陷(SIM)Surfaceimperfection(SIM)在加工、儲(chǔ)存或使用期間,非故意或偶然生成的實(shí)際表面的單元體、成組的單元體、不規(guī)則體1建議不要將“表面瑕班”的術(shù)語用于本標(biāo)準(zhǔn)定義的表達(dá)中。這些單元體或不規(guī)則體的類型.明顯區(qū)別于構(gòu)成一個(gè)粗糙度表面的那些單元體或不規(guī)則體3在實(shí)際表面上存在缺陷并不表示該表面不可用。缺

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