GB/T 15822.1-2005無(wú)損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第1部分：總則

ICS19.100J04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15822.1-2005/ISO9934-1:2001代替GB/T15822-1995無(wú)損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第1部分:總則Non-destructivetesting-Magneticparticletesting-Part1:Generalprinciples(ISO9934-1:2001.IDT)2005-09-19發(fā)布2006-04-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T15822.1-2005/ISO9934-1：2001三前言范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語(yǔ)和定義A人員資格鑒定與認(rèn)證5安全與環(huán)境要求6檢測(cè)規(guī)程7表面準(zhǔn)備8磁化·…………一般要求8.2化驗(yàn)證8.3磁化技術(shù)9檢測(cè)介質(zhì)9.1介質(zhì)的性能與選擇9.2檢測(cè)介質(zhì)的檢驗(yàn)9.3檢測(cè)介質(zhì)的施加10觀察條件………10.1彩色介質(zhì)10.2熒光介質(zhì)11綜合性能檢驗(yàn)顯示的記錄與解釋13退磁14清洗檢測(cè)報(bào)告·……1511附錄A（資料性附錄）各種磁化技術(shù)中達(dá)到規(guī)定切向場(chǎng)強(qiáng)所需電流的計(jì)算示例12

GB/T15822.1-2005/ISO9934-1:2001GB/T15822《無(wú)損檢測(cè)磁粉檢測(cè)》分為3個(gè)部分：-第1部分：總則；第2部分：檢測(cè)介質(zhì)；-第3部分：設(shè)備。本部分為GB/T15822的第1部分，等同采用ISO9934-1:2001《無(wú)損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第1部分：總則》(英文版)。本部分等同翻譯ISO9934-1:2001.為便于使用，本部分做了下列編輯性修改：“本歐洲標(biāo)準(zhǔn)"和"本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為"本部分"或"GB/T15822的本部分”用小數(shù)點(diǎn)"."代替作為小數(shù)點(diǎn)的運(yùn)號(hào)","：C）刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言；使用GB/T1.1-2000規(guī)定的引導(dǎo)語(yǔ)本部分代替GB/T15822—1995《磁粉探傷方法》.因?yàn)閲?guó)際上的發(fā)展原標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)上已過(guò)時(shí)本部分與GB/T15822—1995相比主要變化如下：修修改了范圍(1995年版的第1章;本版的第1章)；增加了安全與環(huán)境要求(見(jiàn)第5章)；增加了對(duì)檢測(cè)規(guī)程的要求(見(jiàn)第6章)調(diào)整了表面準(zhǔn)備的內(nèi)容(1995年版的9.2.1;本版的第7章)；修改了磁化的內(nèi)容(1995年版的第5章、9.1和9.2.2；本版的第8章)：修改了檢測(cè)介質(zhì)的內(nèi)容(1995年版的第6章、9.2.3、附錄A和附錄B;本版的第9章)：調(diào)整了觀察條件的內(nèi)容(1995年版的9.2.4:本版的第10章)；調(diào)調(diào)整了綜合性能檢驗(yàn)的內(nèi)容(1995年版的第7章；本版的第11章)調(diào)整了顯示的記錄與解釋的內(nèi)容(1995年版的9.3、第10章和第11章：本版的第12章)：調(diào)整了退磁的內(nèi)容(1995年版的9.2.5：本版的第13章）：增加了檢測(cè)后清洗的內(nèi)容(見(jiàn)第14章)；增加了檢測(cè)報(bào)告的內(nèi)容（見(jiàn)第15章）：增加了資料性附錄"各種磁化技術(shù)中達(dá)到規(guī)定切向場(chǎng)強(qiáng)所需電流的計(jì)算示例"(見(jiàn)附錄A）本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出，本部分由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC56)歸口本部分起草單位：上海鍋爐廠有限公司、上海材料研究所、蘇州美柯達(dá)探傷器材有限公司、上海宇光無(wú)損檢測(cè)設(shè)備制造有限公司。本部分主要起草人：閻建芳、張佩銘、金宇飛、它中玉、郭猛。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T15822-1995.

GB/T15822.1-2005/ISO9934-1:2001無(wú)損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第1部分：總則范圍GB/T15822的本部分規(guī)定了鐵磁性材料磁粉檢測(cè)總則。磁粉檢測(cè)主要用于檢測(cè)表面開(kāi)口的不連續(xù)(尤其是裂紋),也能檢測(cè)近表面的不連續(xù)，但其靈敏度隨深度而迅速降低。本部分規(guī)定了被檢工件的表面準(zhǔn)備、磁化技術(shù)、檢測(cè)介質(zhì)的要求與施加、以及結(jié)果的記錄與解釋。驗(yàn)收準(zhǔn)則未作規(guī)定。對(duì)于特殊項(xiàng)目的磁粉檢測(cè),由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定附加要求。本部分不適用于剩磁法。2范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)（B/T15822的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。無(wú)損檢測(cè)GB/T5097滲透檢測(cè)和磁粉檢測(cè)觀察條件（GB/T5097-2004.1SO3059:2001，IDT）GB/T12604.5無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)磁粉檢測(cè)！GB/T15822.2無(wú)損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第2部分：檢測(cè)介質(zhì)(GB/T15822.2—2005.1SO9934-2:2002,IDT)GB/T15822.3無(wú)損檢測(cè)粉檢測(cè)第3部分：設(shè)備(GB/T15822.3-2005.ISO9934-3：2002,IDT）無(wú)損檢測(cè)GB/T9445人員資格鑒定與認(rèn)證(GB/T9445—2004.ISO9712:1999.IDT)無(wú)損檢測(cè)EN1330-1術(shù)語(yǔ)第1部分:通用術(shù)語(yǔ)表(Non-destructivetesting-TerminologyPartl:Listofgeneralterms）EN1330-2無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)專(zhuān)第2部分：無(wú)損檢測(cè)方法專(zhuān)用術(shù)語(yǔ)（Non-destructivetesting—Terminology-Part2：Termscommontonon-destructivetestingmethods)3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T12604.5、EN1330-1和EN1330-2確立的術(shù)語(yǔ)和定義適用于GB/T15822的本部分磁粉檢測(cè)的實(shí)施由經(jīng)資格鑒定過(guò)的和有能力的人員承擔(dān)。為了提供該資格鑒定，推薦按（B/T9445或其他等效方式對(duì)人員進(jìn)行認(rèn)證1）該標(biāo)準(zhǔn)將在修訂GB/T12604.5—1990的基硼上發(fā)布。GB/T15822的本部分所引用的GB/T12604.5中的術(shù)語(yǔ)和定