GB/T 16921-1997金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

TCS.25.220.40429中華人民共和國國家標準GB/T16921-1997一eqvISO3497：1990金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法MeasurementofmetaliiccoatingthicknessX-rayspectrometricmethods1997-07-25發(fā)布1998-02-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T16921-1997前本標準是根據ISO3497：1990《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜法》制定的，在技術內溶上與該國際標準等效，編寫規(guī)則上與之基本等同。本標準與ISO3497：1990相比，在第6、7兩章的目次和章節(jié)的安排上有所不同，但其內容和順序不變本標準的附錄A是標準的附錄本標準自發(fā)布實施日起,代替JB/T5068—91《金屬覆蓋層厚度測址X射線光譜方法》。本標準由中華人民共和國機械工業(yè)部提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術委員會歸口本標準起草單位：機械工業(yè)部武漢材料保護研究所本標準主要起草人：朱鯊生。

GB/T16921-1997ISO前言ISO(國際標準化組織)是各國家標準團體（ISO成員團體)的全世界聯合，制定國際標準的工作-般通過ISO技術委員會進行。各成員團體如對某一技術委員會確定的主題感興趣，有權向該委員會陳述。與ISO有聯系的政府、非政府的國際組織也可參加工作。在電工標準化的各方面,ISO與國際電工委員會(IEC)密切合作。技術委員會通過的國際標準草案，在ISO理業(yè)會采納為國際標準之前，先送各成員團體認可，按照ISO)程序，參與投票的成員團體至少要有75%認可才出版為國際標準。國際標準ISO3497由ISO/TC107金屬和其他無機覆蓋層技術委員會制定。此第二版取代同時注銷第一版(ISO3497:1976),屬于其技術修訂。附錄A屬于本國際標準的組成部分

中華人民共和國國家標準金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法GB/T16921-1997eqvISO3497:1990MeasurementofmetalliccoatingthicknessX-rayspectrometricmethods本標準規(guī)定了測量金屬覆蓋層厚度的X射線光譜方法。本標準規(guī)定的方法是一種非接觸式無損測厚方法，可同時測量一些三層體系。本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度，則測量結果也可用覆蓋層的線性厚度表示。授蓋層材料的實際測厚范圍主要取決于容許的測量不確定度。而且因所用儀器設備及操作條件而不同。常用金屬覆蓋層材料的典型測量范圍見附錄A（標準的附錄)。2定義本標準采用下列定義、2.1X射線熒光(XRF)高能入射X射線照射到材料上產生的二次輻射。此二次輻射具有該材料的波長和能量特征，2.2光輻射強度由儀器測量的用每秒計數(輻射脈沖)表示的輻射強度。2.3歸一化強度(Z。)經過歸一化處理的熒光輻射強度歸一化強度與測量儀器、測量時間、激發(fā)輻射強度無關。但測量系統(tǒng)的幾何結構和激發(fā)輻射能量影響歸一化計數率。歸一化強度／。由式(1)給出：·········（1）式中：1.-覆蓋層試樣測得的熒光輻射強度;1一一未涂覆基體材料測得的熒光輻射強度；一厚度大于或等于飽和厚度的涂覆材料測得的熒光輻射強度;1.、1。、7.是在同一條件下測定的。2.4飽和厚度在一定條件下，材料的熒光輻射強度不再隨材料的厚度的增加而產生可檢測變化的最小厚度。注1飽和厚度取決于熒光輻射的能量或波長，材料的密度和原子序數，以及人射角、熒光輻射與材料表面的關系2.5中間授蓋層位于表面覆蓋層和基體材料之間，厚度應小