標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 16921-1997 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《金屬覆蓋層 厚度測量 X射線光譜方法》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線光譜技術(shù)來測定金屬材料表面覆蓋層厚度的方法，適用于測量鍍層、涂層等金屬覆蓋層在基體材料上的厚度。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容概覽：

適用范圍

  • 本標(biāo)準(zhǔn)適用于測定金屬及合金表面的單層或多層金屬覆蓋層的厚度，覆蓋層包括電鍍層、化學(xué)鍍層、熱浸鍍層等。
  • 覆蓋層材料需為X射線可激發(fā)產(chǎn)生特征輻射的元素，且其原子序數(shù)應(yīng)與基體材料有明顯差異。

測量原理

  • 利用X射線熒光光譜分析技術(shù)，當(dāng)樣品受到X射線照射時，覆蓋層和基體材料會發(fā)射出各自特有的特征X射線熒光。通過檢測這些熒光的強度，結(jié)合已知的物理模型和校準(zhǔn)曲線，可以計算出覆蓋層的厚度。

測量設(shè)備與條件

  • 規(guī)定了X射線光譜儀的技術(shù)要求，包括能量分辨率、檢測極限等性能指標(biāo)。
  • 測量前需對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，使用已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品建立校準(zhǔn)曲線。
  • 對測試環(huán)境如溫度、濕度等也有所要求，以減少外界因素對測量結(jié)果的影響。

樣品制備與處理

  • 樣品表面應(yīng)平整、清潔，無油污、氧化皮等影響測量的雜質(zhì)。
  • 對于多層覆蓋層，需明確各層材料及可能的相互干擾，采用適當(dāng)?shù)哪Ｐ瓦M(jìn)行分析。

測量步驟與數(shù)據(jù)處理

  • 包括測量點的選擇、數(shù)據(jù)采集、背景扣除、校正因子應(yīng)用等詳細(xì)操作流程。
  • 介紹了如何根據(jù)測量數(shù)據(jù)，利用軟件或計算方法得到覆蓋層的準(zhǔn)確厚度。

精密度與準(zhǔn)確度

  • 提供了重復(fù)性和再現(xiàn)性試驗方法，以評估測量結(jié)果的精密度。
  • 規(guī)定了與其它認(rèn)可方法比較的準(zhǔn)確性驗證要求。

報告

  • 要求測量報告中應(yīng)包含測試條件、所用標(biāo)準(zhǔn)、測量結(jié)果及其不確定度等信息。

安全與防護(hù)

  • 強調(diào)了在進(jìn)行X射線測量時的安全措施，包括輻射防護(hù)、操作人員培訓(xùn)等，確保符合國家關(guān)于輻射安全的相關(guān)法規(guī)。


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  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 16921-2005
  • 1997-07-25 頒布
  • 1998-02-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 16921-1997金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法_第1頁
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文檔簡介

TCS.25.220.40429中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16921-1997一eqvISO3497：1990金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法MeasurementofmetaliiccoatingthicknessX-rayspectrometricmethods1997-07-25發(fā)布1998-02-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T16921-1997前本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)ISO3497：1990《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜法》制定的，在技術(shù)內(nèi)溶上與該國際標(biāo)準(zhǔn)等效，編寫規(guī)則上與之基本等同。本標(biāo)準(zhǔn)與ISO3497：1990相比，在第6、7兩章的目次和章節(jié)的安排上有所不同，但其內(nèi)容和順序不變本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄本標(biāo)準(zhǔn)自發(fā)布實施日起,代替JB/T5068—91《金屬覆蓋層厚度測址X射線光譜方法》。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國機械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：機械工業(yè)部武漢材料保護(hù)研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：朱鯊生。

GB/T16921-1997ISO前言ISO(國際標(biāo)準(zhǔn)化組織)是各國家標(biāo)準(zhǔn)團(tuán)體（ISO成員團(tuán)體)的全世界聯(lián)合，制定國際標(biāo)準(zhǔn)的工作-般通過ISO技術(shù)委員會進(jìn)行。各成員團(tuán)體如對某一技術(shù)委員會確定的主題感興趣，有權(quán)向該委員會陳述。與ISO有聯(lián)系的政府、非政府的國際組織也可參加工作。在電工標(biāo)準(zhǔn)化的各方面,ISO與國際電工委員會(IEC)密切合作。技術(shù)委員會通過的國際標(biāo)準(zhǔn)草案，在ISO理業(yè)會采納為國際標(biāo)準(zhǔn)之前，先送各成員團(tuán)體認(rèn)可，按照ISO)程序，參與投票的成員團(tuán)體至少要有75%認(rèn)可才出版為國際標(biāo)準(zhǔn)。國際標(biāo)準(zhǔn)ISO3497由ISO/TC107金屬和其他無機覆蓋層技術(shù)委員會制定。此第二版取代同時注銷第一版(ISO3497:1976),屬于其技術(shù)修訂。附錄A屬于本國際標(biāo)準(zhǔn)的組成部分

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法GB/T16921-1997eqvISO3497:1990MeasurementofmetalliccoatingthicknessX-rayspectrometricmethods本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測量金屬覆蓋層厚度的X射線光譜方法。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法是一種非接觸式無損測厚方法，可同時測量一些三層體系。本標(biāo)準(zhǔn)所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度，則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。授蓋層材料的實際測厚范圍主要取決于容許的測量不確定度。而且因所用儀器設(shè)備及操作條件而不同。常用金屬覆蓋層材料的典型測量范圍見附錄A（標(biāo)準(zhǔn)的附錄)。2定義本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義、2.1X射線熒光(XRF)高能入射X射線照射到材料上產(chǎn)生的二次輻射。此二次輻射具有該材料的波長和能量特征，2.2光輻射強度由儀器測量的用每秒計數(shù)(輻射脈沖)表示的輻射強度。2.3歸一化強度(Z。)經(jīng)過歸一化處理的熒光輻射強度歸一化強度與測量儀器、測量時間、激發(fā)輻射強度無關(guān)。但測量系統(tǒng)的幾何結(jié)構(gòu)和激發(fā)輻射能量影響歸一化計數(shù)率。歸一化強度／。由式(1)給出：·········（1）式中：1.-覆蓋層試樣測得的熒光輻射強度;1一一未涂覆基體材料測得的熒光輻射強度；一厚度大于或等于飽和厚度的涂覆材料測得的熒光輻射強度;1.、1。、7.是在同一條件下測定的。2.4飽和厚度在一定條件下，材料的熒光輻射強度不再隨材料的厚度的增加而產(chǎn)生可檢測變化的最小厚度。注1飽和厚度取決于熒光輻射的能量或波長，材料的密度和原子序數(shù)，以及人射角、熒光輻射與材料表面的關(guān)系2.5中間授蓋層位于表面覆蓋層和基體材料之間，厚度應(yīng)小

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