標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 X射線(xiàn)光譜方法》與《GB/T 16921-1997 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 X射線(xiàn)光譜方法》相比,主要存在以下幾個(gè)方面的差異和更新:

  1. 范圍擴(kuò)展:2005版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)適用的金屬覆蓋層類(lèi)型或測(cè)量范圍進(jìn)行了擴(kuò)展,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和更廣泛的應(yīng)用需求,雖然具體細(xì)節(jié)需要查閱標(biāo)準(zhǔn)原文確認(rèn)。

  2. 技術(shù)更新:鑒于X射線(xiàn)光譜技術(shù)在近十年的發(fā)展,2005版標(biāo)準(zhǔn)可能納入了新的測(cè)量技術(shù)和分析方法,提高了測(cè)量精度和效率。這可能包括更先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理算法、更精確的校準(zhǔn)方法或是對(duì)新型X射線(xiàn)儀器的支持。

  3. 術(shù)語(yǔ)和定義:隨著行業(yè)發(fā)展的規(guī)范,新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)一些專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了修訂或新增,以便更準(zhǔn)確地描述測(cè)試過(guò)程和技術(shù)要求,增強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)的可操作性和國(guó)際兼容性。

  4. 測(cè)量程序:2005版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)測(cè)量步驟、樣品制備、測(cè)試條件等方面給出了更詳細(xì)或優(yōu)化的操作指導(dǎo),以確保測(cè)量結(jié)果的一致性和重復(fù)性。

  5. 質(zhì)量控制與驗(yàn)證:新標(biāo)準(zhǔn)可能加強(qiáng)了對(duì)測(cè)量結(jié)果的質(zhì)量控制要求,包括增加關(guān)于測(cè)量不確定度評(píng)估、校準(zhǔn)驗(yàn)證和質(zhì)量管理體系的指導(dǎo)內(nèi)容,以提升檢測(cè)結(jié)果的可靠性和實(shí)驗(yàn)室間的一致性。

  6. 安全與環(huán)保:考慮到技術(shù)進(jìn)步和法規(guī)變化,2005版標(biāo)準(zhǔn)或許增添了關(guān)于X射線(xiàn)設(shè)備使用安全、輻射防護(hù)以及環(huán)境保護(hù)的最新要求,確保操作人員安全和環(huán)境友好。

  7. 引用標(biāo)準(zhǔn)更新:新標(biāo)準(zhǔn)會(huì)引用最新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或其他技術(shù)文獻(xiàn),以保證測(cè)量方法的先進(jìn)性和與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的接軌。


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  • 2006-04-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

ICS25.220.20A29中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16921-2005/ISO3497:2000代替GB/T16921-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法Metaliiecoatings-Measurementofcoatingthiekness-X-rayspectrometricmethods(ISO3497:2000,IDT)2005-10-12發(fā)布2006-04-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T16921-2005/ISO3497:2000三次前言范圍2術(shù)語(yǔ)和定義3原理4儀器5影響測(cè)量結(jié)果的因素6儀器的校準(zhǔn)…….7規(guī)程…………···測(cè)量不確定度·::········:···················…·······9測(cè)試報(bào)告……………·…·……附錄A(資料性附錄)常見(jiàn)覆蓋層測(cè)量的典型測(cè)量范圍參考文獻(xiàn)

GB/T16921-2005/IS03497:2000本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO3497:2000(E)《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法》英文版)本標(biāo)準(zhǔn)按(B/T1.1的編輯要求,根據(jù)ISO3497重新起草。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)ISO3497作了如下修改:-取消了ISO3497的前言?xún)?nèi)容,重新起草了本標(biāo)準(zhǔn)前言:增加了“目次內(nèi)容”;用"本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)"本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T16921—1997《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法》本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T16921—1997相比主要變化如下:在范圍中增加了警告:-在術(shù)語(yǔ)和定義中增加了基體材料、基體金屬和基體的定義,且將歸一化強(qiáng)度(1997年版的2.3:本版的2.4)的數(shù)學(xué)符號(hào)定義為。(1997年版為1n),相應(yīng)的數(shù)學(xué)關(guān)系式也隨之改變;在3.3.3能量色散中,將波長(zhǎng)和能量的關(guān)系式進(jìn)行了修正:在原理中.將其內(nèi)容進(jìn)行了重新排列.增加了3.5.3比率方法和3.7數(shù)學(xué)反卷積的描述:-對(duì)5.1.2隨機(jī)誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差以及5.6覆蓋層密度的公式進(jìn)行了修正;對(duì)5.16試樣表面的傾斜度的影響,做了更精確的修正:在儀器的校準(zhǔn)中增加了6.1.5計(jì)算機(jī)模擬主要參數(shù)的無(wú)標(biāo)樣技術(shù)的描述;本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:機(jī)械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心本標(biāo)準(zhǔn)起草人:姜新華、凌國(guó)偉、劉建國(guó)、鐘立暢、宋智玲,本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T16921-1997。

GB/T16921-2005/IS03497:2000金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法范圍警告:本標(biāo)準(zhǔn)不包括人員防X射線(xiàn)輻射的問(wèn)題,關(guān)于此重要方面的信息,可參考現(xiàn)行的國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及地方法規(guī)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用X射線(xiàn)光譜方法測(cè)量金屬覆蓋層厚度的方法1.2本標(biāo)準(zhǔn)所用的測(cè)量方法基本屬于測(cè)定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度.則測(cè)量結(jié)果也可用覆蓋層的線(xiàn)性厚度表示。1.3本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆盞層體系,或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。1.4給定覆蓋層材料的實(shí)際測(cè)量范圍主要取決于被分析的特征X射線(xiàn)熒光的能量以及所允許的測(cè)量不確定度,而且因所用儀器設(shè)備和操作規(guī)程而不同,2術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)21X射線(xiàn)熒光:X-rayfluorescence(XRr)高強(qiáng)度入射X射線(xiàn)撞擊置于入射光束路徑上的材料時(shí)產(chǎn)生的二次輻射注:此二次發(fā)射具有該材料的波長(zhǎng)和能量特征。2.2英光輻射強(qiáng)度intensityoffluorescentradiation輻射強(qiáng)度。.由儀器測(cè)量的、用每秒計(jì)數(shù)(輻射脈沖)來(lái)表示。23飽和厚度:saturationthickness即為超過(guò)時(shí),熒光強(qiáng)度不再產(chǎn)生任何可察覺(jué)的變化的厚度注:飽和厚度取決于熒光輻射的能量或波長(zhǎng)、材料的密度和原子序數(shù)、入射角度以及材料表面的熒光輻射2.4日一化強(qiáng)度x。normalizedintensity在同一條件下得到的覆蓋層試樣:和未涂覆基體材料。的強(qiáng)度差與厚度大于或等于飽和厚度的材料.(見(jiàn)2.3)和未涂覆基體材料.的強(qiáng)度差之比。住1:歸一化強(qiáng)度數(shù)學(xué)關(guān)系式為大中:一覆蓋層試樣的強(qiáng)度:

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