GB/T 16921-2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標準GB/T16921-2005/ISO3497:2000代替GB/T16921-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法Metaliiecoatings-Measurementofcoatingthiekness-X-rayspectrometricmethods（ISO3497:2000,IDT)2005-10-12發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T16921-2005/ISO3497:2000三次前言范圍2術(shù)語和定義3原理4儀器5影響測量結(jié)果的因素6儀器的校準…….7規(guī)程…………···測量不確定度·：：········：···················…·······9測試報告……………·…·……附錄A(資料性附錄）常見覆蓋層測量的典型測量范圍參考文獻

GB/T16921-2005/IS03497:2000本標準等同采用ISO3497:2000（E)《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法》英文版)本標準按（B/T1.1的編輯要求，根據(jù)ISO3497重新起草。本標準對應(yīng)ISO3497作了如下修改：-取消了ISO3497的前言內(nèi)容，重新起草了本標準前言：增加了“目次內(nèi)容”；用"本標準"代替“本國際標準"本標準代替GB/T16921—1997《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法》本標準與GB/T16921—1997相比主要變化如下：在范圍中增加了警告：-在術(shù)語和定義中增加了基體材料、基體金屬和基體的定義，且將歸一化強度(1997年版的2.3:本版的2.4)的數(shù)學(xué)符號定義為。(1997年版為1n),相應(yīng)的數(shù)學(xué)關(guān)系式也隨之改變;在3.3.3能量色散中，將波長和能量的關(guān)系式進行了修正：在原理中.將其內(nèi)容進行了重新排列.增加了3.5.3比率方法和3.7數(shù)學(xué)反卷積的描述：-對5.1.2隨機誤差的標準偏差以及5.6覆蓋層密度的公式進行了修正；對5.16試樣表面的傾斜度的影響，做了更精確的修正：在儀器的校準中增加了6.1.5計算機模擬主要參數(shù)的無標樣技術(shù)的描述；本標準的附錄A為資料性附錄。本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術(shù)委員會歸口本標準起草單位：機械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測中心本標準起草人：姜新華、凌國偉、劉建國、鐘立暢、宋智玲，本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T16921-1997。

GB/T16921-2005/IS03497:2000金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法范圍警告：本標準不包括人員防X射線輻射的問題,關(guān)于此重要方面的信息，可參考現(xiàn)行的國際和國家標準及地方法規(guī)。本標準規(guī)定了應(yīng)用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法1.2本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度.則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。1.3本測量方法可同時測量三層覆盞層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。1.4給定覆蓋層材料的實際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度，而且因所用儀器設(shè)備和操作規(guī)程而不同，2術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標準21X射線熒光：X-rayfluorescence（XRr)高強度入射X射線撞擊置于入射光束路徑上的材料時產(chǎn)生的二次輻射注：此二次發(fā)射具有該材料的波長和能量特征。2.2英光輻射強度intensityoffluorescentradiation輻射強度。.由儀器測量的、用每秒計數(shù)(輻射脈沖)來表示。23飽和厚度：saturationthickness即為超過時，熒光強度不再產(chǎn)生任何可察覺的變化的厚度注：飽和厚度取決于熒光輻射的能量或波長、材料的密度和原子序數(shù)、入射角度以及材料表面的熒光輻射2.4日一化強度x。normalizedintensity在同一條件下得到的覆蓋層試樣：和未涂覆基體材料。的強度差與厚度大于或等于飽和厚度的材料.(見2.3)和未涂覆基體材料.的強度差之比。住1：歸一化強度數(shù)學(xué)關(guān)系式為大中：一覆蓋層試樣的強度：