GB/T 17103-1997金屬材料定量極圖的測(cè)定

ICS.77.040.30H21中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17103-1997金屬材料定量極圖的測(cè)定MetalmaterialOuantitativePolefigurepreparingmethod1997-11-11發(fā)布1998-05-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/r17103-1997面本標(biāo)準(zhǔn)非等效采用美國(guó)ASTME81—90《制備定量極圖的標(biāo)準(zhǔn)方法》。本標(biāo)準(zhǔn)是在上述標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，考患到近十幾年來(lái)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和我國(guó)織構(gòu)測(cè)量及研究的現(xiàn)狀，副去ASTM標(biāo)準(zhǔn)中不具普遍性的實(shí)驗(yàn)方法和不再實(shí)用的實(shí)驗(yàn)技術(shù)，對(duì)狹縫的調(diào)整和品粒度的影響做了重要修改，將整個(gè)實(shí)驗(yàn)建立在計(jì)算機(jī)采集數(shù)據(jù)和進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的基礎(chǔ)上。方法更加規(guī)范化，各部分的敘述和要求更加嚴(yán)格準(zhǔn)確，本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)治金工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由治金工業(yè)部信息標(biāo)準(zhǔn)研究院歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：首鋼治金研究院、東北大學(xué)。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:胡小軍、王福、丘利、榮廣平、石少均

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)金屬材料定量極圖的測(cè)定GB/T17103--1997Metalmaterial-Quantitativepolefigurepreparingmethod圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用X射線衍射儀測(cè)繪金屬材料定量極圖的基本方法。本標(biāo)淮適用于冷、熱加工金屬板和一定條件下的再結(jié)品金屬板。其他多品材料定量極圖測(cè)繪也可參照木方法、2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。在標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。YB/T5148-93金屬平均品粒度測(cè)定方法3原理3.1極圖是被測(cè)多品材料中品體某一選定品面族(HKL)的取向分布在平面極坐標(biāo)中的二維表示。極圖可以用來(lái)計(jì)算品體取向分布和定性描述織構(gòu)，3.2本標(biāo)準(zhǔn)將Schulz反射法作為反射法測(cè)量的基本實(shí)驗(yàn)方法3.2.1若極圖數(shù)據(jù)用于計(jì)算品體取向分布，則優(yōu)選采用反射法測(cè)量部分極圖。在許多情況下，這種部分極圖已能滿(mǎn)足定性描述織構(gòu)的要求。3.3本標(biāo)準(zhǔn)將Decker等人的透射法作為透射法測(cè)量的基本實(shí)驗(yàn)方法。，它可以與Schulz反射法組合給出全極圖3.4本實(shí)驗(yàn)方法給出試樣的檢測(cè)品面法線相對(duì)于試樣參考坐標(biāo)系的取向分布。這種分布是通過(guò)測(cè)量衍射X射線強(qiáng)度獲得的。在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中，探測(cè)器和相關(guān)的限制狹縫被固定在兩倍Bragg角的位置上。逐次改變?cè)嚇拥娜∠?，并記錄下試樣處于不同取向位置時(shí)的衍射義射線強(qiáng)度。若測(cè)量全極圖,則需將測(cè)量獲得的強(qiáng)度數(shù)據(jù)經(jīng)扣除背底、對(duì)反射法測(cè)量數(shù)據(jù)做散焦校正及對(duì)透射法測(cè)量數(shù)據(jù)做吸收校正，用最小二乘法或其他方法進(jìn)行透反射數(shù)據(jù)銜接，即透射數(shù)據(jù)乘以系數(shù)人.,見(jiàn)公式(1)。：··············（>其中..和以分別為銜接處不同8角下，用透射法和反射法測(cè)最的X射線強(qiáng)度數(shù)據(jù)。然后歸一化到一個(gè)平均單位值。歸一化的原則為，見(jiàn)公式(2)：P（y.B)sinyAA3=1其中,P(4,P)為極密度值，B為試樣繞00軸的轉(zhuǎn)角，為試樣繞FF軸的傾角(見(jiàn)圖1)。3.5Schulz反射法的幾何原理表示在圖1中。用L表示X射線源。狹縫S1限制了人射光束在投影平面中的發(fā)散度。入射和