標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17365-1998 金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法》作為一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，詳細(xì)規(guī)定了金屬與合金材料在進(jìn)行電子探針定量分析前，樣品應(yīng)如何準(zhǔn)備以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。然而，您提供的對(duì)比信息不完整，沒有明確指出要與哪個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此，直接對(duì)比變更內(nèi)容較為困難。但可以概述該標(biāo)準(zhǔn)本身的一些關(guān)鍵要點(diǎn)和普遍性的更新趨勢(shì)，這或許能間接幫助理解其相對(duì)于以往或其他同類標(biāo)準(zhǔn)可能包含的改進(jìn)之處。

該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容可能涉及以下幾個(gè)方面的規(guī)范：

  1. 樣品取樣技術(shù)：規(guī)定了如何從金屬或合金材料中選取具有代表性的樣品，包括避免材料不均勻性對(duì)分析結(jié)果的影響，以及如何減少取樣過(guò)程中的污染。

  2. 樣品預(yù)處理：詳細(xì)說(shuō)明了樣品在分析前需要進(jìn)行的清潔、切割、鑲嵌、磨光和拋光等步驟，確保樣品表面適合電子探針分析，減少表面污染和形貌對(duì)分析結(jié)果的干擾。

  3. 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的應(yīng)用：可能包括了使用已知成分的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行儀器校準(zhǔn)和分析質(zhì)量控制的方法，確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確度和可比性。

  4. 分析條件的設(shè)定：提供了選擇合適的電子探針操作參數(shù)（如加速電壓、束流強(qiáng)度）的指導(dǎo)原則，以優(yōu)化分析性能并減小誤差來(lái)源。

  5. 數(shù)據(jù)處理與解釋：可能闡述了如何處理電子探針分析得到的數(shù)據(jù)，包括背景扣除、定量計(jì)算方法以及如何評(píng)估和報(bào)告不確定度。

若要明確該標(biāo)準(zhǔn)相較于某一特定前版或其他標(biāo)準(zhǔn)的具體變更，通常需要直接對(duì)比兩個(gè)版本的條文內(nèi)容，觀察在樣品制備的技術(shù)細(xì)節(jié)、分析方法的更新、質(zhì)量控制要求或是數(shù)據(jù)分析處理等方面的差異。例如，新版本可能會(huì)引入更先進(jìn)的樣品處理技術(shù)、更嚴(yán)格的精度控制要求或是適應(yīng)新型電子探針儀器的功能調(diào)整等。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1998-05-08 頒布
  • 1998-12-01 實(shí)施
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TcS.37.020133中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17365-—1998金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法Methodofpreparationforsamplesofmetalandalloyinelectronprobemicroanalysis1998-05-08發(fā)布1998-12-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17365-1998前言該標(biāo)準(zhǔn)無(wú)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn).為首次制定的我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn).本標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬與合金類電子探針定量分析的樣品制備。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由治金部鋼鐵研究總院和中科院金屬所負(fù)責(zé)起草本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：毛允靜、徐樂英

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)金屬與合金電子探針定量分析樣品的GB/T17365-1998制備方法Methodofpreparationforsamplesofmetalandalloyinelectronprobemicroanalysis花圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于電子探針分析的金屬與合金塊狀樣品的制備方法。適用于電子探針或掃描電鏡定量分析用的標(biāo)準(zhǔn)樣品和試樣本標(biāo)準(zhǔn)不包括顆粒度小于52m或厚度小于4m的試樣2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂.使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性GB/T4930—93電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件GB/T15074—94電子探針定量分析方法通則GB4296—84鎂合金加工制品顯微組織檢驗(yàn)方法3儀器設(shè)備和材料37試樣切割設(shè)備、3.2樣機(jī)。3.3金相拋磨機(jī)3.4金相顯微鏡。3.5超超聲波清洗器、3.6天平。3.7酒精燈·柑媧3.8烘箱。3.9鑲嵌材料、3.10研磨材料。3.11導(dǎo)電膠，雙面導(dǎo)電膠帶4樣品要求樣品與樣品座之間導(dǎo)電良好.樣品表面平整光滑.無(wú)污染·導(dǎo)電良好。在分析區(qū)域內(nèi)無(wú)劃痕.無(wú)孔洞.5樣品制備方法5.1樣品制備的主要步驛5.1.1切割樣品：對(duì)大塊樣品將其切割成適合所用儀器的樣品座尺寸。對(duì)

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