GB/T 17626.2-2018電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

ICS3310020

L06..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T176262—2018/IEC61000-4-22008

.代替:

GB/T17626.2—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurementtechniques—

Electrostaticdischargeimmunitytest

[IEC61000-4-2:2008,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-2:

Testingandmeasurementtechniques—Electrostaticdischargeimmunity

test,IDT]

2018-06-07發(fā)布2019-01-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T176262—2018/IEC61000-4-22008

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

概述

4………………………3

試驗(yàn)等級

5…………………3

試驗(yàn)發(fā)生器

6………………4

概述

6.1…………………4

靜電放電發(fā)生器的特性

6.2……………5

布置的驗(yàn)證

6.3ESD……………………7

試驗(yàn)布置

7…………………8

試驗(yàn)設(shè)備

7.1……………8

實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)的布置

7.2…………………8

安裝后試驗(yàn)的布置

7.3…………………12

試驗(yàn)程序

8…………………14

實(shí)驗(yàn)室的參考條件

8.1…………………14

受試設(shè)備的考核

8.2……………………14

試驗(yàn)的實(shí)施

8.3…………………………14

試驗(yàn)結(jié)果的評價(jià)

9…………………………16

試驗(yàn)報(bào)告

10………………17

附錄資料性附錄說明

A()………………18

附錄規(guī)范性附錄電流測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)和放電電流測量

B()…………22

附錄資料性附錄滿足附件要求的校準(zhǔn)靶實(shí)例

C()B…………………27

附錄資料性附錄人體金屬放電和靜電放電發(fā)生器產(chǎn)生的輻射場

D()………………32

附錄資料性附錄測量不確定度的考慮

E()(MU)……………………40

附錄資料性附錄試驗(yàn)結(jié)果的變化和調(diào)整策略

F()……………………46

參考文獻(xiàn)

……………………47

GB/T176262—2018/IEC61000-4-22008

.:

前言

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)目前包括以下部分

GB/T17626《》:

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論

———GB/T17626.1—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.2—2018;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.3—2016;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.4—2018;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.5—2008();

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.6—2017;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測量和

———GB/T17626.7—2008、

測量儀器導(dǎo)則

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.8—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.9—2011;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.10—2017;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度

———GB/T17626.11—2008、

試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.12—2013;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信號的

———GB/T17626.13—2006、

低頻抗擾度試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.14—2005;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范

———GB/T17626.15—2011;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz

試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.17—2005;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.18—2016;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾

———GB/T17626.20—2014(TEM)

度試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法

———GB/T17626.21—2014;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度

———GB/T17626.22—2017

測量

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)

———GB/T17626.24—2012HEMP

方法

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.27—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)

———GB/T17626.28—2006;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時(shí)中斷和

———GB/T17626.29—2006、

電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電能質(zhì)量測量方法

———GB/T17626.30—2012;

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的

———GB/T17626.34—201216A

電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)

、。

本部分為的第部分

GB/T176262。

Ⅰ

GB/T176262—2018/IEC61000-4-22008

.:

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2—2006《》。

與相比主要技術(shù)變化如下

GB/T17626.2—2006,:

范圍中增加了校準(zhǔn)程序和測量不確定度

———;

增加了術(shù)語校準(zhǔn)符合性測試上升時(shí)間驗(yàn)證

———:、、、;

第章試驗(yàn)等級描述進(jìn)行了修改

———5;

試驗(yàn)發(fā)生器中增加了充電開關(guān)

———;

修改了靜電放電發(fā)生器簡圖

———;

增加了靜電放電發(fā)生器的特性見

———(6.2);

增加了布置的驗(yàn)證見

———ESD(6.3);

增加了見附錄

———A.8(A);

修改了附錄為電流測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)和放電電流測量

———B;

增加了附錄滿足附錄要求的電流靶實(shí)例

———C,B;

增加了附錄人的金屬放電和靜電放電發(fā)生器產(chǎn)生的輻射場

———D,;

增加了附錄測量不確定度的考慮

———E,(MU);

增加了附錄試驗(yàn)結(jié)果的變化和調(diào)整策略

———F,。

本部分使用翻譯法等同采用電磁兼容第部分試驗(yàn)和測量技術(shù)

IEC61000-4-2:2008《(EMC)4-2:

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

》。

與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下

:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分總則

———GB/T2421—20081:(IEC60068-1:1988,IDT)。

本部分做了下列編輯性修改

:

為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)系列一致本部分名稱改為電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度

———,《

試驗(yàn)

》。

本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC246)。

本部分起草單位上海工業(yè)自動化儀表研究院有限公司上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院上海電器科

:、、

學(xué)研究院北京東方計(jì)量測試研究所陸軍工程大學(xué)上海儀器儀表自控系統(tǒng)檢驗(yàn)測試所有限公司

、、、。

本部分主要起草人王英俞磊龔增宋江偉季啟政劉志宏胡小鋒原青云張翼翔翁海豐

:、、、、、、、、、、

楊鍇

。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本的發(fā)布情況為

:

———GB/T17626.2—2006。

Ⅱ

GB/T176262—2018/IEC61000-4-22008

.:

電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

1范圍

的本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備遭受直接來自操作者及其操作者對鄰近物體的靜電

GB/T17626

放電時(shí)的抗擾度要求和試驗(yàn)方法還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗(yàn)等級的范圍和試驗(yàn)程序

,。

本部分的目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)以評估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時(shí)的性能

,。

此外它還包括從人體到靠近關(guān)鍵設(shè)備的物體之間可能發(fā)生的靜電放電

,。

本部分的規(guī)定包括

:

放電電流的典型波形

———;

試驗(yàn)等級的范圍

———;

試驗(yàn)設(shè)備

———;

試驗(yàn)配置

———;

試驗(yàn)程序

———;

校準(zhǔn)程序

———;

測量不確定度

———。

本部分對實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)和設(shè)備安裝完成后的試驗(yàn)提出了技術(shù)要求

“”“”。

本部分不對特殊設(shè)備和系統(tǒng)的試驗(yàn)進(jìn)行規(guī)定其主要目的是為所有有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提

。

供一個(gè)通用的基本準(zhǔn)則有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會或設(shè)備的使用者和制造者負(fù)責(zé)選擇試驗(yàn)和確定

。