GB/T 17626.2-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗

ICS33.100.20L06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001代替GB/T17626.2-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗ElectromagneticcompatibilityTestingandmeasurementtechniques-Electrostaticdischargeimmunitytest(IEC61000-4-2:2001,Electromagneticcompatibility（EMC)-Part4-2：TestingandmeasurementtechniquesElectrostaticdischargeimmunitytest,IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2：2001二前言范圍2規(guī)范性引用文件3概述4術(shù)語和定義5試驗等級6試驗發(fā)生器7試驗配置8試驗程序9過驗結(jié)果的評價10試驗報告………附錄A(資料性附錄)說明附錄B(資料性附錄）元件的詳細(xì)結(jié)構(gòu)圖1靜電放電發(fā)生器簡圖圖2驗證靜電放電發(fā)生器特性的布置實例10圖3靜電放電發(fā)生器輸出電流的典型波形11圖4靜電放電發(fā)生器的放電電極11圖5實驗室試驗時，臺式設(shè)備試驗布置的實例12圖6實驗室試驗時.落地式設(shè)備試驗布置的實例18在安裝后的試驗中，落地式設(shè)備試驗布置的實例圖7不接地臺式設(shè)備的試驗布置圖8不接地落地式設(shè)備的試驗布置圖9圖A.1與A.2所提到的材料接觸時，可能對操作人員充電靜電電壓的最大值圖B.1阻性負(fù)載的結(jié)構(gòu)圖圖B.2圖B.3圖B.4圖B.5圖B.624圖B.724表1試試驗等級表2波形參數(shù)表A.1試驗等級選擇的導(dǎo)則17

GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001前GB/T17626《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》系列標(biāo)準(zhǔn)目前包括以下部分：GB/T17626.1—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論GB/T17626.2—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗抗度試驗GB/T17626.3—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗GB/T17626.4—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.5—1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗GB/T17626.6-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)：射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)：供電系統(tǒng)及相連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則GB/T17626.8-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)、工頻磁場抗擾度試驗GB/T17626.9—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗GB/T17626.10—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗GB/T17626.11—1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)：電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗電磁兼容：試驗和測量技術(shù)GB/T17626.12-1998振蕩波抗擾度試驗GB/T17626.13-2006試驗和測量技術(shù)電磁兼容交流電源端口譜波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗GB/T17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗GB/T17626.17-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗GB/T17626.27-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗GB/T17626.28-2006電磁兼容：試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗GB/T17626.29-2006電磁兼容武驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗本部分為GB/T17626的第2部分本部分等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2:2001(第1.2版）本部分從實施之日起,替代GB/T17626.2—1998《電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗》。本部分與GB/T17626.2—1998的主要差異如下：1）修改了不接地的設(shè)備的試驗方法。2修改了對受試設(shè)備直接施加放電的方法。修改了對水平幫合板施加放電的方法。4修改了試驗結(jié)果的評價方法5修改了試驗報告的要求。6)修改了圖5對水平幫合板（HCP)間接放電的典型位置7）增加了圖8和圖9。本部分的附錄A和附錄B均為資料性的附錄本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本部分負(fù)責(zé)起草單位：上海工業(yè)自動化儀表研究所、上海電器科學(xué)研究所(集團(tuán))有限公司本部分主要起草人：王英、洪濟(jì)畔、壽建霞、楊彥。

GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗范圍GB/T17626的本部分規(guī)定電氣和電子設(shè)備遭受直接來自操作者和對鄰近物體的靜電放電時的抗猶度要求和試驗方法，還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗等級的范圍和試驗程序。本部分的目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時的性能此外,它還包括從人體到靠近關(guān)鍵設(shè)備的物體之間可能發(fā)生的靜電放電。本部分的規(guī)定包括：放放電電流的典型波形：式試驗等級的范圍；試驗設(shè)備：試驗配置：試驗程序本部分對"實驗室”試驗和"設(shè)備安裝完成后的試驗”提出了技術(shù)要求本部分不對特殊設(shè)備和系統(tǒng)的試驗進(jìn)行規(guī)定。其主要目的是為所有有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供一個通用的基本準(zhǔn)則。有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(或設(shè)備的使用者和制造者)負(fù)責(zé)選擇試驗和確定試驗條件的嚴(yán)酷等級。為了不妨礙協(xié)調(diào)和標(biāo)準(zhǔn)化的任務(wù).極力建議有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會或用戶和制造商考慮（在其未來的工作或原標(biāo)準(zhǔn)的修改中)采用本部分中規(guī)定的相關(guān)抗擾度試驗。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17626的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T4365-2003電工術(shù)語電磁兼容(IEC60050(161):1990,IDT)GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988)概述本部分所涉及的是處于靜電放電環(huán)境中和安裝條件下的裝置、系統(tǒng)、子系統(tǒng)和外部設(shè)備，例如,低相對濕度，使用低導(dǎo)電率(人造纖維)地毯、乙烯基服裝等.這種情況存在于同電氣和電子設(shè)備有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的分類規(guī)定中(詳細(xì)情況見附錄A的A.1)。本部分規(guī)定的試驗被認(rèn)為是對第1章提到的所有電氣與電子設(shè)備性能質(zhì)量評估進(jìn)行統(tǒng)一試驗的方向上邁出的第一步。注：從技術(shù)觀點上看·這些現(xiàn)象的精確英語術(shù)語應(yīng)是"staticdlectricitydischarge"(靜電放電）但是，在技術(shù)