GB/T 17626.2-2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

ICS33.100.20L06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001代替GB/T17626.2-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)ElectromagneticcompatibilityTestingandmeasurementtechniques-Electrostaticdischargeimmunitytest(IEC61000-4-2:2001,Electromagneticcompatibility（EMC)-Part4-2：TestingandmeasurementtechniquesElectrostaticdischargeimmunitytest,IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2：2001二前言范圍2規(guī)范性引用文件3概述4術(shù)語和定義5試驗(yàn)等級(jí)6試驗(yàn)發(fā)生器7試驗(yàn)配置8試驗(yàn)程序9過驗(yàn)結(jié)果的評(píng)價(jià)10試驗(yàn)報(bào)告………附錄A(資料性附錄)說明附錄B(資料性附錄）元件的詳細(xì)結(jié)構(gòu)圖1靜電放電發(fā)生器簡(jiǎn)圖圖2驗(yàn)證靜電放電發(fā)生器特性的布置實(shí)例10圖3靜電放電發(fā)生器輸出電流的典型波形11圖4靜電放電發(fā)生器的放電電極11圖5實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)時(shí)，臺(tái)式設(shè)備試驗(yàn)布置的實(shí)例12圖6實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)時(shí).落地式設(shè)備試驗(yàn)布置的實(shí)例18在安裝后的試驗(yàn)中，落地式設(shè)備試驗(yàn)布置的實(shí)例圖7不接地臺(tái)式設(shè)備的試驗(yàn)布置圖8不接地落地式設(shè)備的試驗(yàn)布置圖9圖A.1與A.2所提到的材料接觸時(shí)，可能對(duì)操作人員充電靜電電壓的最大值圖B.1阻性負(fù)載的結(jié)構(gòu)圖圖B.2圖B.3圖B.4圖B.5圖B.624圖B.724表1試試驗(yàn)等級(jí)表2波形參數(shù)表A.1試驗(yàn)等級(jí)選擇的導(dǎo)則17

GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001前GB/T17626《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》系列標(biāo)準(zhǔn)目前包括以下部分：GB/T17626.1—2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論GB/T17626.2—2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗抗度試驗(yàn)GB/T17626.3—2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.5—1999電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.6-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)：射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)：供電系統(tǒng)及相連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則GB/T17626.8-2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)、工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.9—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.10—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.11—1999電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)：電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)電磁兼容：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)GB/T17626.12-1998振蕩波抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.13-2006試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電磁兼容交流電源端口譜波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.14-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.17-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.27-2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.28-2006電磁兼容：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.29-2006電磁兼容武驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)本部分為GB/T17626的第2部分本部分等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2:2001(第1.2版）本部分從實(shí)施之日起,替代GB/T17626.2—1998《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)》。本部分與GB/T17626.2—1998的主要差異如下：1）修改了不接地的設(shè)備的試驗(yàn)方法。2修改了對(duì)受試設(shè)備直接施加放電的方法。修改了對(duì)水平幫合板施加放電的方法。4修改了試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)價(jià)方法5修改了試驗(yàn)報(bào)告的要求。6)修改了圖5對(duì)水平幫合板（HCP)間接放電的典型位置7）增加了圖8和圖9。本部分的附錄A和附錄B均為資料性的附錄本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本部分負(fù)責(zé)起草單位：上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所、上海電器科學(xué)研究所(集團(tuán))有限公司本部分主要起草人：王英、洪濟(jì)畔、壽建霞、楊彥。

GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)范圍GB/T17626的本部分規(guī)定電氣和電子設(shè)備遭受直接來自操作者和對(duì)鄰近物體的靜電放電時(shí)的抗猶度要求和試驗(yàn)方法，還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗(yàn)等級(jí)的范圍和試驗(yàn)程序。本部分的目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評(píng)估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時(shí)的性能此外,它還包括從人體到靠近關(guān)鍵設(shè)備的物體之間可能發(fā)生的靜電放電。本部分的規(guī)定包括：放放電電流的典型波形：式試驗(yàn)等級(jí)的范圍；試驗(yàn)設(shè)備：試驗(yàn)配置：試驗(yàn)程序本部分對(duì)"實(shí)驗(yàn)室”試驗(yàn)和"設(shè)備安裝完成后的試驗(yàn)”提出了技術(shù)要求本部分不對(duì)特殊設(shè)備和系統(tǒng)的試驗(yàn)進(jìn)行規(guī)定。其主要目的是為所有有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提供一個(gè)通用的基本準(zhǔn)則。有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(或設(shè)備的使用者和制造者)負(fù)責(zé)選擇試驗(yàn)和確定試驗(yàn)條件的嚴(yán)酷等級(jí)。為了不妨礙協(xié)調(diào)和標(biāo)準(zhǔn)化的任務(wù).極力建議有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)或用戶和制造商考慮（在其未來的工作或原標(biāo)準(zhǔn)的修改中)采用本部分中規(guī)定的相關(guān)抗擾度試驗(yàn)。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17626的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T4365-2003電工術(shù)語電磁兼容(IEC60050(161):1990,IDT)GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988)概述本部分所涉及的是處于靜電放電環(huán)境中和安裝條件下的裝置、系統(tǒng)、子系統(tǒng)和外部設(shè)備，例如,低相對(duì)濕度，使用低導(dǎo)電率(人造纖維)地毯、乙烯基服裝等.這種情況存在于同電氣和電子設(shè)備有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的分類規(guī)定中(詳細(xì)情況見附錄A的A.1)。本部分規(guī)定的試驗(yàn)被認(rèn)為是對(duì)第1章提到的所有電氣與電子設(shè)備性能質(zhì)量評(píng)估進(jìn)行統(tǒng)一試驗(yàn)的方向上邁出的第一步。注：從技術(shù)觀點(diǎn)上看·這些現(xiàn)象的精確英語術(shù)語應(yīng)是"staticdlectricitydischarge"(靜電放電）但是，在技術(shù)