GB/T 17626.29-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗

ICS33.100.20L06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.29—2006/IEC61000-4-29:2000電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗Electromagneticcompatibility-Testingandmeasurementtechniques-Voltagedips.shortinterruptionsandvoltagevariationsond.c.inputpowerportimmunitytests(IEC61000-4-29:2000Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4-29:TestingandmeasurementtechniquesVoltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsond.c.inputpowerportimmunitytests,IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17626.29-2006/IEC61000-4-29：2000二前言范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4概述5試驗等級6試驗發(fā)生器7試驗布置8試驗程序9試驗結(jié)果和試驗報告附錄A(資料性附錄）試驗發(fā)生器和布置示例附錄B(規(guī)范性附錄）沖擊電流測量…B.1試驗發(fā)生器峰值沖擊電流驅(qū)動能力B.2EUT峰值沖擊電流表1a）電壓暫降優(yōu)先采用的試驗等級和持續(xù)時間表1b）短時中斷優(yōu)先采用的試驗等級和持續(xù)時間表1c）電壓變化優(yōu)先采用的試驗等級和持續(xù)時間圖A.1基于帶有內(nèi)部開關(guān)的兩個電源的試驗發(fā)生器示例圖A.2基于可編程的電源的試驗發(fā)生器示例圖B.1測量發(fā)生器峰值沖擊電流驅(qū)動能力的電路·圖B.2測量EUT峰值沖擊電流的電路

GB/T17626.29-2006/IEC61000-4-29：2000前GB/T17626《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》系列標(biāo)準(zhǔn)包括以下部分GB/T17626.1-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論GB/T17626.2—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗GB/T17626.3—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場抗擾度試驗GB/T17626.4-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.5-1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌（沖擊)抗擾度試驗GB/T17626.6-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗GB/T17626.7—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及相連設(shè)備的諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則GB/T17626.8—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗GB/T17626.9-1998電磁兼客試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗GB/T17626.10—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗GB/T17626.11-1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗GB/T17626.13-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波、譜間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗GB/T17626.14-2005電磁兼容：試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗GB/T17626.17-2005電磁兼容：試驗和測量技術(shù)直流電源輸人端口紋波抗擾度試驗GB/T17626.27-2006日：試驗和測量技術(shù)電磁兼容三相電壓不平衡抗擾度試驗GB/T17626.28-2006電磁兼容：試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗GB/T17626.29-2006試驗和測量技術(shù)電磁兼容直流電源輸人端口電壓酒降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗本部分為GB/T17626的第29部分。本部分等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-29:2000《電磁兼容第4部分：試驗和測量技術(shù)第29分部分：直流電源輸入端口電壓跌落、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗》。由于直流供電設(shè)備類型繁多.為了保證其正常工作.需要在電壓跌落、短時中斷和電壓變化的情況下，試驗其抗擾度特性，并將其作為抗擾度試驗中的一個基礎(chǔ)試驗項目。進一步完善了GB/T17626抗擾度系列標(biāo)準(zhǔn)，使得直流電源的電壓暫降和短時中斷試驗有相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)可依。同時為通用標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品族標(biāo)準(zhǔn)中增加制訂相關(guān)測試項目提供依據(jù)。本部分的附錄A為資料性附錄·附錄B為規(guī)范性附錄。本部分由信息產(chǎn)業(yè)部電信研究院提出。本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本部分主要起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部通信計量中心、武漢高壓研究所、上海電器科學(xué)研究所（集團)有限公司。本部分主要起草人：肖需、宋崇汶、警曉剛、郎維川、樓鼎夫本部分委托信息產(chǎn)業(yè)部通信計量中心負(fù)責(zé)解釋。

GB/T17626.29-2006/EC61000-4-29:2000電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗1范圍GB/T17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設(shè)備的直流電源輸入端口對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗方法。本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡(luò)供電的設(shè)備的低電壓直流電源端口本部分的目的是建立一種評價直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓智降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用準(zhǔn)則本部分規(guī)定了：-試驗等級的范圍：式驗發(fā)生器；試驗布置：試驗程序本部分的試驗適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)。.。如果EUT(受試設(shè)備)的額定功率大于第6章要求的試驗發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中,它們包括在GB/T17626.17—2005中本部分不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對有關(guān)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供通用的和基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)委會(或用戶和設(shè)備制造商)仍有責(zé)任選擇適合其設(shè)備的試驗和嚴(yán)酷度等級。！規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17626的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分GB/T4365電工術(shù)語電磁兼容(GB/T4365-2003.EC60050(161)：1990,IDT)GB/T17626.11電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗（GB/T17626.11-1999.idtIEC61000-4-11:1994)3術(shù)語和定義GB/T4365確立的以及下列術(shù)語和定義