標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 30854-2014 LED發(fā)光用氮化鎵基外延片》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),主要針對(duì)用于制造LED發(fā)光器件的氮化鎵基外延片的技術(shù)要求、測(cè)試方法以及質(zhì)量控制等方面進(jìn)行了規(guī)定。該標(biāo)準(zhǔn)適用于以藍(lán)寶石、硅、碳化硅等作為襯底材料生長(zhǎng)的氮化鎵基外延片。
根據(jù)文檔內(nèi)容,首先定義了術(shù)語(yǔ)和定義部分,明確了如“外延層”、“緩沖層”等專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)的確切含義,為后續(xù)章節(jié)的理解奠定了基礎(chǔ)。接著,在技術(shù)要求章節(jié)中詳細(xì)列出了關(guān)于外延片的關(guān)鍵參數(shù)指標(biāo),包括但不限于厚度均勻性、表面粗糙度、晶體缺陷密度(比如位錯(cuò)密度)等物理特性;同時(shí)對(duì)于光學(xué)性能也有具體要求,例如光致發(fā)光譜線寬度、主波長(zhǎng)位置等。這些指標(biāo)直接關(guān)系到最終制成的LED產(chǎn)品的光電轉(zhuǎn)換效率及可靠性。
在檢驗(yàn)規(guī)則方面,《GB/T 30854-2014》規(guī)定了抽樣方案、合格判定條件等內(nèi)容,并且給出了詳細(xì)的測(cè)試方法說(shuō)明,涵蓋了從樣品準(zhǔn)備到結(jié)果分析整個(gè)過(guò)程的操作指南。此外,還特別強(qiáng)調(diào)了包裝、標(biāo)志與貯存方面的注意事項(xiàng),確保產(chǎn)品在運(yùn)輸及儲(chǔ)存過(guò)程中能夠保持良好的狀態(tài)。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2014-07-24 頒布
- 2015-04-01 實(shí)施



文檔簡(jiǎn)介
ICS29045
H83.
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T30854—2014
LED發(fā)光用氮化鎵基外延片
GalliumnitridebasedepitaxiallayerforLEDlighting
2014-07-24發(fā)布2015-04-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T30854—2014
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)及材料分技術(shù)委員會(huì)
(SAC/TC203)(SAC/TC
共同提出并歸口
203/SC2)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人魏學(xué)成趙麗霞王軍喜曾一平李晉閩提劉旺
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T30854—2014
LED發(fā)光用氮化鎵基外延片
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了發(fā)光用氮化鎵基外延片以下簡(jiǎn)稱(chēng)外延片的要求檢驗(yàn)方法和規(guī)則以及標(biāo)志
LED()、、
包裝運(yùn)輸儲(chǔ)存質(zhì)量證明書(shū)與訂貨單或合同內(nèi)容
、、、()。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于發(fā)光用氮化鎵基外延片
LED。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志
GB/T191
計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃
GB/T2828.11:(AQL)
非本征半導(dǎo)體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測(cè)量方法
GB/T4326
硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法
GB/T6618
硅片彎曲度測(cè)試方法
GB/T6619
硅片翹曲度非接觸式測(cè)試方法
GB/T6620
硅及其他電子材料晶片參考面長(zhǎng)度測(cè)量方法
GB/T13387
硅片直徑測(cè)量方法
GB/T14140
硅外延層晶體完整性檢驗(yàn)方法腐蝕法
GB/T14142
半導(dǎo)體材料術(shù)語(yǔ)
GB/T14264
半導(dǎo)體材料牌號(hào)表示方法
GB/T14844
半導(dǎo)體二極管芯片測(cè)試方法
SJ/T11399
3術(shù)語(yǔ)和定義
界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
GB/T14264。
4要求
41分類(lèi)
.
外延片包括全結(jié)構(gòu)外延片和按導(dǎo)電類(lèi)型分為型和型兩種類(lèi)型的單層氮化鎵外延片外延
LEDnp(
厚度超過(guò)通常稱(chēng)為氮化鎵單晶
100μm)。
42牌號(hào)
.
外延片牌號(hào)表示按照的規(guī)定
GB/T14844。
43規(guī)格
.
外延片直徑主要分為ΦΦΦΦ種規(guī)格或由供需雙方商定
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