標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 35003-2018 非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法》是一項國家標(biāo)準(zhǔn)，主要針對非易失性存儲器（如閃存等）在不同條件下的性能測試提供了具體的方法指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評估非易失性存儲器的使用壽命及其數(shù)據(jù)保持能力。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容，首先明確了術(shù)語定義，包括但不限于非易失性存儲器、耐久性測試、數(shù)據(jù)保持測試等相關(guān)概念。接著，對測試環(huán)境進行了規(guī)定，要求在特定溫度范圍內(nèi)以及指定的工作條件下進行測試，以確保結(jié)果的有效性和可比性。

對于耐久性測試部分，標(biāo)準(zhǔn)詳細描述了如何通過循環(huán)寫入/擦除操作來模擬實際使用情況，并監(jiān)測在此過程中存儲器性能的變化，直至達到預(yù)設(shè)的最大允許錯誤率或完全失效為止。這一過程旨在量化非易失性存儲器能夠承受的最大編程/擦除次數(shù)。

關(guān)于數(shù)據(jù)保持能力的測試，則是通過對已知數(shù)據(jù)模式的存儲介質(zhì)施加長時間的老化處理后，檢查其能否正確讀取這些信息來進行評估。這里涉及到的數(shù)據(jù)保留時間通常遠超正常預(yù)期的服務(wù)壽命，目的是驗證即使經(jīng)過極端條件下的長期存放，存儲器仍能可靠地保存數(shù)據(jù)。


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....

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  • 2018-03-15 頒布
  • 2018-08-01 實施
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GB/T 35003-2018非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法_第1頁
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文檔簡介

ICS31200

L56.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T35003—2018

非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法

Testmethodsforenduranceanddataretentionofnon-volatilememory

2018-03-15發(fā)布2018-08-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T35003—2018

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC78)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院上海復(fù)旦微電子集團股份有限公司中國電子科技

:、、

集團公司第五十八研究所北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司深圳國微電子有限公司成都華微電子科

、、、

技有限公司

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人羅曉羽董藝郭曉宇高碩劉妙謝休華

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T35003—2018

非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗的方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于電可擦除可編程只讀存儲器快閃存儲器以及內(nèi)嵌上述存儲器

(EEPROM)、(Flash)

的集成電路以下簡稱器件

()。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

半導(dǎo)體器件集成電路第部分?jǐn)?shù)字集成電路

GB/T17574—19982:

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T17574—1998。

31

.

耐久endurance

器件經(jīng)受連續(xù)多次數(shù)據(jù)重寫編程擦除循環(huán)的能力

(/)。

32

.

數(shù)據(jù)保持dataretention

在規(guī)定的時間內(nèi)器件存儲單元在非偏置狀態(tài)下保持?jǐn)?shù)據(jù)的能力

,。

4設(shè)備

溫度試驗箱可以將溫度穩(wěn)定在規(guī)定溫度的之內(nèi)

±3℃。

夾具應(yīng)可放入溫度試驗箱中并提供可靠的電連接

,。

5程序

51通則

.

器件耐久和數(shù)據(jù)保持試驗應(yīng)按表規(guī)定的程序進行

1。

如數(shù)據(jù)保持試驗的目的是驗證器件在未經(jīng)過耐久試驗時的數(shù)據(jù)保持能力則采用程序如果數(shù)

,Ⅰ。

據(jù)保持試驗的目的是驗證器件經(jīng)過耐久試驗后的數(shù)據(jù)保持能力則采用程序

,Ⅱ。

表1耐久和數(shù)據(jù)保持試驗程序

程序要求

耐久試驗和數(shù)據(jù)保持試驗采用不

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