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文檔簡介

PECVD部門:生產(chǎn)技術(shù)部PECVD的介紹PECVD:PlasmaEnhanceChemicalVapourDeposition等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積等離子體:由于物質(zhì)分子熱運(yùn)動加劇,相互間的碰撞就會使氣體分子產(chǎn)生電離,這樣物質(zhì)就會變成自由運(yùn)動并由相互作用的正離子、電子和中性粒子組成的混合物。PECVD的目的在太陽電池表面沉積深藍(lán)色減反膜-SiN膜。減少光的反射,增加電池對光線的吸收。對電池的正表面進(jìn)行H鈍化對電池正表面進(jìn)行保護(hù),防止氧化SiNx:HSiNx:H介紹正常的SiNx的Si/N之比為0.75,即Si3N4。但是PECVD沉積氮化硅的化學(xué)計(jì)量比會隨工藝不同而變化,Si/N變化的范圍在0.75-2左右。除了Si和N,PECVD的氮化硅一般還包含一定比例的氫原子,即SixNyHz或SiNx:HSi/N比對SiNx薄膜性質(zhì)的影響1.電阻率隨x增加而降低2.折射率n隨x增加而增加3.腐蝕速率隨密度增加而降低PECVD的鈍化作用由于太陽電池級硅材料中不可避免的含有大量的雜質(zhì)和缺陷,導(dǎo)致硅中少子壽命及擴(kuò)散長度降低從而影響電池的轉(zhuǎn)換效率。H的鈍化機(jī)理:主要原因是:H能與硅中的缺陷或雜質(zhì)進(jìn)行反應(yīng),從而將禁帶中的能帶轉(zhuǎn)入價帶或者導(dǎo)帶。PECVD的鈍化作用鈍化太陽電池的受光面鈍化膜(介質(zhì))的主要作用是保護(hù)半導(dǎo)體器件表面不受污染物質(zhì)的影響,半導(dǎo)體表面鈍化可降低半導(dǎo)體表面態(tài)密度。鈍化太陽電池的體內(nèi)在SiN減反射膜中存在大量的H,在燒結(jié)過程中會鈍化晶體內(nèi)部懸掛鍵。PECVD對電性能影響1.減反射膜提高了對太陽光的利用率,有助于提高光生電流密度,起到提高電流進(jìn)而提高轉(zhuǎn)換效率的作用。2.薄膜中的氫對電池的表面鈍化降低了發(fā)射結(jié)的表面復(fù)合速率,減小了暗電流,提升了開路電壓,從而提高了光電轉(zhuǎn)換效率;在燒穿工藝中的高溫瞬時退火斷裂了一些Si-H、N-H鍵,游離出來的H進(jìn)一步加強(qiáng)了對電池的鈍化。PECVD:直接式PECVD:間接式間接PECVD的特點(diǎn):在微波激發(fā)等離子的設(shè)備里,等離子產(chǎn)生在反應(yīng)腔之外,然后由石英管導(dǎo)入反應(yīng)腔中。在這種設(shè)備里微波只激發(fā)NH3,而SiH4直接進(jìn)入反應(yīng)腔。間接PECVD的沉積速率比直接的要高很多,這對大規(guī)模生產(chǎn)尤其重要。PECVD的工藝原理通入的特氣(硅烷和氨氣)在高溫和微波源的激發(fā)下電離,形成等離子態(tài),并沉積在硅片的表面。膜的厚度主要與溫度,腔體內(nèi)微波源的功率和鍍膜時間有關(guān)。反應(yīng)室通入反應(yīng)氣體硅烷SiH4

氨氣NH3在微波源的激發(fā)下電離形成等離子態(tài)SiNx:H沉積在硅片上等離子體產(chǎn)生圖例SixNyHz的形成過程PECVD特氣的性質(zhì)(1)氨氣(NH3):是一種刺激性、無色、氣體。氨氣會嚴(yán)重灼傷眼、皮膚及呼吸道。當(dāng)它在空氣中的濃度超過15%時有立即造成火災(zāi)及爆炸的危險。暴露在氨氣中會對眼睛造成中度到重度的刺激。氨氣強(qiáng)烈地刺激鼻子、喉嚨和肺。癥狀包括灼傷感、咳嗽、喘息加重、氣短、頭痛及惡心。過度暴露會影響中樞神經(jīng)系統(tǒng)并會造成痙攣和失去知覺。暴露在5000ppm下5分鐘會造成死亡。緊急救助眼睛接觸:用大量的水沖洗,立即進(jìn)行醫(yī)療處理。吸入:將人員移到空氣清新處,若呼吸困難,則輸氧,并迅速進(jìn)行醫(yī)務(wù)處理。皮膚接觸:用大量水沖洗,立即脫掉被污染的衣服,并立即進(jìn)行藥物處理。PECVD特氣的性質(zhì)(2)硅烷(SiH4):是一種無色、與空氣反應(yīng)并會引起窒息的氣體。硅烷與空氣接觸會引起燃燒。它的首要危害是引起嚴(yán)重的熱灼傷。嚴(yán)重時會致命。如沒有自燃會非常危險,不要靠近,不要試圖在切斷氣源之前滅火。硅烷會刺激眼睛,硅烷分解產(chǎn)生的無定型二氧化硅顆粒會引起眼睛刺激。吸入高濃度的硅烷會引起頭痛、惡心、頭暈并刺激上呼吸道。過度吸入會引起肺炎和腎病。硅烷會刺激皮膚、硅烷分解產(chǎn)生無定型二氧化硅顆粒會引起皮膚刺激。緊急救助眼睛接觸:應(yīng)立即用水沖洗至少15分鐘,水流不要太快,同時翻開眼瞼,立即尋求眼科處理;皮膚接觸:用大量的水清洗至少15分鐘,脫掉被污染的衣服,如果患者有持續(xù)的刺激感或其他影響需立即進(jìn)行醫(yī)療處理。吸入:盡快移到空氣清新處,如有必要須進(jìn)行輸氧或人工呼吸。PECVD的影響因素1.頻率射頻PECVD系統(tǒng)大都采用50kHz~13.56MHz的工業(yè)頻段射頻電源。較高頻率(>4MHz)沉積的氮化硅薄膜具有更好的鈍化效果和穩(wěn)定性。2.射頻功率增加RF功率通常會改善SiN膜的質(zhì)量。但是,功率密度不宜過大,超過1W/cm2時器件會造成嚴(yán)重的射頻損傷。3.襯底溫度PECVD膜的沉積溫度一般為250~400℃。這樣能保證氮化硅薄膜在HF中有足夠低的腐蝕速率,并有較低的本征壓力,從而有良好的熱穩(wěn)定性和抗裂能力。低于200℃下沉積的氮化硅膜,本征應(yīng)力很大且為張應(yīng)力,而溫度高于450℃時膜容易龜裂。PECVD的影響因素4.氣體流量影響氮化硅膜沉積速率的主要?dú)怏w是SiH4。為了防止富硅膜,選擇NH3/SiH4=2~20(體積比)。氣體總流量直接影響沉積的均勻性。為了防止反應(yīng)區(qū)下游反應(yīng)氣體因耗盡而降低沉積速率,通常采用較大的氣體總流量,以保證沉積的均勻性。5.反應(yīng)氣體濃度SiH4的百分比濃度及SiH4/NH3流量比,對沉積速率、氮化硅膜的組分及物化性質(zhì)均有重大影響。理想Si3N4的Si/N=0.75,而PECVD沉積的氮化硅的化學(xué)計(jì)量比會隨工藝不同而變化,但多為富硅膜,可寫成SiN。因此,必須控制氣體中的SiH4濃度,不宜過高,并采用較高的SiN比。除了Si和N外,PECVD的氮化硅一般還包含一定比例的氫原子,即SixNyHZ或SiNx:H。6.反應(yīng)壓力、和反應(yīng)室尺寸等都是影響氮化硅薄膜的性能工藝參數(shù)。PECVD設(shè)備設(shè)備結(jié)構(gòu)晶片裝載區(qū)爐體特氣柜真空系統(tǒng)控制系統(tǒng)PECVD設(shè)備結(jié)構(gòu)PECVD晶片裝載區(qū)槳、LIFT、抽風(fēng)系統(tǒng)、SLS系統(tǒng)。槳:由碳化硅材料制成,具有耐高溫、防變形等性能。作用是將石墨舟放入或取出石英管。LIFT:機(jī)械臂系統(tǒng),使舟在機(jī)械臂作用下在小車、槳、儲存區(qū)之間互相移動。抽風(fēng)系統(tǒng):位于晶片裝載區(qū)上方,初步的冷卻石墨舟和一定程度的過濾殘余氣體SLS系統(tǒng):軟著落系統(tǒng),控制槳的上下,移動范圍在2—3厘米PECVD爐體石英管、加熱系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)石英管:爐體內(nèi)有四根石英管,是鍍膜的作業(yè)區(qū)域,耐高溫、防反應(yīng)。加熱系統(tǒng):位于石英管外,有五個溫區(qū)。冷卻系統(tǒng):是一套封閉的循環(huán)水系統(tǒng),位于加熱系統(tǒng)的金屬外殼,四進(jìn)四出并有一個主管道,可適量調(diào)節(jié)流量大小。冷卻系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn):沒有消耗凈室空氣不同管間無熱干涉爐環(huán)境的溫度沒有被熱空氣所提升空氣運(yùn)動(通風(fēng)裝置)沒有使房間污染噪音水平低PECVD真空系統(tǒng)真空系統(tǒng)真空泵:每一根石英管配置一組泵,包括主泵和輔助泵。蝶閥:可以根據(jù)要求控制閥門的開關(guān)的大小,來調(diào)節(jié)管內(nèi)氣壓的PECVD控制系統(tǒng)控制系統(tǒng)CMI:是Centrotherm研發(fā)的一個控制系統(tǒng),其中界面包括Jobs(界面)、System(系統(tǒng))、Catalog(目錄)、Setup(軟件)、Alarms(報警)、Help(幫助).Jobs:機(jī)器的工作狀態(tài)。System:四根管子的工作狀態(tài),舟的狀態(tài)以及手動操作機(jī)器臂的內(nèi)容。Datalog:機(jī)器運(yùn)行的每一步。PECVD控制系統(tǒng)Setup:舟的資料的更改,工藝內(nèi)容的更改,使用權(quán)限的更改,LIFT位置的更改,CMS安區(qū)系統(tǒng)(安裝的感應(yīng)器將監(jiān)控重要系統(tǒng)的運(yùn)行情況,而一旦不受管的計(jì)算機(jī)的控制,CMS將會發(fā)生作用,所有的錯誤信息也都會在CIM上得以簡潔的文本方式顯示出來)的更改等。Alarms:警報內(nèi)容Help:簡要的說了一下解除警報以及其他方面的方法CESAR:控制電腦,每一個系統(tǒng)都安裝了CESAR控制電腦及CESAR控制軟件,此控制電腦獨(dú)立于主電腦系統(tǒng)中。PECVD控制系統(tǒng)示意圖PECVD電池片檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)看顏色是否合格(合格的顏色為深藍(lán),藍(lán)色,淡藍(lán))色差和水印不超過整體面積的1%鍍膜后的折射率在1.95—2.10,膜厚在80±5nm(生產(chǎn)過程中取每批次任意6片進(jìn)行折射率和膜厚的測定)27光學(xué)參數(shù)厚度的均勻性(nominal約70nm)同一硅片+/-5%同一片盒內(nèi)的硅片

+/-5%不同片盒內(nèi)的硅片+/-5%折射率(nom

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