GB/T 4967-1995電子計算器通用技術(shù)條件

DG681.31/.32L66中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4967-1995電子計算器通用技術(shù)條件Generalspecificationforelectroniccalculators1995-04-05發(fā)布1995-12-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4967-1995電子計算器通用技術(shù)條件代替GB4967—85Generalspeeificationforelectroniccalculators1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子計算器的通用技術(shù)條件，主要內(nèi)容包括：術(shù)語、產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及標(biāo)志、包裝、運輸、財存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子計算器(以下簡稱計算器）并作為制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的依據(jù)2引用標(biāo)準(zhǔn)GB191包裝儲運圖示標(biāo)志GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：GB2423.2高溫試驗方法GB2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ea：沖擊試驗方法GB2423.7電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ec；顧跌與翻倒試驗方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗FC：：振動(正弦)試驗方法GB2828逐批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)GB2829周期檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于生產(chǎn)過程穩(wěn)定性的檢查)GB4857.2運輸包裝件基本試驗溫濕度調(diào)節(jié)處理GB4857.5運輸包裝件基本試驗金垂直沖擊跌落試驗方法GB4943信息技術(shù)設(shè)備（包括電氣事務(wù)設(shè)備)的安全GB5080.7設(shè)備可靠性試驗第七部分恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案GB5271.14數(shù)據(jù)處理詞匯14部分可京性維修和可用性GB6833.2F電子測量儀器的電磁兼容性試驗規(guī)范磁場敏感度試驗GB6833.3電子測量儀器的電磁兼容性試驗規(guī)范靜電放電敏感度試驗電子測廿儀器的電磁兼容性試驗規(guī)范GB6833.4電源瞬態(tài)敏感度試驗GB6833.5F電子測量儀器的電磁兼容性試驗規(guī)范福射敏感度試驗GB6833.6電子測量儀器的電磁兼容性試驗規(guī)范傳導(dǎo)敏感度試驗GB9254信息技術(shù)設(shè)備的無線電干擾極限值和測量方法SJ/T9528電子計算器質(zhì)量分等標(biāo)準(zhǔn)3術(shù)語簡易型