標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5095.2505-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第25-5部分:試驗(yàn)25e:回波損耗》是針對(duì)電子設(shè)備中使用的機(jī)電元件進(jìn)行測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)之一,特別關(guān)注于這些元件在高頻信號(hào)傳輸過(guò)程中所表現(xiàn)出的回波損耗特性。該標(biāo)準(zhǔn)定義了如何對(duì)連接器等機(jī)電元件執(zhí)行回波損耗測(cè)試的方法和條件。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),回波損耗是指當(dāng)信號(hào)通過(guò)一個(gè)接口或組件時(shí),由于阻抗不匹配導(dǎo)致的一部分能量被反射回來(lái)的現(xiàn)象。這種反射可以影響到信號(hào)的質(zhì)量以及系統(tǒng)的整體性能。因此,準(zhǔn)確測(cè)量并控制回波損耗對(duì)于確保數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)、無(wú)線網(wǎng)絡(luò)以及其他依賴(lài)于高效電磁波傳輸?shù)膽?yīng)用的有效性至關(guān)重要。

該文件詳細(xì)說(shuō)明了進(jìn)行此類(lèi)測(cè)試所需的具體步驟,包括但不限于:

  • 測(cè)試前準(zhǔn)備,比如選擇合適的測(cè)試儀器(如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀)及其校準(zhǔn);
  • 樣品安裝與配置,保證測(cè)試環(huán)境符合要求;
  • 實(shí)施測(cè)量過(guò)程,記錄關(guān)鍵參數(shù);
  • 數(shù)據(jù)處理及結(jié)果報(bào)告方式等。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2021-03-09 頒布
  • 2021-10-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 5095.2505-2021電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第25-5部分:試驗(yàn)25e:回波損耗_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS3122010

L23..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法

第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗

::

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-5Test25eReturnloss

::

(IEC60512-25-5:2004,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-5:Test25e:Returnloss,IDT)

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

2………………1

試驗(yàn)設(shè)施

3…………………1

設(shè)備

3.1…………………1

裝置

3.2…………………1

試驗(yàn)樣品

4…………………2

說(shuō)明

4.1…………………2

試驗(yàn)程序

5…………………2

總則

5.1…………………2

裝置回波損耗

5.2………………………3

樣品回波損耗測(cè)量

5.3…………………3

時(shí)域法

5.4………………3

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則

6…………………3

試驗(yàn)記錄文件

7……………4

附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備示意圖

A()………………5

附錄資料性附錄實(shí)用指南

B()…………9

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

前言

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法按試驗(yàn)方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號(hào)完整性試驗(yàn)已經(jīng)發(fā)布或計(jì)劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗(yàn)串?dāng)_比

———25-1:25a:;

第部分試驗(yàn)衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗(yàn)傳輸時(shí)延

———25-4:25d:;

第部分試驗(yàn)回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗(yàn)眼圖和抖動(dòng)

———25-6:25f:;

第部分試驗(yàn)阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號(hào)完整性試驗(yàn)試驗(yàn)外來(lái)串?dāng)_

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-5。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部

IEC60512-25-5:2004《25-5

分試驗(yàn)回波損耗

:25e:》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)由電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部分試驗(yàn)回波損耗修改為電

———《25-5:25e:》《

子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第部分試驗(yàn)回波損耗

25-5:25e:》;

圖中原文標(biāo)準(zhǔn)裝置有樣品樣品裝置無(wú)樣品為明顯筆誤修改為標(biāo)準(zhǔn)裝置無(wú)

———A.1b)“()、()”,“(

樣品樣品裝置有樣品

)、()”。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專(zhuān)利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國(guó)電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法

第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗

::

1范圍

的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)

GB/T5095、、。

本部分描述了用于測(cè)量作為頻率函數(shù)的回波損耗的頻域法和時(shí)域法

。

2術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

21

.

回波損耗returnloss

樣品測(cè)量的反射信號(hào)與輸入信號(hào)之比

。

注可用分貝表示

:(dB)。

22

.

樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance

由裝置在樣品信號(hào)導(dǎo)線上引起的阻抗該阻抗是由傳輸線路終端電阻附裝的接收器或信號(hào)源

。、、,

以及裝置的寄生效應(yīng)產(chǎn)生的

3試驗(yàn)設(shè)施

31設(shè)備

.

311頻域

..

采用具有適用于受試器件動(dòng)態(tài)范圍的網(wǎng)絡(luò)分析儀差分測(cè)量時(shí)可采用具有多端口試驗(yàn)位

(DUT)。,

置或平衡不平衡轉(zhuǎn)換器的網(wǎng)絡(luò)分析儀

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