標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 5095.2505-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第25-5部分:試驗(yàn)25e:回波損耗》是針對(duì)電子設(shè)備中使用的機(jī)電元件進(jìn)行測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)之一,特別關(guān)注于這些元件在高頻信號(hào)傳輸過(guò)程中所表現(xiàn)出的回波損耗特性。該標(biāo)準(zhǔn)定義了如何對(duì)連接器等機(jī)電元件執(zhí)行回波損耗測(cè)試的方法和條件。
根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),回波損耗是指當(dāng)信號(hào)通過(guò)一個(gè)接口或組件時(shí),由于阻抗不匹配導(dǎo)致的一部分能量被反射回來(lái)的現(xiàn)象。這種反射可以影響到信號(hào)的質(zhì)量以及系統(tǒng)的整體性能。因此,準(zhǔn)確測(cè)量并控制回波損耗對(duì)于確保數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)、無(wú)線網(wǎng)絡(luò)以及其他依賴(lài)于高效電磁波傳輸?shù)膽?yīng)用的有效性至關(guān)重要。
該文件詳細(xì)說(shuō)明了進(jìn)行此類(lèi)測(cè)試所需的具體步驟,包括但不限于:
- 測(cè)試前準(zhǔn)備,比如選擇合適的測(cè)試儀器(如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀)及其校準(zhǔn);
- 樣品安裝與配置,保證測(cè)試環(huán)境符合要求;
- 實(shí)施測(cè)量過(guò)程,記錄關(guān)鍵參數(shù);
- 數(shù)據(jù)處理及結(jié)果報(bào)告方式等。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2021-03-09 頒布
- 2021-10-01 實(shí)施
下載本文檔
GB/T 5095.2505-2021電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第25-5部分:試驗(yàn)25e:回波損耗-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS3122010
L23..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004
.:
電子設(shè)備用機(jī)電元件
基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法
第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗
::
Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—
Basictestingproceduresandmeasuringmethods—
Part25-5Test25eReturnloss
::
(IEC60512-25-5:2004,Connectorsforelectronicequipment—
Testsandmeasurements—Part25-5:Test25e:Returnloss,IDT)
2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
2………………1
試驗(yàn)設(shè)施
3…………………1
設(shè)備
3.1…………………1
裝置
3.2…………………1
試驗(yàn)樣品
4…………………2
說(shuō)明
4.1…………………2
試驗(yàn)程序
5…………………2
總則
5.1…………………2
裝置回波損耗
5.2………………………3
樣品回波損耗測(cè)量
5.3…………………3
時(shí)域法
5.4………………3
相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則
6…………………3
試驗(yàn)記錄文件
7……………4
附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備示意圖
A()………………5
附錄資料性附錄實(shí)用指南
B()…………9
Ⅰ
GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004
.:
前言
電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法按試驗(yàn)方法分為若干部分
GB/T5095《》。
的第部分為信號(hào)完整性試驗(yàn)已經(jīng)發(fā)布或計(jì)劃發(fā)布的部分如下
GB/T509525,:
第部分試驗(yàn)串?dāng)_比
———25-1:25a:;
第部分試驗(yàn)衰減插入損耗
———25-2:25b:();
第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減
———25-3:25c:;
第部分試驗(yàn)傳輸時(shí)延
———25-4:25d:;
第部分試驗(yàn)回波損耗
———25-5:25e:;
第部分試驗(yàn)眼圖和抖動(dòng)
———25-6:25f:;
第部分試驗(yàn)阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比
———25-7:25g:、(VSWR);
第部分信號(hào)完整性試驗(yàn)試驗(yàn)外來(lái)串?dāng)_
———25-9:25i:。
本部分為的第部分
GB/T509525-5。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部
IEC60512-25-5:2004《25-5
分試驗(yàn)回波損耗
:25e:》。
本部分做了下列編輯性修改
:
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)由電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部分試驗(yàn)回波損耗修改為電
———《25-5:25e:》《
子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第部分試驗(yàn)回波損耗
25-5:25e:》;
圖中原文標(biāo)準(zhǔn)裝置有樣品樣品裝置無(wú)樣品為明顯筆誤修改為標(biāo)準(zhǔn)裝置無(wú)
———A.1b)“()、()”,“(
樣品樣品裝置有樣品
)、()”。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專(zhuān)利的責(zé)任
。。
本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由全國(guó)電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC166)。
本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
:、。
本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍
:、、、、。
Ⅲ
GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004
.:
電子設(shè)備用機(jī)電元件
基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法
第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗
::
1范圍
的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)
GB/T5095、、。
本部分描述了用于測(cè)量作為頻率函數(shù)的回波損耗的頻域法和時(shí)域法
。
2術(shù)語(yǔ)和定義
下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
。
21
.
回波損耗returnloss
樣品測(cè)量的反射信號(hào)與輸入信號(hào)之比
。
注可用分貝表示
:(dB)。
22
.
樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance
由裝置在樣品信號(hào)導(dǎo)線上引起的阻抗該阻抗是由傳輸線路終端電阻附裝的接收器或信號(hào)源
。、、,
以及裝置的寄生效應(yīng)產(chǎn)生的
。
3試驗(yàn)設(shè)施
31設(shè)備
.
311頻域
..
采用具有適用于受試器件動(dòng)態(tài)范圍的網(wǎng)絡(luò)分析儀差分測(cè)量時(shí)可采用具有多端口試驗(yàn)位
(DUT)。,
置或平衡不平衡轉(zhuǎn)換器的網(wǎng)絡(luò)分析儀
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