GB/T 5170.9-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第9部分：太陽輻射試驗設(shè)備

ICS19040

K04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T51709—2017

代替.

GB/T5170.9—2008

環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

第9部分太陽輻射試驗設(shè)備

:

Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipments—

Part9Solarradiationtestineuiments

:gqp

2017-12-29發(fā)布2018-07-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T51709—2017

.

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

檢驗項目

4…………………1

檢驗用儀器及要求

5………………………2

檢驗負載

6…………………2

檢驗條件

7…………………2

檢驗方法

8…………………3

檢驗結(jié)果

9…………………8

檢驗周期

10…………………9

附錄資料性附錄黑標(biāo)溫度黑板溫度相對濕度檢驗

A()、、……………10

GB/T51709—2017

.

前言

包含以下部分

GB/T5170:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分總則

———GB/T5170.1—20161:;

環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分溫度試驗設(shè)備

———GB/T5170.2—20172:;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分濕熱試驗設(shè)備

———GB/T5170.5—20165:;

環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分鹽霧試驗設(shè)備

———GB/T5170.8—20178:;

環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分太陽輻射試驗設(shè)備

———GB/T5170.9—20179:;

環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分高低溫低氣壓試驗設(shè)備

———GB/T5170.10—201710:;

環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分腐蝕氣體試驗設(shè)備

———GB/T5170.11—201711:;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗用

———GB/T5170.13—2005()

機械振動臺

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動正弦試驗用

———GB/T5170.14—2009()

電動振動臺

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗用

———GB/T5170.15—2005()

液壓振動臺

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用

———GB/T5170.16—2005

離心機

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫低氣壓濕熱

———GB/T5170.17—2005//

綜合順序試驗設(shè)備

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循環(huán)

———GB/T5170.18—2005/

試驗設(shè)備

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度振動正弦綜

———GB/T5170.19—2005/()

合試驗設(shè)備

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備

———GB/T5170.20—2005;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動隨機試驗用

———GB/T5170.21—2008()

液壓振動臺

。

本部分是的第部分

GB/T51709。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備與

GB/T5170.9—2008《》。

相比技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化

GB/T5170.9—2008,:

范圍由原來的所用試驗設(shè)備的首次檢驗驗收檢驗和周期檢驗修改為所用設(shè)備的檢驗見

———“/”“”(

第章

1);

規(guī)范性引用文件中刪除了增加了見第章

———GB/T16839.1、IEC60751,GB12348—2008(2);

檢驗項目修改為以列表形式給出見第章

———(4);

檢驗項目增加溫度均勻度每溫度平均變化速率修改為溫度平均變化速

———“”;“5min”“5min

率見表

”(1);

檢驗用儀器及要求中輻照度和光譜能量分布測量系統(tǒng)由原來的測量結(jié)果的擴展不確定度

———,“

k不大于被測輻射強度允差的修改為其相對示值誤差一般不超過溫度測

(=2)1/3”,“±3%”;

量系統(tǒng)由原來的測量結(jié)果的擴展不確定度k不大于被檢溫度允許偏差的修改為

“(=2)1/3”,

Ⅰ

GB/T51709—2017

.

其最大允許誤差一般不超過帶計權(quán)網(wǎng)絡(luò)的聲級計由原來的測量結(jié)果的擴展不

“±0.2℃”;A“

確定度k不大于修改為最大允許誤差一般不超過見表

(=2)1dB”“±1dB”(2);

重新整理了檢驗方法的結(jié)構(gòu)層次見第章

———(8);

檢驗報告增加了應(yīng)至少包含的信息見

———(9.3);

刪除了附錄檢驗項目的選擇增加了附錄資料性附錄黑標(biāo)溫度黑板溫度相對濕

———“A”,“A()、、

度檢驗

”。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所中國電器科學(xué)研究院有限公司福建省新能海

:、、

上風(fēng)電研發(fā)中心有限公司中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術(shù)研究所無錫蘇南試驗設(shè)備有

、、

限公司無錫索亞特試驗設(shè)備有限公司廣州五所環(huán)境儀器有限公司

、、。

本部分主要起草人賴文光黃開云王磊呂國義倪云南周中明王俊謝晨浩謝凱鋒謝賢彬

:、、、、、、、、、、

何萌

。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB5170.9—1985、GB/T5170.9—1996、GB/T5170.9—2008。

Ⅱ

GB/T51709—2017

.

環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

第9部分太陽輻射試驗設(shè)備

:

1范圍

的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備以下簡稱設(shè)備的檢驗項目檢驗用儀器及要

GB/T5170(“”)、

求檢驗負載檢驗條件檢驗方法檢驗結(jié)果檢驗周期等內(nèi)容

、、、、、。

本部分適用于對所用設(shè)備的檢驗

GB/T2423.24。

本部分也適用于類似設(shè)備的檢驗

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗?zāi)M地面上的太陽輻射及其試驗導(dǎo)則

GB/T2423.242:Sa:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分總則

GB/T5170.1—20161:

工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排放標(biāo)準(zhǔn)

GB12348—2008

3術(shù)語和定義

界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T5170.1—2016。

4檢驗項目

本部分的檢驗項目見表

1。