GB/T 5170.9-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜５１７０．９—２００８

代替ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

太陽輻射試驗設(shè)備

犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊

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２００８０６１６發(fā)布２００９０３０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜５１７０．９—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４檢驗項目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５檢驗用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

６檢驗負載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７檢驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８檢驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

９數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１０檢驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

附錄Ａ（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

書

犌犅／犜５１７０．９—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ５１７０目前包含以下幾部分：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．５—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．８—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１１—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１３—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用

機械振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用

電動振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１５—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用

液壓振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１６—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用

離心機

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１７—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱

綜合順序試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１８—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)

試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１９—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動（正弦）綜

合試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２０—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備

本部分是ＧＢ／Ｔ５１７０的第９部分。

本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：

———標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備”更改為“電工

電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備”；

———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；

———增加了“術(shù)語和定義”一章；

———增加了“溫度波動度”檢驗項目；

———檢驗項目“溫度變化速率”更改為“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”；

———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；

———增加了“噪聲”檢驗項目；

———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（犽＝２）的

要求；

———增加了“檢驗負載”一章；

———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；

———刪除了“檢定過程中的處理”部分；

Ⅰ

犌犅／犜５１７０．９—２００８

———增加了附錄Ａ“檢驗項目的選擇”。

附錄Ａ為規(guī)范性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９８５；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６。

Ⅱ

犌犅／犜５１７０．９—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

太陽輻射試驗設(shè)備

１范圍

ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢

驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。

本部分適用于對ＧＢ／Ｔ２４２３．２４《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｓａ：模擬地

面上的太陽輻射》所用試驗設(shè)備的首次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最