GB/T 775.1-2006絕緣子試驗方法第1部分：一般試驗方法

ICS29.080.10K48中華人民共和國國家標準GB/T775.1—2006代替GB/T775.1-1987絕緣子試驗方法第1部分：一般試驗方法Testmethodforinsulators-Part1:Generaltestmethods2006-02-15發(fā)布2006-06-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T775.1-2006三前言1范圍2規(guī)范性引用文件3術語和定義4外觀與尺寸檢查4.1外外觀檢查4.2尺寸檢查5形狀和位置偏差檢查5.1端面平行度檢查5.2平面度檢查…………….5.3孔中心圓軸線間最大偏移檢查5.4軸線直線度檢查5.5傘緣變形度檢查·····5.6圓度檢查·……………….5.7安裝孔的角度偏移檢查5.8粗糙度檢查·…………5.9形狀和位置偏差的其他檢測方法6孔隙性試驗6.1武塊準備6.2試試驗溶液制備6.3試試驗程序6.4果判定7溫度循環(huán)試驗7.1試驗用水7.2試驗程序7.3結果判定

GB/T775.1-2006言GB/T775《絕緣子試驗方法》分為三個部分：-第1部分：一般試驗方法;第第2部分：電氣試驗方法：-第3部分：機械試驗方法。本部分是GB/T775的第1部分本部分代替GB/T775.1-1987《絕緣子試驗方法第1部分：一般試驗方法》。本部分與GB/T775.1—1987相比主要變化如下：結構和編寫規(guī)則按（B/T1.1—2000《標準化工作導則第1部分:標準的結構和編寫規(guī)則》：修改了孔中心圓軸線間最大偏移檢查(1987年版的3.3,本版的5.3)；修改了圓度測量方法(見5.6)；絕緣子上附件安裝孔連心線與下附件安裝孔連心線位置度檢查修改為安裝孔角度偏移（見5.7)：增加了粗糙度檢查（見5.8)。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國絕緣子標準化技術委員會歸口。本部分起草單位：西安電瓷研究所。本部分主要起草人：危鵬、劉志強、胡文岐。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB775-1965；GB/T775-1979：-GB/T775.1-1987。

GB/T775.1-2006絕緣子試驗方法第1部分：一般試驗方法范圍本部分規(guī)定了絕緣子一般試驗的樣品安裝和試驗方法本部分適用于瓷和玻璃絕緣子（包括套管、支柱絕緣子、電器產(chǎn)品的絕緣外套、線路絕緣子串及其元件)的外觀與尺寸檢查、形狀和位置偏差檢查、孔隙性試驗、溫度循環(huán)試驗規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T775的本部分的引用而成為本部分的條款。。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T2900.8-1995電工術語絕緣子GB/T2900.19—1994電工術語高電壓試驗技術和絕緣配合術語和定義GB/T2900.8-1995和GB/T2900.19—1994確立的術語和定義適用于GB/T775的本部分4外觀與尺寸檢查4.1外觀檢查外觀檢查以目力觀察方法進行，必要時使用量具，如絕緣件表面有細小氣泡或顏色不均而不能判斷絕緣體是否良好時,應選出具有上述缺陷的代表性產(chǎn)品進行部面檢查或作孔隙性試驗，如部面檢查發(fā)現(xiàn)瓷質(zhì)不致密(有大量氣孔)或有滲透現(xiàn)象時,則具有這種缺陷的產(chǎn)品為不符合標準。4.2尺寸檢查檢查時應采用游標卡尺、直尺等標準量具或特制量具進行測量。量具的精確度一般應不低于0.5mm。對于尺寸偏差要求比較精確的產(chǎn)品,應采用精度相適應的量具檢查爬電距離時,應采用不會伸長的膠布帶(或金屬絲),在試品兩電極間,沿絕緣件表面（包括瓷件表面的半導體釉層部分，但不包括導電性膠合劑，如水泥膠合劑)量得的最短距離。由多個絕緣件組成的產(chǎn)品，則為其各絕緣件最短距離的總和。5形狀和位置偏差檢查5.1端面平行度檢查測量時，將試品直立安裝在旋轉平臺中心，平臺表面與旋轉軸線應垂直（見圖1)。檢查支柱絕緣子時,用圓錐形螺釘(見圖2)固定，頂端端面上用圓錐形螺釘將一塊厚度(不小于15mm)均勾的圓板同心地固定在安裝孔上.旋轉平臺一周,用千分表測量圓板上直徑為250mm(戶內(nèi)支柱絕緣子為100mm)處表面至支架橫梁間的距離(即圖1中的距離)計算其最大值與最小值之差即為端面平行度（p)。?。喝绠a(chǎn)