標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 8758-2006 砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法》與《GB/T 8758-1988 砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和完善。這些變化旨在提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性,同時(shí)適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和行業(yè)需求的變化。

首先,2006版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)術(shù)語(yǔ)和定義部分做了更為詳細(xì)的闡述,增加了對(duì)于關(guān)鍵概念如“外延層”、“干涉條紋”的明確解釋,有助于減少理解上的歧義。此外,還引入了新的術(shù)語(yǔ)以涵蓋近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的技術(shù)或方法。

其次,在測(cè)量原理方面,雖然基本原理保持不變,但2006版增加了更多關(guān)于如何選擇合適的光源波長(zhǎng)、探測(cè)器類型以及光學(xué)系統(tǒng)配置的具體指導(dǎo)信息,從而使得實(shí)驗(yàn)設(shè)置更加靈活,并能夠針對(duì)不同應(yīng)用場(chǎng)景做出最佳選擇。

再者,對(duì)于樣品準(zhǔn)備及處理過(guò)程,新版本提供了更詳盡的操作指南,包括但不限于清潔步驟、表面狀態(tài)要求等,確保了測(cè)試前樣品處于理想條件下,減少了外部因素對(duì)結(jié)果的影響。

另外,《GB/T 8758-2006》中也加強(qiáng)了數(shù)據(jù)處理環(huán)節(jié)的規(guī)定,比如明確了如何校正由于溫度變化引起的折射率變動(dòng)、提出了使用軟件自動(dòng)分析的方法來(lái)提高效率并降低人為誤差的可能性。

最后,在質(zhì)量控制與保證方面,2006年修訂版增加了定期驗(yàn)證設(shè)備性能的要求,并建議實(shí)驗(yàn)室建立內(nèi)部比對(duì)機(jī)制以持續(xù)監(jiān)控測(cè)量系統(tǒng)的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性。這不僅提升了單次測(cè)量結(jié)果的質(zhì)量,也有利于長(zhǎng)期跟蹤研究過(guò)程中可能存在的系統(tǒng)性偏差問(wèn)題。


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  • 2006-07-18 頒布
  • 2006-11-01 實(shí)施
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GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法_第1頁(yè)
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GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法_第4頁(yè)
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ICS77.040.01H17中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8758—2006代替GB/T8758-1988砷化家外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法Measuringthicknessofepitaxiallayersofgalliumarsenidebyinfraredinterference2006-07-18發(fā)布2006-11-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)神化鑲外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法GB/T8758-2006中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼:100045電話:010)51299090、685220062006年10月第一版書(shū)號(hào):155066·1-28139版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話:(010)68522006

GB/T8758—2006本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)GB/T8758—1988《砷化鏢外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法》的修訂。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起代替GB/T8758-1988本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T8758—1988相比主要變動(dòng)如下-原標(biāo)準(zhǔn)表述儀器要求的3.1.3條使用了波數(shù)表示法,為了和其他條款的表述一致,改為波長(zhǎng)表示法。原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,為測(cè)定儀器的波長(zhǎng)精度和重復(fù)性,要測(cè)量聚苯乙烯膜的吸收帶十次。但未規(guī)定是按固定周期還是在每次測(cè)量前做這項(xiàng)工作,也沒(méi)有規(guī)定如果在這十次測(cè)量結(jié)果中出現(xiàn)一次或幾次不符合要求時(shí)應(yīng)如何處理,不便于實(shí)際操作。修改后規(guī)定為每次打開(kāi)儀器按儀器說(shuō)明書(shū)的要求預(yù)熱一定時(shí)間后,在正式測(cè)量前進(jìn)行一次測(cè)量聚苯乙烯膜的吸收帶的校準(zhǔn),本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:北京有色金屬研究總院。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王彤涵。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T8758-1988。

GB/T8758-2006砷化家外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于砷化鏢外延片外延層厚度的測(cè)量.測(cè)量厚度大于2m。要求襯底材料的電阻率小于0.02·cm.外延層的電阻率大于0.1·cm.2原理襯底材料與外延層的光學(xué)常數(shù)差別較大.當(dāng)紅外光入射到外延片表面時(shí).在反射光譜中產(chǎn)生干涉條紋。根據(jù)干涉條紋的極大值或極小值的波長(zhǎng)位置、襯底材料和外延層的光學(xué)常數(shù)以及光束的入射角,可計(jì)算出外延層的厚度儀器3.1雙雙光束紅外分光光度計(jì)或傅立葉紅外光譜儀,波長(zhǎng)范圍為2.5m~50m.或波數(shù)范圍為4000cm-1~200cm-!。3.2儀器的波長(zhǎng)和波長(zhǎng)重復(fù)性誤差不大于0.05gm。在10m處光譜分辨率為0.02m或更好。3.3儀器應(yīng)配有反射附件,入射角不大于30°。儀器應(yīng)配有黑體材料制成的多種孔徑的光闌。樣品4.1用于測(cè)量的樣品應(yīng)具有良好的光學(xué)表面,不應(yīng)有大面積的鈍化層.4.2襯底和外延層的導(dǎo)電類型及襯底的電阻率應(yīng)是已知的。5測(cè)量過(guò)程5.1儀器校準(zhǔn)5.1.1打開(kāi)儀器,按說(shuō)明書(shū)的要求進(jìn)行預(yù)熱。測(cè)量厚度為300m~500m的聚苯乙烯膜的吸收光譜,核對(duì)3.303m吸收帶,其結(jié)果應(yīng)滿足3.2的要求。5.1.2安裝反射附件后測(cè)量100%線,其峰谷值差應(yīng)小于8%5.2選擇掃描速度安裝反射附件。選擇襯底和外延層電阻率分別為0.008·cm和0.12㎡·cm并且在波長(zhǎng)大于25m處仍能觀察到極值的外延片,使用最慢的掃描速度記錄大于25m處的極小值的波長(zhǎng)位置。逐步提高掃描速度,觀察極小值波長(zhǎng)位置的變化,允許使用的最快掃描速度與最慢掃描速度得到的相應(yīng)極小值波長(zhǎng)之差應(yīng)小于±0.12m.5.3測(cè)量5.3.1把待測(cè)樣品放置于反射附件的窗口上,測(cè)量點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)窗口,記錄反射光譜。掃描速度滿足5.2的要求。5.3.2在低于極大值或高于極小值滿刻度的約3%處作水平線,該線與反射光譜線兩焦點(diǎn)的中點(diǎn)位置即為極值的波長(zhǎng)位置。5.

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