• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2002-11-04 頒布
  • 2003-05-04 實施
?正版授權(quán)
JJF 1095-2002電容器介質(zhì)損耗測量儀校準規(guī)范_第1頁
JJF 1095-2002電容器介質(zhì)損耗測量儀校準規(guī)范_第2頁
JJF 1095-2002電容器介質(zhì)損耗測量儀校準規(guī)范_第3頁
JJF 1095-2002電容器介質(zhì)損耗測量儀校準規(guī)范_第4頁
JJF 1095-2002電容器介質(zhì)損耗測量儀校準規(guī)范_第5頁
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術(shù)規(guī)范

JJF1095—2002

電容器介質(zhì)損耗測量儀校準規(guī)范

CalibrationSpecificationforCapacitorDielectricLossMeters

2002-11-04發(fā)布2003-05-04實施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

JJF1095—2002

電容器介質(zhì)損耗測量儀

??

??????????????

校準規(guī)范?JJF1095—2002?

??

??

?????????????

代替JJG136—1986?

??

CalibrationSpecificationforCapacitor

DielectricLossMeters

本規(guī)范經(jīng)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局于年月日批準并自

2002114,

年月日起施行

200354。

歸口單位:全國無線電計量技術(shù)委員會

主要起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子計量中心

本規(guī)范由歸口單位負責(zé)解釋

JJF1095—2002

本規(guī)范主要起草人:

張關(guān)漢信息產(chǎn)業(yè)部電子計量中心

()

參加起草人:

王珂信息產(chǎn)業(yè)部電子計量中心

()

JJF1095—2002

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻………………

2(1)

術(shù)語……………………

3(1)

概述……………………

4(1)

計量特性………………

5(2)

電容測量范圍………………………

5.1(2)

δ的測量范圍……………………

5.2tan(2)

δ的測量誤差……………………

5.3tan(2)

工作頻率……………

5.4(2)

校準條件………………

6(2)

環(huán)境條件……………

6.1(2)

校準用標準設(shè)備……………………

6.2(2)

其他要求……………

6.3(2)

校準項目和校準方法…………………

7(2)

損耗測量值的校準…………………

7.1(2)

電容損耗校試件的校準……………

7.2(3)

校準結(jié)果的表達………………………

8(4)

復(fù)校時間間隔…………

9(4)

附錄電容器介質(zhì)損耗測量儀校準證書格式………

A(5)

JJF1095—2002

電容器介質(zhì)損耗測量儀校準規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于各型電容器介質(zhì)損耗測量儀的校準也適用于多功能表中增設(shè)

,LCR

的電容器介質(zhì)損耗角正切δ或D值的校準

tan()。

2引用文獻

本規(guī)范引用以下文獻

:

高頻電容損耗標準

JJG66—1990《》

使用本規(guī)范時應(yīng)注意上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本

,。

3術(shù)語

電容器損耗標準量具由低損耗的空氣介質(zhì)或云母介質(zhì)固定電容器與高頻電

———()

阻串聯(lián)并外加屏蔽罩組成的實物量具

。

損耗量具的初損耗值未串接高頻電阻時的電容器固有損耗值D

———0。

損耗量具的大損耗值串聯(lián)高頻電阻R后損耗量具的損耗值D校其損耗值為

———,。

初損耗加上高頻電阻引起的損耗值之和

。

4概述

電容器介質(zhì)損耗是電容器的重要質(zhì)量指標之一其給值可以使用專門的電容器介質(zhì)

,

損耗儀或者使用多功能表中增設(shè)的電容器介質(zhì)損耗D或δ值顯示或讀數(shù)

,LCR(tan)。

專門測量電容器損耗角正切的儀器其原理可等效為直流惠斯登電橋其中一臂由

,,

振蕩器的直流板阻組成其余之臂為純電阻測D時實質(zhì)上是將被測件與隨機配套的

,。

損耗標準件的D值進行比對因此在校準該型損耗儀時應(yīng)校準D或δ表頭

。,,(tan)

刻度誤差及校準隨機損耗校試件只有二者都合格后才能符合技術(shù)條件的要求

,。

針對表中增設(shè)的電容器損耗角正切測量功能的校準只需

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