材料的熱學(xué)性-3課件

材料的熱學(xué)性能任何材料在使用的過(guò)程中都會(huì)受到熱影響或產(chǎn)生熱效應(yīng)。一些場(chǎng)合要求材料具有特殊的熱學(xué)性能—低膨脹性能、好的隔熱性能、高的導(dǎo)熱性能等。材料的熱學(xué)性能在材料的相變研究中具有重要意義。材料的熱學(xué)性能主要包括：熱容（thermalcontent）熱膨脹（thermalexpansion）熱傳導(dǎo)（heatconductivity）理解材料的熱容、熱膨脹、熱傳導(dǎo)的物理本質(zhì)，掌握表征上述性能的物理參量：摩爾熱容、線膨脹、體膨脹系數(shù)、熱導(dǎo)熱和熱擴(kuò)散律的物理意義。a.恒容熱容：加熱過(guò)程中材料的體積不變，則所供給的熱量只滿足溫度升高1K時(shí)物體內(nèi)能的增加。b.恒壓熱容：保持壓力不變的情況下，加熱過(guò)程中材料的體積膨脹，則所供給的熱量除滿足溫度升高1K時(shí)物體內(nèi)能的增加外，還必須補(bǔ)充對(duì)外做功的損耗。比熱容：焓和熱容是材料發(fā)生相變時(shí)的重要參量。熱分析研究焓和溫度的關(guān)系，可以確定熱容的變化和相變潛熱。熱分析法是建立在熱測(cè)量和溫度測(cè)量基礎(chǔ)上的現(xiàn)代測(cè)試方法。熱分析：程序控制溫度，測(cè)量物質(zhì)的物理性質(zhì)和溫度關(guān)系的技術(shù)。熱分析方法的種類：差熱分析是在測(cè)定熱分析曲線的同時(shí)，利用示差熱電偶測(cè)定待測(cè)試樣1和標(biāo)準(zhǔn)試樣2的溫度而進(jìn)行的熱分析。示差熱電偶由兩對(duì)熱電偶極性反接串聯(lián)而成，熱端處于試樣1和2中。●待測(cè)試樣1、標(biāo)準(zhǔn)試樣2和3分別處于加熱爐溫度場(chǎng)中的對(duì)稱位置。標(biāo)樣的選擇要求是在研究溫區(qū)內(nèi)無(wú)相變的材料，質(zhì)量和尺寸與待測(cè)樣相當(dāng)，以便于加熱和冷卻速率相同。熱分析應(yīng)用實(shí)例熱彈性馬氏體相變研究升降溫過(guò)程中熱彈性馬氏體的可逆轉(zhuǎn)變都出現(xiàn)顯著的吸熱與放熱峰，據(jù)此可以準(zhǔn)確地判斷相變開(kāi)始及終了溫度。熱分析應(yīng)用實(shí)例有序—無(wú)序轉(zhuǎn)變的研究曲線a：無(wú)序的合金加熱到350-470℃時(shí)，合金發(fā)生部分有序化并放出潛熱；繼續(xù)加熱到470℃以上發(fā)生吸熱的無(wú)序轉(zhuǎn)變。曲線b表示的是完全有序到完全無(wú)序的吸熱效應(yīng)第二節(jié)材料的熱膨脹熱膨脹的本質(zhì)簡(jiǎn)諧振動(dòng)同理，物體體積隨溫度的增加可表示為：

αV為體膨脹系數(shù)，相當(dāng)于溫度升高1k時(shí)物體體積相對(duì)增長(zhǎng)值。舉例：立方體

由于αl值很小，可略以上的高次項(xiàng)，則：

二、熱膨脹和其他性能關(guān)系

1．熱膨脹和結(jié)合能、熔點(diǎn)的關(guān)系質(zhì)點(diǎn)間結(jié)合力愈強(qiáng)，熱膨脹系數(shù)愈小。2．熱膨脹與溫度、熱容關(guān)系

(1)機(jī)械膨脹儀：采用機(jī)械的方法放大并檢測(cè)試樣的熱膨脹量。包括干分表式膨脹儀、機(jī)械杠桿式膨脹儀等。

(2)光學(xué)膨脹儀：利用各種光學(xué)原理放大并檢測(cè)試樣的熱膨脹員。包括光杠桿式膨脹儀、光干涉法膨脹儀等。

(3)電學(xué)膨脹儀：利州各種咆學(xué)原理放大并檢測(cè)試樣的熱膨脹量。包括電感式膨脹儀、電容式膨脹儀等。

(4)直接觀測(cè)式膨脹儀：利用精密的測(cè)長(zhǎng)儀器，如：比長(zhǎng)儀、垂高計(jì)等，直接觀測(cè)試樣的熱膨脹員。

(5)x射線衍射法：是一種微觀的檢測(cè)方法。借助晶體對(duì)X射線的衍射，測(cè)量品格常數(shù)(原子間距)隨溫度的變化.三、熱膨脹系數(shù)的測(cè)量1.光杠桿式膨脹儀法絕對(duì)法光三角架放大的膨脹儀1.標(biāo)準(zhǔn)樣（用以測(cè)溫）2.被測(cè)樣3.凹面鏡光杠桿式膨脹儀的工作原理總則：用照相方法直接記錄出膨脹曲線。將試樣的膨脹通過(guò)一根傳遞桿引出，傳遞桿推動(dòng)一個(gè)帶小鏡的光三角架（或其它光杠桿機(jī)械）轉(zhuǎn)動(dòng)，將試樣的膨脹量轉(zhuǎn)成光點(diǎn)的位移量，并借助于照像或光電轉(zhuǎn)換的主法觀察和測(cè)量光點(diǎn)的位移。既可直接測(cè)得伸長(zhǎng)量，又可用示差法測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)試樣和待測(cè)試樣的差。3、光干涉法：光干涉法是將試樣的長(zhǎng)度變化量轉(zhuǎn)變成光束的光程差，使之在視場(chǎng)中產(chǎn)生干涉條紋相對(duì)于參考標(biāo)記的移動(dòng)，即用一已知單色波長(zhǎng)來(lái)量度試樣的長(zhǎng)度變化。光干涉膨脹儀所用的干涉方法有幾種類型，其中應(yīng)用最多的是“等厚干涉”和“等傾干涉”兩種。4、X光法：X光法是利用測(cè)量晶胞內(nèi)晶格常數(shù)變化的方法來(lái)測(cè)量熱膨脹系數(shù)的，其主要方法有粉末照像法，衍射儀法和單晶法等。X光法測(cè)量膨脹系數(shù)：優(yōu)點(diǎn)：試樣極小且不規(guī)則，對(duì)不能加工的材料有特別的意義。X光所測(cè)點(diǎn)陣常數(shù)的變化，真實(shí)地反映了被測(cè)晶體的熱膨脹，不會(huì)因試樣中某些雜質(zhì)和缺陷的存在影響測(cè)量結(jié)果。能測(cè)量單晶的熱膨脹和各向異性的熱膨脹而不需要制備單晶試樣。缺點(diǎn)：不能連續(xù)測(cè)量在溫度變化過(guò)程中膨脹量的不連續(xù)變化。5、電容法：該法的原理是電容器兩極間距離的變化，在一定范圍內(nèi)與電容量的變化存在線性關(guān)系，若以試樣為電容的一極，由于試樣的膨脹使極間距離發(fā)生變化，測(cè)出電容量的變化，即可求得試樣的膨脹系數(shù)，這一方法非常精密，多用在低溫下測(cè)量膨脹量較小、或者試驗(yàn)溫度較窄的情況下使用。將試樣的膨脹量通過(guò)一根與試樣載管的材質(zhì)相同且膨脹系數(shù)很小的頂桿傳遞出來(lái)，用千分表、差動(dòng)變壓器或其它測(cè)量?jī)x器檢測(cè)第三節(jié)材料的熱傳導(dǎo)物體的各部分之間不發(fā)生相對(duì)位移，依靠?jī)?nèi)部微觀粒子（原子、分子、離子）的熱運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的熱量傳遞稱為導(dǎo)熱（熱傳導(dǎo)）。導(dǎo)熱特點(diǎn)1)物體之間不發(fā)生宏觀相對(duì)位移2)依靠微觀粒子（分子、原子、電子等）的無(wú)規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)

3)是物質(zhì)的固有本質(zhì)導(dǎo)熱基本定律--Fourier'slaw

（1）"－"的意義:熱量傳遞指向溫度降低的方向（2）

:通過(guò)該點(diǎn)的等溫線上的法向單位矢量,指向溫度升高的方向（3）熱流方向總是與等溫線(面)垂直（4）引起物體內(nèi)部及物體間熱量傳遞的根本原因:溫度梯度直角坐標(biāo)系下