無損檢測最終

無損檢測試驗超聲波探傷試驗超聲波探傷是產(chǎn)品質(zhì)量檢驗的一項重要技術(shù)。它具有如下優(yōu)點：靈敏度高，設(shè)備敏捷、操作便利、探測速度快、成本低、對人體無害等。故被廣泛應(yīng)用。本次探傷試驗中接受壓電法來產(chǎn)生超聲波，壓電法是利用壓電晶體來產(chǎn)生超聲波的。另外本次試驗接受“單收發(fā)”模式，即探傷時是運用一個探頭，這個探頭同時起接收和放射超聲波作用。儀器簡介試驗儀器及用具①CTS—22A型超深波探傷儀；②CSK—IA、CSK—IIA型標(biāo)準(zhǔn)試塊；③直探頭2.5Z20N、斜探頭2.5Z10×10A60標(biāo)準(zhǔn)回波探頭BH—50；④耦合劑；⑤游標(biāo)卡尺。儀器的調(diào)整與運用CTS—22A型超聲探傷儀系攜帶式A型脈沖反射式超聲探傷儀器，可用溝通或電池供電工作。本儀器接受高性能器件和高亮度內(nèi)刻度示波管，具有工作頻率范圍寬，探傷靈敏度高，穩(wěn)定性好，顯示波形清晰和小型、省電、便利等特點。儀器可用于金屬和部分非金屬材料的超聲無損檢測，尤其適用于流淌性大的野外或高架空探傷作業(yè)。儀器面板圖及旋鈕說明如圖3-1CTS—22A面板圖影響探傷波形的因素及缺陷大小、位置、性質(zhì)的推斷一、耦合劑的影響耦合劑的作用是將超聲波導(dǎo)入工件，一般接受液體。它的聲阻應(yīng)與工件的聲阻相同或接近，以獲得最大的入射能量。二、工件的影響工件表面光滑度的影響工件表面光滑度愈高，探頭與工件接觸愈好，聲波導(dǎo)入工件的能量多。因此高的表面光滑度對聲波耦合有利。工件內(nèi)部組織及化學(xué)成分的影響，不同工件組織對超聲的能量衰減是不同的。（在鋼中與鑄鐵中的區(qū)分）工件形態(tài)的影響，圖2-18與2-19。缺陷存在狀況的影響缺陷的位置，同一缺陷，由于離探測面的距離不同，缺陷波高度與缺陷大小的關(guān)系變更如圖2-22缺陷大小，在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小時,缺陷波的高度變更也有所差異。缺陷形態(tài)的影響缺陷性質(zhì)的影響缺陷與聲束的相對方向缺陷表面的粗糙程度缺陷的指向性

試驗內(nèi)容一、試件尺寸測量試件1(CSK-ⅡA)寬與高的測量對比于游標(biāo)卡尺的測量結(jié)果，進(jìn)行誤差分析二、測量試件1上缺陷的位置三、試件2(CSK-ⅠA)上兩個圓弧半徑的測量在試件2上，利用斜探頭，通過儀表上波程結(jié)果的記錄，干脆讀出半徑大小。四、薄件衰減系數(shù)的測定（試件2）了解試件寬高的測量

利用直探頭

耦合劑始波底波

距離a（寬、高）厚度測量波程圖試件缺陷的位置的確定

確定缺陷位置必需解決缺陷在探測面上的投影位置(即X、Y方向的數(shù)值)以及缺陷存在的深度(即Z方向上的數(shù)值)，如圖所示。探測表面YX缺陷Z

缺陷的位置，大小和性質(zhì)的確定直探頭斜探頭

h=sLh=S*cosr

入射角rSSS缺陷位置測量波程圖（直探頭）試件2上半徑的確定確定參數(shù)r與R,利用斜探頭試件2上半徑波程圖薄件衰減系數(shù)的測定薄工件衰減系數(shù)只存在介質(zhì)衰減，因此通常接受比較多次反射回波高度的方法，測定衰減。其衰減系數(shù)：

式中，m、n——超聲波的底面反射次數(shù)；Hm、Hn——m和n此底面反射波高度；d——試塊的厚度。參數(shù)確定m、n——超聲波的底面反射次數(shù)；Hm、Hn——m和n此底面反射波高度；人有了學(xué)問，就會具備各種分析實力，明辨是非的實力。所以我們要勤懇讀書，廣泛閱讀，古人說“書中自有黃金屋。