承壓設(shè)備無損檢測超聲檢測

承壓設(shè)備無損檢測超聲檢測第一頁，共412頁。NB/T47013.3標準的發(fā)展1、JB4730-94第三篇超聲檢測包括鋼板、鍛件、復合鋼板、無縫鋼管、高壓螺栓件、奧氏體鋼鍛件、鋼焊縫、不銹鋼堆焊層、鋁焊縫、超聲測厚等；2、JB/T4730.3-2005去除了超聲測厚，增加了小徑管對接焊縫、奧氏體不銹鋼焊縫、T型焊接接頭、在用設(shè)備、測高、動態(tài)波型等，基本覆蓋了承壓設(shè)備部件的超聲檢測；3、NB/T47013-2015恢復了超聲測厚并增加了不銹鋼堆焊層的超聲測厚，擴大了適用范圍，更多地采用了歐標，體現(xiàn)了與國際接軌的發(fā)展方向。第二頁，共412頁。一、NB/T47013-2015的主要技術(shù)變化1、增加了第3章“術(shù)語和定義”，包括把原JB/T4730.1中的

有關(guān)超聲檢測的術(shù)語和定義；2、用GB/T27664.1《無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗第1部分

：儀器》替代JB/T10061《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條

件》，對超聲檢測設(shè)備提出了更科學的要求；3、增加了超聲檢測儀和探頭的具體性能指標要求；4、增加了超聲檢測儀和探頭的校準、核查、運行核查和檢查的要求；5、增加了“安全要求”，對人員在超聲檢測中的安全提出了要求；6、增加了工藝文件的要求，并列出了制訂工藝規(guī)程的相關(guān)因素；第三頁，共412頁。7、重新對本部分所用試塊類型進行了劃分，主要按國內(nèi)相關(guān)通用的規(guī)定進行劃分，而不是在本部分自行劃定標準試塊和對比試塊的類型；8、調(diào)整了“承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級”內(nèi)容的順序，按板材、復合板、碳鋼和低合金鋼鍛件、鋼螺栓坯件、奧氏體鋼鍛件、無縫鋼管等進行編寫；9、合并了碳素鋼和低合金鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材、奧氏體不銹鋼及雙相不銹鋼鋼板等超聲檢測方法和質(zhì)量分級。重新設(shè)計了對比試塊。檢測靈敏度主要以對比試塊平底孔距離波幅曲線來確定。修改了質(zhì)量等級要求，各個級別的合格指標均有所嚴格，JB/T4730.3—2005的板材檢測質(zhì)量等級要求偏低，已難以控制板材質(zhì)量要求，且和ISO、歐盟EN等標準相關(guān)質(zhì)量要求的具體指標有較大差距，故參考歐盟EN等標準對質(zhì)量分級進行了修訂；10、整合了2005版中“承壓設(shè)備對接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級”和“承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測和質(zhì)量分級”兩章內(nèi)容。按焊接接頭類型、工件厚度及檢測面曲率大小等內(nèi)容進行分類；第四頁，共412頁。11、對承壓設(shè)備焊接接頭工件厚度的適用范圍從8mm～400mm擴大到了6～500mm；12、重新設(shè)計了CSK-IIA和CSK-IVA試塊上人工反射體的位置和數(shù)量。這樣既保證檢測區(qū)域覆蓋，又適用于直探頭檢測焊接接頭基準靈敏度的調(diào)節(jié)。新CSK-IIA試塊適用工件厚度范圍為6mm～200mm，該試塊主要參考歐盟(EN)和日本(JIS)標準，人工反射體直徑仍為φ2mm；新CSK-IVA試塊適用工件厚度大于200mm～500mm。CSK-IVA試塊主要在參考美國ASME規(guī)范的基礎(chǔ)上進行了改進，人工反射體直徑統(tǒng)一為φ6mm；13、細化了不同類型焊接接頭超聲檢測要求。涉及內(nèi)容包括平板對接接頭、T型焊接接頭、插入式接管角接接頭、L型焊接接頭、安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭、十字焊接接頭、嵌入式接管與筒體（或封頭）對接接頭等；第五頁，共412頁。14、重新設(shè)計了GS試塊。增加了圓弧反射面等。主要有利于弧面探頭的時基線調(diào)整；15、對焊接接頭質(zhì)量等級中對Ⅰ區(qū)非裂紋類缺陷的長度給出了限制；16、調(diào)整了涉及焊接接頭超聲檢測的整體編制結(jié)構(gòu)，把接管與筒體(封頭)角接接頭超聲檢測方法、T型焊接接頭超聲檢測方法、堆焊層超聲檢測方法和質(zhì)量分級等放入了附錄；17、根據(jù)實際檢驗檢測需要，增加了“承壓設(shè)備厚度超聲測量方法”，包括不銹鋼堆焊層厚度的測量方法；18、對在用承壓設(shè)備進行超聲檢測時，增加了根據(jù)使用過程中可能造成主體材料、零部件或焊接接頭的失效模式，或者風險評估（RBI）的分析結(jié)果等選擇超聲檢測技術(shù)、檢測部位和檢測比例。第六頁，共412頁。二、標準修改及內(nèi)容解析1范圍修改概述：增加了條文1.3承壓設(shè)備厚度的超聲測量方法，原來

JB4730-94有超聲測厚內(nèi)容，但JB/T4730.3-2005沒有列入。1.1NB/T47013（JB/T4730）的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲檢測儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質(zhì)量分級要求。1.2本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料或零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。1.3本部分規(guī)定了承壓設(shè)備厚度的超聲測量方法。1.4與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。第七頁，共412頁。2規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T11259 無損檢測超聲波檢測用鋼參考試塊的制作與檢驗方法GB/T12604.1無損檢測

術(shù)語超聲檢測GB/T27664.1無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗第1部分：儀器GB/T27664.2無損檢測

超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗第2部分：探頭JB/T8428無損檢測超聲檢測用試塊JB/T9214無損檢測A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T10062超聲探傷用探頭性能測試方法NB/T47013.1承壓設(shè)備無損檢測

第1部分：通用要求三、標準修改及內(nèi)容解析第八頁，共412頁。解釋：GB/T11259-2008替代JB/T7913-1995；GB/T12604.1-2005替代GB/T12604.1-1990；（最新版本）GB/T27664.1-2011替代JB/T10061-1999；GB/T27664.2-2011替代JB/T10062-1999；JB/T9214-2010替代JB/T9214-1999；（除儀器和探頭組合頻率的測試方法外）JB/T8428-2006替代JB/T10063-1999。第九頁，共412頁。3術(shù)語和定義修改概述：重新定義了基準靈敏度和掃查靈敏度，增加了“工件厚度”。GB/T12604.1和NB/T47013.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。3.1底波降低量BG/BF

鍛件檢測時，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅BF的比值，用dB值來表示。3.2密集區(qū)缺陷鍛件檢測時，在顯示屏掃描線上相當于50mm聲程范圍內(nèi)同時有5個或5個以上的缺陷反射信號，或是在50×50mm的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個或5個以上的缺陷反射信號，其反射波幅均大于等于某一特定當量平底孔的缺陷。第十頁，共412頁。3.3基準靈敏度將對比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準時的靈敏度。3.4掃查靈敏度

在基準靈敏度基礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測缺陷要求及探頭類型等適當提高dB數(shù)（增益）進行實際檢測的靈敏度。

3.5缺陷自身高度缺陷在工件厚度方向上的尺寸。3.6回波動態(tài)波形回波動態(tài)波形是探頭移動距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。第十一頁，共412頁。3.7工件厚度ta）對于平板對接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時，工件厚度t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時，工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度；b）對于插入式接管角接接頭，工件厚度t為筒體或封頭公稱厚度；安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭，工件厚度t為接管公稱厚度；c）對于T型焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱厚度。解釋：根據(jù)實際需要明確了幾種工件的厚度，把工件厚度作為確定對比試塊類型、檢測靈敏度大小及質(zhì)量分級的參數(shù)固定下來。第十二頁，共412頁。4一般要求4.1人員修改概述：增加了4.1.2條文。4.1.1超聲檢測人員的一般要求應(yīng)符合NB/T47013.1的有關(guān)規(guī)定。4.1.2超聲檢測人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識，應(yīng)熟悉被檢工件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對檢測中出現(xiàn)的問題能作出分析、判斷和處理。解釋：

對超聲檢測人員提出了更高的要求，即不僅會操作儀器，還要具備一定的基礎(chǔ)知識，并對檢測出現(xiàn)的問題作出判定，這一點對超聲檢測來說尤為重要。

第十三頁，共412頁。4.2設(shè)備和器材修改概述：對設(shè)備、探頭、試塊和耦合劑等都提出了新的要求。4.2.1設(shè)備和器材產(chǎn)品質(zhì)量合格證超聲檢測儀產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出預熱時間、低電壓報警或低電壓自動關(guān)機電壓、發(fā)射脈沖重復頻率、有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時間、發(fā)射脈沖寬度（采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖的）和接收器頻帶等主要性能參數(shù)；探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對脈沖回波靈敏度、脈沖寬度以及聲束性能（包括探頭入射點、折射角（K值）、主聲束偏離、偏向角及偏移、聲束擴散角等）等主要參數(shù)。解釋：2005版只要求超聲檢測設(shè)備具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。現(xiàn)列出了至少要包括的項目，并有相應(yīng)指標的要求。第十四頁，共412頁。4.2.2檢測儀器、探頭和系統(tǒng)性能4.2.2.1檢測儀器采用A型脈沖反射式超聲檢測儀，其工作頻率按-3dB測量應(yīng)至少包括0.5MHz～10MHz頻率范圍，超聲儀器各性能指標和測試條件按照附錄A（規(guī)范性附錄）中的要求，測試方法按GB/T27664.1的規(guī)定。解釋：工作頻率范圍為0.5～10MHz，應(yīng)按-3dB法測量得出；其他性能指標見附錄A。第十五頁，共412頁。4.2.2.2探頭圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm，方形晶片任一邊長一般不應(yīng)大于40mm，其性能指標應(yīng)符合附錄B（規(guī)范性附錄）的要求，測試方法按GB/T27664.2的規(guī)定。4.2.2.3儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠場分辨力。4.2.2.3.2以下情況時應(yīng)測定儀器和探頭的組合性能：a)新購置的超聲儀器和（或）探頭；b)儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c)檢測人員有懷疑時。解釋：晶片尺寸上限，從25mm放寬到40mm。探頭性能指標見附錄B，比2005版標準的要求具體且全面。第十六頁，共412頁。4.2.2.3.3水平線性偏差不大于1%，垂直線性偏差不大于5%。4.2.2.3.4儀器和探頭的組合頻率與探頭標稱頻率之間偏差不得大于±10%。4.2.2.3.5儀器-直探頭組合性能要求a)靈敏度余量應(yīng)不小于32dB；b)在基準靈敏度下，對于標稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)不大于10mm；對于標稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)不大于15mm；c)直探頭遠場分辨力不小于20dB。解釋：靈敏度余量為新增加要求；直探頭遠場分辨力從30dB改為20dB。第十七頁，共412頁。4.2.2.3.6儀器-斜探頭組合性能要求a)靈敏度余量應(yīng)不小于42dB；b)斜探頭遠場分辨力不小于12dB。4.2.2.3.7在達到所探工件的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB4.2.2.3.8儀器和探頭組合頻率的測試方法按JB/T10062的規(guī)定，其它組合性能的測試方法按JB/T9214的規(guī)定。解釋：靈敏度余量為新增加要求；斜探頭遠場分辨力從6dB改為12dB。第十八頁，共412頁。4.2.3試塊修改概述：對標準試塊和對比試塊重新進行定義，與2005版有較大的不同。4.2.3.1標準試塊4.2.3.1.1

標準試塊是指具有規(guī)定的化學成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評定和校準超聲檢測設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準的試塊。本部分采用的標準試塊為20號優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制的CSK-IA、DZ-1和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2CSK-IA試塊的具體形狀、尺寸見本部分。DZ-1和DB-PZ20-2的具體形狀和尺寸見JB/T9214。4.2.3.1.3

標準試塊制造商應(yīng)滿足JB/T8428的要求，試塊制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確保在相同測試條件下比較其所制造的每一標準試塊與國家標準樣品或類似具備量值傳遞基準的標準試塊上的同種反射體（面）時，其最大反射波幅差應(yīng)小于等于2dB。第十九頁，共412頁。JB/T9214-2010標準試塊：DZ-1和DB-PZ20-2用途：

DB-PZ20-2測定直探頭垂直線性和直探頭靈敏度余量DZ-1和DB-PZ20-2組合，測定直探頭盲區(qū)第二十頁，共412頁。第二十一頁，共412頁。4.2.3.2對比試塊4.2.3.2.1

對比試塊是指與被檢件或材料化學成分相似，含有意義明確參考反射體（反射體應(yīng)采用機加工方式制作）的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢出的缺陷信號與已知反射體所產(chǎn)生的信號相比較，即用于檢測校準的試塊。4.2.3.2.2

對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到不同工件厚度對接焊接接頭的檢測，試塊厚度的選擇應(yīng)由較大工件厚度確定。解釋：對于不等厚工件，靈敏度按薄的選擇，試塊厚度按厚的選擇。第二十二頁，共412頁。4.2.3.2.3對比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學性能相同或相似的材料制成，當采用直探頭檢測時，不得有大于或等于φ2mm平底孔當量直徑的缺陷。4.2.3.2.4不同被檢工件超聲檢測用對比試塊人工反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.2.3.2.5對比試塊的尺寸精度在本部分有明確要求時應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件，無明確要求時參照GB/T8428的規(guī)定。第二十三頁，共412頁。4.2.4耦合劑4.2.4.1耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測表面，如機油、化學漿糊、甘油和水等。4.2.4.2耦合劑污染物含量的控制4.2.4.2.1鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/L。4.2.4.2.2奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250mg/L。解釋：對使用在奧氏體不銹鋼、鎳基合金和鈦材上的耦合劑規(guī)定了污染物含量要求，避免因耦合劑污染物的殘留對工件造成腐蝕，也是與國際標準接軌。第二十四頁，共412頁。4.2.5超聲檢測設(shè)備和器材的校準、核查、運行核查和檢查的要求4.2.5.1校準、核查和運行核查應(yīng)在標準試塊上進行，應(yīng)使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。4.2.5.2校準或核查4.2.5.2.1每年至少對超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨力和儀器的衰減器精度，進行一次校準并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.2.2每年至少對標準試塊與對比試塊的表面腐蝕與機械損傷，進行一次核查。4.2.5.3運行核查4.2.5.3.1模擬超聲檢測儀每隔3個月或數(shù)字超聲檢測儀每隔6月至少對儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進行一次運行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。

第二十五頁，共412頁。4.2.5.3.2每3個月至少對盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進行一次運行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.4檢查4.2.5.4.1每次檢測前應(yīng)對檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開機信號顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2使用斜探頭時，檢測前應(yīng)測定入射點（前沿距離）和折射角（K值）。4.2.5.5校準、核查、運行核查和檢查時的注意事項校準、核查、運行核查和檢查時，應(yīng)將影響儀器線性的控制器（如抑制或濾波開關(guān)等）均置于“關(guān)”的位置或處于最低水平上。解釋：為了提高超聲檢測數(shù)據(jù)準確、結(jié)論可靠，加強了對儀器、探頭和試塊的校準或核查。第二十六頁，共412頁。4.3工藝文件4.3.1工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導書。4.3.2工藝規(guī)程除滿足NB/T47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定表1和相關(guān)章節(jié)所列相關(guān)因素的具體范圍或要求。相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時，應(yīng)重新編制或修訂進行工藝規(guī)程。4.3.3應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測要求編制操作指導書。其內(nèi)容除滿足NB/T47013.1的要求外，至少還應(yīng)包括：a）檢測技術(shù)要求：檢測技術(shù)（直探頭檢測、斜探頭檢測、直接接觸法、液浸法等）和檢測波形等；b）檢測對象：承壓設(shè)備類別，檢測對象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測部位等；c）檢測設(shè)備器材：儀器型號、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類，儀器和探頭性能檢測的項目、時機和性能指標等；第二十七頁，共412頁。d）檢測工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測記錄和評定要求、檢測示意圖等。4.3.4

操作指導書在首次應(yīng)用前應(yīng)進行工藝驗證，驗證方式可在相關(guān)對比試塊上進行，驗證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。第二十八頁，共412頁。解釋：本條為新增條款；工藝文件有工藝規(guī)程和操作指導書。參照ASME規(guī)范，列出了規(guī)程應(yīng)包括的相關(guān)因素；參照ASME規(guī)范應(yīng)對規(guī)程進行演示的要求，本條規(guī)定了規(guī)程首次應(yīng)用前應(yīng)進行工藝驗證。但這種驗證采取一種簡化的方法，即可在相關(guān)的對比試塊上進行。驗證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。第二十九頁，共412頁。4.4安全要求檢測場所、環(huán)境及安全防護應(yīng)符合NB/T47013.1的規(guī)定。解釋：本條為新增條款，按標準的統(tǒng)一要求增加?，F(xiàn)場檢測應(yīng)以安全第一。較差的條件，如交叉作業(yè)、高空作業(yè)、空間受限及存在可燃氣體和有毒有害物質(zhì)等等，容易使檢測人員受到傷害，所以必須采取可靠的防范措施。第三十頁，共412頁。4.5檢測實施4.5.1檢測準備4.5.1.1在承壓設(shè)備的制造、安裝及在用檢驗中，超聲檢測時機及檢測比例的選擇等應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標準及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。4.5.1.2所確定的檢測面應(yīng)保證工件被檢部分能得到充分檢測。4.5.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測面（探頭經(jīng)過的區(qū)域）上所有影響檢測的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測結(jié)果的有效性。第三十一頁，共412頁。4.5.2掃查覆蓋為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5%或優(yōu)先滿足相應(yīng)章節(jié)的檢測覆蓋要求。4.5.3探頭的移動速度探頭的掃查速度一般不應(yīng)超過150mm/s。當采用自動報警裝置掃查時，掃查速度應(yīng)通過對比試驗進行確定。4.5.4掃查靈敏度掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。第三十二頁，共412頁。4.5.6靈敏度補償a）耦合補償：在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由對比試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的耦合損失進行補償；b）衰減補償：在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由對比試塊與被檢工件材質(zhì)衰減不同引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償；c）曲面補償：在檢測和缺陷定量時，對檢測面是曲面的工件，應(yīng)對由工件和對比試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進行補償。第三十三頁，共412頁。4.5.6儀器和探頭系統(tǒng)的復核4.5.6.1發(fā)生以下情況時應(yīng)對系統(tǒng)進行復核：a）探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)發(fā)生改變時；b）懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時；c）連續(xù)工作4h以上時；d）工作結(jié)束時。4.6.6.2掃描量程的復核如果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線該點讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢。第三十四頁，共412頁。4.6.6.3掃查靈敏度的復核復核時，在檢測范圍內(nèi)如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離—波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。解釋：與原版基本一致；按ASME規(guī)范，補充了“全掃描量程的5%”的要求。要求更嚴。第三十五頁，共412頁。5承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級5.1范圍本章規(guī)定了承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.2承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測工藝文件原材料或零部件的超聲檢測工藝文件應(yīng)滿足4.3的要求之外，還應(yīng)包括表2所列的相關(guān)因素。序號相關(guān)因素的內(nèi)容1產(chǎn)品形式（板材、管材、鍛件等）2檢測時機（如熱處理前或后）3檢測范圍4質(zhì)量驗收等級表2原材料或零部件超聲檢測工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素第三十六頁，共412頁。板材檢測概述加工方式：由板坯軋制而成。主要缺陷：分層、折疊、白點、裂紋等，分層和折疊大都平行于表面，白點和裂紋具有不同的方向。檢測方法：直探頭（檢測分層、折疊）斜探頭（檢測白點、裂紋）主要國際標準：1、JISG0801壓力容器用鋼板超聲檢測；2、BSEN10160厚度大于等于6mm鋼板的超聲檢測；3、ASME規(guī)范第三十七頁，共412頁。5.3承壓設(shè)備用板材超聲檢測方法和質(zhì)量分級5.3.1范圍5.3.1.1本條適用于板厚≥6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.3.1.2鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級按本條。5.3.1.3奧氏體不銹鋼和奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼板材超聲檢測方法可參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級按本條。解釋：增加了鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測。第三十八頁，共412頁。5.3.2檢測原則5.3.2.1板材一般采用直探頭進行檢測。5.3.2.2在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時，可采用斜探頭進行檢測。5.3.2.3可選板材的任一軋制表面進行檢測。若檢測人員認為需要或技術(shù)條件有要求時，也可選板材的上、下兩軋制表面分別進行檢測。解釋：基本內(nèi)容與2015版相同，增加了5.3.2.1條款，強調(diào)了以直探頭為主進行檢測，在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時，可采用斜探頭進行檢測。在板材的上、下兩軋制表面分別進行檢測一般較少使用，要求很高。第三十九頁，共412頁。5.3.3探頭選用5.3.3.1直探頭5.3.3.1.1直探頭選用應(yīng)按表3的規(guī)定進行。5.3.3.1.2當采用液浸法檢測板厚小于等于20mm的板材時，也可選用單晶直探頭進行檢測。5.3.3.1.3雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄C（規(guī)范性附錄）的要求。第四十頁，共412頁。解釋：增加了條款5.3.3.1.2，采用液浸法時，由于盲區(qū)在液體中，所以可以使用單晶直探頭；與2005版相比，降低了對探頭頻率和尺寸的要求，有更大的選擇范圍，但應(yīng)注意頻率和晶片尺寸對檢測結(jié)果的影響；板厚20mm～60mm時也可使用雙晶探頭，但這對雙晶探頭的要求更高。第四十一頁，共412頁。5.3.3.2斜探頭斜探頭的選用應(yīng)按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進行。5.3.4對比試塊5.3.4.1用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的板材時，可以采用如圖1所示的階梯平底試塊。5.3.4.2檢測厚度大于20mm的板材時，對比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表4和圖2的規(guī)定。對比試塊人工反射體為φ5mm平底孔，反射體個數(shù)至少3個。第四十二頁，共412頁。第四十三頁，共412頁。第四十四頁，共412頁。解釋：本次修訂對兩種試塊都進行了較大的改動。階梯平底試塊是為了適應(yīng)新的厚度，最大厚度至60mm。φ5mm平底孔對比試塊修改的原因是：從JB1150-73到JB/T4730.3-2005，鋼板檢測用對比試塊均為單一平底孔試塊，即只用一個φ5mm平底孔進行靈敏度校準，這是一種比較粗略的檢測方法，檢測時各個深度的靈敏度是不一致的，見如下舉例：第四十五頁，共412頁。例如，當板厚為150mm時，是將CBII-4試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準靈敏度，這時的DAC曲線如圖所示。第四十六頁，共412頁。由圖可見，檢測用的曲線為一條水平線，一般稱為參考線（ARL），它與φ5平底孔的DAC曲線相交于90mm聲程處。所以，在小于90mm的范圍內(nèi)，靈敏度要高于φ5平底孔，在90mm處，靈敏度等于φ5平底孔，而在大于90mm范圍內(nèi)，靈敏度要比φ5平底孔低。所以，對鋼板檢測時，不同聲程處的靈敏度是不一樣?，F(xiàn)修改為用至少3個平底孔制作DAC曲線，提高了檢測結(jié)果的合理性和一致性。φ5mm平底孔對比試塊共6塊，除1#試塊外，其余可以“以厚代薄”，可根據(jù)本單位的實際情況購買或制作。第四十七頁，共412頁。5.3.5靈敏度的確定5.3.5.1板厚小于等于20mm時，用圖1所示階梯平底試塊調(diào)節(jié)，也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié)，此時用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準靈敏度。5.3.5.2板厚大于20mm時，按所用探頭和儀器在φ5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線，并以此曲線作為基準靈敏度。5.3.5.3如能確定板材底面回波與不同深度φ5平底孔反射波之間的關(guān)系，則可采用板材無缺陷完好部位第一次底波來調(diào)節(jié)基準靈敏度。5.3.5.4掃查靈敏度一般應(yīng)比基準靈敏度高6dB。第四十八頁，共412頁。解釋：板厚小于等于20mm時，可以使用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，也可以用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度。板厚大于20mm時，在φ5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)注意用雙晶探頭也是如此。5.3.5.3為新增條款。對板厚大于20mm時，特別是板厚大于等于探頭3倍近場區(qū)時，如用底波調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)保證整個板厚范圍內(nèi)的靈敏度和試塊調(diào)節(jié)的基本一致。檢測距離大于探頭的3倍近場區(qū)時，底波和φ5mm平底孔反射波間有較好的對應(yīng)關(guān)系。但此對應(yīng)關(guān)系僅適用于3倍近場區(qū)之外的區(qū)域，并不適用整個板厚區(qū)域，因此檢測時可用計算法或AVG法，有缺陷時，不同的區(qū)域應(yīng)分別評定。第四十九頁，共412頁。問題：（1）板厚小于等于20mm時，雙晶探頭可以用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，但也可以用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度，那為什么還需要階梯平底試塊？（2）用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度時，如沒有相應(yīng)的厚度（如20mm），如何調(diào)節(jié)？（3）φ5mm平底孔的間距應(yīng)為多少？第五十頁，共412頁。5.3.6檢測5.3.6.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.3.6.2靈敏度補償檢測時應(yīng)根據(jù)實際情況進行耦合補償和衰減補償。5.3.6.3掃查方式a）在板材周邊或剖口預定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫姳?；b）在板材中部區(qū)域，探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于50mm的平行線進行掃查，或探頭沿垂直和平行板材壓延方向且間距不大于100mm格子線進行掃查。掃查示意圖見圖3；c）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d）雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。第五十一頁，共412頁。第五十二頁，共412頁。解釋：增加了條款“5.3.6.2靈敏度補償”；板材中部的掃查，把2005版間距不大于100mm平行線改為間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm格子線；板材周邊或剖口預定線兩側(cè)范圍的掃查，按EN10160修改，掃查寬度與板厚有關(guān)。2005版規(guī)定“在鋼板剖口預定線兩側(cè)各50mm（當板厚超過100mm時，以板厚的一半為準）范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查”。第五十三頁，共412頁。問題：（1）為什么在板材周邊或剖口預定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查？（2）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。其他形式的掃查有哪些？（3）雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。具體如何實施？第五十四頁，共412頁。5.3.6.4斜探頭檢測按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進行。5.3.7缺陷的判定和定量5.3.7.1在檢測基準靈敏度條件下，發(fā)現(xiàn)下列兩種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距離-波幅曲線，或用雙晶探頭檢測板厚小于20mm板材時，缺陷第一次反射波（F1）波幅大于或等于顯示屏滿刻度的50%；b）底面第一次反射波（B1）波幅低于顯示屏滿刻度的50%，即B1＜50%。第五十五頁，共412頁。解釋：對缺陷的判定有部分修改，主要有3點：（1）單晶直探頭或

雙晶直探頭（T>20-60mm），﹥100%DAC；（2）雙晶直探頭（T=6～20mm），≥50%滿屏高度；（3）底波降低量，

B1＜50%滿屏高度。應(yīng)特別注意底波降低的原因以及應(yīng)在什么靈敏度下判定？第五十六頁，共412頁。5.3.7.2缺陷的定量5.3.7.2.1雙晶直探頭檢測時缺陷的定量a）使用雙晶直探頭對缺陷進行定量時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直；b）板材厚度小于等于20mm時，移動探頭使缺陷波下降到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%，探頭中心點即為缺陷的邊界點；c）板材厚度大于20mm～60mm時，移動探頭使缺陷波下降到距離-波幅曲線，探頭中心點即為缺陷的邊界點；第五十七頁，共412頁。d）確定5.3.7.1b）中缺陷的邊界范圍時，移動探頭使底面第一次反射波上升高到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%或上升到距離-波幅曲線，此時探頭中心點即為缺陷的邊界點；e）缺陷邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為缺陷的長度，矩形面積則為缺陷的指示面積。5.3.7.2.2單晶直探頭檢測時缺陷的定量使用單晶直探頭除按5.3.7.2.1c)、d)、e)的方法對缺陷進行定量外，還應(yīng)記錄缺陷的反射波幅或當量平底孔直徑。解釋：采用EN10160規(guī)定的方法，用平行于板材壓延方向的矩形框來評定缺陷，直觀且重復性好。單直探頭需要記錄反射波幅，主要用于評級。第五十八頁，共412頁。5.3.8缺陷尺寸的評定方法5.3.8.1缺陷指示長度的評定規(guī)則用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為該缺陷的指示長度。5.3.8.2單個缺陷指示面積的評定規(guī)則a）一個缺陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個指示面積；b）多個缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時，按單個缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。第五十九頁，共412頁。解釋：（1）第六十頁，共412頁。（2）多個缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時，按單個缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。舉例：1）缺陷20×10，間隔18，缺陷30×20，間隔42，缺陷45×202）缺陷20×10，間隔18，缺陷30×20，間隔28，缺陷40×25第六十一頁，共412頁。5.3.9板材質(zhì)量分級5.3.9.1板材質(zhì)量分級見表6和表7。在具體進行質(zhì)量分級要求時，表6和表7應(yīng)獨立使用。5.3.9.2在檢測過程中，檢測人員如確認板材中有白點、裂紋等缺陷存在時，應(yīng)評為V級。5.3.9.3在板材中部檢測區(qū)域，按最大允許單個缺陷指示面積和任一1m×1m檢測面積內(nèi)缺陷最大允許個數(shù)確定質(zhì)量等級。如整張板材中部檢測面積小于1m×1m，缺陷最大允許個數(shù)可按比例折算。5.3.9.4在板材邊緣檢測區(qū)域，按最大允許單個缺陷指示長度、最大允許單個缺陷指示面積和任一1m檢測長度內(nèi)最大允許缺陷個數(shù)確定質(zhì)量等級。如整張板材邊緣檢測長度小于1m，缺陷最大允許個數(shù)可按比例折算。第六十二頁，共412頁。第六十三頁，共412頁。第六十四頁，共412頁。解釋：驗收標準基本與EN10160相同；中部區(qū)域評定單個缺陷指示面積和1×1mm內(nèi)缺陷個數(shù)；邊緣和坡口區(qū)域評定單個缺陷指示長度、單個缺陷指示面積和1m長度內(nèi)缺陷個數(shù)；注意以下幾點：（1）雙晶探頭僅用缺陷面積分級（為什么？）（2）單直探頭Ⅰ、Ⅱ級用缺陷波幅分級，φ5+8dB大致相當于φ8，φ5+14dB大致

相當于φ11。Ⅲ、Ⅳ級用缺陷面積分

級（為什么？）（3）底波降低用缺陷面積分級。第六十五頁，共412頁。問題：板材檢測，單直探頭檢測發(fā)現(xiàn)單個缺陷當量直徑φ5+6dB，測定缺陷面積S>1000mm2,如何評級？請考慮：1、是否有這種可能？2、如果有，如何評級？第六十六頁，共412頁。答：嚴格來說，單直探頭檢測時，如缺陷面積小于聲場截面，用當量直徑評定，如缺陷面積大于聲場截面時，就用缺陷面積評定。φ5+8dB=φ8，折算成面積約50mm2；φ5+14dB=φ11，折算成面積約100mm2，與雙晶探頭是對應(yīng)的。所以，如果缺陷面積大于100mm2，就用面積評定。第六十七頁，共412頁。附

錄C（規(guī)范性附錄）雙晶直探頭性能要求C.1距離—波幅特性曲線采用圖1所示試塊，在各個厚度上測定其回波高度（單位為dB），并作出如圖C.1所示的特性曲線，該特性曲線應(yīng)滿足下述條件：a）在雙晶直探頭使用范圍的極限厚度上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)；b）在厚度3mm上的回波高度，與最大回波高度差也應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)。第六十八頁，共412頁。t0：階梯試塊回波最大時的厚度t：雙晶探頭使用范圍的極限厚度圖C.1雙晶直探頭距離—波幅特性曲線第六十九頁，共412頁。C.2表面回波高度用直接接觸法的表面回波高度，應(yīng)比圖C.1中t0處最大回波高度低40dB以上。C.3檢出靈敏度移動探頭對準圖C.2試塊φ5.6mm平底孔，其回波高度與最大回波高度差應(yīng)在-10dB±2dB范圍內(nèi)。C.4有效波束寬度將探頭對準圖C.2試塊φ5.6mm平底孔，并與聲波分割面平行地移動，按6dB法測定波束寬度，對于承壓設(shè)備用的鋼板檢測，其有效值應(yīng)大于15mm。第七十頁，共412頁。圖C.2測定儀器和探頭組合性能試塊第七十一頁，共412頁。解釋：對雙晶探頭，一般認為焦點波幅上下-6dB為有效檢測區(qū)域；表面回波高度為探頭發(fā)射聲波在探頭與工件界面反射被探頭接受的回波，它直接決定探頭盲區(qū)的大小；檢出靈敏度，保證檢測所需要的靈敏度，與頻率、晶片大小等有關(guān)；有效波束寬度，探頭波束要有一定的寬度，取決于聚焦程度和晶片大小。第七十二頁，共412頁。雙晶探頭表面回波第七十三頁，共412頁。附錄D（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用板材斜探頭檢測D.1范圍本附錄規(guī)定了用斜探頭檢測板材中非夾層性缺陷的超聲檢測方法，并將其作為直探頭檢測的補充。D.2探頭D.2.1原則上選用折射角為45°（K1）的斜探頭，晶片有效直徑一般應(yīng)在13mm～25mm之間。也可選用其他晶片尺寸和折射角（K值）的探頭。D.2.2探頭標稱頻率為2MHz～5MHz。第七十四頁，共412頁。D.3對比試塊D.3.1對比試塊應(yīng)與被檢板材聲學特性相同或相似，厚度差不超過10%。D.3.2對比試塊上的人工反射體為V形槽，角度為60°，槽深為板厚的3%，槽的長度至少為25mm。D.3.3對比試塊的尺寸、V形槽位置應(yīng)符合圖D.1的規(guī)定。第七十五頁，共412頁。D.4距離-波幅曲線的確定D.4.1厚度小于或等于50mm的板材D.4.1.1把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對準槽的寬邊，找出第一個全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿刻度的80%，在顯示屏上記錄下該信號的位置。D.4.1.2不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動探頭，得到第二個全跨距信號，并找出信號最大反射波幅，在顯示屏上記錄下該信號的位置。D.4.1.3在顯示屏上將D.4.1.1和D.4.1.2所確定的點連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。第七十六頁，共412頁。D.4.2厚度大于50mm～250mm的板材D.4.2.1將探頭聲束對準試塊背面的槽，并找出第一個1/2跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的80%，在顯示屏上記下這個信號的位置。D.4.2.2不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動探頭，以全跨距對準切槽并獲得最大反射波幅，在顯示屏上記下這個幅值點。D.4.2.3在顯示屏上將D.4.2.1和D.4.2.2所確定的點連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。第七十七頁，共412頁。問題：斜探頭檢測，距離-波幅曲線確定后，檢測和評定時所觀察的區(qū)域范圍是從零點到最后一個V形槽反射回波之間的區(qū)域，還是二個V形槽反射回波之間的區(qū)域？第七十八頁，共412頁。答：標準沒有明確說明，但通常的做法是從零點到最后一個V形槽反射回波之間的區(qū)域為評定區(qū)，第一個V型槽之前用水平線連接，這樣做最嚴格。第七十九頁，共412頁。D.5掃查方式D.5.1在板材的軋制面上以垂直和平行于板材主要壓延方向的格子線進行掃查，格子線中心距為200mm。D.5.2當發(fā)現(xiàn)缺陷信號時，移動探頭使之能在顯示屏上得到最大反射波幅。D.5.3對于波幅等于或超過距離-波幅曲線的缺陷顯示，應(yīng)記錄其位置，并移動探頭使波幅降到滿刻度的25%來測量其長度。對于波幅低于距離-波幅曲線的缺陷，當指示長度較長時，也可記錄備案。D.5.4在每一個記錄缺陷位置上，應(yīng)以記錄缺陷中心起，在200mm×200mm的區(qū)域作100%檢測。第八十頁，共412頁。D.6驗收標準等于或超過距離-波幅曲線的任何缺陷信號均應(yīng)認為是不合格的。但是以縱波方法作輔助檢測時，若發(fā)現(xiàn)缺陷性質(zhì)是分層類的，則應(yīng)按5.3的規(guī)定處理。解釋：與2005版相比，刪除了厚度大于50mm～150mm板材距離-波幅曲線確定的方法。問題：如何確定對比試塊的長度？第八十一頁，共412頁。5.4承壓設(shè)備用復合板超聲檢測方法和質(zhì)量分級修改概述：修改內(nèi)容不多，主要是探頭、掃查方式等。5.4.1范圍5.4.1.1本條適用于基材厚度大于或等于6mm的承壓設(shè)備用不銹鋼-鋼、鈦-鋼、鋁-鋼、鎳-鋼及銅-鋼復合板的超聲檢測和質(zhì)量分級。5.4.1.2本條主要用于復合板基材與覆材界面結(jié)合狀態(tài)的超聲檢測。5.4.2檢測原則一般可從基材側(cè)檢測，也可選擇從覆材側(cè)進行檢測。第八十二頁，共412頁。5.4.3探頭選用采用2MHz～5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭，探頭晶片有效直徑應(yīng)在為10mm～25mm范圍內(nèi)。解釋：2005版標準規(guī)定探頭的選用與鋼板相同。復合板超聲檢測主要檢測未結(jié)合類缺陷，而板材檢測針對整個厚度范圍的檢測，所以探頭性能要求是不一樣的，特別是也按附錄A來要求選擇雙晶直探頭太嚴格了，必要性也不大。第八十三頁，共412頁。5.4.4靈敏度的確定5.4.4.1將探頭置于復合板完全結(jié)合部位，調(diào)節(jié)第一次底面回波高度為顯示屏滿刻度的80%。以此作為基準靈敏度。5.4.4.2掃查靈敏度一般應(yīng)比基準靈敏度高6dB。5.4.5檢測5.4.5.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。第八十四頁，共412頁。5.4.5.2掃查方式a）在復合板周邊或剖口預定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫姳?；b）在復合板中部區(qū)域，探頭沿垂直于基材壓延方向，間距不大于50mm的平行線進行掃查，或探頭沿垂直和平行基材壓延方向且間距不大于100mm格子線進行掃查。掃查示意圖見圖3；c）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d）雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。解釋：掃查方式與鋼板統(tǒng)一，2005版兩者略有差異。第八十五頁，共412頁。5.4.6未結(jié)合區(qū)的測定第一次底面回波高度低于顯示屏滿刻度的5%，且明顯有未結(jié)合缺陷回波存在時（回波高度≥5%），該部位則為未結(jié)合缺陷區(qū)。移動探頭，使第一次底面回波升高到顯示屏滿刻度的40%，以此時探頭中心即作為未結(jié)合缺陷區(qū)邊界點。5.4.7未結(jié)合的評定方法5.4.7.1未結(jié)合指示長度的評定規(guī)則未結(jié)合邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍該未結(jié)合，長邊作為其指示長度，矩形面積則為未結(jié)合區(qū)面積。若單個未結(jié)合的指示長度小于25mm時，可不作記錄。第八十六頁，共412頁。5.4.7.2單個未結(jié)合面積的評定規(guī)則a）一個未結(jié)合按其指示的矩形面積作為其該單個未結(jié)合面積；b）多個未結(jié)合其相鄰間距小于20mm時，按單個未結(jié)合處理，其面積為各個未結(jié)合面積之和。5.4.7.3未結(jié)合率的評定任一1m×1m檢測面積內(nèi)，按未結(jié)合區(qū)面積所占百分比來確定。5.4.8質(zhì)量分級5.4.8.1復合板質(zhì)量分級按表8的規(guī)定。5.4.8.2在復合板周邊或剖口預定線兩側(cè)作100%掃查的區(qū)域內(nèi)，未結(jié)合的指示長度大于或等于25mm時，定級為IV級。第八十七頁，共412頁。問題：（1）對復合板檢測應(yīng)如何選用探頭？假定基板厚90mm，

復板厚3mm。（2）從基板側(cè)檢測的結(jié)果和從復板側(cè)檢測的結(jié)果兩者

會一致嗎？第八十八頁，共412頁。（3）復合板檢測：按5.4.7.1，“若單個

未結(jié)合的指示長度小于25mm時，可不

作記錄”，但在5.5.7.2的表8規(guī)定，

“質(zhì)量等級I級的單個未結(jié)合指示長度

為0”。如檢測發(fā)現(xiàn)單個未結(jié)合的指

示長度小于25mm，如24mm，不作記錄，

是否評為I級？答：是的，這里的0不是真的0，而是指單個未結(jié)合的指示長度小于25mm。第八十九頁，共412頁。鍛件檢測概述加工方式：鍛件是將鑄錠或鍛坯在鍛錘或模具的壓力下變形制成一定形狀和尺寸的零件毛坯。鍛壓過程包括加熱、形變和冷卻。鍛造方式大致分為鐓粗、拔長和滾壓。主要缺陷：縮孔、縮松、夾雜物、折疊、白點、裂紋等，由于經(jīng)過鍛壓，許多缺陷接近于平行表面，但也有傾斜的，白點和裂紋具有不同的方向。檢測方法：直探頭（至少互相垂直兩個方向）斜探頭（環(huán)形和筒形鍛件）主要國際標準：1、BSEN10228-3-1998鋼鍛件無損檢驗.鐵素體或馬氏體鋼鍛件超聲檢驗；2、JISG3214-1991壓力容器用鋼鍛件；3、ASME規(guī)范SA-388大型鍛件超聲檢測第九十頁，共412頁。5.5承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件超聲檢測方法和質(zhì)量分級修改概述：主要修改了對比試塊、探頭的要求、需作斜探頭檢測的環(huán)形和筒形鍛件的內(nèi)外半徑之比和驗收標準等，檢測方法未做修改。5.5.1范圍5.5.1.1本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.5.1.2本條不適用于內(nèi)外半徑之比小于65%的環(huán)形和筒形鍛件的周向斜探頭檢測。解釋：對于環(huán)形和筒形鍛件的周向斜探頭檢測，2005版規(guī)定內(nèi)外半徑之比大于等于80%，現(xiàn)擴大至內(nèi)外半徑之比大于等于65%。主要原因：一是實際需要，二是能夠檢測。第九十一頁，共412頁。5.5.2檢測原則5.5.2.1檢測一般應(yīng)安排在熱處理后，孔、臺等結(jié)構(gòu)機加工前進行，檢測面的表面粗糙度≤6.3μm。5.5.2.2鍛件一般應(yīng)使用直探頭進行檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加斜探頭檢測。5.5.2.3檢測厚度小于等于45mm時，應(yīng)采用雙晶直探頭進行。檢測厚度大于45mm時，一般采用單晶直探頭進行。5.5.2.4鍛件厚度超過400mm時，應(yīng)從相對兩端面進行檢測。解釋：本條文為新增加，但內(nèi)容在2005版標準也有規(guī)定，系重新改寫。檢測厚度指直探頭檢測方向的厚度，2005版標準是檢測距離，容易引起誤解。第九十二頁，共412頁。5.5.3探頭選用5.5.3.1直探頭5.5.3.1.1探頭標稱頻率應(yīng)在1MHz～5MHz范圍內(nèi)。5.5.3.1.2雙晶直探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭晶片有效直徑應(yīng)在為10mm～40mm范圍內(nèi)。5.5.3.2斜探頭5.5.3.2.1探頭與被檢工件應(yīng)保持良好的接觸，遇有以下情況時，應(yīng)采用曲面試塊調(diào)節(jié)檢測范圍和基準靈敏度：a)在凸表面上縱向(軸向)掃查時，探頭楔塊寬度大于檢測面曲率半徑的1/5；b)在凸表面上橫向(周向)掃查時，探頭楔塊長度大于檢測面曲率半徑的1/5。5.5.3.2.2探頭標稱頻率主要為2MHz～5MHz，探頭晶片面積為80mm2～625mm2。第九十三頁，共412頁。5.5.4對比試塊5.5.4.1對比試塊應(yīng)符合4.7.2的規(guī)定。5.5.4.2對比試塊可由以下材料之一制成：a）被檢材料的多余部分（尺寸足夠時）；b）與被檢材料同鋼種、同熱處理狀態(tài)的材料；c）與被檢材料具有相同或相似聲學特性的材料。5.5.4.3單晶直探頭對比試塊單晶直探頭檢測采用CS-2試塊調(diào)節(jié)基準靈敏度，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表9的規(guī)定。如確有需要也可采用其他對比試塊。第九十四頁，共412頁。圖4CS-2對比試塊第九十五頁，共412頁。第九十六頁，共412頁。解釋：用CS-2試塊替代了2005版的CSⅠ試塊，按JB/T8428標準修改。CSⅠ試塊只有4塊，即深度分別為50、100、150、200mm的φ2mm平底孔試塊，顯然它是滿足不了檢測要求的?，F(xiàn)增加到33塊，最大深度到500mm，包括φ2、φ3和φ4平底孔，能滿足檢測要求。原有的4塊φ2mm平底孔試塊，包含在33塊試塊中，可繼續(xù)使用。各單位可根據(jù)產(chǎn)品的情況購買或制作。第九十七頁，共412頁。5.5.4.4雙晶直探頭對比試塊a）工件檢測距離小于45mm時，應(yīng)采用CS-3對比試塊；b）CS-3試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表10的

規(guī)定。解釋：CS-3試塊即為2005版的CSⅡ試塊，CS-3試塊沒有包括φ6mm平底孔，因為在確定靈敏度和質(zhì)量分級中都沒有用到。第九十八頁，共412頁。第九十九頁，共412頁。5.5.4.5工件檢測面曲率半徑小于等于250mm時，應(yīng)采用曲面對比試塊（試塊曲率半徑為工件曲率半徑的0.7～1.1倍）調(diào)節(jié)基準靈敏度，或采用CS-4對比試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。5.5.4.6對比試塊CS-2、CS-3、CS-4制造要求等見JB/T8428和GB/T11259的規(guī)定。第一百頁，共412頁。5.5.5靈敏度的確定5.5.5.1單晶直探頭基準靈敏度的確定使用CS-2或CS-4試塊，依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔（至少3個），制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準靈敏度。當被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場區(qū)長度，且檢測面與底面平行時，也可以采用底波計算法確定基準靈敏度。5.5.5.2雙晶直探頭基準靈敏度的確定使用CS-3試塊，依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔（至少3個）。制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準靈敏度。5.5.5.3掃查靈敏度一般應(yīng)比基準靈敏度高6dB。解釋：增加了掃查靈敏度，要求再一次提高。第一百零一頁，共412頁。5.5.6檢測5.5.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.5.6.2靈敏度補償檢測時應(yīng)根據(jù)實際情況進行耦合補償、衰減補償和曲面補償。5.5.6.3工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定a)在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1）或第n次底面回波幅度（Bn）為滿刻度的50%，記錄此時儀器增益或衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)儀器增益或衰減器，使第二次底面回波幅度或第m次底面回波幅度（2或m）為滿刻度的50%，兩次增益或衰減器讀數(shù)之差即為(B1-B2)或（Bn-Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。第一百零二頁，共412頁。b)工件厚度小于3倍探頭近場區(qū)長度（t<3N）時，衰減系數(shù)（滿足n﹥3N，m﹥n）按公式（1）計算： （1）式中：α

——衰減系數(shù)，dB/m（單程）；（Bn-Bm）——兩次底波增益或衰減器的讀數(shù)之差，dB；t

——工件檢測厚度，m；N

——單晶直探頭近場區(qū)長度，m；m、n——底波反射次數(shù)。第一百零三頁，共412頁。c)工件厚度大于等于3倍探頭近場區(qū)長度（N≥3）時，衰減系數(shù)式（2）計算 （2）式中：（B1-B2）——兩次底波增益或衰減器的讀數(shù)之差，dB；其余符號意義同b）。d）工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。解釋：2005版要求m=2n，現(xiàn)修改為m﹥n。第一百零四頁，共412頁。5.5.6.4掃查方式5.5.6.4.1直探頭檢測a)移動探頭從兩個相互垂直的方向在檢測面上作100%掃查。主要檢測方向如圖7所示。b)雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。c)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查，如一定間隔的平行線或格子線掃查。解釋：增加了掃查方式c），但要求降低，較少使用。第一百零五頁，共412頁。注：↑為應(yīng)檢測方向；※為參考檢測方向圖7檢測方向(垂直檢測法)第一百零六頁，共412頁。注：↑為應(yīng)檢測方向；※為參考檢測方向圖7檢測方向(垂直檢測法)第一百零七頁，共412頁。5.5.6.4.2斜探頭檢測斜探頭檢測應(yīng)按附錄E（規(guī)范性附錄）的要求進行。5.5.7缺陷當量的確定5.5.7.1當被檢缺陷的深度大于或等于所用探頭的3倍近場區(qū)時，可采用AVG曲線或計算法確定缺陷的當量。對于3倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用距離-波幅曲線來確定缺陷的當量。也可采用其他等效方法來確定。5.5.7.2當采用計算法確定缺陷當量時，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m，應(yīng)進行修正。5.5.7.3當采用距離-波幅曲線來確定缺陷當量時，若對比試塊與工件差值超過4dB/m，應(yīng)進行修正。第一百零八頁，共412頁。5.5.8質(zhì)量分級等級評定5.5.8.1缺陷的質(zhì)量分級見表11。5.5.8.2當檢測人員判定反射信號為白點、裂紋等危害性缺陷時，鍛件的質(zhì)量等級為V級。第一百零九頁，共412頁。解釋：評定標準有修改，總體偏嚴，個別略松，便于記憶。取消2005版“缺陷記錄”的條文，對于超標缺陷應(yīng)該記錄，未超標缺陷不作強行規(guī)定。增加密集區(qū)缺陷當量直徑的質(zhì)量分級。2005版標準只有密集區(qū)缺陷占檢測面積百分比的質(zhì)量分級，這對密集區(qū)缺陷控制偏松，不利于控制密集缺陷。密集區(qū)缺陷面積以大于等于φ2當量平底孔直徑的密集區(qū)缺陷所指示的面積計算，提高了要求。第一百一十頁，共412頁。問題：（1）鍛件厚度超過400mm時，應(yīng)從相對兩

端面進行檢測，請問檢測深度應(yīng)如何

確定？（2）圖7中，帶※號的參考檢測方向是否

可以不檢？（3）采用CS-4對比試塊來測定由于曲率不

同而引起的聲能損失，請問如何測定？第一百一十一頁，共412頁。附錄E（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲斜探頭檢測E.1范圍本附錄適用于承壓設(shè)備用環(huán)形和筒形鍛件的超聲斜探頭軸向檢測，也適用于內(nèi)外徑之比大于或等于65%的環(huán)形和筒形鍛件的超聲斜探頭周向檢測。E.2探頭E.2.1探頭標稱頻率主要為2MHz～5MHz。E.2.2探頭晶片面積為80mm2～625mm2。E.2.3原則上應(yīng)采用折射角為45°（K1）的探頭，但根據(jù)工件幾何形狀和內(nèi)外徑比例的不同，也可采用其他的折射角（值）探頭。第一百一十二頁，共412頁。E.3對比試塊為了調(diào)整靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長度上的加工余量部分制作對比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標準溝槽。V形槽長度為25mm，深度為鍛件壁厚的1%，角度為60°。也可采用其他等效的反射體（如邊角反射等）。E.4檢測方法E.4.1掃查方式掃查方式見圖E.1。第一百一十三頁，共412頁。圖E.1鍛件斜探頭檢測掃查方式第一百一十四頁，共412頁。E.4.2距離-波幅曲線的確定從鍛件外圓面將探頭對準內(nèi)圓面的標準溝槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿刻度的80%，將該值標在面板上，以其為掃查靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，再移動探頭測定外圓面的標準溝槽，并將最大的反射高度也標在面板上。將上述兩點用直線連接并延長，繪出距離-波幅曲線，并使之包括全部檢測范圍。內(nèi)圓面檢測時掃查靈敏度也按上述方法確定，但探頭斜楔應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。第一百一十五頁，共412頁。第一百一十六頁，共412頁。E.5記錄E.5.1缺陷在儀器熒光屏顯示的有效區(qū)為連接距離-波幅曲線兩點間的區(qū)域。E.5.2記錄波幅在距離-波幅曲線高度50%以上的缺陷反射波和缺陷位置。缺陷指示長度按-6dB法測定。當相鄰兩個缺陷間距小于或等于25mm時，按單個缺陷處理。第一百一十七頁，共412頁。第一百一十八頁，共412頁。E.6質(zhì)量分級E.6.1波幅高于距離-波幅曲線的缺陷質(zhì)量等級定為III級。E.6.2波幅在距離-波幅曲線的50%～100%的缺陷按表E.1分級。表E.1缺陷質(zhì)量分級質(zhì)量等級單個缺陷指示長度I≤1/3壁厚，且≤100mmII≤2/3壁厚，且≤150mmIII大于II級者第一百一十九頁，共412頁。問題：斜探頭檢測，按E.4.2以鍛件內(nèi)外圓面的標準溝槽的徑向回波確定距離-波幅曲線，“將上述兩點用直線連接并延長，繪出距離-波幅曲線，并使之包括全部檢測范圍”。按E.5.1“缺陷在儀器熒光屏顯示的有效區(qū)為連接距離-波幅曲線兩點間的區(qū)域”。那么檢測和評定時所觀察的區(qū)域范圍是從零點到最后一個V形槽反射回波之間的區(qū)域，還是二個V形槽反射回波之間的區(qū)域？第一百二十頁，共412頁。答：標準沒明確，確實是一個矛盾，嚴格來說應(yīng)按E.5.1。個人建議，與鋼板一樣，從零點到最后一個V形槽反射回波之間的區(qū)域為評定區(qū)，第一個V型槽之前用水平線連接，因為這樣做最嚴格，有些國內(nèi)外標準就是這樣規(guī)定的。第一百二十一頁，共412頁。5.6承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級修改概況：增加了徑向檢測對比試塊。5.6.1范圍5.6.1.1本條適用于直徑大于等于M36的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼螺栓坯件進行超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.6.1.2奧氏體鋼螺栓坯件的超聲檢測參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級按本條。解釋：2005版為不適用。修改主要是基于奧氏體不銹鋼螺栓坯件晶粒不像焊縫金屬那樣粗大，且尺寸一般也不大。5.6.2檢測原則檢測一般應(yīng)安排在熱處理后進行，檢測面的表面粗糙度≤6.3μm。5.6.3探頭選用采用2MHz～5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。第一百二十二頁，共412頁。5.6.4對比試塊5.6.4.1單晶直探頭軸向檢測時，對比試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合5.5.4.3的規(guī)定。5.6.4.2雙晶直探頭軸向檢測時，對比試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合5.5.4.4的規(guī)定。5.6.4.3徑向檢測時，應(yīng)盡可能選擇晶片尺寸較小的探頭。當螺栓坯件曲率半徑小于100mm時，應(yīng)采用圖8和表12所示曲面對比試塊形狀和尺寸。解釋：

2005版標準規(guī)定的試塊與鍛件相同，實用性較差?，F(xiàn)參考有關(guān)標準，增加了檢測螺栓坯件曲率半徑小于100mm時的對比試塊，更具可操作性。第一百二十三頁，共412頁。第一百二十四頁，共412頁。5.6.5靈敏度的確定5.6.5.1單晶直探頭基準靈敏度的確定軸向檢測時，使用CS-2試塊，根據(jù)檢測范圍依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔（至少3個），制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準靈敏度；徑向檢測時，使用CS-2試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測范圍或曲率半徑依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔，制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準靈敏度。第一百二十五頁，共412頁。5.6.5.2雙晶直探頭基準靈敏度的確定軸向檢測時，使用CS-3試塊，根據(jù)檢測范圍依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔（至少3個）。制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準靈敏度。徑向檢測時，使用CS-3試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測范圍或曲率半徑依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔。制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準靈敏度。5.6.5.3掃查靈敏度一般應(yīng)比基準靈敏度高6dB。第一百二十六頁，共412頁。5.6.6檢測5.6.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.6.6.2靈敏度補償檢測時應(yīng)根據(jù)實際情況進行耦合補償、衰減補償和曲面補償。5.6.6.3掃查方式5.6.6.3.1徑向檢測應(yīng)按螺旋線或沿圓周進行掃查，行程應(yīng)有重疊，掃查面應(yīng)包括整個圓柱表面。5.6.6.3.2軸向檢測一般應(yīng)從螺栓坯件的兩端面進行掃查，盡可能避免邊緣效應(yīng)對檢測結(jié)果的影響。第一百二十七頁，共412頁。5.6.7缺陷當量的確定一般采用距離-波幅曲線確定缺陷當量。5.6.8質(zhì)量分級5.6.8.1單個缺陷的質(zhì)量分級見表13。5.6.8.2由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級見表14。5.6.8.3按表13和表14評定缺陷等級時，應(yīng)作為獨立的等級分別使用。5.6.8.4當缺陷被檢測人員判定為白點、裂紋等危害性缺陷時，螺栓坯件的質(zhì)量等級為V級。第一百二十八頁，共412頁。解釋：單個缺陷質(zhì)量分級基本沒變化，除了φ5改成φ4+6dB，這是由于沒有φ5mm的平底孔試塊。由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級有修改，與鍛件相同。第一百二十九頁，共412頁。5.7承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測方法和質(zhì)量分級修改概況：基本沒變，有些小的修改，主要是細化了有關(guān)規(guī)定。5.7.1范圍5.7.1.1本條適用于承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件及奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼鍛件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.7.1.2承壓設(shè)備用鎳合金鍛件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級參照本條執(zhí)行。5.7.2檢測原則5.7.2.1鍛件原則上應(yīng)在熱處理后，加工成適合檢測外形時，并在精加工前進行超聲檢測。5.7.2.2檢測面粗糙度≤6.3μm，檢測面應(yīng)無氧化皮、漆皮、污物等。5.7.2.3一般應(yīng)進行直探頭縱波檢測。對筒形鍛件和環(huán)形鍛件還應(yīng)進行斜探頭檢測。第一百三十頁，共412頁。5.7.3探頭5.7.3.1探頭的標稱頻率為1MHz～2.