電磁爐DFMEA分析范本

個人收集整理ZQ文檔可能在端瀏覽體驗不.建議您優(yōu)先選擇，或下載源文到本機(jī)查文件編(潛在過程失效模式及后果分析（設(shè)計潛過程失效模式及后果分析（設(shè))項目名稱：過程任部門：嚴(yán)重度()編制者：頻度（）日期：探風(fēng)險序測數(shù)度（）編號措施執(zhí)行結(jié)果采取地措施嚴(yán)度頻探度潛在失效模式潛在失效后果潛在失效起因潛在失效起因機(jī)現(xiàn)行預(yù)防設(shè)計控制現(xiàn)行探測設(shè)計控制*極壓超出全范圍性能下降，客戶滿意①沒有考慮電壓偏高時極值地范圍②件參數(shù)設(shè)計偏高①設(shè)計時考慮地偏差范圍～②據(jù)具體情況調(diào)整、地阻值①使用輸出地代替輸出地進(jìn)行試②使各種材質(zhì)地鍋具進(jìn)行測試③測量方法不正確‘④件中最大值過大’③制定規(guī)范地測試方法*碼管缺畫、畫喪基本功能①件設(shè)計錯誤②設(shè)焊盤大小不易于生產(chǎn)③設(shè)計地顯端口反向④件參數(shù)不匹配③根據(jù)硬件規(guī)范書選擇匹配地參數(shù)*亮純蘭指示燈燒壞喪基本功能①靜電損壞②件參數(shù)不良導(dǎo)致長時點亮后損壞*亮中有鬼影戶對外觀滿意①件中對比度設(shè)置過強(qiáng)②驅(qū)動電偏大*碼管地亮暗不勻客戶對外觀不意①用口時，轉(zhuǎn)為輸出狀態(tài)前沒有將端口置成所須地輸出電平①根據(jù)實際效果調(diào)整對比度②模前確認(rèn)地驅(qū)動電壓值①格按電磁爐軟件規(guī)范進(jìn)行編程①光線暗地環(huán)境中進(jìn)行強(qiáng)目測①強(qiáng)顯示產(chǎn)品地外測試①在指示燈點亮地線路中增加嵌位二極管①化點亮①設(shè)計嚴(yán)格參計范》②規(guī)單排引腳數(shù)管統(tǒng)一地朝向高溫、高濕存放實驗文來自于網(wǎng)絡(luò)搜索第頁共頁文件編(潛在過程失效模式及后果分析（設(shè)計潛過程失效模式及后果分析（設(shè))項目名稱：過程任部門：嚴(yán)重度()編制者：頻度（）/

個人收集整理ZQ日期：探風(fēng)險序測數(shù)度（）編號措施執(zhí)行結(jié)果采取地措施嚴(yán)度頻探度潛在失效模式潛在失效后果潛在失效起因潛在失效起因機(jī)現(xiàn)行預(yù)防設(shè)計控制現(xiàn)行探測設(shè)計控制②硬件參數(shù)不匹配②根據(jù)實際情況調(diào)整電路圖中、地值，選用精度地電阻文來自于網(wǎng)絡(luò)搜索*振隨停止加熱①地布線不合理②電磁爐模具中線圈盤到陶瓷板地高度不合理③步電壓過低①線時將芯片地地線與各采樣信地地線嚴(yán)格共地②定電磁爐模具中線圈盤到陶瓷板地度±③高同步電壓，一般要，常規(guī)控在左右①分別在市電、穩(wěn)壓電源下老化模擬在地失效式②在試期間確定產(chǎn)品地模具是否滿足要求文來自于網(wǎng)絡(luò)搜索④同步正負(fù)兩端差值偏差小或偏大*率節(jié)范圍不適性能下降，客戶滿意①地極高壓點偏低或過高②磁爐模具中線圈盤到陶瓷板地高不合理③發(fā)熱盤地電感量與鍋具地材質(zhì)不匹④電流采樣參數(shù)錯誤：軟件地恒功控制或件地參數(shù)匹配⑤地布線不合理文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①要求輸出電壓時極壓為任何情況下極高壓不允許超過②定電磁爐模具中線圈盤到陶瓷板地高度為±③額定工作電壓為地機(jī)型如需兼容材、材質(zhì)地鍋需選擇μ電量地發(fā)盤；額定工作電為、地機(jī)型配置材質(zhì)、材質(zhì)地鍋具需選擇電量地發(fā)熱盤④恒控制部分地軟件嚴(yán)格參照電磁爐軟文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)中、條規(guī)定進(jìn)行測試第頁共頁文件編(潛在過程失效模式及后果分析（設(shè)計潛過程失效模式及后果分析（設(shè))項目名稱：過程任部門：嚴(yán)重度()編制者：頻度（）日期：探風(fēng)險序測數(shù)度（）編號措施執(zhí)行結(jié)果采取地措施嚴(yán)度頻探度潛在失效模式潛在失效后果/

個人收集整理ZQ潛在失效起因潛在失效起因機(jī)現(xiàn)行預(yù)防設(shè)計控制現(xiàn)行探測設(shè)計控制件標(biāo)準(zhǔn)⑤件數(shù)嚴(yán)格按照電磁爐標(biāo)準(zhǔn)原理圖⑥線時將芯片地地線與各采樣信號地地線嚴(yán)格共地*大力與最小連續(xù)檔切換時炸機(jī)*起一端鍋具后放平功率上沖不回落性能降，客不滿意①地結(jié)溫過高①控制最小導(dǎo)通寬度大于進(jìn)模擬測試文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索性能下降，客戶滿意①值定得過高①采用合適地最大值①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試*范性下降，內(nèi)轉(zhuǎn)電壓導(dǎo)致客不滿意機(jī)①采用變壓器供電地原理當(dāng)工作電壓變小變壓器地偏低導(dǎo)致導(dǎo)通時間長②作電壓變大時，軟件沒有進(jìn)行電壓突處理文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①采用開關(guān)電源供電地方案②用變壓器方案時對震蕩電源把穩(wěn)壓到去充電③件標(biāo)準(zhǔn)化①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試*電沖擊干擾性能下降，出現(xiàn)保后長時間客不滿意持續(xù)加熱*電容沖擊干擾出現(xiàn)機(jī)性下降，客不滿意文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①電流浪涌保護(hù)過于靈敏①調(diào)整浪涌電路靈敏度使其在同鍋具地況下在啟動時不動作要調(diào)整，①調(diào)整浪涌電路靈敏度，主要調(diào)整、，②涌端并電容濾波文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①電容沖擊試驗①電流浪涌保護(hù)不靈敏②準(zhǔn)干擾①電容沖擊試驗*涌驗炸機(jī)性能下降，客戶滿意/

個人收集整理ZQ①浪涌電路靈敏度過低②板壓敏電阻位置不良③采用硬件延時電路方案，反饋電容①調(diào)高浪涌電路靈敏度②板將壓敏電阻放在互感器之后③加大反饋電容地容值，改為①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試第頁共頁文件編(潛在過程失效模式及后果分析（設(shè)計潛過程失效模式及后果分析（設(shè))項目名稱：過程任部門：嚴(yán)重度()編制者：頻度（）日期：探風(fēng)險序測數(shù)度（）編號措施執(zhí)行結(jié)果采取地措施嚴(yán)度頻探度潛在失效模式潛在失效后果潛在失效起因潛在失效起因機(jī)現(xiàn)行預(yù)防設(shè)計控制現(xiàn)行探測設(shè)計控制地容值偏小*速脈沖群實驗時加熱不連續(xù)性下降，客不意①軟件誤動作②浪涌電路誤動作①單片機(jī)中斷口地地方加或，②軟件中斷程序中再次判斷③運(yùn)放輸出端加濾波電容*速脈沖群實驗時該點亮地閃性能下降按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試文檔來自于網(wǎng)絡(luò)索①與受雜波干擾①在線和線對地加濾波電容①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試*皮度超過℃性能下降，客戶滿意①銅皮寬度不夠，或銅皮裸露面積太?、谏瞎β势骷旧淼販厣邔?dǎo)致下方地銅皮發(fā)熱③元件地虛焊或脫焊造成文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①規(guī)范設(shè)計工藝標(biāo)準(zhǔn)②決發(fā)熱器件本身地溫升③感，振蕩電容等關(guān)鍵器件引腳折彎焊①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試/

個人收集整理ZQ*機(jī)風(fēng)扇不轉(zhuǎn)性能下降，客戶滿意①電源負(fù)載能力不夠②極管驅(qū)動能力不夠以致?lián)p壞③單片機(jī)在顯示板時由于排線接觸不良①加大電源負(fù)載能力②用更大驅(qū)動能力地三極管，如改③選合適地排線長度*物熱性能下降，客戶滿意①脈沖檢鍋個數(shù)太臨界②步端電壓差值過大①按實際測試結(jié)果取使取值盡可能遠(yuǎn)離臨值②調(diào)整同步參數(shù)使大小物脈沖個數(shù)有明顯差（）①據(jù)實測值設(shè)定，方法參見軟件標(biāo)準(zhǔn)文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試*物熱不穩(wěn)定性能下降，客戶滿意①電流檢鍋值太臨界②行電流檢鍋程序地延時太短①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試*小切換時小物加熱性能下降，客戶滿意①檢鍋公式系數(shù)取值不正確導(dǎo)致無法通電流檢出小物①根據(jù)實測值設(shè)定，方法參見軟件標(biāo)準(zhǔn)①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試第頁共頁文件編(潛在過程失效模式及后果分析（設(shè)計潛過程失效模式及后果分析（設(shè))項目名稱：過程任部門：嚴(yán)重度()編制者：頻度（）日期：探風(fēng)險序測數(shù)度（）/

個人收集整理ZQ編號措施執(zhí)行結(jié)果采取地措施嚴(yán)度頻探度潛在失效模式潛在失效后果潛在失效起因潛在失效起因機(jī)現(xiàn)行預(yù)防設(shè)計控制現(xiàn)行探測設(shè)計控制*熱段時間后出現(xiàn)死機(jī)性能下降，客戶滿意①開關(guān)電源芯片過熱②片程序受干擾丟失①布線時候保證開關(guān)芯片散熱良好，如大面積銅②在寫芯片用地管腳處加嵌位二極管①增上電延時電路標(biāo)準(zhǔn)原理圖②口初始化按照先寫數(shù)據(jù)再改方向再帶上拉地端口作為③用或者用由降壓穩(wěn)壓后地電源對蕩電路充電①軟增加掉電檢測處理，發(fā)現(xiàn)掉電關(guān)斷①大變壓器負(fù)能力或者改用開關(guān)電源②如果不能改電源則降低低壓時地輸出功率安全值文檔來自網(wǎng)絡(luò)搜索①監(jiān)控開關(guān)芯片地溫度*電機(jī)性能下降，客戶滿意①沒有上電延時電路②口初始化順序錯誤對地短路①進(jìn)行插拔電實驗*拔炸機(jī)性能下降，客戶滿意性下，客戶滿意①電源下降導(dǎo)致導(dǎo)通時間偏長①按電磁爐驗證標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)測試①壓高功率老化*壓功率加熱一段時間炸機(jī)①采用變壓器供電時驅(qū)動電壓下降導(dǎo)結(jié)溫升高②風(fēng)機(jī)轉(zhuǎn)速過低導(dǎo)致散熱能力降低③低壓時變壓器負(fù)載能力降低導(dǎo)致開通損增大文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索*復(fù)鍋干燒報*粥溢出/

個人收集整理ZQ性能下降，客戶滿意功效下降①反復(fù)端鍋造成溫度變化斜率變化太快①軟件控制恢復(fù)加熱時進(jìn)行干燒延時判斷①反復(fù)端鍋實驗②干燒測試①行食物試驗①水沸騰后沒有減小火力或者間斷比太大②溫不準(zhǔn)不能及時降低火力③考慮不同電壓和環(huán)境溫度、水量地響文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①通過時間和溫度控制保證未沸騰前轉(zhuǎn)到小力②擇合適地調(diào)功比③改進(jìn)測溫算法，采用新地測溫方式參軟標(biāo)準(zhǔn)④低時保證低功率恒功文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索第頁共頁文件編(潛在過程失效模式及后果分析（設(shè)計潛過程失效模式及后果分析（設(shè))項目名稱：過程任部門：嚴(yán)重度()編制者：頻度（）日期：探風(fēng)險序測數(shù)度（）編號措施執(zhí)行結(jié)果采取地措施嚴(yán)度頻探度潛在失效模式潛在失效后果潛在失效起因潛在失效起因機(jī)現(xiàn)行預(yù)防設(shè)計控制現(xiàn)行探測設(shè)計控制*飯糊功能效果下降①吸水溫度過高導(dǎo)致水量減少加熱量不均無法準(zhǔn)確判斷米水量和溫度點③調(diào)功比選擇不合適④沒慮不同電壓和環(huán)境溫度影響①風(fēng)不合理②瓷板與發(fā)熱盤之間地距離過近③步設(shè)置超前或滯后文檔來自于網(wǎng)絡(luò)搜索①控制吸水溫度在度左右②進(jìn)測溫算法新測溫方式參軟件標(biāo)準(zhǔn)③過實驗