X線頭影測量分析

X線頭影測量分析

CephalometricsAnalysis

X線頭影測量分析簡介1934年HofrathandBroadbent提出

我國于20世紀(jì)60年代初運(yùn)用于臨床X線頭影測量分析通過測量X線頭顱定位照相所得的影像,對牙頜、顱面各標(biāo)志點(diǎn)描繪出一定的線角進(jìn)行測量分析,從而了解牙頜、顱面軟硬組織的結(jié)構(gòu),使對牙頜、顱面的檢查診斷由表面形態(tài)深入到內(nèi)部的骨骼結(jié)構(gòu)中去,它是正畸臨床診斷及治療設(shè)計(jì)的一種重要手段.

X線頭影測量分析

簡言之：通過對X片進(jìn)行分析、測量，從而了解牙頜、顱面骨骼及軟組織發(fā)育狀況及相互關(guān)系

。X線頭影測量分析一、主要應(yīng)用研究顱面生長發(fā)育牙頜、顱面畸形的診斷分析確定錯(cuò)牙合畸形的矯治計(jì)劃研究矯治中，矯治后的變化外科正畸的診斷和矯治設(shè)計(jì)下頜功能分析X線頭影測量分析1.研究顱面生長發(fā)育

不同個(gè)體同一年齡段—橫向研究顱面發(fā)育同一個(gè)體各年齡段---縱向研究顱面發(fā)育明確了顱面生長發(fā)育機(jī)制，快速生長期的年齡、及對顱面生長發(fā)育的預(yù)測。

---“顱面生長發(fā)育”章節(jié)X線頭影測量分析通過X線對正常牙合人的顱面結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析得出正常牙合的各項(xiàng)測量參考標(biāo)準(zhǔn)作為診斷分析的基礎(chǔ)2.牙頜、顱面畸形的診斷分析

X線頭影測量分析3.確定錯(cuò)牙合畸形的矯治計(jì)劃對比分析出錯(cuò)牙合畸形的機(jī)制正常牙頜顱面關(guān)系個(gè)體牙頜顱面結(jié)構(gòu)確定牙和頜位的理想位置，制定可行的矯治方案X線頭影測量分析4.研究矯治中及矯治后牙頜、顱面的變化

治療前正畸治療治療中,矯治后對比X線頭影測量分析5.外科正畸的診斷和矯治設(shè)計(jì)

通過X線對顱面畸形患者進(jìn)行分析得出畸形的機(jī)制確定手術(shù)部位、方法及需要移動或切除的部位X線頭影測量分析局限性標(biāo)記點(diǎn)的定位都是相對標(biāo)記時(shí)存在個(gè)體差異存在種族、性別的差異X線頭影測量分析1.頭顱定位X線要求：頭顱定位的關(guān)鍵在于：定位儀上左右耳塞與眶點(diǎn)指針，三者構(gòu)成一與地面平行的恒定平面。定位X線頭影測量分析2.頭影圖的描繪X線頭影圖像上，因頭顱本身厚度或個(gè)體兩側(cè)結(jié)構(gòu)不完全對稱而出現(xiàn)的左右影像不完全重合按其平均中點(diǎn)來作描繪X線頭影測量分析傳統(tǒng)X線片數(shù)字化X線片X線頭影測量分析

傳統(tǒng)手描圖

數(shù)字化描圖X線頭影測量分析常用頭影測量標(biāo)志點(diǎn)標(biāo)志點(diǎn)：用來構(gòu)成一些平面及測量內(nèi)容的點(diǎn)1.解剖的，真正代表顱骨的解剖結(jié)構(gòu)2.引伸的，如兩測量平面相交的一個(gè)標(biāo)志點(diǎn)定點(diǎn)準(zhǔn)確才能獲得相應(yīng)準(zhǔn)確的頭影測量分析結(jié)果！X線頭影測量分析標(biāo)志點(diǎn)

硬組織測量標(biāo)志點(diǎn)軟組織測量標(biāo)志點(diǎn)X線頭影測量分析硬組織測量標(biāo)志點(diǎn)顱部 蝶鞍點(diǎn)（S） 鼻根點(diǎn)（N） 機(jī)械耳點(diǎn)(P)上頜骨 前鼻棘(ANS)

上齒槽座點(diǎn)（A） 上中切牙點(diǎn)（U1）下頜骨 下齒槽座點(diǎn)（B） 下中切牙點(diǎn)（L1） 頦前點(diǎn)（Pg） 頦下點(diǎn)(Me)

頦頂點(diǎn)(Gn)

X線頭影測量分析額點(diǎn)（G）鼻小柱點(diǎn)（Cm）鼻下點(diǎn)（Sn）上唇緣點(diǎn)（UL）下唇緣點(diǎn)（LL）軟組織頦前點(diǎn)(Pgs)軟組織頦下點(diǎn)(Mes)頸點(diǎn)（C）軟組織測量標(biāo)志點(diǎn)X線頭影測量分析Landmark（定點(diǎn)）X線頭影測量分析1.顱部標(biāo)志點(diǎn)X線頭影測量分析定點(diǎn)S(Sella蝶鞍中心點(diǎn))X線頭影測量分析定點(diǎn)N(Nasion鼻根點(diǎn))：鼻額縫最前點(diǎn)X線頭影測量分析定點(diǎn)P(Porion耳點(diǎn)）：機(jī)械耳點(diǎn)X線頭影測量分析定點(diǎn)顱底點(diǎn)(Ba,basion）枕骨大孔前緣中點(diǎn)X線頭影測量分析定點(diǎn)Bolton點(diǎn)：枕骨髁突后切跡最凹點(diǎn)X線頭影測量分析2.上頜標(biāo)志點(diǎn)X線頭影測量分析－定點(diǎn)Or(orbitale眶點(diǎn))X線頭影測量分析翼上頜裂點(diǎn)（Ptm）：翼上頜裂輪廓最下點(diǎn)X線頭影測量分析前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖X線頭影測量分析A(Subspinale上齒槽座點(diǎn))X線頭影測量分析－定點(diǎn)UI(Upperincisor上中切牙切端)

X線頭影測量分析3.下頜標(biāo)志點(diǎn)X線頭影測量分析－定點(diǎn)髁頂點(diǎn)(Co):髁突最上點(diǎn)X線頭影測量分析－定點(diǎn)關(guān)節(jié)點(diǎn)（Ar):顱底下緣與下頜髁突頸后緣之交點(diǎn)X線頭影測量分析－定點(diǎn)Go(Gonion下頜角點(diǎn))：下頜支平面與下頜角平面交角之分角線與下頜角的交點(diǎn)X線頭影測量分析B(Supramental下齒槽座點(diǎn))X線頭影測量分析LI(Lowerincisor下中切牙切端)

X線頭影測量分析－定點(diǎn)Po(Pogonion頦前點(diǎn))：頦部最突點(diǎn)X線頭影測量分析－定點(diǎn)Me(Menton頦下點(diǎn))X線頭影測量分析Gn(Gnathion頦頂點(diǎn))

:頦前點(diǎn)與頦下點(diǎn)之中點(diǎn)X線頭影測量分析D點(diǎn):下頜體骨性聯(lián)合部之中心點(diǎn)X線頭影測量分析第二次實(shí)驗(yàn)X線頭影測量分析頭影測量平面X線頭影測量分析1.基準(zhǔn)平面(Referenceline)：頭影測量中相對穩(wěn)定的平面X線頭影測量分析SN平面－前顱底平面FH平面－Frankfort平面Bolton平面–Bolton點(diǎn)與鼻根點(diǎn)連線1.基準(zhǔn)平面X線頭影測量分析－基準(zhǔn)平面SNplane前顱底平面X線頭影測量分析－基準(zhǔn)平面FHplane眶耳平面X線頭影測量分析－基準(zhǔn)平面Bolton平面X線頭影測量分析

基準(zhǔn)平面

X線頭影測量分析測量平面X線頭影測量分析－測量平面腭平面(ANS-PNS)X線頭影測量分析－測量平面全顱底平面（Ba-N):顱底點(diǎn)與鼻根點(diǎn)連線X線頭影測量分析全顱底平面X線頭影測量分析－測量平面牙合平面(OP)1:第一磨牙咬合中點(diǎn)于上下切牙間中點(diǎn)連線。2:功能牙合平面：第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一前磨牙的牙合接觸點(diǎn)X線頭影測量分析－測量平面下頜平面（MP）1:通過頦下點(diǎn)于下頜角下緣相切的線X線頭影測量分析－測量平面下頜平面（MP）2:下頜下緣最低點(diǎn)的切線X線頭影測量分析－測量平面下頜平面（MP）3:下頜角點(diǎn)與下頜頦頂點(diǎn)間連線X線頭影測量分析－測量平面下頜支平面(RP):下頜升支及髁突后緣的切線X線頭影測量分析－測量平面面平面（NP)：鼻根點(diǎn)與頦前點(diǎn)連線X線頭影測量分析－測量平面Y軸：蝶鞍中心與頦頂點(diǎn)連線X線頭影測量分析常用硬組織測量項(xiàng)目X線頭影測量分析X線頭影測量常用于臨床對錯(cuò)牙合畸形機(jī)制進(jìn)行分析明確牙齒、牙弓、頜骨、顱面間的關(guān)系不調(diào)測量上、下頜各自的形態(tài)、大小和相互間的位置關(guān)系及牙齒位置或傾斜度得出相應(yīng)診斷X線頭影測量分析通過X線對正常牙合人的顱面結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析得出正常牙合的各項(xiàng)測量參考標(biāo)準(zhǔn)作為診斷分析的基礎(chǔ)前提：正常值的確定X線頭影測量分析頭影測量分析目的:對比分析出錯(cuò)牙合畸形的機(jī)制正常牙頜顱面關(guān)系個(gè)體牙頜顱面結(jié)構(gòu)確定牙和頜位的理想位置，制定可行的矯治方案X線頭影測量分析每一個(gè)項(xiàng)目有特定意義說明相應(yīng)結(jié)構(gòu)的特征或生長變化趨勢！必須綜合的評價(jià)各項(xiàng)測量指標(biāo)，才能明確畸形機(jī)制，作出正確診斷!顱面牙齒、牙弓頜骨

相互不調(diào)，產(chǎn)生牙頜畸形互相補(bǔ)償產(chǎn)生正常顱面形態(tài)X線頭影測量分析

上下頜骨的常用測量項(xiàng)目X線頭影測量分析－測量內(nèi)容SNAangle：反映上頜相對顱骨的前后位置X線頭影測量分析－測量內(nèi)容SNBangle：反映上頜相對顱骨的前后位置X線頭影測量分析－測量內(nèi)容ANBangle：反映上頜相對顱骨的前后位置X線頭影測量分析－基準(zhǔn)平面NP－FH（面角）:反映下頜的突縮程度。此角越大則下頜？相對突度越大X線頭影測量分析－測量內(nèi)容NA－PA(頜凸角)：反映上頜相對整個(gè)側(cè)面的關(guān)系此角越大則上頜？相對突度越大X線頭影測量分析－測量內(nèi)容Y軸角:反映頦部的突縮，也代表面部生長發(fā)育方向此角越大則頦部？生長發(fā)育方向?頦部后縮垂直生長型X線頭影測量分析－測量內(nèi)容MP－FH下頜平面角：反映1.下頜體陡度2.下頜角大小

3.面高度：短面型/長面型X線頭影測量分析

測量內(nèi)容ANS-Ptm（上頜長）X線頭影測量分析

測量內(nèi)容S-Ptm（上頜位置）X線頭影測量分析

測量內(nèi)容Co-Pog（下頜長）X線頭影測量分析

測量內(nèi)容S-Co（下頜位置）X線頭影測量分析上下前牙常用測量項(xiàng)目X線頭影測量分析－測量內(nèi)容UI－SNangleX線頭影測量分析－測量內(nèi)容LI－MPangle此角越大則下前牙？唇傾度大X線頭影測量分析－測量內(nèi)容U1－NA:上切牙對于前顱底的相對傾斜度X線頭影測量分析－測量內(nèi)容U1－NAdistance(U1-NA距)X線頭影測量分析－測量內(nèi)容L1－NBangleX線頭影測量分析－測量內(nèi)容L1－NBdistanceX線頭影測量分析－測量內(nèi)容U1－L1angle：反映上下前部牙弓的突度。X線頭影測量分析－測量內(nèi)容MP－SNangle：與下頜平面角類似X線頭影測量分析頭影測量分析方法很多針對不同種族、人群研究課題的各測量項(xiàng)目均依據(jù)不同的分析內(nèi)容而定。X線頭影測量分析華西醫(yī)科大學(xué)頭影測量分析法頭影測量分析表頭影測量項(xiàng)目Specificity不同個(gè)體Adults成人Female女Male男

Children兒童Female女Male男X線頭影測量分析頭影測量項(xiàng)目Specificity個(gè)體AdultsFemaleMaleSNA83

84SNB80 80ANB34MP-FH28 29PP-FH5 5Yaxis64 65Npg-FH8385U1-SN75 73L1-MP95 100U1-L1127 121Ptm-A42

44Ptm-S17

18S-Go69

71Go-Co51

52Go-Pg68

68N-ANS50

51ANS-Me57

58U1-PP26

27U6-PP19

19L1-MP38

38L6-MP30

30X線頭影測量分析－測量內(nèi)容SNAangle：反映上頜相對顱骨的前后位置X線頭影測量分析－測量內(nèi)容SNBangleX線頭影測量分析－測量內(nèi)容ANBangleX線頭影測量分析－測量內(nèi)容MP－FHangle（下頜平面角）X線頭影測量分析

測量內(nèi)容PP－FHX線頭影測量分析－測量內(nèi)容Y軸角:反映頦部的突縮，也代表面部生長發(fā)育方向X線頭影測量分析

測量內(nèi)容Npg-FH(面角)X線頭影測量分析－測量內(nèi)容U1－SNangleX線頭影測量分析－測量內(nèi)容L1－MPangleX線頭影測量分析－測量內(nèi)容U1－L1angle：反映上下前部牙弓的突度。X線頭影測量分析

測量內(nèi)容Ptm-A（上頜長）X線頭影測量分析

測量內(nèi)容Ptm-S（上頜位置）X線頭影測量分析

測量內(nèi)容S-Go后面高X線頭影測量分析

測量內(nèi)容Go-Co下頜支長X線頭影測量分析

測量內(nèi)容Go-Pg（下頜體長）X線頭影測量分析

測量內(nèi)容N-ANS上面高X線頭影測量分析

測量內(nèi)容ANS-Me下面高X線頭影測量分析測量內(nèi)容U1－PP距X線頭影測量分析測量內(nèi)容U6－PP距X線頭影測量分析測量內(nèi)容L1－MPdistanseX線頭影測量分析測量內(nèi)容L6－MPdistanseX線頭影測量分析Wits分析法BOAOBOAOX線頭影測量分析Tweed三角（FMA,IMPA,FMIA）FMAFMAFMIAFMIAIMPAFMIATweed應(yīng)用此三角分析得出美國白種正常牙合兒童，F(xiàn)MIA均值為65o，此角是建立良好面型的良好條件。X線頭影測量分析ThankYou!TheEndX線頭影測量分析Landmark（定點(diǎn)）Referenceline（基準(zhǔn)平面）Cephalometricmeasurement（測量內(nèi)容）X線頭影測量分析常用的分析方法DownsanalysisTweedanalysisSteineranalysisWylieanalysisRickettesanalysisNJMUanalysisX線頭影測量分析常用平面眶耳平面（FH）前顱底平面（SN）審美平面（EP）下頜平面（MP）X線頭影測量分析常用角度顱底-上齒槽座角（SNA）：

上頜對顱底位置關(guān)系

82°±1顱底-下齒槽座角（SNB）：

下頜對顱底位置關(guān)系

79°±1上下齒槽座角（ANB）：

上下頜位置關(guān)系

3°±1

……X線頭影測量分析常用線距全面高（N－Me）上面高（N－ANS）下面高（ANS－Me）上面高/全面高下面高/全面高……X線頭影測量分析－測量平面下頜支平面(RP):下頜升支及髁突后緣的切線X線頭影測量分析ContentsClicktoaddTitle1ClicktoaddTitle2ClicktoaddTitle3ClicktoaddTitle4X線頭影測量分析HotTipHowdoIincorporatemylogotoaslidethatwillapplytoalltheotherslides?Onthe[View]menu,pointto[Master],andthenclick[SlideMaster]or[NotesMaster].Changeimagestotheoneyoulike,thenitwillapplytoalltheotherslides.X線頭影測量分析DiagramThemeGallery

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CycleDiagramTextTextTextTextTextCyclenameAddYourTextX線頭影測量分析DiagramTextTextTextAddYourTitleTextText1Text2Text3Text4Text5AddYourTitleTextText1Text2Text3Text4Text5TextTextX線頭影測量分析DiagramConceptAddYourTextTextTextTextTextTextTextX線頭影測量分析DiagramAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextX線頭影測量分析DiagramAddYourTitleAddYourTitleAddYourTitleThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesignInc.ThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesignInc.ThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesignInc.X線頭影測量分析ThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesignInc.ThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesignInc.ThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesignInc.DiagramTextTextTextX線頭影測量分析TableConceptConceptconceptConceptX線頭影測量分析DiagramTitleAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextAddYourTextX線頭影測量分析Diagram1ThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesignInc.2ThemeGalleryisaDesignDigitalContent&ContentsmalldevelopedbyGuildDesign