探究數(shù)字信號處理中信噪比影響因素獲獎科研報告

探究數(shù)字信號處理中信噪比影響因素獲獎科研報告摘

要：本文針對數(shù)字信號處理中，信噪比所出現(xiàn)的問題和影響信噪比的不良因素進行探索，分析了其針對數(shù)字信號處理的重要作用，以及設(shè)備中信噪比與有效信號之間的相互關(guān)系，同時針對信號處理時量化位數(shù)對信號處理結(jié)果的信噪比、諧波比等影響，以此為測試人員探究數(shù)字信號提供了參考。

關(guān)鍵詞：數(shù)字信號;信噪比;有效位數(shù);輔助參數(shù)

信噪比指的是聲音之間的數(shù)值相比值，在實際的數(shù)字信號處理過程中，電氣設(shè)備經(jīng)常會運用到信噪技術(shù)，并且在此基礎(chǔ)上進行數(shù)字信號的標準處理，其中信噪比與數(shù)字信號技術(shù)存在著巨大的聯(lián)系，如果測試中將信噪比作為基礎(chǔ)參考數(shù)據(jù)可以有效的將數(shù)字信號系統(tǒng)進行分類和處理，保障數(shù)字信號的正常運轉(zhuǎn)。

一、影響信噪比的因素

當下，數(shù)字信號技術(shù)被廣泛的是用在各行各業(yè)中，而平板探測器中，數(shù)字信號作為成像技術(shù)在額定輻射量的條件下作為設(shè)備信號相應(yīng)的重要組成部分。當設(shè)備產(chǎn)生輻射量相同時，探測器所監(jiān)測出信號中的數(shù)值偏差就是噪音。此時工作人員可以根據(jù)噪音不同的來源進行分類，可分為：電子響應(yīng)噪聲和量子響應(yīng)噪聲等形式。對于總設(shè)備的總體結(jié)構(gòu)方面來說，影響數(shù)字信號的主要因素包含：輻射射線的參與設(shè)置與信號檢測、對于元數(shù)探測設(shè)備像元的填充、探測設(shè)備之間的材料轉(zhuǎn)化、探測設(shè)備源頭間距等。針對探測設(shè)備所發(fā)出的射線來說，測試人員需要關(guān)注總體電量的輸出量和輸入量，其中包含光線可見的X型射線，吸收型X射線以及射入型X射線。由于在總體電量的輸出過程中，如果僅僅重視X射線的輸入和輸出的話，加上信號探測設(shè)備可以完全吸收光子的射入，因此可以得出相關(guān)結(jié)論：探測設(shè)備的信號噪聲比與穩(wěn)定環(huán)境下X射線的輻射數(shù)量有關(guān)。設(shè)計人員通過泊分布模型進行探測設(shè)備射入光子元素所產(chǎn)生的隨機數(shù)據(jù)進行研究和分析，并且保持額定時間內(nèi)，探測設(shè)備的射線光子下落數(shù)量的變化數(shù)據(jù)，得出數(shù)據(jù)后根據(jù)探測設(shè)備中射線的數(shù)字形態(tài)測算出射線浮動曲線與信噪比攝入量數(shù)據(jù)存在平光的關(guān)系[1]。

二、信噪比與數(shù)字信號的關(guān)系

（一）信噪比和有效位數(shù)

第一，使用設(shè)備將模擬信號轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號是數(shù)字信號處理設(shè)備必不可少的重要環(huán)節(jié)，由于轉(zhuǎn)化設(shè)備普遍放置于整體系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的前面位置，并且根據(jù)設(shè)備在整體系統(tǒng)越接近前端，其自身系統(tǒng)的性能和信噪比就越大，所以設(shè)備的綜合性能對于系統(tǒng)中數(shù)字信號的處理能力起到重要的作用。衡量設(shè)備中，通常由采取樣品率、位數(shù)的量化結(jié)構(gòu)、信噪比、線性程度、設(shè)備有效位數(shù)以及交調(diào)參數(shù)等組成，其中，信噪比和設(shè)備有效位數(shù)對于設(shè)備的功能影響較大。根據(jù)設(shè)備特性來說，理想型的位數(shù)量化設(shè)備中信噪比主要是由于噪聲的量化數(shù)據(jù)得來的，并且量化噪聲是隨著服從數(shù)據(jù)均勻分布的變量，其中量化電平在設(shè)備信號輸入后，達到滿足設(shè)備滿量程的情況下，信噪比和其量化位數(shù)存在著一定關(guān)系公式，根據(jù)公式推算可以得出結(jié)論：設(shè)備的信噪比和其有效位數(shù)呈一定正比例[2]。

第二，有效位數(shù)也是設(shè)備運行中重要的輔助參數(shù)，其中量化位數(shù)為N的設(shè)備，其中有效位數(shù)需要小于N，并且以此作為根據(jù)推算出有效位數(shù)的系數(shù)變化。在測試人員進行設(shè)備測試時不僅需要針對設(shè)備的信噪比進行考慮，還需要將設(shè)備內(nèi)部的諧波數(shù)據(jù)也進行綜合考量，這樣才能有效的推算和表現(xiàn)出設(shè)備獲取信號的性能，其中設(shè)備的有效位數(shù)通過FFT算法和正弦擬合法等進行進一步測算。由于FFT計算法的工作原理主要需要保障設(shè)備在滿量程的情況下進行綜合信號的獲取和分析，因此在對時域數(shù)據(jù)進行收集和計算時需要進行合理的數(shù)據(jù)利用，以此可以獲得信號中傅里葉頻譜技術(shù)中所得到的相關(guān)數(shù)據(jù)作為測試支持。通過傅里葉頻譜技術(shù)可以精準的計算出信號、噪聲以及諧波分量數(shù)據(jù)，從而得出三者之間的關(guān)系公式，并且計算出有效位數(shù)比。采用正弦擬合法進行信號采集后，可以使用相關(guān)的正弦函數(shù)公式針對最小二乘法進行順序的排列和整合，并且得到整合后的函數(shù)系數(shù)，隨后測試人員需要針對整合后的函數(shù)系數(shù)進行無量化的誤差數(shù)據(jù)采取樣品，得出樣品信號之間的關(guān)系數(shù)據(jù)。通過以上兩種方法進行數(shù)據(jù)推算可以得出，設(shè)備信噪比和位數(shù)量化系數(shù)之間存在著線性的關(guān)系連結(jié)，隨著量化位數(shù)的增大，信噪比也隨之增加。同時設(shè)備的有效位數(shù)不能與量化位數(shù)相等，通常量化位數(shù)需要小于有效位數(shù)，由于兩者比例為正比，因此當量化位數(shù)的數(shù)值增加，有效位數(shù)也隨之增加，所以，如果設(shè)備對于信噪比系數(shù)要求較高時，那么需要選擇量化位數(shù)較高的設(shè)備，并且對于輸入信號的寬幅度也同樣需要注意，在系數(shù)的選擇上盡可能接近設(shè)備的滿量程度，才能保障有效位數(shù)的高效運轉(zhuǎn)。

（二）信噪比歸一化

在工業(yè)的作業(yè)系統(tǒng)中最重要的結(jié)構(gòu)系統(tǒng)為射線系統(tǒng)。工業(yè)射線系統(tǒng)主要由保護結(jié)構(gòu)組件、乳化劑感光結(jié)構(gòu)、結(jié)合層結(jié)構(gòu)等，其中乳化劑感光結(jié)構(gòu)可以直接影響工業(yè)設(shè)備中，膠片的感光速度和使用程度，所以，其特性在膠片結(jié)構(gòu)中，乳化銀微粒物質(zhì)具有重要的作用。在實際測試中如果想要提高設(shè)備的信噪比和膠片感光程度，設(shè)備必須自身具備大微粒的乳化銀物質(zhì)，在計算機結(jié)構(gòu)中，射線系統(tǒng)通常被歸納為歸一化結(jié)構(gòu)形式中，其屬于具有標準形式和規(guī)格的信噪比數(shù)據(jù)，為此可以根據(jù)系列公式進行推算。通過一系列的數(shù)據(jù)分析和比較來看，相比膠片系統(tǒng)技術(shù)來說，數(shù)字射線系統(tǒng)自身擁有不同程度的成像分辨率，由于射線的散射能力以及數(shù)據(jù)空間性能的差異，在工業(yè)運作時乳化銀的普遍尺寸為零點四九八，由此可以得出，膠片技術(shù)的空間分辨能力比較強，尤其是在空間能力達到標準數(shù)值時，數(shù)字型射線技術(shù)的成像能力遠遠低于膠片技術(shù)型成像。在測試人員進行測試時經(jīng)常會出現(xiàn)由于零件或者設(shè)備結(jié)構(gòu)的缺陷和不足產(chǎn)生的運行問題，比如：零件結(jié)構(gòu)的分散、體積缺失以及零件表面結(jié)構(gòu)缺失等，這些問題