單晶少子壽命測試課件

單晶少數(shù)載流子壽命測試實驗目的實驗原理儀器介紹實驗內容思考練習單晶少數(shù)載流子壽命測試實驗目的實驗原理儀器介紹實驗內容思考練1.實驗目的理解單晶少數(shù)載流子壽命的測試原理；

掌握單晶少數(shù)載流子壽命的測試方法。

1.實驗目的理解單晶少數(shù)載流子壽命的測試原理；2.實驗原理高頻源提供的高頻電流流經(jīng)被測樣品，當紅外光源的脈沖光照射樣品時，單晶體內即產(chǎn)生非平衡光生載流子，使樣品產(chǎn)生附加光電導，樣品電阻下降。由于高頻源為恒壓輸出，因此，流過樣品的高頻電流幅值，此時增加ΔI。光照消失后，ΔI便逐漸衰退，其衰退速度取決于光生非平衡載流子在晶體內存在的平均時間(即壽命τ)。2.實驗原理高頻源提供的高頻電流流經(jīng)被測樣品，當紅外光源的脈在小注入條件下，樣品光照內復合是主要因素。ΔI將按指數(shù)規(guī)律衰減，在取樣器上產(chǎn)生的電壓變化ΔV，也按同樣的規(guī)律變化。在小注入條件下，樣品光照內復合是主要因素。儀器的工作原理簡化方框圖儀器的工作原理簡化方框圖此調幅高頻信號經(jīng)檢波器解調和高頻濾波，再經(jīng)寬頻放大器放大后輸入到脈沖示波器，在示波器上就顯示出一條如右圖所示的指數(shù)衰減曲線，衰減的時間常數(shù)τ就是欲測的壽命值。此調幅高頻信號經(jīng)檢波器解調和高頻濾波，再經(jīng)寬頻放大器放大后輸3.儀器介紹LT-2型單晶壽命測試儀3.儀器介紹LT-2型單晶壽命測試儀前面板說明前面板說明后面板說明后面板說明

主機承片臺：樣品的承片臺位于主機箱頂蓋中央，由兩個電極和紅外光透光孔組成，測試時將樣品置于兩電極和紅外光透光孔上。

主機承片臺：樣品的承片臺位于主機箱頂蓋中央，由兩個4.實驗內容測試時將樣品置于主機頂蓋的樣品承片臺上，通過調節(jié)示波器同步電平及釋抑時間內同步示波器，使儀器輸出的指數(shù)衰減光電導信號波形穩(wěn)定下來，然后在示波器上觀察和計算樣品壽命讀數(shù)。4.實驗內容測試時將樣品置于主機頂蓋的樣品承片臺上，通過調節(jié)（1）接上電源線以及用高頻連接線將CZ與示波器Y輸入端接通，開啟主機及示波器，預熱15分鐘。在沒放樣品的情況下，可調節(jié)W2使檢波電壓為零。（2）在電極上涂抹一點自來水（注意:涂水不可過多，以免水流入光照孔），然后將清潔處理后的樣品置于電極上面，此時檢波電壓表將會顯示檢波電壓。如樣品很輕，可在單晶上端壓上重物，以改善接觸。（1）接上電源線以及用高頻連接線將CZ與示波器Y輸入（3）按下K接通紅外發(fā)光管工作電源，旋轉W1，適當調高電壓。（4）調整示波器電平及釋抑時間內同步，Y軸衰減X軸掃描速度及曲線的上下左右位置，使儀器輸出的指數(shù)衰減光電導信號波形穩(wěn)定下來，并與屏幕的標準指數(shù)曲線盡量吻合。（5）關機時，要先把開關K按起。（3）按下K接通紅外發(fā)光管工作電源，旋轉W1，適當調高電壓。5.思考練習