光電測量系統(tǒng)設(shè)計報告_第1頁
光電測量系統(tǒng)設(shè)計報告_第2頁
光電測量系統(tǒng)設(shè)計報告_第3頁
光電測量系統(tǒng)設(shè)計報告_第4頁
光電測量系統(tǒng)設(shè)計報告_第5頁
已閱讀5頁,還剩5頁未讀 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

光電測量系統(tǒng)設(shè)計報告

一、干涉的基本原理干涉現(xiàn)象是波動獨有的特征,如果光真的是一種波,就必然會觀察到光的干涉現(xiàn)象.1801年,英國物理學(xué)家托馬斯·楊(1773—1829)在實驗室里成功地觀察到了光的干涉.兩列或幾列光波在空間相遇時相互疊加,在某些區(qū)域始終加強,在另一些區(qū)域則始終削弱,形成穩(wěn)定的強弱分布的現(xiàn)象。由一般光源獲得一組相干光波的辦法是,借助于一定的光學(xué)裝置(干涉裝置)將一個光源發(fā)出的光波(源波)分為若干個波。由于這些波來自同一源波,所以,當(dāng)源波的初位相改變時,各成員波的初位相都隨之作相同的改變,從而它們之間的位相差保持不變。同時,各成員波的偏振方向亦與源波一致,因而在考察點它們的偏振方向也大體相同。一般的干涉裝置又可使各成員波的振幅不太懸殊。于是,當(dāng)光源發(fā)出單一頻率的光時,上述四個條件皆能滿足,從而出現(xiàn)干涉現(xiàn)象。當(dāng)光源發(fā)出許多頻率成分時,每一單頻成分(對應(yīng)于一定的顏色)會產(chǎn)生相應(yīng)的一組條紋,這些條紋交疊起來就呈現(xiàn)彩色條紋。1、劈尖的等厚干涉測細(xì)絲直徑

見圖7.2.1-2,兩片疊在一起的玻璃片,在它們的一端夾一直徑待測的細(xì)絲,于是兩玻璃片之間形成一空氣劈尖。當(dāng)用單色光垂直照射時,如前所述,會產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。因為程差相等的地方是平行于兩玻璃片交線的直線,所以等厚干涉條紋是一組明暗相間、平行于交線的直線。設(shè)入射光波為λ,則第m級暗紋處空氣劈尖的厚度由上式可知,m=0時,d=0,即在兩玻璃片交線處,為零級暗條紋。如果在細(xì)絲處呈現(xiàn)m=N級條紋,則待測細(xì)絲直徑具體測量時,常用劈尖盒,盒內(nèi)裝有兩片疊在一起玻璃片,在它們的一端夾一細(xì)絲,于是兩玻璃片之間形成一空氣劈尖,見圖7.2.1-2。使用時木盒切勿倒置或?qū)⒉A钩?,以免?xì)絲位置變動,給測量帶來誤差??梢?,我們?nèi)魷y得第m個暗環(huán)的半徑便可由已知λ求R,或者由已知R求λ了。但是,由于玻璃接觸處受壓,引起局部的彈性形變,使透鏡凸面與平面玻璃不可能很理想的只以一個點相接觸,所以圓心位置很難確定,環(huán)的半徑也就不易測準(zhǔn)。同時因玻璃表面的不潔凈所引入的附加程差,使實驗中看到的干涉級數(shù)并不代表真正的干涉級數(shù)m。為此,我們將式(4)作一變換,將式中半徑換成直徑,則有:對第m+n個暗環(huán)有將(5)和(6)兩式相減,再展開整理后有可見,如果我們測得第m個暗環(huán)及第(m+n)個暗環(huán)的直徑、,就可由式(7)計算透鏡的曲率半徑R。

經(jīng)過上述的公式變換,避開了難測的量和m,從而提高了測量的精度,這是物理實驗中常采用的方法。二、干涉法測微小量的原理與干涉儀繪制草圖1、實驗內(nèi)容用干涉法測微小形變實驗驗證實驗儀器:he-ne激光器、共焦球面干涉儀、壓電陶瓷、探測器、示波器、電源、鋸齒波發(fā)生器。2、實驗原理:(1)、共焦球面干涉儀示意圖:共焦球面干涉儀是一個無源腔,由兩塊球形凹面反射鏡構(gòu)成兩面鏡子的曲率半徑和腔長相等(R1=R2=L),鏡面1固定不動,鏡面2固定在可隨外電壓變化而變化的壓電陶瓷上。光在腔內(nèi)每走一個周期都會有部分光從鏡面透射出去為光線1,另一部分則反射4次出射,為光線2;光線1與光線2滿足干涉條件,當(dāng)其光程差D滿足條件:D=mλ時,干涉相長示波器出現(xiàn)峰值,隨著壓電陶瓷隨電壓的變化,腔長變化,D也隨之變化。當(dāng)D=(m±1)λ時,再次干涉相長,示波器上出現(xiàn)相應(yīng)的峰值。3、實驗步驟:(1)、打開he-ne激光器,調(diào)整光路和壓電陶瓷方向,使得光路準(zhǔn)直,(若沒調(diào)整好,在共焦球面干涉儀后方會出項兩個光斑,光線1和光線2并不產(chǎn)生干涉)。(2)、將探頭和鋸齒波發(fā)生器分別接入示波器的兩個通道,打開激光器和鋸齒波發(fā)生器的電源。(3)、觀察示波器上波形。4、實驗結(jié)果:5、實驗總結(jié): 本實驗是干涉法測微小形變的實驗驗證,故無需計算;壓電陶瓷的微小形變影響到共焦球面干涉儀的腔長,從而影響到光線1和光線2的光程差D,進一步反應(yīng)到示波器的波形顯示上。該測量方法得到驗證。三、Autocad圖探頭主體探頭后蓋底座螺釘電路圖電源外殼四、Zemax的繪制:擴束準(zhǔn)直系統(tǒng)實驗回顧及總結(jié)這次實驗和以往的實驗不同,以往更多的是的老師設(shè)計好,安排每一節(jié)課的內(nèi)容讓我們照著做,而這次更多的是自主設(shè)

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論