數(shù)字射線檢測(cè)設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)(梁麗虹)_第1頁(yè)
數(shù)字射線檢測(cè)設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)(梁麗虹)_第2頁(yè)
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射線數(shù)字成像技術(shù)及應(yīng)用中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院無(wú)損檢測(cè)技術(shù)中心北京市朝陽(yáng)區(qū)和平街西苑2號(hào)樓?特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核規(guī)那么?納入考核范圍的無(wú)損檢測(cè)方法方法項(xiàng)目名稱代號(hào)級(jí)

別射線檢測(cè)射線膠片照相檢測(cè)RTⅠ、Ⅱ、Ⅲ射線數(shù)字成像檢測(cè)RT(DR+CR)Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ射線檢測(cè)(自動(dòng))RT(AUTO)Ⅰ、Ⅱ超聲檢測(cè)脈沖反射法超聲檢測(cè)UTⅠ、Ⅱ、Ⅲ衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)TOFDⅠ、Ⅱ、Ⅲ超聲檢測(cè)(自動(dòng))UT(AUTO)Ⅰ、Ⅱ磁粉檢測(cè)磁粉檢測(cè)MTⅠ、Ⅱ、Ⅲ滲透檢測(cè)滲透檢測(cè)PTⅠ、Ⅱ、Ⅲ聲發(fā)射檢測(cè)聲發(fā)射檢測(cè)AEⅠ、Ⅱ、Ⅲ

射線數(shù)字成像檢測(cè)概述射線數(shù)字成像檢測(cè)儀器設(shè)備射線數(shù)字成像技術(shù)應(yīng)用射線數(shù)字成像檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)1、概述1.1射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)組成射線源被檢工件數(shù)字探測(cè)器機(jī)械傳動(dòng)〔檢測(cè)工裝〕成像與處理〔計(jì)算機(jī)及軟件〕1.2與膠片照相不同之處:增加了硬件〔數(shù)字探測(cè)器、檢測(cè)工裝、計(jì)算機(jī)〕與軟件〔數(shù)據(jù)采集、控制、處理〕;減少了膠片及其暗室處理環(huán)節(jié)。1.3射線數(shù)字成像檢測(cè)原理

射線透照被檢工件,衰減后的射線光子被數(shù)字探測(cè)器接收,經(jīng)過一系列的轉(zhuǎn)換變成數(shù)字信號(hào),數(shù)字信號(hào)經(jīng)放大和A/D轉(zhuǎn)換,通過計(jì)算機(jī)處理,以數(shù)字圖像的形式輸出在顯示器上。

1.4數(shù)字成像與膠片比較的特點(diǎn)靈敏度高分辨率低降低射線劑量具有很大的厚度寬容度提高檢測(cè)效率一次投入本錢高快速查詢和統(tǒng)計(jì)減少暗室的洗片環(huán)節(jié),降低環(huán)境污染探測(cè)器無(wú)法彎曲,有一定厚度,在役檢測(cè)受限1.5像質(zhì)影響因素〔1〕像素尺寸〔2〕焦點(diǎn)大小〔3〕噪聲/信噪比〔4〕透照參數(shù)〔電壓、曝光量、幾何參數(shù)〕〔5〕動(dòng)態(tài)范圍〔6〕壞像素〔7〕數(shù)字探測(cè)器響應(yīng)不一致性1.6成像分類〔1〕靜態(tài)〔止〕成像靜態(tài)成像是指對(duì)試件的同一部位進(jìn)行曝光、成像。在一定的時(shí)間內(nèi),輸出單幅、靜止的圖像。

注:數(shù)字成像的時(shí)間要遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于膠片照相的時(shí)間?!?〕動(dòng)態(tài)(實(shí)時(shí))成像

動(dòng)態(tài)〔實(shí)時(shí)〕成像是指以一定幀頻的采集速率實(shí)現(xiàn)連續(xù)成像。被檢工件通過機(jī)械掃描裝置與檢測(cè)系統(tǒng)裝置做相對(duì)連續(xù)運(yùn)動(dòng)〔旋轉(zhuǎn)或平移〕,射線源連續(xù)發(fā)射線,射線成像器件對(duì)不同位置的試件進(jìn)行連續(xù)曝光,連續(xù)的采集并顯示不同檢測(cè)位置的圖像。1.7像質(zhì)評(píng)價(jià)指標(biāo)比照度靈敏度、分辨率比照度靈敏度和空間分辨率是一對(duì)相互制約的關(guān)系,如何均衡是實(shí)現(xiàn)高信噪比、高像質(zhì)成像的關(guān)鍵。分辨率:空間分辨率定義:系統(tǒng)所能分辨的兩個(gè)相鄰細(xì)節(jié)間的最小距離。單位:用lp/mm〔線對(duì)/毫米〕表示。影響因素:成像器件固有特性〔像元大小、轉(zhuǎn)換屏厚度〕、系統(tǒng)幾何參數(shù)、源焦點(diǎn)尺寸測(cè)試:分辨率測(cè)試卡或雙絲像質(zhì)計(jì)分辨率圖像分辨率、系統(tǒng)分辨率2、儀器設(shè)備2.1射線機(jī)高頻工頻脈沖便攜式、移動(dòng)式、固定式核心:高壓發(fā)生器2.2數(shù)字探測(cè)器

面陣探測(cè)器線陣探測(cè)器面陣探測(cè)器選擇

首先依據(jù)檢測(cè)對(duì)象,滿足圖像質(zhì)量要求注意:電路的防護(hù)線陣探測(cè)器

首先依據(jù)檢測(cè)對(duì)象,滿足圖像質(zhì)量要求

注意:射線束的準(zhǔn)直,中心射線束對(duì)準(zhǔn)探測(cè)器成像口,機(jī)械精度和運(yùn)動(dòng)精度高數(shù)字探測(cè)器使用時(shí)本卷須知1、溫濕度的要求2、承受的最高輻照能量3、承重4、磕碰、劃傷5、預(yù)熱6、校正設(shè)備的有效使用?

3、應(yīng)用〔1〕制造廠批量生產(chǎn):固定流水線、檢測(cè)工藝,功能單一,快捷、自動(dòng)化,一鍵完成〔2〕安裝管線安裝:優(yōu)點(diǎn)大于缺點(diǎn)。及時(shí)返修,效率高、縮短檢測(cè)周期在役檢測(cè)〔3〕在役難點(diǎn):對(duì)象、環(huán)境、工況復(fù)雜、防護(hù)優(yōu)點(diǎn):直觀、不拆保護(hù)層各檢測(cè)方法的優(yōu)勢(shì)不突出、劣勢(shì)突出,要綜合考慮、比較利弊。選擇方法系統(tǒng):便攜、可靠工裝:非標(biāo)〔對(duì)象、工況〕、復(fù)雜、自動(dòng)化低、功能齊全熟練程度高〔4〕熱點(diǎn)帶包覆層制冷管線射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)選擇原那么滿足檢測(cè)線的質(zhì)量控制檢測(cè)對(duì)象、場(chǎng)地自身經(jīng)濟(jì)情況考慮性價(jià)比售后效勞…4、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)4.1國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)〔1〕CT標(biāo)準(zhǔn)〔最早的〕〔2〕實(shí)時(shí)成像體系〔IITV〕〔3〕CR標(biāo)準(zhǔn)體系〔4〕DDA標(biāo)準(zhǔn)〔ISO〕〔5〕DR標(biāo)準(zhǔn)〔ISO、ASME、ASTM〕實(shí)時(shí)成像標(biāo)準(zhǔn)ASTME1000-1998射線實(shí)時(shí)成像導(dǎo)那么ASTME1255-2001射線透視檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)操作方法ASTME1411-2001射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)質(zhì)量鑒定標(biāo)準(zhǔn)ASTME1416-1996焊接件射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)ASTME1453-1996射線實(shí)時(shí)成像模擬或數(shù)字化信息內(nèi)存介質(zhì)貯存導(dǎo)那么ASTME1647-1998射線實(shí)時(shí)成像反差靈敏度測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)ASTME1734-1998鑄件射線實(shí)時(shí)成像標(biāo)準(zhǔn)ASME鍋爐及壓力容器標(biāo)準(zhǔn)V無(wú)損檢測(cè)數(shù)字探測(cè)器標(biāo)準(zhǔn)ASTME2597-2007數(shù)字探測(cè)器陣列制造特征的標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)ASTME2698-2021使用數(shù)字探測(cè)器陣列的射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)ASTME2736-2021數(shù)字探測(cè)器陣列射線檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)指南ASTME2737-2021數(shù)字探測(cè)器陣列性能評(píng)價(jià)和長(zhǎng)期使用穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字成像標(biāo)準(zhǔn)ASME鍋爐及壓力容器標(biāo)準(zhǔn)V無(wú)損檢測(cè)ISO/DIS17636-2021焊縫無(wú)損檢測(cè)—射線檢測(cè)第二局部:使用數(shù)字探測(cè)器的X射線和γ射線檢測(cè)方法CR、DR4.2國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字成像:國(guó)標(biāo)、國(guó)軍標(biāo)、行標(biāo)、企標(biāo)

GB/T17925-2021?氣瓶對(duì)接焊縫X射線數(shù)字成像檢測(cè)?GB/T19293-2003?對(duì)接焊縫X射線數(shù)字成像檢測(cè)法?

4.3NB/T47013標(biāo)準(zhǔn)原編號(hào)為JB/T47302005版已開始修訂,今年完成擴(kuò)展到13局部,增加了脈沖渦流、漏磁等NB/T47013〔JB/T4730〕?承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)?分為13局部——第1局部:通用要求;——第2局部:射線檢測(cè);——第3局部:超聲檢測(cè);——第4局部:磁粉檢測(cè);——第5局部:滲透檢測(cè);——第6局部:渦流檢測(cè);——第7局部:目視檢測(cè);——第8局部:泄漏檢測(cè);——第9局部:聲發(fā)射檢測(cè);——第10局部:衍射時(shí)差法超聲檢測(cè);——第11局部:X射線數(shù)字成像檢測(cè);——第12局部:漏磁檢測(cè)——第13局部:脈沖渦流檢測(cè)有關(guān)射線數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)〔1〕標(biāo)準(zhǔn)名稱:承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)射線膠片數(shù)字化系統(tǒng)鑒定方法GB/T28266-2021

〔2〕標(biāo)準(zhǔn)名稱:承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)X射線數(shù)字成像檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):NB/T47013.11-2021〔JB/T4730.11〕工作組:中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院聯(lián)合相關(guān)單位〔如:儀器制造單位、技術(shù)研究單位、使用單位、檢測(cè)單位、主管部門等〕進(jìn)行制定。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料受壓元件的熔化焊對(duì)接接頭的X射線數(shù)字成像技術(shù),規(guī)定了承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭X射線數(shù)字成像系統(tǒng)、檢測(cè)環(huán)境、

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