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世紀經(jīng)庶經(jīng)典試劑!CENTURYCLASSIC,CLASSICREAGENTt雜質(zhì)總含量不大于1.0X10-2雜質(zhì)總含量不大于1.0X10-2%其純度為4個9(99.99)簡寫為4.0N雜質(zhì)總含量不大于1.0X10-3%其純度為5個9(99.999)簡寫為5N解析高純試劑以及高純試劑分類純度遠高于優(yōu)級純的試劑叫做高純試劑。是在通用試劑基礎上發(fā)展起來的,是為了專門的使用目的而用特殊方法生產(chǎn)的純度最高的試劑。高純試劑控制的是雜質(zhì)項含量,基準試劑控制的是主含量,基準試劑可用標準溶液的配制,但高純試劑不能用于標準溶液的配制(單質(zhì)氧化物除外)。目前在國際上也無統(tǒng)一的明確規(guī)格,我國除對少數(shù)產(chǎn)品制定了國家標準外,大部分高純試劑的質(zhì)量標準還很不統(tǒng)一,在名稱上也有高純、超純、特純、光譜純、電子純等不同叫法。-般以9來表示產(chǎn)品的純度。故在規(guī)格欄中標以2個9、3個9、4個9以此類推,根據(jù)這個原則可將高純物質(zhì)分為:雜質(zhì)總含量不大于1.5X10-2%其純度為3.5個9(雜質(zhì)總含量不大于1.5X10-2%對高純試劑或高純元素純度或雜質(zhì)含量的檢驗,一般常用原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜、色譜、質(zhì)譜比色化學分析等方法進行測定。其陰離子規(guī)格原則上參照試劑優(yōu)級標準,沒有優(yōu)級標準的產(chǎn)品由生產(chǎn)單位自行制定。根據(jù)用途不同,把高純試劑又分成幾大類:普通離純試劑:是指一些高純單質(zhì)金屬、氧化物、金屬鹽類等,常用于原子能工業(yè)材料、電子工業(yè)材料、半導體基礎材料等,金屬單質(zhì)的氧化物、用來配制標準溶液和作為標準物質(zhì),該類試劑常要求含量在4N-6N之間。世紀經(jīng)珂;經(jīng)世紀經(jīng)珂;經(jīng)典試劑CEhfTURYCLZ-3C.CLASSICREACl'oraosun超凈電子純試劑:超凈高純試劑是集成電路(ic)制造工藝中的專用化學品,用于硅片清洗、光刻、腐蝕工序中。對這種高純試劑中可溶性雜質(zhì)和固態(tài)微粒要求非常嚴格,為適應IC集成度不斷提高的需求,國際上半導體工業(yè)協(xié)會(SemiconductorIndustryAssociation)近來推出Semic7(適合0.8T.2微米工藝技術(shù))和Semic8(適合于0.2-0.6微米工藝技術(shù))級別的試劑質(zhì)量標準。我國在原有M0S級、BV-I級試劑的基礎上,又制定出BV-II級和BV-III級試劑標準(相當于Semic7)。我研究所也研制多種M0S級、BV-I級BV-II級和部分BV-III級試劑,其顆粒度(0.5微粒顆粒)W25-100個/ml,金屬雜質(zhì)總量W10-3—10-5%光刻膠高純試劑:光刻工藝是一種表面加工技術(shù),在半導體電子器件和集成電路制造中占有重要地位。為在表面實現(xiàn)選擇性腐蝕,采用一類具有抗蝕作用的感光樹脂材料作為抗蝕涂層,稱為抗蝕劑,國內(nèi)通稱光刻膠。按照溶解度的不同而將光刻膠分為“正性”光刻膠和“負性”光刻膠,按所用曝光光源和輻射光源的不同,又可將其分為紫外、遠紫外、電子束、X射線等光刻膠。光刻膠是微細圖形加工的一種關(guān)鍵試劑,要求水分低、金屬雜質(zhì)含量低(W10-6)磨拋光高純試劑:是指用于硅單晶片表面的研磨和拋光的高純度試劑。它又分磨粉(三氧化二鋁)和磨液(水和油劑),能研磨表面達到微米級加工精度。這類試劑要求顆粒粒度?。{米),純度高,金屬雜質(zhì)一般要求2.0X10-4—5X10-5%液晶咼純試劑:液晶是一類電子化學材料,是指在一定溫度范圍內(nèi)呈現(xiàn)介于固相和液相之間的中間相的有機物。它既有液態(tài)的流動性也有晶態(tài)的各向異性,有時人稱他為第四態(tài)。液晶種類繁多,用途最廣,前景最大的要屬TN(低檔)、STN(中高檔)、TFT(高檔)型。TN、STN及TFT三種型號所組成的單體液晶,主要包括芳香酯類、聯(lián)苯類、苯基環(huán)

喬世紀經(jīng)典,經(jīng)典試劑!喬世紀經(jīng)典,經(jīng)典試劑!CENTURYCLZsIC.CLASSICREAGEN「tl已烷類、鐵電類以及含氟液晶品等五種,它們是當今及今后使用及發(fā)展的主要對象。這類高純試劑要求含量高(三

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