六性壽命分析報(bào)告

xxx公司xxx壽命分析報(bào)告版本A/0第3頁/共6頁檔號編號保管期限密級階段標(biāo)記xxx壽命分析報(bào)告擬制審核標(biāo)審會(huì)簽批準(zhǔn)版次/修訂狀態(tài)A/0總頁數(shù)：6正文頁數(shù)：4附錄頁數(shù)：0xxx公司2017年10月11日

目錄1范圍 31.1編寫目的 31.2實(shí)體說明 32引用文件 33產(chǎn)品定義 33.1主要功能 33.2壽命要求 54貯存壽命分析 54.1影響壽命的因素 54.2設(shè)計(jì)措施 54.3類似產(chǎn)品情況介紹 64.4已展開的試驗(yàn)驗(yàn)證 64.5薄弱環(huán)節(jié)分析 65掛飛壽命分析 65.1影響壽命的因素 65.2設(shè)計(jì)措施 65.3類似產(chǎn)品情況介紹 66結(jié)論及措施 66.1結(jié)論 66.2措施 71范圍1.1編寫目的本文針對xxx的貯存、掛飛壽命進(jìn)行分析，用以識別和發(fā)現(xiàn)影響xxx壽命的薄弱環(huán)節(jié)，采取必要的措施盡量提高壽命，明確有壽件清單，并分析產(chǎn)品到壽后繼續(xù)使用的可能性。本文適用于xxx的F階段研制。1.2實(shí)體說明xxx（以下簡稱產(chǎn)品或xxx）用于某導(dǎo)彈發(fā)動(dòng)機(jī)，構(gòu)成電路的一部分。xxx通過相關(guān)電氣接口實(shí)現(xiàn)與導(dǎo)彈控制線路和裝置中的電氣連接，實(shí)現(xiàn)裝置的電性能檢測和短路保護(hù)的功能，單發(fā)配套1臺。2引用文件945Axxx技術(shù)協(xié)議3產(chǎn)品定義3.1主要功能xxx由電路板、插座、xxx插座以及短路開關(guān)以及xxx組成，結(jié)構(gòu)關(guān)系如下圖所示。圖1圖2xxx結(jié)構(gòu)組成圖各功能模塊工作原理：3.2壽命要求xxx貯存壽命為18年，掛飛壽命為200架次。4貯存壽命分析4.1影響壽命的因素影響xxx壽命的主要因素有：高溫、低溫、潮濕、鹽霧、霉菌等。這些因素有可能造成器件或結(jié)構(gòu)老化、生銹、發(fā)霉等，造成電路板和器件短路或斷路、性能下降。4.2設(shè)計(jì)措施針對以上現(xiàn)象，xxx采取的主要措施有：電路板和器件表面采取清漆涂覆，防潮防霉和保證絕緣；鋁合金殼體采取鉻酸陽極化防鹽霧；短路手柄為不銹鋼材料；xxx整體灌封實(shí)現(xiàn)保溫密封；體管采用硅晶體管，提高表面允許溫度和最高工作溫度；在盡量加大元器件之間的間距，充分利用PCB板進(jìn)行散熱；環(huán)境試驗(yàn)溫度提高到85℃測試篩選，保證xxx高溫下可靠工作。依據(jù)其它產(chǎn)品使用情況，電路板材料以及聚氨酯灌封料和固定用環(huán)氧膠能滿足貯存18年的要求，4.3類似產(chǎn)品情況介紹xxx材料、器件均為通用常規(guī)器件，在各種型號產(chǎn)品中已廣泛應(yīng)用，能滿足18年貯存壽命的要求。4.4已展開的試驗(yàn)驗(yàn)證產(chǎn)品經(jīng)鑒定試驗(yàn)考核，考核通過。4.5薄弱環(huán)節(jié)分析為滿足貯存壽命18年的要求，根據(jù)產(chǎn)品組成，影響壽命的薄弱環(huán)節(jié)見表1。表1影響貯存壽命的薄弱環(huán)節(jié)分析表名稱代號用途貯存失敗原因在類似產(chǎn)品上的使用情況能達(dá)到的壽命及依據(jù)三極管2SA1213電容充電控制管氧化腐蝕廣泛使用可滿足18年壽命要求PMOS功率管CSP5305起爆開關(guān)管氧化腐蝕廣泛使用可滿足18年壽命要求電容CT4磁介質(zhì)電容起爆電容介質(zhì)老化廣泛使用可滿足18年壽命要求5掛飛壽命分析5.1影響壽命的因素影響掛飛壽命的因素包括振動(dòng)、沖擊、加速度等，這些因素有可能導(dǎo)致器件損傷或結(jié)構(gòu)失效、緊固件松動(dòng)、磨損等。5.2設(shè)計(jì)措施采取的主要措施有：固定螺釘用環(huán)氧膠固定防松；對大器件及其管腳以及導(dǎo)線焊點(diǎn)用硅橡膠防護(hù)；xxx整體灌封聚氨酯膠；xxx輕量化、小型化。5.3類似產(chǎn)品情況介紹采用這種方式的電子產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于各型號中。6結(jié)論及措施6.1結(jié)論根據(jù)以上分析，點(diǎn)火盒能滿足貯存壽命18年、掛飛壽命200次的要求。6.2措施為保證產(chǎn)品在壽命周期內(nèi)的正常使用，