材料分析方法智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下蘭州理工大學

材料分析方法智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下蘭州理工大學蘭州理工大學

第一章測試

在連續(xù)X射線譜中，隨管壓增高，連續(xù)譜曲線對應(yīng)的最大值和短波限λ。都

（）

A:向短波方向移動B:不變C:變化無規(guī)律D:向長波方向移動

答案:向短波方向移動

連續(xù)X射線譜的短波限λ0只與管電壓有關(guān)（）

A:對B:錯

答案:對

Kα射線比Kβ射線的波長短而強度高（）

A:對B:錯

答案:錯

同一物質(zhì)的吸收譜與發(fā)射譜之間的關(guān)系是吸收譜的波長小于發(fā)射譜。（）

A:對B:錯

答案:對

X射線與物質(zhì)的相互作用從能量轉(zhuǎn)換的觀點看，可歸結(jié)為三個能量轉(zhuǎn)換過程：（）。

A:衰減能量吸收能量透過能量B:散射能量吸收能量透過能量C:散射能量衰減能量透過能量D:散射能量吸收能量衰減能量

答案:散射能量吸收能量透過能量

第二章測試

相鄰兩個真實存在的晶面（hkl）反射線之間的波程差是λ，相鄰兩個干涉面（HKL）之間反射線的波程差是nλ。（）

A:錯B:對

答案:錯

干涉指數(shù)與晶面指數(shù)的明顯差別是干涉指數(shù)中有公約數(shù)，當干涉指數(shù)為質(zhì)數(shù)時，它就代表一組真實的晶面。（）

A:對B:錯

答案:對

不在埃瓦爾德球上的倒易陣點所對應(yīng)的晶面（）

A:不滿足布拉格方程，該晶面不衍射B:不滿足布拉格方程，但該晶面衍射C:滿足布拉格方程,無論何種條件，該晶面均不衍射D:滿足布拉格方程，該晶面衍射

答案:不滿足布拉格方程，該晶面不衍射

用已知波長的X射線照射晶體，由測量得到的衍射角求得對應(yīng)的晶面間距，可以獲得晶體的（）

A:形貌信息B:結(jié)構(gòu)信息C:成分種類信息D:成分含量信息

答案:結(jié)構(gòu)信息

第三章測試

凡是滿足布拉格方程的入射X射線或電子束在晶體中必然會產(chǎn)生衍射。（）

A:對B:錯

答案:錯

在粉末法中影響X射線強度的因子有五項，分別為：原子散射因子、角因子、多重性因子、吸收因子、溫度因子。（）

A:對B:錯

答案:錯

面心立方晶胞，參與衍射的晶面應(yīng)符合以下條件（）

A:H+K+L為偶數(shù)B:HKL為異性數(shù)C:HKL為同性數(shù)D:H+K+L為奇數(shù)

答案:HKL為同性數(shù)

影響圓柱試樣吸收因數(shù)的因素是。（）

A:與吸收系數(shù)、布拉格角、試樣尺寸、溫度都有關(guān)B:與試樣尺寸、吸收系數(shù)有關(guān)，與布拉格角無關(guān)C:與吸收系數(shù)、布拉格角、試樣尺寸都有關(guān)D:與吸收系數(shù)、布拉格角有關(guān)，與試樣尺寸無關(guān)

答案:與吸收系數(shù)、布拉格角、試樣尺寸都有關(guān)

溫度越高，原子熱振動的振幅越大，偏離衍射條件越遠，衍射強度（）

A:增加B:減小C:不變D:不確定

答案:減小

第四章測試

非晶態(tài)物質(zhì)XRD圖中的半高寬對應(yīng)著相鄰分子或原子間的平均距離。（）

A:對B:錯

答案:對

內(nèi)標法是將所需物相的純物質(zhì)另外單獨標定，然后與多相混合物中的待測物相的相應(yīng)衍射線強度相比較而進行的。（）

A:對B:錯

答案:錯

物相是指材料中成分和性質(zhì)一致、結(jié)構(gòu)相同并與其他部分與界面分開的部分。（）

A:對B:錯

答案:對

在X射線衍射儀中，樣品的轉(zhuǎn)動θ角從0度到90度，則衍射面間距的變化（）

A:不變B:從最小升至最大C:從最大降到最小D:面間距先減小后增大

答案:從最大降到最小

第五章測試

分辨本領(lǐng)是指成像物體上能分辨出來的兩個物點間的最小距離，不管是光學顯微鏡還是電子顯微鏡，分辨本領(lǐng)均取決于照明光源的波長（）。

A:錯B:對

答案:對

電子束在電磁透鏡中的運動軌跡是螺旋向前近軸運動，這是由于受到洛倫茲力的作用而導致的。（）

A:對B:錯

答案:對

把透鏡物平面允許的軸向偏差定義為透鏡的（）。

A:焦長B:景深C:球差

答案:景深

電磁透鏡分辨率主要的制約因素是（）

A:衍射效應(yīng)B:像差C:衍射效應(yīng)+透鏡像差D:可見光波長

答案:衍射效應(yīng)+透鏡像差

由于電磁透鏡磁場中近軸區(qū)域?qū)﹄娮邮恼凵淠芰εc遠軸區(qū)域不同而產(chǎn)生的像差，稱為（）。

A:色差B:像散C:球差

答案:球差

第六章測試

TEM的中間鏡是一個長焦距變倍透鏡，可在0~40倍范圍調(diào)節(jié)，當放大倍數(shù)大于1時，用來進一步放大物鏡像。（）

A:錯B:對

答案:錯

透射電鏡中實現(xiàn)明暗場成像操作轉(zhuǎn)換的光闌是物鏡光闌。（）

A:對B:錯

答案:錯

透射電鏡中用來調(diào)節(jié)圖像襯度的光闌是（）。

A:選區(qū)光闌B:物鏡光闌C:聚光鏡光闌

答案:物鏡光闌

透射電鏡有兩大功能，分別為（）

A:微觀組織形貌觀察晶體結(jié)構(gòu)同位分析B:微觀組織形貌觀察化學成分同位分析C:表面形貌觀察化學成分同位分析D:表面形貌觀察晶體結(jié)構(gòu)同位分析

答案:微觀組織形貌觀察晶體結(jié)構(gòu)同位分析

在透射電鏡中，選區(qū)光闌位于（）

A:中間鏡的物平面B:物鏡的像平面C:物鏡的背焦面D:中間鏡的像平面

答案:物鏡的像平面

第七章測試

倒易點陣中的一個點代表正點陣中的一個晶面，倒易矢量的方向垂直于正點陣中相應(yīng)的hkl晶面。（）

A:錯B:對

答案:對

電子波的波長比X-ray短得多，在同樣滿足布拉格方程時電子衍射的衍射角θ很小，約為10-2rad，而X-ray衍射角θ最大可接近π/2。（）

A:錯B:對

答案:對

在愛瓦爾德球上，若倒易陣點落在球上，球心與該倒易陣點的連線方向必為某一hkl晶面的衍射方向。（）

A:對B:錯

答案:對

零層倒易截面（）于相應(yīng)的晶帶軸，且包含該晶帶的（）。

A:平行所有共帶面B:平行所有共帶面的倒易矢量C:垂直所有共帶面D:垂直所有共帶面的倒易矢量

答案:垂直所有共帶面的倒易矢量

透射電鏡電子衍射花樣斑點的強度最主要取決于（）。

A:結(jié)構(gòu)因數(shù)的大小B:偏離矢量的大小C:衍射試樣的體積D:多重性因數(shù)

答案:多重性因數(shù)

第八章測試

質(zhì)厚襯度原理是建立在非晶體樣品中原子對入射電子的衍射和透射電鏡小孔徑角成像基礎(chǔ)上的成像原理。是解釋非晶電子顯微圖像襯度的理論依據(jù)。（）

A:錯B:對

答案:錯

電子穿過非晶體薄樣品時，受到樣品原子核的散射作用，樣品原子序數(shù)越大，散射角越大。（）

A:對B:錯

答案:對

孿晶在透射電鏡下的圖像襯度特征為：黑白相間、寬度不等的平行條帶。若孿晶界為傾斜晶界，則出現(xiàn)等厚條紋。（）

A:對B:錯

答案:對

在透射電鏡中，形成高分辨晶格像利用下面哪種襯度原理（）

A:質(zhì)厚襯度B:相位襯度C:形貌襯度D:衍射襯度

答案:相位襯度

欲觀察鋼中的孿晶和位錯，應(yīng)選用以下哪種分析方法（）

A:透射電鏡B:X射線衍射C:電子探針D:掃描電鏡

答案:透射電鏡

第九章測試

二次電子和背散射電子在顯示表面形貌襯度時不同之處為背散射電子分辨率低，襯度大失去細節(jié)。（）

A:對B:錯

答案:對

掃描電鏡的分辨率指二次電子成像時的分辨率。（）

A:錯B:對

答案:對

吸收電子信號和背散射電子信號在形成原子序數(shù)襯度像時的區(qū)別在于背散射電子的產(chǎn)額隨著原子序數(shù)的增大而減小，所以樣品表面原子序數(shù)大的區(qū)域形成的圖像比較亮；而吸收電子的的信號隨著原子序數(shù)的增大而增大，所以原子序數(shù)大的區(qū)域吸收電子的圖像比較暗，反之亦然。（）

A:錯B:對

答案:錯

在碳纖維增強鎳基復合材料的吸收電子、背散射電子原子序數(shù)襯度圖像中，碳纖維顯示出的襯度分別為（）。

A:暗的襯度亮的襯度B:亮的襯度亮的襯度C:亮的襯度暗的襯度D:暗的襯度暗的襯度

答案:亮的襯度暗的襯度

影響掃描電鏡分辨率的因素是（）

A:檢測信號類別、檢測電流、電子束束斑直徑B:檢測電流、檢測部位原子序數(shù)、電子束束斑直徑C:檢測信號類別、檢測部位原子序數(shù)、檢測電流D:檢測信號類別、檢測部位原子序數(shù)、電子束束斑直徑

答案:檢測信號類別、檢測部位原子序數(shù)、電子束束斑直徑

第十章測試

電子探針的原理是用細聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征X射線，分析特征能量或特征波長便可知樣品中的含元素的種類。（）

A:對B:錯

答案:對

掃描電鏡與電子探針結(jié)合，可實現(xiàn)對試樣的以下分析形貌、成分和結(jié)構(gòu)的綜合分析。（）

A:對B:錯

答案:錯

波譜儀通過分析特征X射線的（）進行定性分析。

A:光量子數(shù)目B:特征能量C:特征波長D:強度

答案:特征波長

對固體表面元素定性分析和定量分析時，應(yīng)選用（）

A:TEMB:SEMC:X射線衍射D:電子探針

答案:電子探針

欲分析鋼中存在的鈷元素，以及碳化物中的碳元素，最好分別采用下面哪種分析方法（）？

A:能譜儀，波譜儀B:波譜儀，波譜儀C:能譜儀，能譜儀D:波譜儀，能譜儀

答案:波譜儀，波譜儀

第十一章測試

俄歇電子能譜可分析金屬表面的輕元素污染，例如空氣中的氧、二氧化碳、氧化硫等。（）

A:對B:錯

答案:對

原子力顯微鏡除了觀測絕緣體表面形貌，還可以測量樣品表面的彈性、塑性、硬度、黏著力、摩擦力等性能。（）

A:對B:錯

答案:對

低能電子衍射樣品需用離子轟擊凈化，并以液氮冷卻防止污染。（）