SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計技術(shù)研究的開題報告

SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計技術(shù)研究的開題報告開題報告：SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計技術(shù)研究一、選題背景現(xiàn)代SOC（SystemonChip）中集成了大量的模塊，其中包括處理器核、存儲器、各種外設(shè)、通信接口等。這些模塊的正確性和可靠性是整個系統(tǒng)的關(guān)鍵因素。如何針對這些模塊進行驗證是一個重要的問題。傳統(tǒng)的驗證方法通常是使用仿真和驗證板進行測試。但是，這些方法需要大量的時間和資源，并且很難覆蓋所有的測試場景。隨著技術(shù)的發(fā)展，SoC內(nèi)建自測試設(shè)計技術(shù)逐漸成為一種解決方案。它可以在設(shè)計時加入測試功能，使得SoC在出廠前完成自我測試，提高了芯片的可靠性和成敗率。自測試技術(shù)已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于各種不同的SoC設(shè)計中，但是它們的實現(xiàn)細節(jié)和性能表現(xiàn)不同。因此，本研究旨在對SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計技術(shù)進行研究，分析各種實現(xiàn)方法的優(yōu)缺點，并提出一種更加高效的自測試設(shè)計方案。二、研究內(nèi)容和方法1.研究現(xiàn)有的SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計方案，包括結(jié)構(gòu)式和基于隨機模擬的自測試技術(shù)。2.在結(jié)構(gòu)式自測試技術(shù)的基礎(chǔ)上，設(shè)計一種高效的測試模式生成方法，以提高測試覆蓋率和減少測試時間。3.將設(shè)計的測試模式生成方法應(yīng)用于SoC設(shè)計中，評估測試性能和覆蓋率等指標(biāo)。4.對比實現(xiàn)的結(jié)果和現(xiàn)有的自測試設(shè)計方法，得出結(jié)論和建議。本研究將采用文獻綜述、案例分析、實驗設(shè)計和數(shù)據(jù)統(tǒng)計等方法，以評估不同設(shè)計方法的效率和性能，并對實驗結(jié)果進行分析和總結(jié)。三、研究意義本研究的成果可以為SoC設(shè)計提供一種高效的自測試設(shè)計方案，提高芯片的可靠性和成功率，并節(jié)省大量的測試時間和資源。此外，研究成果還可以為下一步研究提供參考，推動自測試技術(shù)的進一步發(fā)展。四、預(yù)期成果本研究的預(yù)期成果包括：1.對SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計技術(shù)的分析和總結(jié)，分析各種實現(xiàn)方法的優(yōu)缺點。2.設(shè)計一種高效的測試模式生成方法，并將其應(yīng)用于SoC設(shè)計中，評估測試性能和覆蓋率等指標(biāo)。3.與現(xiàn)有的自測試設(shè)計方法進行比較，得出結(jié)論和建議。五、進度安排1.前期調(diào)研和文獻綜述：3周2.設(shè)計高效的測試模式生成方法：3周3.SoC應(yīng)用實驗并數(shù)據(jù)統(tǒng)計：2周4.實驗結(jié)果對比分析：2周5.編寫結(jié)論和論文撰寫：4周六、參考文獻[1]劉基平,丁晶晶.SoC自測試技術(shù)[J].微電子學(xué)與計算機,2013(9):171-174.[2]熊力,陳婕,郭婷,等.基于BIST的SoC測試技術(shù)[J].微電子學(xué)與計算機,2016,33(8):85-88.[3]陳益政,楊世彥.基于隨機模擬的SoC自測技術(shù)研究[J].應(yīng)用基礎(chǔ)與工程科學(xué)學(xué)報,2008(04).[4]AnkitKasera,VishalSharma,R.KSehgal.ASurveyofEmbeddedBuilt-InSelf-TestTechniquesforSOC[J].InternationalJournalofAdvancedR