電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(選擇題)

電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（選擇題）1、原子發(fā)射光譜是由下列哪一種躍遷產(chǎn)生的?（C）A.輻射能使氣態(tài)原子外層電子激發(fā)。B.輻射能使氣態(tài)原子內(nèi)層電子激發(fā)。C．熱能使氣態(tài)原子外層電子激發(fā)。D．熱能使氣態(tài)原子內(nèi)層電子激發(fā)。

2、下列以光譜項符號表示的原子中電子能級的躍遷,符合光譜選律的是哪一種?（B）A．31S0-31P0B.31S1-31P1C．31S1-33P1D．31S1-31D13、在下列幾種常用的原子發(fā)射光譜激發(fā)光源中,分析靈敏度最高，穩(wěn)定性能最好的是哪一種?（D）A．直流電??；B．電火花；

C．交流電?。籇．高頻電感耦合等離子體。4、圖中，表明溶液有沒有自吸現(xiàn)象的是（A）5、在一定的實驗條件下，單位體積內(nèi)的基態(tài)原子數(shù)目No和元素濃度C的關系為No=aτCbq式中，b為自吸系數(shù)，b=1，表示：（B）A有自吸B沒有自吸C自吸非常嚴重D發(fā)生自蝕6、哪個位置觀測各種元素的強度最高。（B）A徑向；B軸向；C軸向衰減；D徑向衰減7、檢出限值是空白標準偏差的(B)。A二倍；B三倍C五倍D十倍8、分析過程中儀器有時會要求你重做光學初始化，這是因為從上次初始化到現(xiàn)在光學室溫度已經(jīng)改變（A）度以上，為了保證分析質量，應該重做光學初始化。A3；B5；C8；D109、根據(jù)實驗室實際情況，儀器保養(yǎng)可以記錄特定元素的強度和BEC作為通常標準。一般推薦使用下列那種元素譜線。（A）AMn257.610nm;BCd228.802；CCu327.393；DAs193.69610、下列不需定期檢查并更換或清洗的零部件是（D）A炬管；B進樣管；C石英窗；D蠕動泵11、原子核外激發(fā)態(tài)電子躍遷回基態(tài)所發(fā)射出的譜線為（A）。A原子線；B離子線；C共振線；D第一共振線12、使電極間擊穿而發(fā)生自持放電的最小電壓是（B）。A燃燒電壓；B擊穿電壓；C電離電壓；D阻抗電壓13、AlignView是校準（B）方向，使入射到狹縫的光強最大。A反射光；B入射光；C折射光；D衍射光；14、實驗室所使用ICP光譜儀，正常蠕動泵流速（C）mL/min。A1.0;B2.0;C1.5;D2.515、處理Process光譜校正SpectralCorrections中，可以選擇（D）類模型來校正光譜重疊干擾。A空白校正；B光路校正；C背景校正；D干擾元素校正IEC和多譜擬合MSF16、高頻發(fā)生器的作用是產(chǎn)生高頻磁場，供給等離子體能量。它的頻率一般為（C）MHz，最大輸出功率2－4kW。A10－20；B20－30；C30－40；D40－5017、電感耦合高頻等離子體分為焰心區(qū)、內(nèi)焰區(qū)和尾焰區(qū)三個部分，焰心區(qū)是高頻電流形成的渦電流區(qū)，溫度高達（D）。A5000K；B6000K；C8000K；D10000K18、下列哪種說法可以概述三種原子光譜（發(fā)射、吸收、熒光）的產(chǎn)生機理？（B）A.能量與氣態(tài)原子內(nèi)層電子的相互作用；B.能量與氣態(tài)原子外層電子的相互作用；C．輻射能使氣態(tài)基態(tài)原子內(nèi)層電子躍遷；D．輻射能使氣態(tài)基態(tài)原子外層電子躍遷。19、下列那種因數(shù)不影響譜線發(fā)射強度的因素有（D）A躍遷幾率；B統(tǒng)計權重；C激發(fā)電位及溫度；D觀測方式20、哪種情況不需要自動校準焰距觀測位置（D）A第一次安裝儀器或軟件；B儀器被移到新位置；C取下或更換矩管及射頻線圈；D更換泵管。21、下述那種因素不會會影響點炬。（D） A空壓機積水；B氬氣質量；C霧室潔凈；D泵管放入水中22、下述那種原因不會改變靈敏度：（D） A蠕動泵管質量；B光路是否初始化；C石英窗潔凈程度；D測定元素23、實驗室所使用ICP光譜儀檢測器為（C）。A光電倍增管；BCID；CCCD；DSID24、實驗室所使用ICP光譜儀分光系統(tǒng)為（C）。A平面反射光柵；B閃耀光柵；C中階梯光柵；D凹面光柵25、實驗室所使用ICP光譜儀RF發(fā)生器為以下那種類型（A）。A自激式RF發(fā)生器；B它激式RF發(fā)生器；C固態(tài)式RF發(fā)生器；D其它26、下列不耗氬氣流量的是（D）。A等離子體氣；B輔助氣；C霧化氣；D切割氣27、屬于物理干擾的是（A）。A酸效應；B自吸效應；C易電離元素鈉對鈣發(fā)射強度的影響；D磷酸對鈣測定影響28、下列不是產(chǎn)生連續(xù)光譜背景的因數(shù)是（D）。A黑體輻射；B軔致輻射；C復合輻射；D干擾元素發(fā)射光譜29、ICP工作氣體為（A）。A氬氣；B氮氣；C氧氣；D氦氣30、下列不是維持ICP火焰正常工作的氣路是（D）。A等離子氣；B霧化氣；C輔助氣；D切割氣電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的激發(fā)光源是（B）A：電火花B：等離子炬D：原子化器C：離子化器ICP矩管位置變動后必須進行哪一步驟？（C）A：波長的校準B：水平位置校準D：工作曲線的校準C：觀測位置校準。ICP-AES法是屬于以下那種分析方法表述最合適？（D）A：原子發(fā)射光譜法B：原子吸收光譜法C：離子發(fā)射光譜法D：電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法原子發(fā)射光譜是由于以下哪種情況產(chǎn)生的？（A）A：原子的外層電子從高能級向低能級或基態(tài)躍遷B：原子的外層電子從低能級向高能級躍遷C：原子的內(nèi)層電子從高能級向低能級或基態(tài)躍遷D：原子的內(nèi)層電子從低能級向高能級躍遷等離子體是以下哪種已電離的氣體？（D）A：原子B：離子C：分子D：原子或分子ICP-AES分析時選擇等離子炬的（B）部分進行分析。A：焰心區(qū)B：內(nèi)焰區(qū)C：尾焰區(qū)D：焰心區(qū)與內(nèi)焰區(qū)之間ICP-AES法測光區(qū)一般在感應圈上方的（C）mm左右處，此區(qū)為淡藍色半透明的炬焰，溫度約為6000

~8000K。試樣在此原子化、激發(fā)，然后發(fā)射很強的原子線和離子線。這是光譜分析所利用的區(qū)域，稱為測光區(qū)。A：3~5mmB：5~10mmC：10~20mmD：20~30mm為使測定值落在工作曲線線性范圍內(nèi)，可以采取的措施是（B）A：調節(jié)儀器的零點B：改變稱樣量或稀釋倍數(shù)C：增加測定次數(shù)D：調節(jié)儀器的靈敏度儀器漂移引起的系統(tǒng)誤差，可通過（C）來減小其影響。A：對照試驗B：空白試驗C：校準儀器D：校準試驗為ICP提供電能的高頻發(fā)生器功率一般為（B）KW。A：0.2~2B：0.5~5C：2~5D：5~100CID檢測光譜線的波長范圍為（B）nmA：230~780B：167~1050C：265~1050D：178~800為獲得好的霧化效率以及減小基體的影響，一般要控制含鹽量在（B）范圍內(nèi)。A：＜0.5%B：＜1%C：＜2%D：＜3%等離子光譜儀一般可以測定（C）種元素。A：32B：52C：72D：102以下ICP-AES光譜分析的物理干擾因素影響較大的是（D）A：顏色B：沸點、熔點C：表面張力D：粘度、比重利用ICP儀分析時結果測定不穩(wěn)定一般是首先考慮下面（A）可能發(fā)生了問題。A：進樣系統(tǒng)B：溶液揮發(fā)C：溶液的顏色D：標準溶液ICP的進樣系統(tǒng)有問題一般首先要考慮（C）可能發(fā)生了問題。A：溶液的酸度過大B：標準溶液C：蠕動泵壓板太松或霧化器堵塞D：溶液的顏色太深光譜干擾是ICP光譜分析中最令人頭痛的問題，會產(chǎn)生大量的光譜“干擾”，是由于（A）的原因。A：ICP的激發(fā)能力很強B：使用氬氣C：樣品復雜D：溶液介質ICP儀器室溫度一般控制在（B）范圍內(nèi)較好。A：15~30℃B：19~25℃C：15~25℃D：22~25℃ICP儀器室濕度一般控制在（B）%范圍內(nèi)即可。A：15~20%B：30~70%C：30~50%D：50~60%ICP光譜儀的期間核查周期一般為（B）。A：3個月%B：6個月C：12個月D：24個月銅業(yè)化驗室的ICP光譜儀型號為美國利曼公司生產(chǎn)的Prodigy型，是屬于（D）光譜儀A：多道光量計B：單道掃描C：二維色散全譜直讀D：一級光譜全譜直讀若在CID（或其它類型的）檢測器處于冷卻狀態(tài)時，關閉或沒有打開吹掃氣體，可能會使CID檢測器（A），對其造成不可挽回的損壞。A：CID檢測器結霜B：CID檢測器凍裂C：CID檢測器溫度過熱D：CID檢測器溫度過低ICP-AES分析法屬于（D）分析法。A：原子吸收光譜B：分子發(fā)射光譜C：分子吸收光譜D：原子發(fā)射光譜常被用作光譜定性分析的靈敏線及低濃度光譜定量分析的分析線是（C）。A：靈敏線B：次靈敏線C：第一共振發(fā)射線D：第二共振發(fā)射線在光譜分析中，見元素符號前加上羅馬字Ⅱ、或Ⅲ來表示的，說明其代表（B）光譜線。A：原子B：離子