測(cè)試工程師標(biāo)準(zhǔn)實(shí)用課件

測(cè)試工程師標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容提要bmi1、產(chǎn)品質(zhì)量與測(cè)試2、產(chǎn)品測(cè)試流程與方法3、產(chǎn)品測(cè)試管理體系4、產(chǎn)品測(cè)試度量與績(jī)效bmiModuleI產(chǎn)品質(zhì)量與測(cè)試產(chǎn)品質(zhì)量與測(cè)試bmi1、產(chǎn)品質(zhì)量分析2、理解產(chǎn)品測(cè)試3、產(chǎn)品測(cè)試策略產(chǎn)品質(zhì)量—感性認(rèn)識(shí)

bmi產(chǎn)品質(zhì)量—搭建產(chǎn)品與客戶(hù)的橋梁識(shí)bmi★質(zhì)量——符合要求的程度產(chǎn)品/服務(wù)固有特性客戶(hù)要求和期望符合符合符合指導(dǎo)指導(dǎo)指導(dǎo)050%100%1、誰(shuí)是客戶(hù)？2、如何操作？符合產(chǎn)品質(zhì)量—搭建產(chǎn)品與客戶(hù)的橋梁識(shí)bmi符合指導(dǎo)驗(yàn)證客戶(hù)需求客戶(hù)需求產(chǎn)品測(cè)試產(chǎn)品開(kāi)發(fā)溝通指導(dǎo)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品測(cè)試組織演化bmi總體進(jìn)度分析所有項(xiàng)目均使用經(jīng)批準(zhǔn)、剪裁的標(biāo)準(zhǔn)軟件過(guò)程來(lái)開(kāi)發(fā)和維護(hù)軟件，軟件產(chǎn)品的生產(chǎn)在整個(gè)軟件過(guò)程是可見(jiàn)的。對(duì)未來(lái)項(xiàng)目、流程的建議。測(cè)試定義—調(diào)試與測(cè)試bmi7、SIT系統(tǒng)集成測(cè)試策略3、里程碑計(jì)劃、基線(xiàn)計(jì)劃與滾動(dòng)計(jì)劃概念階段-DFTbmi產(chǎn)品測(cè)試管理-質(zhì)量保證TQAbmi概念階段-DFTbmi2、測(cè)試方法：1、用戶(hù)經(jīng)常使用或有特殊要求的功能它適合于檢查程序輸入條件的各種組合情況概念階段-DFTbmi概念階段-DFTbmi這個(gè)工作是那些坐不住的人無(wú)法完成的。c=3--黑盒測(cè)試的設(shè)計(jì)方法黑盒測(cè)試—規(guī)格導(dǎo)出法bmi制定項(xiàng)目1/2級(jí)測(cè)試計(jì)劃缺少完善的測(cè)試流程產(chǎn)品質(zhì)量—客戶(hù)質(zhì)量bmiP包裝L生命周期成本客戶(hù)質(zhì)量質(zhì)量越高越好嗎？P包裝P性能E易用L生命周期成本S接受程度S價(jià)格A可獲得性A保證客戶(hù)質(zhì)量產(chǎn)品質(zhì)量—標(biāo)桿分析bmiP包裝P性能E易用A保證L生命周期成本S接受程度S價(jià)格A可獲得性客戶(hù)質(zhì)量產(chǎn)品質(zhì)量—研發(fā)質(zhì)量bmi產(chǎn)品需求ACEBD客戶(hù)/市場(chǎng)管理者制造/服務(wù)測(cè)試開(kāi)發(fā)測(cè)試定義—兩種觀(guān)點(diǎn)bmi—〉什么是測(cè)試？

GlenMyers

---測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而運(yùn)行產(chǎn)品/執(zhí)行程序的過(guò)程

---一個(gè)好的測(cè)試用例很可能找到尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤

---一個(gè)成功的測(cè)試是指發(fā)現(xiàn)了至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試

Hetzel

---測(cè)試是對(duì)系統(tǒng)建立信心的過(guò)程

---測(cè)試是評(píng)估軟件或系統(tǒng)的品質(zhì)或能力的一種積極的行為

---測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品/軟件質(zhì)量的度

測(cè)試定義—融合bmi—〉我們認(rèn)為測(cè)試是為了：

---發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)存在的問(wèn)題（測(cè)試的態(tài)度）

---樹(shù)立對(duì)系統(tǒng)的信心

---增強(qiáng)團(tuán)隊(duì)對(duì)系統(tǒng)的熟悉程度，了解系統(tǒng)固有缺陷（knownissues）

測(cè)試定義—調(diào)試與測(cè)試bmi—〉目的的差異

—〉過(guò)程的規(guī)范性

—〉過(guò)程的可重復(fù)性

—〉具體操作主體

—〉采用的技術(shù)

測(cè)試策略—WHY?bmi產(chǎn)品經(jīng)理：測(cè)到什么時(shí)候，產(chǎn)品才沒(méi)問(wèn)題？

測(cè)試工程師：如果再測(cè)一遍，肯定還能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題！

--我們?nèi)绾蚊鎸?duì)這種局面？

測(cè)試策略bmi——〉測(cè)試策略

--明確測(cè)試重點(diǎn)

--選擇測(cè)試方法

——〉重要的測(cè)試策略

--客戶(hù)化測(cè)試

--盡早測(cè)試

--GoodEnough

--80/20

測(cè)試策略—客戶(hù)化測(cè)試bmi★系統(tǒng)中有很多錯(cuò)誤

★客戶(hù)遇到的錯(cuò)誤只占很小比例

針對(duì)客戶(hù)最容易遇到的錯(cuò)誤進(jìn)行測(cè)試，以便改進(jìn)測(cè)試的有效性

IBM:客戶(hù)看到的57%以上的故障是由占總數(shù)2%以下的錯(cuò)誤引起的

比如：靜態(tài)電流過(guò)大引起的3個(gè)表面問(wèn)題？測(cè)試策略—測(cè)試等級(jí)bmi--不同系統(tǒng)/子系統(tǒng)需要不同的測(cè)試質(zhì)量要求

ClassA—災(zāi)難式的影響

ClassB—危險(xiǎn)的影響

ClassC—重要的影響

ClassD—次要影響測(cè)試策略—測(cè)試等級(jí)bmi接觸保護(hù)和外來(lái)物保護(hù)0-無(wú)保護(hù)1-防50mm直徑的物體2-防12.5mm直徑的物體3-2.5mm4-1mm5-6-防水保護(hù)等級(jí)0-無(wú)保護(hù)1-垂直下落的水滴不引起損壞2-3-等等測(cè)試策略—盡早測(cè)試bmi不能依賴(lài)產(chǎn)品系統(tǒng)測(cè)試●前期的評(píng)審●模塊級(jí)的測(cè)試

在產(chǎn)品部署之后發(fā)現(xiàn)問(wèn)題再修復(fù)，這通常要多花費(fèi)100到1000倍的成本。要防患于未然。在特定的時(shí)間達(dá)到既定目標(biāo)，在整個(gè)項(xiàng)目生命周期不斷對(duì)質(zhì)量進(jìn)行檢驗(yàn)和管理必不可少。測(cè)試策略—GoodEnough

bmi權(quán)衡投入/產(chǎn)出比的原則，●不要不充分●不要太過(guò)分

效益測(cè)試程度測(cè)試策略—Pareto

bmi●一般情況下，在分析、設(shè)計(jì)、實(shí)驗(yàn)階段的評(píng)審和測(cè)試工作，能發(fā)現(xiàn)避免80%的錯(cuò)誤，而系統(tǒng)測(cè)試能找出16%的錯(cuò)誤，最后有約5%的錯(cuò)誤在用戶(hù)大范圍、長(zhǎng)時(shí)間的使用后才會(huì)暴露出來(lái)，因此測(cè)試只能保證盡可能多地發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，不能完全發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。

PLM解決方案把你的產(chǎn)品-即你的利潤(rùn)來(lái)源放在一切活動(dòng)的核心位置。c=2測(cè)試策略—測(cè)試等級(jí)bmi-----------W.2、測(cè)試方法：1、參照產(chǎn)品規(guī)格書(shū)的主業(yè)務(wù)功能。運(yùn)營(yíng)測(cè)試UT—MIT—MST--BBIT3、可維護(hù)性測(cè)試—〉目的的差異

—〉過(guò)程的規(guī)范性

—〉過(guò)程的可重復(fù)性

—〉具體操作主體

—〉采用的技術(shù)窮舉測(cè)試的辦法由于數(shù)量太大，以至于實(shí)際無(wú)法完成，我們必須從中選取一部分?jǐn)?shù)據(jù)作為測(cè)試用例。測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍bmi?可靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，均屬統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)。成敗關(guān)鍵：意識(shí)、工具、標(biāo)準(zhǔn)確定、第三方介入項(xiàng)目會(huì)議：事件驅(qū)動(dòng)結(jié)合事件驅(qū)動(dòng)—〉什么是測(cè)試？

GlenMyers

---測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而運(yùn)行產(chǎn)品/執(zhí)行程序的過(guò)程

---一個(gè)好的測(cè)試用例很可能找到尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤

---一個(gè)成功的測(cè)試是指發(fā)現(xiàn)了至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試

Hetzel

---測(cè)試是對(duì)系統(tǒng)建立信心的過(guò)程

---測(cè)試是評(píng)估軟件或系統(tǒng)的品質(zhì)或能力的一種積極的行為

---測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品/軟件質(zhì)量的度也是定型后產(chǎn)品在有改進(jìn)時(shí)或經(jīng)過(guò)一定時(shí)效后需要進(jìn)行的一種全面性能試驗(yàn)。在測(cè)試部門(mén)內(nèi)對(duì)交付進(jìn)行質(zhì)量控制測(cè)試報(bào)告bmi《測(cè)試方案》：指明為完成軟件或軟件集成的特性的測(cè)試而進(jìn)行的設(shè)計(jì)測(cè)試方法的細(xì)節(jié)的文檔。產(chǎn)品研發(fā)管理-CMMIbmi測(cè)試策略—小結(jié)

bmi●測(cè)試的復(fù)雜性1、測(cè)試的完備性2、增加新問(wèn)題●測(cè)試的幾個(gè)策略1、客戶(hù)化測(cè)試2、測(cè)試的等級(jí)3、盡早測(cè)試4、投入產(chǎn)出比5、80/20原則

bmiModuleII產(chǎn)品測(cè)試流程與方法產(chǎn)品測(cè)試流程與方法

bmi●產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與測(cè)試●產(chǎn)品測(cè)試工程模型●產(chǎn)品測(cè)試過(guò)程分析●模塊級(jí)測(cè)試過(guò)程分析●測(cè)試自動(dòng)化及相關(guān)工具

產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與產(chǎn)品測(cè)試

bmi產(chǎn)品開(kāi)發(fā)生命周期

產(chǎn)品測(cè)試工程模型-IPO

bmi產(chǎn)品開(kāi)發(fā)生命周期

產(chǎn)品測(cè)試工程模型-測(cè)試過(guò)程

bmiDefecttracking

★測(cè)試工程1、測(cè)試計(jì)劃2、測(cè)試設(shè)計(jì)3、測(cè)試開(kāi)發(fā)4、測(cè)試執(zhí)行5、測(cè)試評(píng)估6、測(cè)試報(bào)告7、缺陷跟蹤

產(chǎn)品測(cè)試工程-測(cè)試輸出

bmi1.《測(cè)試計(jì)劃》：指明測(cè)試范圍，方法，資源，以及相應(yīng)測(cè)試活動(dòng)的時(shí)間進(jìn)度安排表的文檔。

★計(jì)劃測(cè)試

★計(jì)劃測(cè)試

1.《測(cè)試計(jì)劃》：指明測(cè)試范圍，方法，資源，以及相應(yīng)測(cè)試活動(dòng)的時(shí)間進(jìn)度安排表的文檔?！镉?jì)劃測(cè)試2.《測(cè)試方案》：指明為完成軟件或軟件集成的特性的測(cè)試而進(jìn)行的設(shè)計(jì)測(cè)試方法的細(xì)節(jié)的文檔?！镌O(shè)計(jì)測(cè)試1.《測(cè)試用例》：指明為完成一個(gè)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試的輸入，預(yù)期結(jié)果，測(cè)試執(zhí)行條件等因素的文檔。★實(shí)現(xiàn)測(cè)試1.《測(cè)試報(bào)告》：指明執(zhí)行測(cè)試結(jié)果的文檔?！镉涗洔y(cè)試1.《測(cè)試規(guī)程》：指明測(cè)試活動(dòng)執(zhí)行序列的文檔?！镏笇?dǎo)測(cè)試6．

懷疑精神

可以預(yù)料，開(kāi)發(fā)者會(huì)盡他們最大的努力解釋每一個(gè)錯(cuò)誤。微軟開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)示例bmi黑盒測(cè)試—等價(jià)類(lèi)劃分bmi1、功能分解/規(guī)格導(dǎo)出單元測(cè)試計(jì)劃，由PM項(xiàng)目安排并協(xié)調(diào)：3、里程碑計(jì)劃、基線(xiàn)計(jì)劃與滾動(dòng)計(jì)劃bmi產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目管理-項(xiàng)目控制bmi最后同行評(píng)審會(huì)產(chǎn)生最終的結(jié)果，一般分為：通過(guò)、有條件通開(kāi)發(fā)階段-測(cè)試執(zhí)行-SITbmi--安全性審查及試驗(yàn)項(xiàng)目：燃燒試驗(yàn)、標(biāo)記檢查、抗抗電強(qiáng)度等2、當(dāng)輸入小于0的數(shù)時(shí)，顯示錯(cuò)誤信息：平方根非法輸入值小于0“，并返回0.-目的是驗(yàn)證制造流程，通過(guò)批量build來(lái)保證設(shè)計(jì)完整性。3、產(chǎn)品測(cè)試組織結(jié)構(gòu)測(cè)試項(xiàng)目狀態(tài)問(wèn)題報(bào)告/反饋報(bào)告●產(chǎn)品測(cè)試工程模型050%100%2、設(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)試用例，使其只覆蓋一個(gè)無(wú)效等價(jià)類(lèi)，重復(fù)這一步驟使所有無(wú)效等價(jià)類(lèi)均被覆蓋—〉什么是測(cè)試？

GlenMyers

---測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而運(yùn)行產(chǎn)品/執(zhí)行程序的過(guò)程

---一個(gè)好的測(cè)試用例很可能找到尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤

---一個(gè)成功的測(cè)試是指發(fā)現(xiàn)了至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試

Hetzel

---測(cè)試是對(duì)系統(tǒng)建立信心的過(guò)程

---測(cè)試是評(píng)估軟件或系統(tǒng)的品質(zhì)或能力的一種積極的行為

---測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品/軟件質(zhì)量的度組合條件決策覆蓋案例bmi產(chǎn)品測(cè)試工程模型-測(cè)試等級(jí)

bmi測(cè)試策略和計(jì)劃系統(tǒng)測(cè)試計(jì)劃系統(tǒng)測(cè)試執(zhí)行系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì)系統(tǒng)測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備集成測(cè)試計(jì)劃集成測(cè)試執(zhí)行集成測(cè)試設(shè)計(jì)集成測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備模塊測(cè)試計(jì)劃模塊測(cè)試執(zhí)行模塊測(cè)試設(shè)計(jì)模塊測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備需求規(guī)格總體架構(gòu)模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試集成測(cè)試模塊設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與產(chǎn)品測(cè)試-異步開(kāi)發(fā)bmi基本組件1/基礎(chǔ)技術(shù)1基本組件2/基礎(chǔ)技術(shù)2核心組件m/核心技術(shù)m產(chǎn)品平臺(tái)是整個(gè)系列產(chǎn)品所采用的的共同要素的集合，包括共用的系統(tǒng)構(gòu)架、子系統(tǒng)、模塊、組件、核心技術(shù)。通過(guò)公共產(chǎn)品平臺(tái)，可以減少開(kāi)發(fā)工作量，縮短上市周期TTM產(chǎn)品平臺(tái)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與產(chǎn)品測(cè)試—增量開(kāi)發(fā)模式bmi試產(chǎn)驗(yàn)證測(cè)試SVT產(chǎn)品發(fā)布非正式確認(rèn)增量發(fā)布硬件開(kāi)發(fā)就緒評(píng)審軟件開(kāi)發(fā)測(cè)試開(kāi)發(fā)產(chǎn)品TransfertotestTR4產(chǎn)品需求規(guī)格TR5TR6正式確認(rèn)模塊軟硬件開(kāi)發(fā)測(cè)試中試樣機(jī)測(cè)試SIT工程樣機(jī)測(cè)試SDV特點(diǎn)：流程并行，測(cè)試人員參與到開(kāi)發(fā)中，即強(qiáng)烈地介入開(kāi)發(fā)前段。UT—MIT—MST--BBITBBFV產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與產(chǎn)品測(cè)試-增量測(cè)試

bmi試產(chǎn)驗(yàn)證測(cè)試SVT產(chǎn)品發(fā)布非正式確認(rèn)增量發(fā)布硬件開(kāi)發(fā)就緒評(píng)審軟件開(kāi)發(fā)測(cè)試開(kāi)發(fā)產(chǎn)品TransfertotestTR4產(chǎn)品需求規(guī)格TR5TR6正式確認(rèn)模塊軟硬件開(kāi)發(fā)測(cè)試中試樣機(jī)測(cè)試SIT工程樣機(jī)測(cè)試SDVBBFV和SDV是Build的活動(dòng)，對(duì)每個(gè)Build都要進(jìn)行BBFV和SDV的活動(dòng)UT—MIT—MST--BBITBBFV產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與產(chǎn)品測(cè)試-原型開(kāi)發(fā)與測(cè)試

bmi開(kāi)發(fā)驗(yàn)證評(píng)價(jià)方案識(shí)別風(fēng)險(xiǎn)清除風(fēng)險(xiǎn)決定目標(biāo)方案和約束下一階段計(jì)劃產(chǎn)品級(jí)測(cè)試-概念階段

bmi6~8weeksPDT參與項(xiàng)目和制定概念階段計(jì)劃參與市場(chǎng)需求分析與驗(yàn)證負(fù)責(zé)收集可測(cè)性方面的需求共同開(kāi)發(fā)產(chǎn)品需求包需求和產(chǎn)品概念并進(jìn)行技術(shù)評(píng)審初步制定測(cè)試策略參與概念決策評(píng)審這一能力在測(cè)試過(guò)程中的價(jià)值是無(wú)法衡量的。測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍bmi制定項(xiàng)目1/2級(jí)測(cè)試計(jì)劃找出原因與結(jié)果之間,原因與原因之間對(duì)應(yīng)的關(guān)系,畫(huà)出因果圖。基于經(jīng)驗(yàn)的錯(cuò)誤猜想，是將所有發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤，分為不同類(lèi)型存于資料庫(kù)中，這個(gè)資料庫(kù)可以幫助錯(cuò)誤猜想的有效性所有項(xiàng)目均使用經(jīng)批準(zhǔn)、剪裁的標(biāo)準(zhǔn)軟件過(guò)程來(lái)開(kāi)發(fā)和維護(hù)軟件，軟件產(chǎn)品的生產(chǎn)在整個(gè)軟件過(guò)程是可見(jiàn)的?！癞a(chǎn)品測(cè)試工程模型這就需要對(duì)項(xiàng)目進(jìn)行實(shí)時(shí)控制，確保計(jì)劃順利實(shí)施。bmi單元測(cè)試計(jì)劃，由PM項(xiàng)目安排并協(xié)調(diào)：實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的目的：

?改善平均值

?降低變異

試驗(yàn)設(shè)計(jì)是一種研究與處理多因素實(shí)驗(yàn)的科學(xué)方法

6西格瑪方法是研究作用因素（XS）與CTQ（Y）關(guān)鍵質(zhì)量之間的關(guān)系的方法論。測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍bmi產(chǎn)品測(cè)試管理-質(zhì)量保證TQAbmi2、設(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)試用例，使其只覆蓋一個(gè)無(wú)效等價(jià)類(lèi)，重復(fù)這一步驟使所有無(wú)效等價(jià)類(lèi)均被覆蓋測(cè)試工具\(yùn)技術(shù)開(kāi)發(fā)3、功能、性能層測(cè)試用戶(hù)級(jí)測(cè)試-Beta測(cè)試bmi2、用例2：輸入-4，顯示錯(cuò)誤信息“平方根非法輸入值小于0”，并返回0.概念階段-DFTbmi產(chǎn)品級(jí)測(cè)試-測(cè)試需求分析

bmi測(cè)試需求可測(cè)性需求產(chǎn)品需求測(cè)試需求可測(cè)性需求產(chǎn)品需求概念階段-DFT

bmi可測(cè)性：系統(tǒng)和設(shè)備能及時(shí)準(zhǔn)確地確定其工作狀態(tài)（可工作、不可工作、工作性能下降）并隔離其內(nèi)部故障的一種涉及特性。-以提高可測(cè)性為目的進(jìn)行的設(shè)計(jì)稱(chēng)為可測(cè)性設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)稱(chēng)DFT（designfortestability）,優(yōu)化設(shè)計(jì)使電路/模塊便于測(cè)試,便于發(fā)現(xiàn)定位、隔離和解決異常問(wèn)題。-DFT是設(shè)計(jì)特性，完全由產(chǎn)品設(shè)計(jì)決定。最終用戶(hù)是不可見(jiàn)的。舉例-DFT面向全生命周期不同測(cè)試過(guò)程，是調(diào)試/驗(yàn)證測(cè)試、生產(chǎn)測(cè)試、維護(hù)測(cè)試的基礎(chǔ)。-可測(cè)性也可以通過(guò)可控性、可觀(guān)性來(lái)度量。要改善產(chǎn)品的可測(cè)性指標(biāo)，必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段就進(jìn)行良好的可測(cè)性設(shè)計(jì)。問(wèn)題：什么是DFT？概念階段-DFT

bmi內(nèi)嵌自測(cè)試BIST、測(cè)試觀(guān)測(cè)點(diǎn)、測(cè)試控制點(diǎn)、故障隔離點(diǎn)。測(cè)試需求可測(cè)性需求產(chǎn)品需求概念階段-DFT

bmi內(nèi)嵌自測(cè)試BIST、測(cè)試觀(guān)測(cè)點(diǎn)、測(cè)試控制點(diǎn)、故障隔離點(diǎn)。單元級(jí)測(cè)試控制臺(tái)系統(tǒng)級(jí)測(cè)試控制臺(tái)子系統(tǒng)級(jí)控制臺(tái)模塊級(jí)控制臺(tái)外部輸入輸出通道內(nèi)置自測(cè)試隔離與定位測(cè)試控制點(diǎn)測(cè)試觀(guān)測(cè)點(diǎn)內(nèi)置自測(cè)試隔離與定位測(cè)試控制點(diǎn)測(cè)試觀(guān)測(cè)點(diǎn)系統(tǒng)系統(tǒng)測(cè)試模塊測(cè)試內(nèi)置自測(cè)試隔離與定位測(cè)試控制點(diǎn)測(cè)試觀(guān)測(cè)點(diǎn)單元測(cè)試概念階段-DFT

bmi★產(chǎn)品測(cè)試需求--產(chǎn)品進(jìn)行哪些測(cè)試，可以從測(cè)試需求中裁減而來(lái)。--產(chǎn)品如何進(jìn)行這些測(cè)試，要說(shuō)明以下問(wèn)題：?哪些測(cè)試測(cè)試是手動(dòng)測(cè)試，哪些是自動(dòng)測(cè)試？?測(cè)試數(shù)據(jù)源是內(nèi)置在系統(tǒng)中，還是外部提供？?測(cè)試數(shù)據(jù)的采集和處理是內(nèi)置的，還是外置的？?測(cè)試數(shù)據(jù)采集裝置的控制是內(nèi)置的，還是外置的？?測(cè)試數(shù)據(jù)源的控制是內(nèi)置，還是外置？?測(cè)試數(shù)據(jù)的處理是內(nèi)置，還是外置？★產(chǎn)品可測(cè)性需求--調(diào)測(cè)接口。--命令集--調(diào)測(cè)控制--測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出--系統(tǒng)資源概念階段-測(cè)試策略分析

bmi產(chǎn)品測(cè)試策略（在計(jì)劃階段進(jìn)一步考慮）1、目的2、范圍3、關(guān)鍵技術(shù)與研發(fā)策略分析4、測(cè)試設(shè)計(jì)策略?4.1特性1測(cè)試方案?4.n特性n測(cè)試方案5、BBFV測(cè)試策略6、BUILD測(cè)試策略7、SIT系統(tǒng)集成測(cè)試策略8、BETA測(cè)試策略9、測(cè)試環(huán)境籌備計(jì)劃測(cè)試環(huán)境需求分析/工具儀器的可獲得性風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估10、自主開(kāi)發(fā)工具詳細(xì)分析11、附件產(chǎn)品級(jí)測(cè)試--計(jì)劃階段

bmi10~12weeksPDT確定、分配、增加外圍測(cè)試成員計(jì)劃階段開(kāi)工制定計(jì)劃階段計(jì)劃參與技術(shù)評(píng)審2測(cè)試專(zhuān)利分析參與技術(shù)評(píng)審3及制定領(lǐng)域的E2E計(jì)劃參與計(jì)劃決策評(píng)審負(fù)責(zé)制定驗(yàn)證測(cè)試計(jì)劃開(kāi)發(fā)產(chǎn)品測(cè)試方案測(cè)試工具設(shè)計(jì)計(jì)劃階段-測(cè)試與驗(yàn)證計(jì)劃

bmi1、目的2、范圍3、關(guān)鍵日期、里程碑和交付件4、總體測(cè)試策略5、E2E測(cè)試計(jì)劃WBS6、資源需求計(jì)劃6.1人力資源需求計(jì)劃6.2工具與儀器設(shè)備需求計(jì)劃6.3其他需求計(jì)劃7、組織和職責(zé)8、依賴(lài)性和存在的問(wèn)題9、風(fēng)險(xiǎn)管理10、附件計(jì)劃階段-測(cè)試方案

bmi1、被測(cè)對(duì)象分析2、測(cè)試特性分析?應(yīng)測(cè)試的特性?不應(yīng)測(cè)試的特性3、測(cè)試設(shè)計(jì)綜述4、測(cè)試模型5、測(cè)試需求6、測(cè)試設(shè)計(jì)與執(zhí)行6.1測(cè)試工具/代碼設(shè)計(jì)6.2測(cè)試特性分析6.3設(shè)計(jì)與執(zhí)行?原則?方法測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi1、指標(biāo)測(cè)試2、功能測(cè)試3、性能測(cè)試4、壓力測(cè)試5、容限/邊界測(cè)試6、容錯(cuò)測(cè)試7、故障相關(guān)性測(cè)試8、配置測(cè)試9、自動(dòng)化測(cè)試10、EMC測(cè)試11、環(huán)境測(cè)試12、可靠性測(cè)試13、安全性測(cè)試14、兼容性測(cè)試15、一致性測(cè)試16、可用性測(cè)試★系統(tǒng)中有很多錯(cuò)誤

★客戶(hù)遇到的錯(cuò)誤只占很小比例

針對(duì)客戶(hù)最容易遇到的錯(cuò)誤進(jìn)行測(cè)試，以便改進(jìn)測(cè)試的有效性

IBM:客戶(hù)看到的57%以上的故障是由占總數(shù)2%以下的錯(cuò)誤引起的

比如：靜態(tài)電流過(guò)大引起的3個(gè)表面問(wèn)題？交付件歸檔/更新項(xiàng)目數(shù)據(jù)庫(kù)項(xiàng)目變更控制：平衡“放”和“收”。開(kāi)發(fā)人員：測(cè)試策略—GoodEnoughbmi1、用例1：輸入4，輸出2制定項(xiàng)目1/2級(jí)測(cè)試計(jì)劃要改善產(chǎn)品的可測(cè)性指標(biāo)，必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段就進(jìn)行良好的可測(cè)性設(shè)計(jì)。1、測(cè)試的完備性測(cè)試定義—兩種觀(guān)點(diǎn)bmi1、當(dāng)輸入一個(gè)0或大于0的數(shù)時(shí)，返回其正平方根。制定了必要的過(guò)程紀(jì)律，能重復(fù)早先類(lèi)似應(yīng)用項(xiàng)目取得的成功經(jīng)驗(yàn)。我們應(yīng)該扮演什么角色？?為改善產(chǎn)品的可靠性提供信息。判定、條件覆蓋案例bmi所以一味追求測(cè)試自動(dòng)化只會(huì)給企業(yè)帶來(lái)運(yùn)作成本的急劇上升。用戶(hù)級(jí)測(cè)試-Beta測(cè)試bmi測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十、EMC測(cè)試EMC定義：電磁兼容（EMC）是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大?。‥MI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。--主要的測(cè)試項(xiàng)?CE-傳導(dǎo)發(fā)射?ESD-靜電?EFT-瞬態(tài)脈沖干擾群?DIP-電壓跌落?CS-傳導(dǎo)敏感度?RS輻射敏感度?Surge-浪涌測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十一、環(huán)境測(cè)試目的：是將電子產(chǎn)品暴露于人工模擬環(huán)境中，一次評(píng)價(jià)元器件、設(shè)備的性能。--實(shí)驗(yàn)順序?預(yù)處理?初始檢測(cè)?試驗(yàn)（條件試驗(yàn)）?恢復(fù)?最后檢測(cè)環(huán)境試驗(yàn)包括：高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽(yáng)輻射、光老化等。

測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十一、環(huán)境測(cè)試目的：是將電子產(chǎn)品暴露于人工模擬環(huán)境中，一次評(píng)價(jià)元器件、設(shè)備的性能。--實(shí)驗(yàn)順序?預(yù)處理?初始檢測(cè)?試驗(yàn)（條件試驗(yàn)）?恢復(fù)?最后檢測(cè)環(huán)境試驗(yàn)包括：高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽(yáng)輻射、光老化等。

測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十二、可靠性測(cè)試

--定義：是對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行調(diào)查、分析和評(píng)估的一種手段。--目的：?發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、材料、工藝方面的缺陷。?確認(rèn)是否符合可靠性的定量要求。?為改善產(chǎn)品的可靠性提供信息。--1、環(huán)境應(yīng)力篩選（Environmentstressscreen）?向產(chǎn)品施加環(huán)境和電應(yīng)力，將其內(nèi)部缺陷加速變成故障。?施加應(yīng)力大小和檢測(cè)能力，決定篩選效果。--2、可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)?可靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，均屬統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)。

測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十二、可靠性測(cè)試

--3、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)

?基本過(guò)程?故障報(bào)告閉環(huán)系統(tǒng)

（再）設(shè)計(jì)故障檢測(cè)測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十三、安全性測(cè)試

--安全性審查及試驗(yàn)項(xiàng)目：燃燒試驗(yàn)、標(biāo)記檢查、抗抗電強(qiáng)度等測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十五、一致性測(cè)試

--定義：在大批量的生產(chǎn)中，或長(zhǎng)時(shí)間工作，或在不同環(huán)境下，對(duì)產(chǎn)品的器件，單板和系統(tǒng)性能指標(biāo)的一致性驗(yàn)證與測(cè)試的過(guò)程。--目的：在產(chǎn)品拷貝過(guò)程中，通過(guò)測(cè)試樣本之間的差異性，獲得這些不一致性對(duì)對(duì)產(chǎn)品運(yùn)行效果的影響，通過(guò)找出不一致性的規(guī)律和原因（人、機(jī)、料、法、環(huán)、測(cè)等5M1E因素），找到使產(chǎn)品趨于一致性的改進(jìn)辦法，是產(chǎn)品在批量拷貝時(shí)達(dá)到一定的產(chǎn)品穩(wěn)定性。

穩(wěn)定的偏差不可怕，最令人頭疼的是產(chǎn)品性能不可控！測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十五、一致性測(cè)試

--測(cè)試內(nèi)容和方法：1、器件一致性驗(yàn)證：資料書(shū)、批量器件、不同批次間、小批替代2、單板一致性驗(yàn)證3、系統(tǒng)一致性驗(yàn)證

測(cè)試方案—產(chǎn)品測(cè)試范圍

bmi十六、可用性測(cè)試

--定義：指產(chǎn)品符合用戶(hù)應(yīng)用要求情況。

--目的：主要考慮產(chǎn)品是否符合實(shí)際應(yīng)用。產(chǎn)品測(cè)試—開(kāi)發(fā)階段

bmi十六、可用性測(cè)試

--定義：指產(chǎn)品符合用戶(hù)應(yīng)用要求情況。

--目的：主要考慮產(chǎn)品是否符合實(shí)際應(yīng)用。產(chǎn)品級(jí)測(cè)試—開(kāi)發(fā)階段

bmi測(cè)試工具詳細(xì)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)協(xié)助，監(jiān)督單元測(cè)試，集成測(cè)試工作的開(kāi)展參與技術(shù)評(píng)審4技術(shù)評(píng)審4A技術(shù)評(píng)審5領(lǐng)導(dǎo)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與驗(yàn)SDV原型機(jī)內(nèi)部標(biāo)桿測(cè)試確定BETA測(cè)試用戶(hù)測(cè)試設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)生產(chǎn)測(cè)試設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)系統(tǒng)集成測(cè)試SIT初始產(chǎn)品其他功能活動(dòng)：制造工藝、開(kāi)發(fā)、技術(shù)支持準(zhǔn)備，發(fā)布會(huì)、物料訂購(gòu)測(cè)試設(shè)計(jì)—分層模型

bmi--分層模型定義：為了分層次的開(kāi)展系統(tǒng)測(cè)試活動(dòng)，提高測(cè)試的針對(duì)性，根據(jù)產(chǎn)品的不同階段和測(cè)試需求，將系統(tǒng)測(cè)試活動(dòng)分層展開(kāi)：1、用戶(hù)層測(cè)試2、應(yīng)用層測(cè)試3、功能、性能層測(cè)試--分層目的：底層測(cè)試更基礎(chǔ)，高層測(cè)試要求更高系統(tǒng)質(zhì)量。測(cè)試設(shè)計(jì)—分層模型

bmi--用戶(hù)層測(cè)試1、測(cè)試目的：從用戶(hù)角度測(cè)試。2、測(cè)試方法：1、用戶(hù)經(jīng)常使用或有特殊要求的功能2、用戶(hù)習(xí)慣方面的考慮3、可維護(hù)性測(cè)試--應(yīng)用層測(cè)試1、測(cè)試目的：模擬實(shí)際應(yīng)用時(shí)可能產(chǎn)生的各種應(yīng)用情況。并測(cè)試其性能。2、測(cè)試方法：1、參照產(chǎn)品規(guī)格書(shū)的主業(yè)務(wù)功能。2、在不同壓力條件下，進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試設(shè)計(jì)—測(cè)試方法

bmi--白盒測(cè)試又稱(chēng)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)測(cè)試，通過(guò)在不同點(diǎn)檢查產(chǎn)品狀態(tài)，確定實(shí)際的狀態(tài)是否與預(yù)期的一致。--黑盒測(cè)試功能測(cè)試，把測(cè)試對(duì)象看成一個(gè)黑盒子，不考慮產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)，只依據(jù)需求功能規(guī)說(shuō)明，檢查測(cè)試對(duì)象功能是否符合它的功能說(shuō)明。內(nèi)部結(jié)構(gòu)I/PO/PI/PI/PO/P測(cè)試設(shè)計(jì)—白盒測(cè)試

bmi--白盒測(cè)試1、通過(guò)在不同點(diǎn)檢查產(chǎn)品狀態(tài)，確定實(shí)際的狀態(tài)是否與預(yù)期的一致。2、白盒測(cè)試包括：靜態(tài)檢查和結(jié)構(gòu)測(cè)試3、結(jié)構(gòu)測(cè)試。基于對(duì)象的內(nèi)部邏輯知識(shí)，設(shè)計(jì)必要的測(cè)試用例，達(dá)到覆蓋語(yǔ)句、判斷、路徑等。內(nèi)部結(jié)構(gòu)I/PO/PI/PI/PO/P測(cè)試設(shè)計(jì)—白盒測(cè)試

bmi--靜態(tài)測(cè)試1、代碼檢視/PCB監(jiān)視等--靜態(tài)檢視方法1、可由人工進(jìn)行。2、也可由工具自動(dòng)進(jìn)行3、代碼走讀4、靜態(tài)測(cè)試工具測(cè)試設(shè)計(jì)—覆蓋率分析

bmi--白盒測(cè)試覆蓋類(lèi)型1、語(yǔ)句覆蓋2、判定覆蓋3、條件覆蓋4、條件決策覆蓋5、條件組合覆蓋6、路徑覆蓋判定、條件覆蓋案例

bmiIf(cond1IIcond2)編號(hào)cond1cond2結(jié)果11012000編號(hào)cond1cond2結(jié)果11012011判定100%覆蓋條件100%覆蓋-周期為4個(gè)月的項(xiàng)目，測(cè)試階段為1個(gè)月，但因開(kāi)發(fā)延遲了2周，留常見(jiàn)測(cè)試方法bmi例：如果原型機(jī)與初始產(chǎn)品沒(méi)有差別，SIT就沒(méi)必要測(cè)試。在產(chǎn)品拷貝過(guò)程中，通過(guò)測(cè)試樣本之間的差異性，獲得這些不一致性對(duì)對(duì)產(chǎn)品運(yùn)行效果的影響，通過(guò)找出不一致性的規(guī)律和原因（人、機(jī)、料、法、環(huán)、測(cè)等5M1E因素），找到使產(chǎn)品趨于一致性的改進(jìn)辦法，是產(chǎn)品在批量拷貝時(shí)達(dá)到一定的產(chǎn)品穩(wěn)定性。2、產(chǎn)品測(cè)試管理體系概念階段-測(cè)試策略分析bmi運(yùn)營(yíng)測(cè)試成敗關(guān)鍵：意識(shí)、工具、標(biāo)準(zhǔn)確定、第三方介入綜合測(cè)試報(bào)告-目的是驗(yàn)證制造流程，通過(guò)批量build來(lái)保證設(shè)計(jì)完整性。開(kāi)發(fā)階段-測(cè)試執(zhí)行-SITbmi3、系統(tǒng)一致性驗(yàn)證?CE-傳導(dǎo)發(fā)射3、里程碑計(jì)劃、基線(xiàn)計(jì)劃與滾動(dòng)計(jì)劃是將電子產(chǎn)品暴露于人工模擬環(huán)境中，一次評(píng)價(jià)元器件、設(shè)備的性能。4、產(chǎn)品測(cè)試缺陷分析方法在開(kāi)發(fā)測(cè)試根本完成時(shí)進(jìn)行產(chǎn)品平臺(tái)是整個(gè)系列產(chǎn)品所采用的的共同要素的集合，包括共用的系統(tǒng)構(gòu)架、子系統(tǒng)、模塊、組件、核心技術(shù)。測(cè)試策略—小結(jié)bmi前面介紹的等價(jià)類(lèi)劃分方法和邊界值分析方法,都是著重考慮輸入條件,但未考慮輸入條件之間的聯(lián)系,相互組合等.產(chǎn)品測(cè)試關(guān)鍵角色分析bmi組合條件決策覆蓋案例

bmiIf(cond1&&cond2)&&為條件與條件決策100%覆蓋紅色部分覆蓋不完全條件決策100%覆蓋紅色部分覆蓋不完全編號(hào)cond1cond2結(jié)果1111200031004010If(cond3IIcond4)編號(hào)cond1cond2結(jié)果1★111200031004010★常見(jiàn)測(cè)試方法

bmi思考一下案例測(cè)試用例（TestCase）：是為某個(gè)特殊目標(biāo)而編制的一組測(cè)試輸入、執(zhí)行條件以及預(yù)期結(jié)果，以便測(cè)試某個(gè)程序路徑或核實(shí)是否滿(mǎn)足某個(gè)特定需求。測(cè)試設(shè)計(jì)—黑盒測(cè)試

bmi--黑盒測(cè)試定義1、功能測(cè)試，把測(cè)試對(duì)象看成一個(gè)黑盒子，不考慮產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)，只依據(jù)需求功能規(guī)說(shuō)明，檢查測(cè)試對(duì)象功能是否符合它的功能說(shuō)明。2、每個(gè)測(cè)試用例測(cè)試一個(gè)或多個(gè)功能。--黑盒測(cè)試的設(shè)計(jì)方法1、功能分解/規(guī)格導(dǎo)出2、邊界值分析3、等價(jià)類(lèi)劃分4、錯(cuò)誤推測(cè)法5、因果分析法6、狀態(tài)遷移法7、隨機(jī)測(cè)試法黑盒測(cè)試—規(guī)格導(dǎo)出法

bmi規(guī)范導(dǎo)出的測(cè)試是根據(jù)相關(guān)規(guī)格描述來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例。每一個(gè)測(cè)試用例可以測(cè)試一個(gè)或多個(gè)規(guī)范陳述語(yǔ)句，一個(gè)比較實(shí)用的方法是根據(jù)陳述規(guī)范所用語(yǔ)句的順序來(lái)相應(yīng)地為被測(cè)單元設(shè)計(jì)測(cè)試用例。例：考慮一個(gè)計(jì)算平方根的函數(shù)的規(guī)格：輸入：實(shí)數(shù)輸出：實(shí)數(shù)規(guī)格：1、當(dāng)輸入一個(gè)0或大于0的數(shù)時(shí)，返回其正平方根。2、當(dāng)輸入小于0的數(shù)時(shí)，顯示錯(cuò)誤信息：平方根非法輸入值小于0“，并返回0.測(cè)試用例：1、用例1：輸入4，輸出22、用例2：輸入-4，顯示錯(cuò)誤信息“平方根非法輸入值小于0”，并返回0.

黑盒測(cè)試—等價(jià)類(lèi)劃分

bmi窮舉測(cè)試的辦法由于數(shù)量太大，以至于實(shí)際無(wú)法完成，我們必須從中選取一部分?jǐn)?shù)據(jù)作為測(cè)試用例。問(wèn)題在于如何選。等價(jià)類(lèi)劃分，就是首先將輸入的各種情況劃分成若干等價(jià)類(lèi)。所謂等價(jià)類(lèi)就是將某個(gè)輸入域的集合，在一個(gè)集合中每個(gè)條件都是等效的，如果其中一個(gè)的輸入不能導(dǎo)致問(wèn)題發(fā)生，集合中的其他輸入條件也不可能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。例：計(jì)算算術(shù)平方根的函數(shù)例子：輸入劃分輸出劃分（i）<0（a）>=0（ii）>=0（b）Error用例1：輸入4，輸出2用例2：輸入-4，顯示錯(cuò)誤信息“平方根非法輸入值小于0”，并返回0.

黑盒測(cè)試—等價(jià)類(lèi)劃分

bmi--多輸入等價(jià)類(lèi)1、設(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)試用例，使其盡可能多地覆蓋所有有效等價(jià)類(lèi)，重復(fù)這一步驟，使得所有有效等價(jià)類(lèi)均被測(cè)試用例覆蓋。2、設(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)試用例，使其只覆蓋一個(gè)無(wú)效等價(jià)類(lèi)，重復(fù)這一步驟使所有無(wú)效等價(jià)類(lèi)均被覆蓋練習(xí)某程序規(guī)定：輸入三個(gè)正整數(shù)a、b、c作為三角形三邊的邊長(zhǎng)，構(gòu)成一個(gè)三角形。測(cè)試此程序（區(qū)別有效等價(jià)類(lèi)和無(wú)效等價(jià)類(lèi)）(構(gòu)成三角形條件三角形的條件：任意2邊邊長(zhǎng)大于第3邊長(zhǎng)。)有效等價(jià)類(lèi)：a=3b=4c=5無(wú)效等價(jià)類(lèi)：a、b、c不是正整數(shù)的情況，不滿(mǎn)足三角形條件。黑盒測(cè)試—等價(jià)類(lèi)劃分

bmia=3b=4c=5

a、b、c為正整數(shù)a+b>ca+c>bb+c>aa=1b=2c=3a+b=c

a=1b=3c=2a+c=b

a=3b=1c=2b+c=a

a=0b=1c=2a=0黑盒測(cè)試—邊界值分析

bmi邊界值分析使用與等價(jià)類(lèi)測(cè)試方法相同的等價(jià)類(lèi)劃分，只是邊界值分析假定錯(cuò)誤更多地存在于兩個(gè)劃分的邊界上，相應(yīng)地為邊界上及其兩側(cè)的情況設(shè)計(jì)測(cè)試用例。黑盒測(cè)試—錯(cuò)誤猜想

bmi基于經(jīng)驗(yàn)的錯(cuò)誤猜想，是將所有發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤，分為不同類(lèi)型存于資料庫(kù)中，這個(gè)資料庫(kù)可以幫助錯(cuò)誤猜想的有效性黑盒測(cè)試—因果圖

bmi前面介紹的等價(jià)類(lèi)劃分方法和邊界值分析方法,都是著重考慮輸入條件,但未考慮輸入條件之間的聯(lián)系,相互組合等.考慮輸入條件之間的相互組合,可能會(huì)產(chǎn)生一些新的情況.因此必須考慮采用一種適合于描述對(duì)于多種條件的組合,相應(yīng)產(chǎn)生多個(gè)動(dòng)作的形式來(lái)考慮設(shè)計(jì)測(cè)試用例.這就需要利用因果圖。因果圖方法最終生成的就是判定表.它適合于檢查程序輸入條件的各種組合情況利用因果圖生成測(cè)試用例的基本步驟(1)分析軟件規(guī)格說(shuō)明，那些是原因，那些是結(jié)果。(2)分析軟件規(guī)格說(shuō)明描述中的語(yǔ)義.找出原因與結(jié)果之間,原因與原因之間對(duì)應(yīng)的關(guān)系,畫(huà)出因果圖。(3)由于語(yǔ)法或環(huán)境限制,有些原因與原因之間,原因與結(jié)果之間的組合情況不可能出現(xiàn)，為表明這些特殊情況,在因果圖上用一些記號(hào)表明約束或限制條件。(4)把因果圖轉(zhuǎn)換為判定表（條件樁、動(dòng)作樁、條件項(xiàng)、動(dòng)作項(xiàng)）黑盒測(cè)試—因果圖

bmi黑盒測(cè)試—實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)

bmi實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的目的：

?改善平均值

?降低變異

試驗(yàn)設(shè)計(jì)是一種研究與處理多因素實(shí)驗(yàn)的科學(xué)方法

6西格瑪方法是研究作用因素（XS）與CTQ（Y）關(guān)鍵質(zhì)量之間的關(guān)系的方法論。

黑盒測(cè)試—測(cè)試方法

bmi有4條選擇測(cè)試策略原則：

1、任何情況下都必須采用邊界值分析法，因?yàn)槠湓O(shè)計(jì)出的測(cè)試用例發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的能力最強(qiáng)。

2、必要時(shí)采用等價(jià)類(lèi)劃分方法補(bǔ)充測(cè)試用例。

3、采用錯(cuò)誤推斷法追加測(cè)試用例。

4、如果功能說(shuō)明中含有輸入條件的組合情況，則一開(kāi)始就采用因果圖法。

常見(jiàn)的測(cè)試方法-硬件測(cè)試

bmi--基本功能測(cè)試

通信模塊

控制模塊

--基本性能測(cè)試

誤碼測(cè)試

光口指標(biāo)

--信號(hào)質(zhì)量及時(shí)序測(cè)試

信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)特性

通用信號(hào)規(guī)范

通用時(shí)鐘規(guī)范開(kāi)發(fā)階段-測(cè)試執(zhí)行-SDV

bmi--SDV過(guò)程定義

SDV是對(duì)原型機(jī)的漸增BUILD測(cè)試：

SDV對(duì)一組集成產(chǎn)品構(gòu)建模塊進(jìn)行評(píng)估，來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品的制造或工程模型符合產(chǎn)品功能規(guī)格:這種分析應(yīng)該是通過(guò)書(shū)面分析或者硬件和軟件測(cè)試來(lái)驗(yàn)證與產(chǎn)品設(shè)計(jì)規(guī)格的符合情況

SDV測(cè)試范圍包括部件、子系統(tǒng)和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

例子：SDV有一項(xiàng)測(cè)試活動(dòng)是功能測(cè)試，它確保系統(tǒng)工程

符合產(chǎn)品功能規(guī)格，并與可獲得的硬件相集成。

對(duì)每個(gè)build，應(yīng)測(cè)試其新增及修改部分、以及這些部分對(duì)上一個(gè)build所做過(guò)的測(cè)試所有可能影響的地方。

開(kāi)發(fā)階段-測(cè)試執(zhí)行-SIT

bmi--SIT過(guò)程定義

系統(tǒng)集成測(cè)試即初始產(chǎn)品漸增BUILD測(cè)試。

SIT要完成全部的開(kāi)發(fā)內(nèi)部測(cè)試，它是對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的全面測(cè)試其目的是確認(rèn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)規(guī)格、認(rèn)證要求、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及公司標(biāo)準(zhǔn)的符合性，同時(shí)還要確認(rèn)產(chǎn)品生命周期早期的性能和穩(wěn)定性

一般在前期多個(gè)build測(cè)試的基礎(chǔ)上，在SIT階段，會(huì)展開(kāi)一次完整的系統(tǒng)測(cè)試和回歸測(cè)試。

SIT和SDV階段的區(qū)別原則。例：如果原型機(jī)與初始產(chǎn)品沒(méi)有差別，SIT就沒(méi)必要測(cè)試。開(kāi)發(fā)階段-測(cè)試執(zhí)行-SIT

bmi--SIT主要活動(dòng)序號(hào)測(cè)試活動(dòng)序號(hào)測(cè)試活動(dòng)1測(cè)試設(shè)計(jì)更新9電磁兼容2系統(tǒng)功能測(cè)試10環(huán)境測(cè)試3性能指標(biāo)測(cè)試11噪聲測(cè)試4軟件協(xié)議一致性測(cè)試12熱測(cè)試5容限容錯(cuò)測(cè)試13可靠性鑒定測(cè)試6可用性測(cè)試14安全測(cè)試7組網(wǎng)測(cè)試15包裝測(cè)試8回歸測(cè)試16需要的特別測(cè)試--產(chǎn)品測(cè)試分析

-測(cè)試對(duì)象分析

-測(cè)試過(guò)程質(zhì)量分析：歷史測(cè)試統(tǒng)計(jì)、本次測(cè)試與之比較

-測(cè)試對(duì)研發(fā)的評(píng)價(jià)：研發(fā)文檔評(píng)價(jià)、測(cè)試問(wèn)題與反饋

--評(píng)價(jià)依據(jù)

-歷史測(cè)試情況

-歷史測(cè)試記錄及驗(yàn)證情況

-本次測(cè)試文檔提交及審查情況

-本次測(cè)試要素問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表

-本次測(cè)試未實(shí)施的測(cè)試項(xiàng)目及說(shuō)明。測(cè)試報(bào)告

bmi系統(tǒng)驗(yàn)證測(cè)試SVTBETA測(cè)試技術(shù)評(píng)審6測(cè)試結(jié)果評(píng)估ESP產(chǎn)品發(fā)送及客戶(hù)支持工作參與可獲得性評(píng)審材料功能領(lǐng)域的持續(xù)活動(dòng)產(chǎn)品級(jí)測(cè)試—驗(yàn)證階段

bmi系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試和標(biāo)桿測(cè)試參與可獲得性決策評(píng)審--SVT活動(dòng)定義-目的是驗(yàn)證制造流程，通過(guò)批量build來(lái)保證設(shè)計(jì)完整性。則一測(cè)試必須在界定好的客戶(hù)發(fā)貨級(jí)硬件上面實(shí)施。SVT是面向制造的測(cè)試，以保證大批量生產(chǎn)的可制造性。-SVT不應(yīng)有新的設(shè)計(jì)或需求的驗(yàn)證，只針對(duì)技術(shù)評(píng)審5的結(jié)論--SVT主要活動(dòng)序號(hào)要素1EMC驗(yàn)證產(chǎn)品批量制造過(guò)程的一直穩(wěn)定性，隨即抽樣，測(cè)試EMC符合程度2環(huán)境測(cè)試批量生產(chǎn)產(chǎn)品的例行環(huán)境測(cè)試，隨機(jī)抽樣進(jìn)行3安全測(cè)試批量生產(chǎn)產(chǎn)品的例行環(huán)境測(cè)試，隨機(jī)抽樣進(jìn)行4回歸測(cè)試5一致性驗(yàn)證6需要的特別測(cè)試開(kāi)發(fā)階段-測(cè)試執(zhí)行-SVT

bmi--型式試驗(yàn)型式試驗(yàn)（試產(chǎn)驗(yàn)證測(cè)試）bmi型式試驗(yàn)是指：在設(shè)計(jì)完成后，對(duì)試制出來(lái)的新產(chǎn)品進(jìn)行的定型試驗(yàn)，其試驗(yàn)項(xiàng)目比例行試驗(yàn)項(xiàng)目多，而且更加嚴(yán)格和苛刻，用戶(hù)對(duì)剛出廠(chǎng)的新產(chǎn)品也可以要求制造廠(chǎng)進(jìn)行出廠(chǎng)試驗(yàn)時(shí)增加一些型式試驗(yàn)項(xiàng)目(一般這些項(xiàng)目是事先甲乙雙方協(xié)商后寫(xiě)進(jìn)技術(shù)協(xié)議中的)。型式試驗(yàn)也是對(duì)產(chǎn)品能否滿(mǎn)足技術(shù)規(guī)范的全部要求所進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)。它既是新產(chǎn)品鑒定中必不可少的一個(gè)環(huán)節(jié)。也是定型后產(chǎn)品在有改進(jìn)時(shí)或經(jīng)過(guò)一定時(shí)效后需要進(jìn)行的一種全面性能試驗(yàn)。當(dāng)雙方有約定時(shí)或存在爭(zhēng)議時(shí)，通常都會(huì)要求進(jìn)行型式試驗(yàn)。開(kāi)發(fā)階段-測(cè)試執(zhí)行-SVT

bmi--目的

批量產(chǎn)品質(zhì)量情況

--引用標(biāo)準(zhǔn)和文獻(xiàn)

企業(yè)內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)、環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)范

--試驗(yàn)樣品

型號(hào)規(guī)格

抽樣方案：樣本基數(shù)、抽取樣本數(shù)

樣品分組

樣品狀態(tài)：QC產(chǎn)品設(shè)計(jì)更改

--檢驗(yàn)結(jié)果總結(jié)

--詳細(xì)試驗(yàn)情況

常溫檢測(cè)

氣候環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)

機(jī)械環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)一致性檢驗(yàn)與制程能力CPK

bmi規(guī)格范圍管制上限管制下限中心線(xiàn)????用戶(hù)級(jí)測(cè)試-Alpha測(cè)試

bmi在開(kāi)發(fā)完成時(shí)進(jìn)行測(cè)試后仍有少量問(wèn)題由用戶(hù)或其他人員（微軟為例）在開(kāi)發(fā)人員的指導(dǎo)下，是在受控環(huán)境中進(jìn)行用戶(hù)級(jí)測(cè)試-Beta測(cè)試

bmi在開(kāi)發(fā)測(cè)試根本完成時(shí)進(jìn)行最終由用戶(hù)獨(dú)立進(jìn)行模塊級(jí)測(cè)試-UT/MIT/MST

bmi測(cè)試策略和計(jì)劃系統(tǒng)測(cè)試計(jì)劃系統(tǒng)測(cè)試執(zhí)行系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì)系統(tǒng)測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備集成測(cè)試計(jì)劃集成測(cè)試執(zhí)行集成測(cè)試設(shè)計(jì)集成測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備模塊測(cè)試計(jì)劃模塊測(cè)試執(zhí)行模塊測(cè)試設(shè)計(jì)模塊測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備需求規(guī)格模塊設(shè)計(jì)概要單元測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試集成測(cè)試單元設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)單元測(cè)試bmi--單元測(cè)試最小的被測(cè)組成部分，如軟件函數(shù)、驅(qū)動(dòng)電路、信號(hào)放大電路等采用：白盒為主+黑盒的測(cè)試方法。--步驟單元測(cè)試計(jì)劃，由PM項(xiàng)目安排并協(xié)調(diào)：標(biāo)示單元測(cè)試的風(fēng)險(xiǎn)估計(jì)單元測(cè)試的工作量明確單元測(cè)試的軟硬件及人力需求制定單元測(cè)試的日程表指定工程師準(zhǔn)備單元測(cè)試用例以上寫(xiě)入單元測(cè)試計(jì)劃單元測(cè)試方法:規(guī)格導(dǎo)出、邊界值分析、等價(jià)類(lèi)劃分、錯(cuò)誤猜測(cè)法注意事項(xiàng)：清楚模塊和模塊之間的關(guān)系。成敗關(guān)鍵：意識(shí)、工具、標(biāo)準(zhǔn)確定、第三方介入集成測(cè)試bmi--在單元測(cè)試基礎(chǔ)上，按一定組裝策略進(jìn)行組裝，關(guān)注接口，找準(zhǔn)組裝關(guān)系。采用白盒+黑盒的測(cè)試方法。測(cè)試自動(dòng)化bmi首先，一個(gè)企業(yè)實(shí)施測(cè)試自動(dòng)化，絕對(duì)不是拍腦袋說(shuō)干就能干好的，它不僅涉及測(cè)試工作本身流程上、組織結(jié)構(gòu)上的調(diào)整與改進(jìn)，甚至也包括需求、設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)、維護(hù)及配置管理等其他方面的配合。如果對(duì)這些必要的因素沒(méi)有考慮周全的話(huà)，必然在實(shí)施過(guò)程中處處碰壁，既定的實(shí)施方案也無(wú)法開(kāi)展。其次，盡管自動(dòng)化測(cè)試可以降低人工測(cè)試的工作量，但并不能完全取代手工測(cè)試。100％的自動(dòng)化測(cè)試只是一個(gè)理想目標(biāo)，根據(jù)筆者的經(jīng)驗(yàn)，即便一些如SAP、OracleERP等測(cè)試庫(kù)規(guī)劃十分完善的套件，其測(cè)試自動(dòng)化率也不會(huì)超過(guò)70％。所以一味追求測(cè)試自動(dòng)化只會(huì)給企業(yè)帶來(lái)運(yùn)作成本的急劇上升。再次，實(shí)施測(cè)試自動(dòng)化需要企業(yè)有相對(duì)規(guī)模的投入，對(duì)企業(yè)運(yùn)作來(lái)說(shuō)，投入回報(bào)率將是決定是否實(shí)施軟件測(cè)試自動(dòng)化的最終指揮棒，筆者建議企業(yè)在決定實(shí)施軟件測(cè)試自動(dòng)化之前，必須要做量化的投資回報(bào)分析。此外，實(shí)施軟件測(cè)試自動(dòng)化并不意味著必須采購(gòu)強(qiáng)大的自動(dòng)化軟件測(cè)試工具或自動(dòng)化管理平臺(tái)，畢竟軟件質(zhì)量的保證不是依靠產(chǎn)品或技術(shù)，更多的因素在于高素質(zhì)的人員和合理有效的流程。bmiModuleIII產(chǎn)品測(cè)試管理1、產(chǎn)品研發(fā)管理體系2、產(chǎn)品測(cè)試管理體系3、產(chǎn)品測(cè)試組織結(jié)構(gòu)產(chǎn)品測(cè)試管理bmi產(chǎn)品測(cè)試管理bmi產(chǎn)品測(cè)試管理bmi研發(fā)管理整體解決方案bmiPLM:研發(fā)管理整體解決方案bmi

產(chǎn)品生命周期管理（PLM）是針對(duì)制造業(yè)的擴(kuò)展型企業(yè)解決方案，以便于在公司的各個(gè)部門(mén)、用戶(hù)、供應(yīng)商之間共享產(chǎn)品數(shù)據(jù)。PLM解決方案把你的產(chǎn)品-即你的利潤(rùn)來(lái)源放在一切活動(dòng)的核心位置。PLM可以從企業(yè)資源計(jì)劃系統(tǒng)ERP（EnterpriseResourcePlanning）、供應(yīng)鏈管理SCM（SupplyChainManagement)、客戶(hù)關(guān)系管理CRM(CustomerRelationshipManagement）系統(tǒng)中提取相關(guān)的信息，并使之與你的產(chǎn)品知識(shí)發(fā)生關(guān)聯(lián)，進(jìn)而使所有人都能夠更快速、高效地工作。這樣就允許在公司間的整個(gè)網(wǎng)絡(luò)上共同工作來(lái)進(jìn)行概念設(shè)計(jì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、產(chǎn)品生產(chǎn)、產(chǎn)品維護(hù)，對(duì)整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的操作就象對(duì)一個(gè)單獨(dú)的機(jī)構(gòu)操作一樣。PLM允許擴(kuò)展型企業(yè)在公司間共享產(chǎn)品的業(yè)務(wù)流程和產(chǎn)品知識(shí)，包括從提出概念到產(chǎn)品退出市場(chǎng)整個(gè)生命周期的各個(gè)階段。

產(chǎn)品研發(fā)管理-IPD

bmi產(chǎn)品研發(fā)管理-TS16949-APQPbmi產(chǎn)品研發(fā)管理-CMMIbmiCMMI的全稱(chēng)為：CapabilityMaturityModelIntegration，即能力成熟度模型集成。CMM是由美國(guó)卡內(nèi)基梅隆大學(xué)的軟件工程研究所(SEI)創(chuàng)立的CMM(CapabilityMaturityModel軟件能力成熟度模型)認(rèn)證評(píng)估，在過(guò)去的十幾年中，對(duì)全球的軟件產(chǎn)業(yè)產(chǎn)生了非常深遠(yuǎn)的影響。通常有以下5幾個(gè)級(jí)別：

1．初始級(jí)：是無(wú)序的，有時(shí)甚至是混亂的，對(duì)過(guò)程幾乎沒(méi)有定義，成功取決于個(gè)人努力，管理是反應(yīng)式的。2．已管理級(jí)：建立了基本的項(xiàng)目管理過(guò)程來(lái)跟蹤費(fèi)用、進(jìn)度和功能特性。制定了必要的過(guò)程紀(jì)律，能重復(fù)早先類(lèi)似應(yīng)用項(xiàng)目取得的成功經(jīng)驗(yàn)。3．已定義級(jí)：已將軟件管理和工程兩方面的過(guò)程文檔化、標(biāo)準(zhǔn)化，并綜合成該組織的標(biāo)準(zhǔn)軟件過(guò)程。所有項(xiàng)目均使用經(jīng)批準(zhǔn)、剪裁的標(biāo)準(zhǔn)軟件過(guò)程來(lái)開(kāi)發(fā)和維護(hù)軟件，軟件產(chǎn)品的生產(chǎn)在整個(gè)軟件過(guò)程是可見(jiàn)的。4．量化管理級(jí)：分析對(duì)軟件過(guò)程和產(chǎn)品質(zhì)量的詳細(xì)度量數(shù)據(jù)，對(duì)軟件過(guò)程和產(chǎn)品都有定量的理解與控制。管理有一個(gè)作出結(jié)論的客觀(guān)依據(jù)，管理能夠在定量的范圍內(nèi)預(yù)測(cè)性能。5．優(yōu)化管理級(jí)：過(guò)程的量化反饋和先進(jìn)的新思想、新技術(shù)促使過(guò)程持續(xù)不斷改進(jìn)。產(chǎn)品測(cè)試管理體系-框架bmi產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與測(cè)試是姐妹關(guān)系，緊密地結(jié)合在一起可測(cè)性需求分析測(cè)試策略與計(jì)劃開(kāi)發(fā)測(cè)試系統(tǒng)集成測(cè)試產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目管理-獨(dú)特性bmi1、案例：-周期為4個(gè)月的項(xiàng)目，測(cè)試階段為1個(gè)月，但因開(kāi)發(fā)延遲了2周，留給測(cè)試的時(shí)間只有2周，怎么辦？2、測(cè)試任務(wù)的依賴(lài)關(guān)系-開(kāi)發(fā)與測(cè)試-測(cè)試資源3、測(cè)試周期的不確定性分析-設(shè)計(jì)更改與優(yōu)化-漏測(cè)問(wèn)題產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目管理-測(cè)試計(jì)劃bmi在概念階段和計(jì)劃階段，在四個(gè)時(shí)間點(diǎn)四次制定不同階段和層次的項(xiàng)目測(cè)試計(jì)劃。如下圖：計(jì)劃制定時(shí)間點(diǎn)概念啟動(dòng)概念DCP計(jì)劃DCP可獲得性DCPGA生命周期DCP概念階段計(jì)劃階段開(kāi)發(fā)階段驗(yàn)證階段發(fā)布階段生命周期管理階段對(duì)應(yīng)的項(xiàng)目計(jì)劃制定概念階段項(xiàng)目測(cè)試計(jì)劃制定計(jì)劃階段項(xiàng)目測(cè)試計(jì)劃制定項(xiàng)目1/2級(jí)測(cè)試計(jì)劃優(yōu)化1/2級(jí)測(cè)試計(jì)劃制定3/4級(jí)測(cè)試計(jì)劃1、計(jì)劃制定的最佳時(shí)機(jī)？2、計(jì)劃與算命（風(fēng)險(xiǎn)管理）3、里程碑計(jì)劃、基線(xiàn)計(jì)劃與滾動(dòng)計(jì)劃產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目管理-項(xiàng)目控制bmi計(jì)劃是會(huì)變化的變化來(lái)源于：1市場(chǎng)需求變化2進(jìn)度異常3預(yù)測(cè)不準(zhǔn)確4配合問(wèn)題5人員變化6資源不到位7項(xiàng)目位置變化一幅完美的圖紙≠一棟堅(jiān)實(shí)的大樓這就需要對(duì)項(xiàng)目進(jìn)行實(shí)時(shí)控制，確保計(jì)劃順利實(shí)施。產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目管理-項(xiàng)目控制bmi測(cè)試項(xiàng)目跟蹤個(gè)人工作任務(wù)總結(jié)/日志個(gè)人測(cè)試工作量個(gè)人測(cè)試進(jìn)度情況個(gè)人測(cè)試人物評(píng)價(jià)測(cè)試項(xiàng)目狀態(tài)報(bào)告總體進(jìn)度分析主要問(wèn)題和風(fēng)險(xiǎn)主要偏差和反饋測(cè)試項(xiàng)目狀態(tài)問(wèn)題報(bào)告/反饋報(bào)告日?qǐng)?bào)周報(bào)階段測(cè)試報(bào)告綜合測(cè)試報(bào)告產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目管理-控制手段bmi1.里程碑管理：抓大放小2.項(xiàng)目報(bào)告：業(yè)務(wù)線(xiàn)與質(zhì)量線(xiàn)制衡3.項(xiàng)目會(huì)議：事件驅(qū)動(dòng)結(jié)合事件驅(qū)動(dòng)4.項(xiàng)目變更控制：平衡“放”和“收”。5.預(yù)警系統(tǒng)：雜、難、疲、忘。6.合同書(shū)/任務(wù)書(shū)：雙向承諾。7.決策評(píng)審和例外管理。8.掙值管理：綜合管理預(yù)算、投入產(chǎn)出、進(jìn)度要素9.非正規(guī)控制：潤(rùn)物細(xì)無(wú)聲。產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目管理-項(xiàng)目收尾bmi1.交付件歸檔/更新項(xiàng)目數(shù)據(jù)庫(kù)2.結(jié)束時(shí)間偏差率3.預(yù)算核算控制4.質(zhì)量控制情況5.好的實(shí)踐6.經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)7.對(duì)未來(lái)項(xiàng)目、流程的建議。8.遺留問(wèn)題9.項(xiàng)目總結(jié)會(huì)。產(chǎn)品測(cè)試管理-測(cè)試用例管理bmi1.建立測(cè)試用例庫(kù)：共性化測(cè)試用例集/個(gè)性化2.測(cè)試用例管理：一：需求跟蹤矩陣RTM二：正交跟蹤矩陣測(cè)試需求R1R2R3T1